本公開涉及通信領(lǐng)域，尤其涉及終端穩(wěn)定性檢測方法及裝置。

背景技術(shù)：

目前，終端在正式出廠前都需要對(duì)所述終端產(chǎn)生的輻射電場強(qiáng)度進(jìn)行測試，即需要對(duì)所述終端進(jìn)行目標(biāo)測試，在測試過程中需要確保所述終端處于穩(wěn)定狀態(tài)。

相關(guān)技術(shù)中，在進(jìn)行所述目標(biāo)測試之前和之后，分別測量所述終端在某一測試點(diǎn)產(chǎn)生的電場值，來檢測所述終端在所述目標(biāo)測試過程中的穩(wěn)定性。但是，當(dāng)選取的該測試點(diǎn)遠(yuǎn)離所述終端的天線時(shí)，就可能會(huì)影響所述終端的穩(wěn)定性的檢測結(jié)果，造成誤判。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，本公開提供了終端穩(wěn)定性檢測方法及裝置，以解決相關(guān)技術(shù)中的不足。

根據(jù)本公開實(shí)施例的第一方面，提供一種終端穩(wěn)定性檢測方法，用于穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)，所述方法包括：

選取多個(gè)測試點(diǎn)；

在目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端進(jìn)行目標(biāo)測試之前，分別測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的初始電場值，所述目標(biāo)測試是對(duì)所述終端產(chǎn)生的輻射電場強(qiáng)度進(jìn)行的測試且所述目標(biāo)測試的測試過程中需要確保所述終端處于穩(wěn)定狀態(tài)；

在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端完成所述目標(biāo)測試之后，分別測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的實(shí)時(shí)電場值；

根據(jù)所述初始電場值和所述實(shí)時(shí)電場值，確定所述終端在所述目標(biāo)測試過程中是否處于穩(wěn)定狀態(tài)的檢測結(jié)果。

可選地，所述選取多個(gè)測試點(diǎn)，包括：

對(duì)所述終端進(jìn)行定位，獲取定位信息；

根據(jù)所述定位信息劃分出目標(biāo)區(qū)域；

在所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取所述多個(gè)測試點(diǎn)。

可選地，所述定位信息包括用于表征所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)和所述終端之間的相對(duì)距離值的距離信息。

可選地，所述根據(jù)所述定位信息劃分出目標(biāo)區(qū)域，包括：

確定目標(biāo)平面，所述目標(biāo)平面與所述終端所在的終端平面之間的距離為所述相對(duì)距離值；

在目標(biāo)平面中劃分出覆蓋所述終端的所述目標(biāo)區(qū)域。

可選地，所述在所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取所述多個(gè)測試點(diǎn)，包括：

在所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)隨機(jī)選取所述多個(gè)測試點(diǎn)；或

在所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取位于指定位置的所述多個(gè)測試點(diǎn)。

可選地，所述指定位置包括所述目標(biāo)區(qū)域的頂點(diǎn)。

可選地，在所述選取多個(gè)測試點(diǎn)之后，所述方法還包括：

記錄所述多個(gè)測試點(diǎn)的位置信息。

可選地，所述根據(jù)所述初始電場值和所述實(shí)時(shí)電場值，確定所述終端在所述目標(biāo)測試過程中是否處于穩(wěn)定狀態(tài)的檢測結(jié)果，包括：

根據(jù)所述初始電場值確定目標(biāo)初始電場值；

根據(jù)所述實(shí)時(shí)電場值確定目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值；

比較所述目標(biāo)初始電場值和所述目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值的差值是否大于預(yù)設(shè)值；

當(dāng)所述差值大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，判定所述檢測結(jié)果為所述終端在所述目 標(biāo)測試過程中未處于穩(wěn)定狀態(tài)；

當(dāng)所述差值不大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，判定所述檢測結(jié)果為所述終端在所述目標(biāo)測試過程中處于穩(wěn)定狀態(tài)。

可選地，所述根據(jù)所述初始電場值確定目標(biāo)初始電場值，包括：

獲取所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值中的最大值；和/或

計(jì)算所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值的平均值。

可選地，所述根據(jù)所述實(shí)時(shí)電場值確定目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值，包括：

獲取所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值中的最大值；和/或

計(jì)算所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值的平均值。

根據(jù)本公開實(shí)施例的第二方面，提供一種終端穩(wěn)定性檢測裝置，用于穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)，所述裝置包括：

選取模塊，被配置為選取多個(gè)測試點(diǎn)；

第一測試模塊，被配置為在目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端進(jìn)行目標(biāo)測試之前，分別測試所述終端在所述選取模塊選取的所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的初始電場值，所述目標(biāo)測試是對(duì)所述終端產(chǎn)生的輻射電場強(qiáng)度進(jìn)行的測試且所述目標(biāo)測試的測試過程中需要確保所述終端處于穩(wěn)定狀態(tài)；

