本發(fā)明涉及計算機技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種內(nèi)存噪聲測量方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

隨著計算機、服務(wù)器等的內(nèi)存速率越來越高，內(nèi)存?zhèn)鬏斔俾什粩嗵嵘?。目前，?nèi)存的傳輸速率可以達到6.4Gbps。但是，內(nèi)存?zhèn)鬏斔俾实牟粩嗵嵘龝斐蓛?nèi)存噪聲的顯著增高。如今不少廠商對內(nèi)存噪聲的要求越來越嚴格，故內(nèi)存噪聲的測量變得尤為必要。

目前，可以從待測量內(nèi)存的Boardfile(電路圖)文檔中確定出待測信號，并對待測信號進行測量。

由于需要從Boardfile文檔中確定出待測信號，故現(xiàn)有實現(xiàn)方式的準確率不高。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供了一種內(nèi)存噪聲測量方法及系統(tǒng)，能夠準確測量內(nèi)存噪聲。

為了達到上述目的，本發(fā)明是通過如下技術(shù)方案實現(xiàn)的：

一方面，本發(fā)明提供了一種內(nèi)存噪聲測量方法，將兩根飛線分別與探頭相連，將所述探頭與測量儀器相連，以及搭建被測量內(nèi)存的測試環(huán)境，還包括：

在所述測試環(huán)境下，利用測試工具確定所述內(nèi)存的VDD(器件內(nèi)部的工作電壓)信號測試點和VSS(電路公共接地端電壓)信號測試點；

利用所述兩根飛線，分別將所述VDD信號測試點對應(yīng)的VDD信號和所述VSS信號測試點對應(yīng)的VSS信號引出至所述探頭；

利用所述探頭將所述VDD信號和所述VSS信號輸出至所述測量儀器；

利用所述測量儀器根據(jù)輸入的所述VDD信號和所述VSS信號，生成所述內(nèi)存的噪聲測量結(jié)果。

進一步地，所述搭建被測量內(nèi)存的測試環(huán)境，包括：確定測試環(huán)境所需的被測量內(nèi)存、CPU、主板及供電模塊；將所述內(nèi)存、所述CPU分別安裝于所述主板上，并通過所述供電模塊對所述主板進行供電。

進一步地，所述測量儀器為示波器；

所述噪聲測量結(jié)果包括：所述內(nèi)存的Pk-Pk值；

在所述生成所述內(nèi)存的噪聲測量結(jié)果之后，進一步包括：利用所述示波器判斷所述Pk-Pk值是否不小于預(yù)先確定的標準閾值，若是，進行異常處理。

進一步地，所述測試工具為萬用表；

所述利用測試工具確定所述內(nèi)存的VDD信號測試點和VSS信號測試點，包括：根據(jù)所述內(nèi)存的防呆口，確定其正面向左的第四個金手指為目標金手指；利用所述萬用表，測定出所述內(nèi)存上的與所述目標金手指相連通的目標焊點，其中，所述目標焊點位于目標貼片電容的一端；確定所述目標焊點為所述內(nèi)存的VDD信號測試點，并確定所述目標貼片電容的另一端為所述內(nèi)存的VSS信號測試點。

進一步地，所述將兩根飛線分別與探頭相連，包括：分別將所述兩根飛線的一端通過探針插入到所述探頭中；

在所述利用所述兩根飛線，分別將所述VDD信號測試點對應(yīng)的VDD信號和所述VSS信號測試點對應(yīng)的VSS信號引出至所述探頭之前，進一步包括：將所述兩根飛線中的未與所述探頭相連的一端，分別焊接在所述VDD信號測試點處和所述VSS信號測試點處。

