技術總結(jié)
本發(fā)明公開了一種針對傅立葉疊層顯微成像技術的位置校正方法，首先攝一組低分辨率圖像，對物體的高分辨率頻譜進行初始化，并初始化迭代次數(shù)j＝1；計算第j次迭代的更新范圍Sj；對更新范圍Sj內(nèi)的所有圖像進行更新，更新前利用模擬退火法校正每幅圖像對應的頻譜孔徑位置；第j次迭代完成后，利用非線性回歸法更新LED陣列的位置參數(shù)，重新對物體的高分辨率頻譜進行初始化；j＝j+1，若更新范圍Sj不包含所有圖像，回到迭代步驟，當更新范圍Sj包含所有圖像以后，執(zhí)行下一步；繼續(xù)迭代至少3次，每次迭代完不進行頻譜初始化，最終獲得物體的高分辨率光強和相位圖。本發(fā)明避免了LED陣列定位誤差對重構(gòu)結(jié)果的影響，提高了傅立葉疊層顯微成像技術重構(gòu)的圖像質(zhì)量。

技術研發(fā)人員：陳錢;孫佳嵩;左超;顧國華;張玉珍;李加基;張佳琳
受保護的技術使用者：南京理工大學
文檔號碼：201610470536
技術研發(fā)日：2016.06.24
技術公布日：2016.11.16