第二測試模塊，被配置為在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端完成所述目標(biāo)測試之后，分別測試所述終端在所述選取模塊選取的所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的實(shí)時(shí)電場值；

檢測結(jié)果確定模塊，被配置為根據(jù)所述第一測試模塊測試得到的所述初始電場值和所述第二測試模塊測試得到的所述實(shí)時(shí)電場值，確定所述終端在所述目標(biāo)測試過程中是否處于穩(wěn)定狀態(tài)的檢測結(jié)果。

可選地，所述選取模塊包括：

獲取子模塊，被配置為對(duì)所述終端進(jìn)行定位，獲取定位信息；

劃分子模塊，被配置為根據(jù)所述獲取子模塊獲取的所述定位信息劃分出目標(biāo)區(qū)域；

選取子模塊，被配置為在所述劃分子模塊劃分出的所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取 所述多個(gè)測試點(diǎn)。

可選地，所述定位信息包括用于表征所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)和所述終端之間的相對(duì)距離值的距離信息。

可選地，所述劃分子模塊包括：

確定單元，被配置為確定目標(biāo)平面，所述目標(biāo)平面與所述終端所在的終端平面之間的距離為所述獲取子模塊獲取的所述相對(duì)距離值；

劃分單元，被配置為在所述確定單元確定的所述目標(biāo)平面中劃分出覆蓋所述終端的所述目標(biāo)區(qū)域。

可選地，所述選取子模塊包括以下單元中的一個(gè)：

第一選取單元，被配置為在所述劃分子模塊劃分出的所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)隨機(jī)選取所述多個(gè)測試點(diǎn)；

第二選取單元，被配置為在所述劃分子模塊劃分出的所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取位于指定位置的所述多個(gè)測試點(diǎn)。

可選地，所述指定位置包括所述目標(biāo)區(qū)域的頂點(diǎn)。

可選地，所述裝置還包括：

記錄模塊，被配置為在所述選取模塊選取所述多個(gè)測試點(diǎn)之后，記錄所述多個(gè)測試點(diǎn)的位置信息。

可選地，所述檢測結(jié)果確定模塊包括：

第一確定子模塊，被配置為根據(jù)所述第一測試模塊測試得到的所述初始電場值確定目標(biāo)初始電場值；

第二確定子模塊，被配置為根據(jù)所述第二測試模塊測試得到的所述實(shí)時(shí)電場值確定目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值；

比較子模塊，被配置為比較所述第一確定子模塊確定的所述目標(biāo)初始電場值和所述第二確定子模塊確定的所述目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值的差值是否大于預(yù)設(shè)值；

第一檢測結(jié)果判定子模塊，被配置為當(dāng)所述比較子模塊比較出所述差值大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，判定所述檢測結(jié)果為所述終端在所述目標(biāo)測試過程中未 處于穩(wěn)定狀態(tài)；

第二檢測結(jié)果判定子模塊，被配置為當(dāng)所述比較子模塊比較出所述差值不大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，判定所述檢測結(jié)果為所述終端在所述目標(biāo)測試過程中處于穩(wěn)定狀態(tài)。

可選地，所述第一確定子模塊包括以下單元中的至少一個(gè)：

第一獲取單元，被配置為獲取所述第一測試模塊測試得到的所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值中的最大值；

第一計(jì)算單元，被配置為計(jì)算所述第一測試模塊測試得到的所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值的平均值。

可選地，所述第二確定子模塊包括以下單元中的至少一個(gè)：

第二獲取單元，被配置為獲取所述第二測試模塊測試得到的所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值中的最大值；

第二計(jì)算單元，被配置為計(jì)算所述第二測試模塊測試得到的所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值的平均值。

根據(jù)本公開實(shí)施例的第三方面，提供一種終端穩(wěn)定性檢測裝置，包括：

處理器；

用于存儲(chǔ)處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器；

其中，所述處理器被配置為：

選取多個(gè)測試點(diǎn)；

在目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)終端進(jìn)行目標(biāo)測試之前，分別測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的初始電場值，所述目標(biāo)測試是對(duì)所述終端產(chǎn)生的輻射電場強(qiáng)度進(jìn)行的測試且所述目標(biāo)測試的測試過程中需要確保所述終端處于穩(wěn)定狀態(tài)的測試；

在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端完成所述目標(biāo)測試之后，分別測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的實(shí)時(shí)電場值；

根據(jù)所述初始電場值和所述實(shí)時(shí)電場值，確定所述終端在所述目標(biāo)測試過程中是否處于穩(wěn)定狀態(tài)的檢測結(jié)果。