另一方面，本發(fā)明提供了一種內(nèi)存噪聲測量系統(tǒng)，包括：

兩根飛線、探頭、測量儀器、包括被測量內(nèi)存的測試環(huán)境、測試工具，其中，

所述兩根飛線分別與所述探頭相連；

所述探頭與所述測量儀器相連；

所述測試工具，用于在所述測試環(huán)境下，確定所述內(nèi)存的VDD信號測試點和VSS信號測試點；

所述兩根飛線，用于分別將所述VDD信號測試點對應(yīng)的VDD信號和所述VSS信號測試點對應(yīng)的VSS信號引出至所述探頭；

所述探頭，用于將引入的所述VDD信號和所述VSS信號輸出至所述測量儀器；

所述測量儀器，用于根據(jù)輸入的所述VDD信號和所述VSS信號，生成所述內(nèi)存的噪聲測量結(jié)果。

進一步地，所述測試環(huán)境包括：被測量內(nèi)存、CPU、主板及供電模塊，其中，

所述內(nèi)存、所述CPU分別安裝于所述主板上；

所述供電模塊用于對所述主板進行供電。

進一步地，所述測量儀器為示波器；

所述噪聲測量結(jié)果包括：所述內(nèi)存的Pk-Pk值；

所述示波器還用于判斷所述Pk-Pk值是否不小于預(yù)先確定的標準閾值，若是，進行異常處理。

進一步地，所述測試工具為萬用表；

該內(nèi)存噪聲測量系統(tǒng)還包括：確定模塊，用于根據(jù)所述內(nèi)存的防呆口，確定其正面向左的第四個金手指為目標金手指；利用所述萬用表，測定出所述內(nèi)存上的與所述目標金手指相連通的目標焊點，其中，所述目標焊點位于目標貼片電容的一端；確定所述目標焊點為所述內(nèi)存的VDD信號測試點，并確定所述目標貼片電容的另一端為所述內(nèi)存的VSS信號測試點。

進一步地，所述兩根飛線分別與所述探頭相連，包括：分別將所述兩根飛線的一端通過探針插入到所述探頭中；

該內(nèi)存噪聲測量系統(tǒng)還包括：處理模塊，用于將所述兩根飛線中的未與所述探頭相連的一端，分別焊接在所述VDD信號測試點處和所述VSS信號測試點處。

進一步地，所述測量儀器包括：帶寬1GHz、采樣率20GS/s的示波器；

所述示波器的配置參數(shù)包括：Resolution：1GS/s，200us/div；Offset：1.22V；觸發(fā)方式：上升沿觸發(fā)；Trigger level：中心位置以上10～30mV左右；Measure：Max、Min、Mean和Pk-Pk；Annotation：Pk-Pk；為保證測試樣本數(shù)，acqs：1000以上；探頭帶寬：500MHz。

進一步地，所述探頭包括：單端帶寬500MHz 50Ω的有源探頭。

本發(fā)明提供了一種內(nèi)存噪聲測量方法及系統(tǒng)，將兩根飛線分別與探頭相連，將探頭與測量儀器相連，以及搭建被測量內(nèi)存的測試環(huán)境；在測試環(huán)境下，利用測試工具確定內(nèi)存的VDD信號測試點和VSS信號測試點；利用兩根飛線分別將VDD信號測試點對應(yīng)的VDD信號和VSS信號測試點對應(yīng)的VSS信號引出至探頭，并經(jīng)探頭輸出至測量儀器；利用測量儀器根據(jù)輸入的VDD信號和VSS信號，生成內(nèi)存的噪聲測量結(jié)果。由于可以直接獲取被測量內(nèi)存的VDD信號和VSS信號，并生成相應(yīng)的噪聲測量結(jié)果，故本發(fā)明能夠準確測量內(nèi)存噪聲。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明一實施例提供的一種內(nèi)存噪聲測量方法的流程圖；

圖2是本發(fā)明一實施例提供的另一種內(nèi)存噪聲測量方法的流程圖；

圖3是本發(fā)明一實施例提供的一種用于測量內(nèi)存噪聲的測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明一實施例提供的一種內(nèi)存噪聲測量結(jié)果的示意圖；

圖5是本發(fā)明一實施例提供的一種內(nèi)存噪聲測量系統(tǒng)的示意圖；

圖6是本發(fā)明一實施例提供的另一種內(nèi)存噪聲測量系統(tǒng)的示意圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例，基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