本公開的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果：

本公開實(shí)施例中，穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)首先選取多個(gè)測試點(diǎn)，在目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)終端進(jìn)行目標(biāo)測試之前，所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的初始電場值，當(dāng)所述目標(biāo)測試系統(tǒng)完成對(duì)所述終端的所述目標(biāo)測試之后，所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)測量所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的實(shí)時(shí)電場值。進(jìn)一步地，根據(jù)所述初始電場值和所述實(shí)時(shí)電場值，確定最終的終端穩(wěn)定性的檢測結(jié)果。降低了誤判的可能，提高了終端穩(wěn)定性檢測的準(zhǔn)確性。

本公開實(shí)施例中，穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)在選取多個(gè)測試點(diǎn)時(shí)，可以根據(jù)終端的定位信息劃分出目標(biāo)區(qū)域，進(jìn)而在所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)自動(dòng)選取多個(gè)測試點(diǎn)。確保了后續(xù)終端穩(wěn)定性檢測的準(zhǔn)確性。

本公開實(shí)施例中，穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)可以根據(jù)對(duì)終端的定位信息先確定目標(biāo)平面，所述目標(biāo)平面與所述終端所在的終端平面之間相距所述定位信息中的相對(duì)距離值。在確定了所述目標(biāo)平面后，可以在所述目標(biāo)平面中劃分出覆蓋所述終端的所述目標(biāo)區(qū)域，確保對(duì)所述終端穩(wěn)定性檢測的準(zhǔn)確性。

本公開實(shí)施例中，穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)可以在目標(biāo)區(qū)域中隨機(jī)選取多個(gè)測試點(diǎn)，或在所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取位于指定位置的所述多個(gè)測試點(diǎn)?？蛇x地，指定位置可以包括所述目標(biāo)區(qū)域的頂點(diǎn)。后續(xù)通過選取的所述多個(gè)測試點(diǎn)的初始電場值和實(shí)時(shí)電場值來確定終端穩(wěn)定性的檢測結(jié)果，降低了誤判的可能，提高了終端穩(wěn)定性檢測的準(zhǔn)確性。

本公開實(shí)施例中，可以通過比較目標(biāo)初始電場值和目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值的差值是否大于預(yù)設(shè)值來確定終端穩(wěn)定性的檢測結(jié)果。其中，所述目標(biāo)初始電場值可以通過選取多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值中的最大值和/或計(jì)算所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值的平均值來獲得。同樣地，所述目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值也可以采用與所述目標(biāo)初始電場值相同的方式獲取。本公開實(shí)施例中，只有在所述目標(biāo)初始電場值和所述目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值的所述差值大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，才判定所述檢測結(jié)果為所述終端在所述目標(biāo)測試過程中未處于穩(wěn)定狀態(tài)，可用性高，降低了誤判的可能，提高了終端穩(wěn)定性檢測的準(zhǔn)確性。

應(yīng)當(dāng)理解的是，以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本公開。

附圖說明

此處的附圖被并入說明書中并構(gòu)成本說明書的一部分，示出了符合本公開的實(shí)施例，并與說明書一起用于解釋本公開的原理。

圖1是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端穩(wěn)定性檢測方法流程圖；

圖2是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測方法流程圖；

圖3a至3e是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的終端穩(wěn)定性檢測過程中的場景示意圖；

圖4是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測方法流程圖；

圖5是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測方法流程圖；

圖6是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖；

圖7是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖；

圖8是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖；

圖9是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖；

圖10是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖；

圖11是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖；

圖12是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖；

圖13是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖；

圖14是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種用于終端穩(wěn)定性檢測裝置的一結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

這里將詳細(xì)地對(duì)示例性實(shí)施例進(jìn)行說明，其示例表示在附圖中。下面的描述涉及附圖時(shí)，除非另有表示，不同附圖中的相同數(shù)字表示相同或相似的要素。以下示例性實(shí)施例中所描述的實(shí)施方式并不代表與本公開相一致的所有實(shí)施方式。相反，它們僅是與如所附權(quán)利要求書中所詳述的、本公開的一些方面相一致的裝置和方法的例子。

在本公開使用的術(shù)語是僅僅出于描述特定實(shí)施例的目的，而非旨在限制本公開。在本公開和所附權(quán)利要求書中所使用的單數(shù)形式的“一種”、“所述”和“該”也旨在包括多數(shù)形式，除非上下文清楚地表示其他含義。還應(yīng)當(dāng)理解，本文中使用的術(shù)語“和/或”是指并包含一個(gè)或多個(gè)相關(guān)聯(lián)的列出項(xiàng)目的任何或所有可能組合。

應(yīng)當(dāng)理解，盡管在本公開可能采用術(shù)語第一、第二、第三等來描述各種信息，但這些信息不應(yīng)限于這些術(shù)語。這些術(shù)語僅用來將同一類型的信息彼此區(qū)分開。例如，在不脫離本公開范圍的情況下，第一信息也可以被稱為第二信息，類似地，第二信息也可以被稱為第一信息。取決于語境，如在此所使用的詞語“如果”可以被解釋成為“在……時(shí)”或“當(dāng)……時(shí)”或“響應(yīng)于確定”。

本公開實(shí)施例中提供的終端穩(wěn)定性檢測方法可以用于穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)。如圖1所示，圖1是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端穩(wěn)定性檢測方法，包括以下步驟：

在步驟101中，選取多個(gè)測試點(diǎn)。

可選地，步驟101如圖2所示，可以包括：

在步驟101-1中，對(duì)所述終端進(jìn)行定位，獲取定位信息。

本步驟中，所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)可以按照相關(guān)技術(shù)對(duì)所述終端進(jìn)行定位，從而獲取所述終端的定位信息。可選地，所述定位信息可以為所述終端與所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)之間相對(duì)位置的相對(duì)位置信息，例如用于表征相對(duì)距離值的距離信息。

可選地，終端可自動(dòng)通過全球定位系統(tǒng)(globalpositioningsystem，gps)獲取所述終端自身的地理位置信息，進(jìn)而通過網(wǎng)絡(luò)將所述終端的所述地理位置信息發(fā)送給所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)的服務(wù)器。所述服務(wù)器同樣可以通過gps獲取自身的地理位置信息。進(jìn)一步地，所述服務(wù)器可以根據(jù)終端發(fā)送的地理位置信息和自身的地理位置信息確定所述相對(duì)位置信息。

以sar測試為例，所述終端需要放置在設(shè)備支架上，由所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)定位所述終端與所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)中的模擬頭部模型之間的相對(duì)位置，如圖3a所示，獲取的所述相對(duì)位置信息可以包括用于表征所述終端與所述模擬頭部模型之間的所述相對(duì)距離值的距離信息。

在步驟101-2中，根據(jù)所述定位信息劃分出目標(biāo)區(qū)域。

本步驟中，需要根據(jù)上述步驟獲取的所述定位信息先確定出目標(biāo)平面，進(jìn)而在所述目標(biāo)平面中劃分所述目標(biāo)區(qū)域。為了確保后續(xù)穩(wěn)定性檢測的準(zhǔn)確性，劃分出的目標(biāo)區(qū)域需要覆蓋所述終端。

考慮到后續(xù)目標(biāo)測試系統(tǒng)會(huì)對(duì)所述終端進(jìn)行目標(biāo)測試，其中，所述目標(biāo)測試是對(duì)所述終端產(chǎn)生的輻射電場強(qiáng)度進(jìn)行的測試且在測試過程中需要確保所述終端處于穩(wěn)定狀態(tài)，可選地，所述目標(biāo)測試可以是電磁波吸收比值(specificabsorptionrate，sar)測試。

以所述目標(biāo)測試為sar測試為例，如圖3b所示，所述終端所在的終端平面和所述目標(biāo)平面之間相距所述相對(duì)距離值。當(dāng)然，所述目標(biāo)平面位于模擬頭部模型中。進(jìn)一步地，所述終端當(dāng)前所占的空間大小為a1×b1，則所述 穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)需要在相應(yīng)的所述目標(biāo)平面中需要?jiǎng)澐殖龈采w所述終端的a2×b2大小的目標(biāo)區(qū)域，其中a2≥a1且b2≥b1，如圖3c所示。

在步驟101-3中，在所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取所述多個(gè)測試點(diǎn)。

本步驟中，所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)可以隨機(jī)在劃分出的所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取所述多個(gè)測試點(diǎn)。或者所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)還可以在所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取位于指定位置的所述多個(gè)測試點(diǎn)。可選地，所述指定位置包括所述目標(biāo)區(qū)域的頂點(diǎn)。

以所述目標(biāo)測試為sar測試為例，其過程需要測試所述終端的輻射電場強(qiáng)度值。一般情況下，所述終端的天線不會(huì)安裝在所述終端的中央?yún)^(qū)域，天線可能分布的位置如圖3d所示。因此為了讓終端穩(wěn)定性檢測結(jié)果更準(zhǔn)確，減少誤判，可以在與所述天線對(duì)應(yīng)的位置選取測試點(diǎn)，即選取的所述多個(gè)測試點(diǎn)中可以包括所述目標(biāo)區(qū)域的四個(gè)頂點(diǎn)，如圖3e所示。

本公開實(shí)施例中，選取的所述多個(gè)測試點(diǎn)對(duì)應(yīng)于所述終端當(dāng)前所處的位置的，且所述多個(gè)測試點(diǎn)之間的距離可以相等或不等。其中，可以在所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)每隔預(yù)設(shè)距離值選取1個(gè)測試點(diǎn)，以使所述多個(gè)測試點(diǎn)之間的距離相等。