如圖1所示，本發(fā)明實施例提供了一種內(nèi)存噪聲測量方法，可以包括以下步驟：

步驟101：將兩根飛線分別與探頭相連，將所述探頭與測量儀器相連，以及搭建被測量內(nèi)存的測試環(huán)境。

步驟102：在所述測試環(huán)境下，利用測試工具確定所述內(nèi)存的VDD信號測試點和VSS信號測試點。

步驟103：利用所述兩根飛線，分別將所述VDD信號測試點對應(yīng)的VDD信號和所述VSS信號測試點對應(yīng)的VSS信號引出至所述探頭。

步驟104：利用所述探頭將所述VDD信號和所述VSS信號輸出至所述測量儀器。

步驟105：利用所述測量儀器根據(jù)輸入的所述VDD信號和所述VSS信號，生成所述內(nèi)存的噪聲測量結(jié)果。

本發(fā)明實施例提供了一種內(nèi)存噪聲測量方法，將兩根飛線分別與探頭相連，將探頭與測量儀器相連，以及搭建被測量內(nèi)存的測試環(huán)境；在測試環(huán)境下，利用測試工具確定內(nèi)存的VDD信號測試點和VSS信號測試點；利用兩根飛線分別將VDD信號測試點對應(yīng)的VDD信號和VSS信號測試點對應(yīng)的VSS信號引出至探頭，并經(jīng)探頭輸出至測量儀器；利用測量儀器根據(jù)輸入的VDD信號和VSS信號，生成內(nèi)存的噪聲測量結(jié)果。由于可以直接獲取被測量內(nèi)存的VDD信號和VSS信號，并生成相應(yīng)的噪聲測量結(jié)果，故本發(fā)明實施例能夠準確測量內(nèi)存噪聲。

在本發(fā)明的一個實施例中，為了能夠避免引入干擾噪聲，兩根飛線的長度應(yīng)盡量短。這一實現(xiàn)方式有益于提高測試結(jié)果的準確性。

在本發(fā)明的一個實施例中，為了能夠直接反映內(nèi)存在工作過程中的噪聲情況，故所述搭建被測量內(nèi)存的測試環(huán)境包括：確定測試環(huán)境所需的被測量內(nèi)存、CPU、主板及供電模塊；將所述內(nèi)存、所述CPU分別安裝于所述主板上，并通過所述供電模塊對所述主板進行供電。

詳細地，可以搭建被測量內(nèi)存的測試環(huán)境，并在該測試環(huán)境下直接在線測試內(nèi)存噪聲信號，這一實現(xiàn)方式能夠真實的測試到內(nèi)存工作時VDD Noise。

在本發(fā)明的一個實施例中，為了說明一種噪聲測試結(jié)果分析方式，所以，所述測量儀器為示波器；

所述噪聲測量結(jié)果包括：所述內(nèi)存的Pk-Pk值；

在所述生成所述內(nèi)存的噪聲測量結(jié)果之后，進一步包括：利用所述示波器判斷所述Pk-Pk值是否不小于預(yù)先確定的標準閾值，若是，進行異常處理。

詳細地，示波器通過測量內(nèi)存在工作過程中的噪聲情況，可以生成相應(yīng)的測試結(jié)果，其中，該測試結(jié)果可以包括最大值、最小值、平均值、Pk-Pk值等。根據(jù)預(yù)先確定的內(nèi)存噪聲標準，如SPEC(Software Requirement Specification，軟件規(guī)格說明書)，可以對比判斷測試結(jié)果與SPEC相比是否符合標準。例如，可以判斷DDR(全稱是DDR SDRAM，Double Data Rate SDRAM，雙倍速率SDRAM)4的VDD噪聲的Pk-Pk值是否小于60mV，若小于說明該被測試內(nèi)存符合要求，否則可以進行異常處理，如進行記錄或報警提醒等。