在步驟102中，在目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端進(jìn)行目標(biāo)測試之前，分別測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的初始電場值。

本步驟中，所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)需要在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端進(jìn)行所述目標(biāo)測試之前，按照相關(guān)技術(shù)測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的所述初始電場值。

本公開實(shí)施例中，所述目標(biāo)測試可以是sar測試，相應(yīng)地，所述目標(biāo)測試系統(tǒng)為sar測試系統(tǒng)。應(yīng)當(dāng)注意地是，在測試得到所述初始電場值之后，所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)需要記錄下所述多個(gè)測試點(diǎn)的位置信息，以便后續(xù)在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)完成對(duì)所述終端的所述目標(biāo)測試之后，所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)根據(jù)所述位置信息在所述多個(gè)測試點(diǎn)測試所述終端的實(shí)時(shí)電場值。

在步驟103中，在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端完成所述目標(biāo)測試之后， 分別測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的實(shí)時(shí)電場值。

本公開實(shí)施例中，對(duì)所述終端進(jìn)行所述目標(biāo)測試的過程與相關(guān)技術(shù)中的測試過程相同，在此不再贅述。

本步驟中，在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端完成所述目標(biāo)測試之后，需要將所述終端放置在所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)的所述設(shè)備支架上，且需要確保所述終端當(dāng)前的位置與測試所述初始電場值時(shí)的位置相同。

由于所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)已經(jīng)記錄了所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述位置信息，此時(shí)需要分別在所述多個(gè)測試點(diǎn)按照相關(guān)技術(shù)測試所述終端產(chǎn)生的所述實(shí)時(shí)電場值。

在步驟104中，根據(jù)所述初始電場值和所述實(shí)時(shí)電場值，確定所述終端在所述目標(biāo)測試過程中是否處于穩(wěn)定狀態(tài)的檢測結(jié)果。

可選地，步驟104如圖4所示，可以包括：

在步驟104-1中，根據(jù)所述初始電場值確定目標(biāo)初始電場值。

本步驟中，需要在多個(gè)所述初始電場值中確定出后續(xù)用于判斷所述終端穩(wěn)定性的所述目標(biāo)初始電場值，可選地，所述目標(biāo)初始電場值包括所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值的最大值，和/或所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值的平均值。相應(yīng)地，可以在所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值中選取所述最大值，和/或計(jì)算所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值的所述平均值。

在步驟104-2中，根據(jù)所述實(shí)時(shí)電場值確定目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值。

本步驟中，需要在多個(gè)所述實(shí)時(shí)電場值中確定出后續(xù)用于判斷所述終端穩(wěn)定性的所述目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值，可選地，所述目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值包括所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值的最大值，和/或所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值的平均值。同樣地，可以在所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值中選取所述最大值，和/或計(jì)算所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值的所述平均值。

在步驟104-3中，比較所述目標(biāo)初始電場值和所述目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值的差值是否大于預(yù)設(shè)值。

本步驟中，需要注意地是，當(dāng)所述目標(biāo)初始電場值包括所述多個(gè)測試點(diǎn) 的所述初始電場值的最大值和平均值，且所述目標(biāo)實(shí)時(shí)值包括所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值的最大值和平均值時(shí)，需要比較兩個(gè)最大值的差值是否大于所述預(yù)設(shè)值，同時(shí)需要比較兩個(gè)平均值的差值是否大于所述預(yù)設(shè)值。

在步驟104-4中，當(dāng)所述差值大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，判斷所述檢測結(jié)果為所述終端在所述目標(biāo)測試過程中未處于穩(wěn)定狀態(tài)。

本步驟中，當(dāng)上述差值大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，可以確定所述終端在所述目標(biāo)測試過程中未處于穩(wěn)定狀態(tài)。

其中，當(dāng)所述目標(biāo)初始電場值包括所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值的最大值和平均值，且所述目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值包括所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值的最大值時(shí)和平均值時(shí)，需要兩個(gè)最大值的差值大于所述預(yù)設(shè)值且兩個(gè)平均值的差值同樣大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，才判定所述終端在所述目標(biāo)測試過程中未處于穩(wěn)定狀態(tài)。

在步驟104-5中，當(dāng)所述差值不大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，判定所述檢測結(jié)果為所述終端在所述目標(biāo)測試過程中處于穩(wěn)定狀態(tài)。

本步驟中，當(dāng)上述差值不大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，可以判定所述終端在所述目標(biāo)測試過程中處于穩(wěn)定狀態(tài)。

本公開實(shí)施例中，所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)執(zhí)行的相應(yīng)功能可以由所述目標(biāo)測試系統(tǒng)來實(shí)現(xiàn)，即可以由所述目標(biāo)測試系統(tǒng)在對(duì)所述終端進(jìn)行所述目標(biāo)測試之前，先選取多個(gè)測試點(diǎn)，進(jìn)而測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的所述初始電場值，在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)在對(duì)所述終端完成所述目標(biāo)測試之后，所述目標(biāo)測試系統(tǒng)測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的所述實(shí)時(shí)電場值。進(jìn)一步地，所述目標(biāo)測試系統(tǒng)直接根據(jù)所述初始電場值和所述實(shí)時(shí)電場值，確定所述終端在所述目標(biāo)測試過程中是否處于穩(wěn)定狀態(tài)的檢測結(jié)果。

上述實(shí)施例中，穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)首先選取多個(gè)測試點(diǎn)，在目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)終端進(jìn)行目標(biāo)測試之前，測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的初始電場值，當(dāng)所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端完成所述目標(biāo)測試之后，測量所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的實(shí)時(shí)電場值。進(jìn)一步地，通過比較所述多個(gè)測試點(diǎn) 的所述初始電場值和所述實(shí)時(shí)電場值，確定最終的終端穩(wěn)定性的檢測結(jié)果。降低了誤判的可能，提高了終端穩(wěn)定性檢測的準(zhǔn)確性。

如圖5所示，圖5是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測方法，該方法可以用于穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)，包括以下步驟：

在步驟201中，在目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)終端進(jìn)行目標(biāo)測試之前，對(duì)所述終端進(jìn)行定位，獲取定位信息。

本步驟中，穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)可以按照相關(guān)技術(shù)對(duì)所述終端進(jìn)行定位，從而獲取所述終端的定位信息?？蛇x地，所述定位信息可以為用于表征所述終端與所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)之間的相對(duì)距離值的距離信息。

在步驟202中，根據(jù)所述定位信息劃分出目標(biāo)區(qū)域。

本步驟中，需要根據(jù)上述步驟獲取的所述定位信息來劃分所述目標(biāo)區(qū)域，劃分出的目標(biāo)區(qū)域需要可以覆蓋所述終端。

在步驟203中，在所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取多個(gè)測試點(diǎn)。

本步驟中，所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)可以隨機(jī)在劃分出的所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取多個(gè)測試點(diǎn)?；蛘咴谒瞿繕?biāo)區(qū)域內(nèi)選取位于指定位置的所述多個(gè)測試點(diǎn)，例如選取的所述多個(gè)測試點(diǎn)包括所述目標(biāo)區(qū)域的四個(gè)頂點(diǎn)

在步驟204中，記錄所述多個(gè)測試點(diǎn)的位置信息。

在步驟205中，分別測試所述終端在選取的所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的初始電場值。

在步驟206中，在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端完成所述目標(biāo)測試之后，分別測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的實(shí)時(shí)電場值。

在步驟207中，分別根據(jù)所述初始電場值和所述實(shí)時(shí)電場值確定目標(biāo)初始電場值和目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值。

本步驟中，將多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值的最大值和多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值的平均值確定為所述目標(biāo)初始電場值。將多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值的最大值和多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值的平均值確定為所述目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值。

在步驟208中，比較所述目標(biāo)初始電場值和所述目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值的差值是否大于預(yù)設(shè)值。

本步驟中，如果兩個(gè)最大值的差值大于所述預(yù)設(shè)值且兩個(gè)平均值的差值也大于所述預(yù)設(shè)值，則執(zhí)行步驟209，否則執(zhí)行步驟210。

在步驟209中，判定所述檢測結(jié)果為所述終端在所述目標(biāo)測試過程中未處于穩(wěn)定狀態(tài)。

在步驟210中，判定所述檢測結(jié)果為所述終端在所述目標(biāo)測試過程中處于穩(wěn)定狀態(tài)。

上述實(shí)施例中，在目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)終端進(jìn)行目標(biāo)測試之前，穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)可以根據(jù)終端的定位信息劃分出可以覆蓋所述終端的目標(biāo)區(qū)間，進(jìn)而在所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)自動(dòng)選取多個(gè)測試點(diǎn)。確保了后續(xù)終端穩(wěn)定性檢測的準(zhǔn)確性。進(jìn)一步地，在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端進(jìn)行目標(biāo)測試之前和之后，所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)分別測試所述終端在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的初始電場值和實(shí)時(shí)電場值，根據(jù)初始電場值和實(shí)時(shí)電場值分別確定目標(biāo)初始電場值和目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值之后，通過比較目標(biāo)初始電場值和目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值的差值是否大于預(yù)設(shè)值來確定終端穩(wěn)定性的檢測結(jié)果。降低了誤判的可能，提高了終端穩(wěn)定性檢測的準(zhǔn)確性。