在本發(fā)明的一個實施例中，為了說明一種確定被測量內(nèi)存的信號測試點的實現(xiàn)方式，所以，所述測試工具為萬用表；

所述利用測試工具確定所述內(nèi)存的VDD信號測試點和VSS信號測試點，包括：根據(jù)所述內(nèi)存的防呆口，確定其正面向左的第四個金手指為目標金手指；利用所述萬用表，測定出所述內(nèi)存上的與所述目標金手指相連通的目標焊點，其中，所述目標焊點位于目標貼片電容的一端；確定所述目標焊點為所述內(nèi)存的VDD信號測試點，并確定所述目標貼片電容的另一端為所述內(nèi)存的VSS信號測試點。

詳細地，可以利用萬用表以直接確定出內(nèi)存的VDD信號測試點和VSS信號測試點，以便于后續(xù)實時測定兩者間的工作電壓。這一實現(xiàn)方式可以直接、快速、準確的確定出信號測試點，而無需通過Boardfile文檔以尋找待測VDD信號。

在本發(fā)明的一個實施例中，為了能夠準確測量信號測試點處的測試信號，所以，所述將兩根飛線分別與探頭相連，包括：分別將所述兩根飛線的一端通過探針插入到所述探頭中；

在所述利用所述兩根飛線，分別將所述VDD信號測試點對應(yīng)的VDD信號和所述VSS信號測試點對應(yīng)的VSS信號引出至所述探頭之前，進一步包括：將所述兩根飛線中的未與所述探頭相連的一端，分別焊接在所述VDD信號測試點處和所述VSS信號測試點處。

詳細地，在確定出兩個測試點之后，可以將兩根飛線分別焊接在兩個測試點處，并將兩根飛線的另一端通過探針插入到探頭中以與探頭相連。這一實現(xiàn)方式可以通過飛線和探頭，以將測試點處的測試信號引出至與探頭相連的測量儀器。

如圖2所示，本發(fā)明一個實施例提供了另一種內(nèi)存噪聲測量方法，該方法以DDR4內(nèi)存VDD Noise的測試方法為例，具體包括以下步驟：

步驟201：將被測量內(nèi)存、CPU分別安裝于主板上，并通過供電模塊對主板進行供電，以搭建被測量內(nèi)存的測試環(huán)境。

目前，計算機、服務(wù)器等的內(nèi)存速率越來越高，基于差分信號技術(shù)的DDR4內(nèi)存，其傳輸速率可達到6.4Gbps。但是，隨著內(nèi)存工作頻率的提升，內(nèi)存工作電壓隨著低功耗的要求而越來越低，故對內(nèi)存穩(wěn)定工作電壓的要求也越來越高。因此，精確測量VDD噪聲Noise變得尤為必要。

在本實施例中，被測量內(nèi)存可以為DDR4內(nèi)存。為驗證DDR4內(nèi)存的質(zhì)量是否符合標準，可以測量其VDD Noise，并與標準閾值進行對比判斷。

在對被測量內(nèi)存進行測試之前，首先可以搭建相應(yīng)的測試環(huán)境。詳細地，通過搭建被測量內(nèi)存的測試環(huán)境，并在該測試環(huán)境下直接在線測試內(nèi)存噪聲信號，這一實現(xiàn)方式能夠真實準確測試到內(nèi)存工作時的VDD Noise。

步驟202：分別將兩根飛線的一端通過探針插入到探頭中以與探頭相連，并將探頭與示波器相連。

在本發(fā)明的一個實施例中，基于實際需求，所用兩根飛線的長度應(yīng)盡量短。這一實現(xiàn)方式能夠避免引入干擾噪聲，故有益于提高測試結(jié)果的準確性。

如圖3所示，本發(fā)明一個實施例提供了一種用于測量內(nèi)存噪聲的測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。在圖3中，兩根飛線均與探頭相連，探頭與示波器相連。

步驟203：在搭建的測試環(huán)境下，利用萬用表確定被測量內(nèi)存的VDD信號測試點和VSS信號測試點。

詳細的，為了能夠測量內(nèi)存的VDD Noise，需要同時采集被測量內(nèi)存的VDD信號測試點的測試信號和VSS信號測試點的測試信號。因此，首先需要準確確定出這兩個信號測試點。

詳細地，確定信號測試點的實現(xiàn)方式可以如下所述：根據(jù)內(nèi)存的防呆口，確定其正面向左的第四個金手指為目標金手指；利用萬用表，測定出內(nèi)存上的與目標金手指相連通的目標焊點，其中，目標焊點位于目標貼片電容的一端；確定目標焊點為內(nèi)存的VDD信號測試點，并確定目標貼片電容的另一端為內(nèi)存的VSS信號測試點。

可以看出，本實施例中可以利用萬用表以直接確定出內(nèi)存的VDD信號測試點和VSS信號測試點，以便于后續(xù)實時測定兩者間的工作電壓，而無需通過Boardfile文檔以尋找待測VDD信號。因此，這一實現(xiàn)方式可以直接、快速、準確的確定出信號測試點，有益于提高測試結(jié)果準確性，以及提高測試效率。

步驟204：將兩根飛線中的未與探頭相連的一端，分別焊接在VDD信號測試點處和VSS信號測試點處。

詳細地，在確定出兩個測試點之后，可以將兩根飛線的未與探頭相連的一端，分別焊接在兩個測試點處。這一實現(xiàn)方式可以通過飛線和探頭，以將測試點處的測試信號引出至與探頭相連的測量儀器。

步驟205：利用兩根飛線，分別將VDD信號測試點對應(yīng)的VDD信號和VSS信號測試點對應(yīng)的VSS信號引出至探頭，并利用探頭將VDD信號和VSS信號輸出至示波器。

詳細地，根據(jù)內(nèi)存上的信號測試點與飛線的焊接關(guān)系，飛線與探頭的連接關(guān)系及探頭與示波器的連接關(guān)系，可以經(jīng)飛線、探頭，以將兩個信號測試點處的測試信號引出并輸出至示波器。示波器根據(jù)輸入的測試信號，可以生成一定測試時間范圍內(nèi)的測試結(jié)果。

步驟206：利用示波器根據(jù)輸入的VDD信號和VSS信號，生成被測量內(nèi)存的Pk-Pk值。

詳細地，示波器通過測量內(nèi)存在工作過程中的噪聲情況，如VDD信號和VSS信號，可以生成相應(yīng)的測試結(jié)果，其中，該測試結(jié)果可以包括最大值、最小值、平均值、Pk-Pk值等。其中，部分測定值可以為被測試內(nèi)存在一定測量時間范圍內(nèi)的全部實時測定值的平均值。如圖4所示，本發(fā)明一個實施例提供了一種內(nèi)存噪聲測量結(jié)果的示意圖。

由于如今不少廠商對內(nèi)存VDD噪聲的要求越來越嚴格，如要求DDR4的VDD Noise的Pk-Pk值小于60mV。因此，對于示波器生成的多種測試結(jié)果，在本發(fā)明一個實施例中，可以僅對Pk-Pk值進行評判。

此外，由圖4所示內(nèi)容可知，Pk-Pk值同樣可以包括相應(yīng)的最大值、最小值、平均值等。為保證被測量內(nèi)存在任一時刻均滿足標準要求，故在本發(fā)明一個實施例中，可以直接判斷Pk-Pk值的最大值是否小于60mV。由于圖4所示測試結(jié)果中的Pk-Pk最大值為：52.8m(V)，小于60mV，故可以確定被測量內(nèi)存質(zhì)量合格。

在本發(fā)明一個實施例中，可以打開Pk-Pk標示出Noise峰峰值，從而可以直觀的比較VDD的Noise信號和SPEC中規(guī)定的標準閾值，以判斷被測試內(nèi)存是否滿足要求。