與前述方法實(shí)施例相對(duì)應(yīng)，本公開還提供了裝置的實(shí)施例。

如圖6所示，圖6是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖，包括：選取模塊310、第一測試模塊320、第二測試模塊330和檢測結(jié)果確定模塊340。

其中，所述選取模塊310，被配置為選取多個(gè)測試點(diǎn)；

所述第一測試模塊320，被配置為在目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端進(jìn)行目標(biāo)測試之前，分別測試所述終端在所述選取模塊310選取的所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的初始電場值，所述目標(biāo)測試是對(duì)所述終端產(chǎn)生的輻射電場強(qiáng)度進(jìn)行的測試且所述目標(biāo)測試的測試過程中需要確保所述終端處于穩(wěn)定狀態(tài)的測試；

所述第二測試模塊330，被配置為在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端完成 所述目標(biāo)測試之后，分別測試所述終端在所述選取模塊310選取的所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的實(shí)時(shí)電場值；

所述檢測結(jié)果確定模塊340，被配置為根據(jù)所述第一測試模塊320測試得到的所述初始電場值和所述第二測試模塊330測試得到的所述實(shí)時(shí)電場值，確定所述終端在所述目標(biāo)測試過程中是否處于穩(wěn)定狀態(tài)的檢測結(jié)果。

如圖7所示，圖7是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖，該實(shí)施例在前述圖6所示實(shí)施例的基礎(chǔ)上，所述選取模塊310包括：獲取子模塊311、劃分子模塊312和選取子模塊313。

其中，所述獲取子模塊311，被配置為對(duì)所述終端進(jìn)行定位，獲取定位信息；

所述劃分子模塊312，被配置為根據(jù)所述獲取子模塊311獲取的所述定位信息劃分出目標(biāo)區(qū)域；

所述選取子模塊313，被配置為在所述劃分子模塊312劃分出的所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取所述多個(gè)測試點(diǎn)。

可選地，所述定位信息包括用于表征所述穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)和所述終端之間的相對(duì)距離值的距離信息。

如圖8所示，圖8是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖，該實(shí)施例在前述圖7所示實(shí)施例的基礎(chǔ)上，所述劃分子模塊312包括：確定單元3121和劃分單元3122。

其中，所述確定單元3121，被配置為確定目標(biāo)平面，所述目標(biāo)平面與所述終端所在的終端平面之間的距離為所述獲取子模塊311獲取的所述相對(duì)距離值；

所述劃分單元3122，被配置為在所述確定單元3121確定的所述目標(biāo)平面中劃分出覆蓋所述終端的所述目標(biāo)區(qū)域。

如圖9所示，圖9是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖，該實(shí)施例在前述圖7所示實(shí)施例的基礎(chǔ)上，所述選取子模塊313包括第一選取單元3131或第二選取單元3132。

其中，所述第一選取單元3131，被配置為在所述劃分子模塊312劃分出的所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)隨機(jī)選取所述多個(gè)測試點(diǎn)；

所述第二選取單元3132，被配置為在所述劃分子模塊312劃分出的所述目標(biāo)區(qū)域內(nèi)選取位于指定位置的所述多個(gè)測試點(diǎn)。

可選地，所述指定位置包括所述目標(biāo)區(qū)域的頂點(diǎn)。

如圖10所示，圖10是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖，該實(shí)施例在前述圖6所示實(shí)施例的基礎(chǔ)上，所述裝置還包括：記錄模塊350。

其中，所述記錄模塊350，被配置為在所述選取模塊310選取所述多個(gè)測試點(diǎn)之后，記錄所述多個(gè)測試點(diǎn)的位置信息。

如圖11所示，圖11是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖，該實(shí)施例在前述圖6所示實(shí)施例的基礎(chǔ)上，所述檢測結(jié)果確定模塊340包括：第一確定子模塊341、第二確定子模塊342、比較子模塊343、第一檢測結(jié)果判定子模塊344和第二檢測結(jié)果判定子模塊345。

其中，所述第一確定子模塊341，被配置為根據(jù)所述第一測試模塊320測試得到的所述初始電場值確定目標(biāo)初始電場值；

所述第二確定子模塊342，被配置為根據(jù)所述第二測試模塊330測試得到的所述實(shí)時(shí)電場值確定目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值；

所述比較子模塊343，被配置為比較所述第一確定子模塊331確定的所述目標(biāo)初始電場值和所述第二確定子模塊332確定的所述目標(biāo)實(shí)時(shí)電場值的差值是否大于預(yù)設(shè)值；

所述第一檢測結(jié)果判定子模塊344，被配置為當(dāng)所述比較子模塊343比較出所述差值大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，判定所述檢測結(jié)果為所述終端在所述目標(biāo)測試過程中未處于穩(wěn)定狀態(tài)；