步驟207：利用示波器判斷Pk-Pk值是否不小于標準閾值：60mV，若是，標記被測量內(nèi)存不合格，否則，標記被測量內(nèi)存合格。

詳細地，在生成測試結(jié)果時，示波器可以提取出其中的Pk-Pk值的相應(yīng)最大值：如圖4中所示的52.8m(V)，經(jīng)判斷，該測定值小于標準閾值：60mV，故可以記錄該被測量內(nèi)存質(zhì)量合格。對應(yīng)地，若判讀結(jié)果為不小于標準閾值，則可以記錄該被測量內(nèi)存質(zhì)量不合格，以及可以進行其他異常處理實現(xiàn)方式，如報警提醒等。

在本發(fā)明一個實施例中，示波器生成的其他測試結(jié)果，同樣可以作為輔助評判指標，以評判被測量內(nèi)存的質(zhì)量情況，如根據(jù)最大值和最小值的差異性以評判內(nèi)存工作穩(wěn)定性等。

在本發(fā)明一個實施例中，針對生成的測試結(jié)果，可以根據(jù)JEDEC Standard規(guī)范的要求以分析測試結(jié)果，并判斷是否滿足測試需求。

如圖5所示，本發(fā)明一個實施例提供了一種內(nèi)存噪聲測量系統(tǒng)，包括：

兩根飛線301、探頭302、測量儀器303、包括被測量內(nèi)存3041的測試環(huán)境304、測試工具305，其中，

所述兩根飛線301分別與所述探頭302相連；

所述探頭302與所述測量儀器303相連；

所述測試工具305，用于在所述測試環(huán)境304下，確定所述內(nèi)存3041的VDD信號測試點和VSS信號測試點；

所述兩根飛線301，用于分別將所述VDD信號測試點對應(yīng)的VDD信號和所述VSS信號測試點對應(yīng)的VSS信號引出至所述探頭302；

所述探頭302，用于將引入的所述VDD信號和所述VSS信號輸出至所述測量儀器303；

所述測量儀器303，用于根據(jù)輸入的所述VDD信號和所述VSS信號，生成所述內(nèi)存3041的噪聲測量結(jié)果。

在本發(fā)明的一個實施例中，基于實際需求，所用兩根飛線的長度應(yīng)盡量短。這一實現(xiàn)方式能夠避免引入干擾噪聲，故有益于提高測試結(jié)果的準確性。

在本發(fā)明一個實施例中，所述測試環(huán)境304包括：被測量內(nèi)存3041、CPU3042、主板3043及供電模塊3044，其中，

所述內(nèi)存3041、所述CPU3042分別安裝于所述主板3043上；

所述供電模塊3044用于對所述主板3043進行供電。

在本發(fā)明一個實施例中，所述測量儀器303為示波器；

所述噪聲測量結(jié)果包括：所述內(nèi)存3041的Pk-Pk值；

所述示波器還用于判斷所述Pk-Pk值是否不小于預(yù)先確定的標準閾值，若是，進行異常處理。

在本發(fā)明一個實施例中，請參考圖6，該內(nèi)存噪聲測量系統(tǒng)還可以包括：確定模塊401；

所述測試工具305為萬用表；

所述確定模塊401，用于根據(jù)所述內(nèi)存3041的防呆口，確定其正面向左的第四個金手指為目標金手指；利用所述萬用表，測定出所述內(nèi)存3041上的與所述目標金手指相連通的目標焊點，其中，所述目標焊點位于目標貼片電容的一端；確定所述目標焊點為所述內(nèi)存3041的VDD信號測試點，并確定所述目標貼片電容的另一端為所述內(nèi)存3041的VSS信號測試點。

在本發(fā)明一個實施例中，請參考圖5，該內(nèi)存噪聲測量系統(tǒng)還可以包括：處理模塊402；

所述兩根飛線301分別與所述探頭302相連，包括：分別將所述兩根飛線301的一端通過探針插入到所述探頭302中；

所述處理模塊402，用于將所述兩根飛線301中的未與所述探頭302相連的一端，分別焊接在所述VDD信號測試點處和所述VSS信號測試點處。

在本發(fā)明一個實施例中，所述測量儀器303包括：帶寬1GHz、采樣率20GS/s的示波器；

所述示波器的配置參數(shù)包括：Resolution：1GS/s，200us/div；Offset：1.22V；觸發(fā)方式：上升沿觸發(fā)；Trigger level：中心位置以上10～30mV左右；Measure：Max、Min、Mean和Pk-Pk；Annotation：Pk-Pk；為保證測試樣本數(shù)，acqs：1000以上；探頭帶寬：500MHz。