第二檢測結(jié)果判定子模塊345，被配置為當(dāng)所述比較子模塊343比較出所述差值不大于所述預(yù)設(shè)值時(shí)，判定所述檢測結(jié)果為所述終端在所述目標(biāo)測試過程中處于穩(wěn)定狀態(tài)。

如圖12所示，圖12是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖，該實(shí)施例在前述圖11所示實(shí)施例的基礎(chǔ)上，所述第一確定子模塊341包括：第一獲取單元3411和/或第一計(jì)算單元3412。

其中，所述第一獲取單元3411，被配置為獲取所述第一測試模塊320測試得到的所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值中的最大值；

所述第一計(jì)算單元3412，被配置為計(jì)算所述第一測試模塊320測試得到的所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述初始電場值的平均值。

如圖13所示，圖13是本公開根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種終端穩(wěn)定性檢測裝置框圖，該實(shí)施例在前述圖11所示實(shí)施例的基礎(chǔ)上，所述第二確定子模塊342包括：第二獲取單元3421和/或第二計(jì)算單元3422。

其中，所述第二獲取單元3421，被配置為獲取所述第二測試模塊330測試得到的所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值中的最大值；

所述第二計(jì)算單元3422，被配置為計(jì)算所述第二測試模塊330測試得到的所述多個(gè)測試點(diǎn)的所述實(shí)時(shí)電場值的平均值。

對(duì)于裝置實(shí)施例而言，由于其基本對(duì)應(yīng)于方法實(shí)施例，所以相關(guān)之處參見方法實(shí)施例的部分說明即可。以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的，其中作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個(gè)地方，或者也可以分布到多個(gè)網(wǎng)絡(luò)單元上。可以根據(jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部模塊來實(shí)現(xiàn)本公開方案的目的。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的情況下，即可以理解并實(shí)施。

相應(yīng)的，本公開還提供一種終端穩(wěn)定性檢測裝置，包括：

處理器；

用于存儲(chǔ)處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器；

其中，所述處理器被配置為：

選取多個(gè)測試點(diǎn)；

在目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)終端進(jìn)行目標(biāo)測試之前，分別測試所述終端在所述多 個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的初始電場值，所述目標(biāo)測試是對(duì)所述終端產(chǎn)生的輻射電場強(qiáng)度進(jìn)行的測試且所述目標(biāo)測試的測試過程中需要確保所述終端處于穩(wěn)定狀態(tài)；

在所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)所述終端完成所述目標(biāo)測試之后，分別所述目標(biāo)測試系統(tǒng)對(duì)在所述多個(gè)測試點(diǎn)產(chǎn)生的實(shí)時(shí)電場值；

根據(jù)所述初始電場值和所述實(shí)時(shí)電場值，確定所述終端在所述目標(biāo)測試過程中是否處于穩(wěn)定狀態(tài)的檢測結(jié)果。

如圖14所示，圖14是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種用于終端穩(wěn)定性檢測裝置1400的一結(jié)構(gòu)示意圖。例如，裝置1400可以被提供為穩(wěn)定性檢測系統(tǒng)的服務(wù)器。參照?qǐng)D14，裝置1400包括處理組件1422，其進(jìn)一步包括一個(gè)或多個(gè)處理器，以及由存儲(chǔ)器1432所代表的存儲(chǔ)器資源，用于存儲(chǔ)可由處理組件1422的執(zhí)行的指令，例如應(yīng)用程序。存儲(chǔ)器1432中存儲(chǔ)的應(yīng)用程序可以包括一個(gè)或一個(gè)以上的每一個(gè)對(duì)應(yīng)于一組指令的模塊。此外，處理組件1422被配置為執(zhí)行指令，以執(zhí)行上述終端穩(wěn)定性檢測方法。

裝置1400還可以包括一個(gè)電源組件1426被配置為執(zhí)行裝置1400的電源管理，一個(gè)有線或無線網(wǎng)絡(luò)接口1450被配置為將裝置1400連接到網(wǎng)絡(luò)，和一個(gè)輸入輸出(i/o)接口1458。裝置1400可以操作基于存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器1432的操作系統(tǒng)，例如windowsservertm，macosxtm，unixtm，linuxtm，freebsdtm或類似。

本領(lǐng)域技術(shù)人員在考慮說明書及實(shí)踐這里公開的發(fā)明后，將容易想到本公開的其它實(shí)施方案。本公開旨在涵蓋本公開的任何變型、用途或者適應(yīng)性變化，這些變型、用途或者適應(yīng)性變化遵循本公開的一般性原理并包括本公開未公開的本技術(shù)領(lǐng)域中的公知常識(shí)或者慣用技術(shù)手段。說明書和實(shí)施例僅被視為示例性的，本公開的真正范圍和精神由下面的權(quán)利要求指出。

以上所述僅為本公開的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本公開，凡在本公開的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本公開保護(hù)的范圍之內(nèi)。