詳細地，選用帶寬1GHz，采樣率20GHz的示波器，有益于保證足夠的分辨率。

詳細地，通過設(shè)置合適的示波器配置參數(shù)，可以使實時輸入的Noise信號盡量居于示波器顯示屏的中間位置，以方便觀察測試結(jié)果。

在本發(fā)明一個實施例中，所述探頭302包括：單端帶寬500MHz 50Ω的有源探頭。

詳細地，通過使用單端帶寬500MHz 50Ω的有源探頭進行測試，以保證能夠精確采樣到內(nèi)存條VDD的Noise信號。

由上所述，在本發(fā)明實施例中，可以通過金手指及萬用表以準確找出VDD信號測試點和VSS信號測試點，并利用盡量短的飛線引出對應(yīng)的VDD信號和VSS信號，以及利用探頭將引出的信號實時輸出至示波器，以便于利用示波器生成相應(yīng)的測試結(jié)果。這一實現(xiàn)方式能夠精確測量VDD噪聲Noise，提高測試精確度。

上述裝置內(nèi)的各單元之間的信息交互、執(zhí)行過程等內(nèi)容，由于與本發(fā)明方法實施例基于同一構(gòu)思，具體內(nèi)容可參見本發(fā)明方法實施例中的敘述，此處不再贅述。

綜上所述，本發(fā)明的各個實施例至少具有如下有益效果：

1、本發(fā)明實施例中，將兩根飛線分別與探頭相連，將探頭與測量儀器相連，以及搭建被測量內(nèi)存的測試環(huán)境；在測試環(huán)境下，利用測試工具確定內(nèi)存的VDD信號測試點和VSS信號測試點；利用兩根飛線分別將VDD信號測試點對應(yīng)的VDD信號和VSS信號測試點對應(yīng)的VSS信號引出至探頭，并經(jīng)探頭輸出至測量儀器；利用測量儀器根據(jù)輸入的VDD信號和VSS信號，生成內(nèi)存的噪聲測量結(jié)果。由于可以直接獲取被測量內(nèi)存的VDD信號和VSS信號，并生成相應(yīng)的噪聲測量結(jié)果，故本發(fā)明實施例能夠準確測量內(nèi)存噪聲。

2、本發(fā)明實施例中，可以在搭建的測試環(huán)境下直接在線測試內(nèi)存噪聲信號，這一實現(xiàn)方式能夠真實準確測試到內(nèi)存工作時的VDD Noise。

3、本發(fā)明實施例中，可以利用萬用表以直接確定出內(nèi)存的VDD信號測試點和VSS信號測試點，以便于后續(xù)實時測定兩者間的工作電壓，而無需通過Boardfile文檔以尋找待測VDD信號。因此，這一實現(xiàn)方式可以直接、快速、準確的確定出信號測試點，有益于提高測試結(jié)果準確性，以及提高測試效率。

4、本發(fā)明實施例中，可以通過金手指及萬用表以準確找出VDD信號測試點和VSS信號測試點，并利用盡量短的飛線引出對應(yīng)的VDD信號和VSS信號，以及利用探頭將引出的信號實時輸出至示波器，以便于利用示波器生成相應(yīng)的測試結(jié)果。這一實現(xiàn)方式能夠精確測量VDD噪聲Noise，提高測試精確度。

需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個〃·····”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同因素。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解：實現(xiàn)上述方法實施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成，前述的程序可以存儲在計算機可讀取的存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，執(zhí)行包括上述方法實施例的步驟；而前述的存儲介質(zhì)包括：ROM、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)中。

最后需要說明的是：以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，僅用于說明本發(fā)明的技術(shù)方案，并非用于限定本發(fā)明的保護范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所做的任何修改、等同替換、改進等，均包含在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。