1.一種用于減少在對象(24)的斷層圖像和/或體繪制中的噪聲的方法，其中，在該方法中從多個(gè)受散射影響的投影圖像數(shù)據(jù)組(P1，P2，P3)中形成至少一個(gè)具有散射偽影的、受散射影響的斷層圖像(Funcorr)，以及至少一個(gè)初步的、借助預(yù)先給定的校正方法散射校正過的斷層圖像(Fcorr)，
其特征在于，
基于在受散射影響的斷層圖像(Funcorr)中繪制的對象的邊緣輪廓，借助濾波器選擇性地平滑至少一個(gè)散射校正過的斷層圖像(Fcorr)中的或者描述了散射偽影的偽影圖中的噪聲。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，平滑至少一個(gè)散射校正過的斷層圖像(Fcorr)中的噪聲，并且借助自適應(yīng)濾波器(TV)根據(jù)邊緣輪廓區(qū)域特定地執(zhí)行該平滑。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，為了適配濾波器(TV)而產(chǎn)生平滑掩模(Axyz)，其對于至少一個(gè)散射校正過的斷層圖像(Fcorr)的多個(gè)不同的體素預(yù)先給出平滑度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，所述平滑掩模(Axyz)是根據(jù)每個(gè)受散射影響的斷層圖像(Funcorr)的和/或每個(gè)散射校正過的斷層圖像(Fcorr)的梯度值形成的。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，基于受散射影響的斷層圖像(Funcorr)和散射校正過的斷層圖像(Fcorr)形成偽影圖(Fdiff)，并且平滑該偽影圖中的噪聲。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中，為了形成偽影圖(Fdiff)，將受散射影響的斷層圖像(Funcorr)和散射校正過的斷層圖像(Fcorr)彼此相減，并且在平滑之后，通過將濾波過的偽影圖(Fdiff2)從受散射影響的斷層圖像(Funcorr)中減去而形成噪聲減少且散射校正過的新斷層圖像。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中，所述偽影圖(Fdiff)是從早于投影圖像數(shù)據(jù)組的測量中或者從與投影圖像數(shù)據(jù)組不同的數(shù)據(jù)組、尤其是計(jì)算機(jī)斷層成像設(shè)備的結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)組中獲得的。
8.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，濾波器是總體方差濾波器(TV)。
9.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，將基于減法的散射校正用作用于形成至少一個(gè)散射校正過的斷層圖像(Fcorr)的校正方法，借助該基于減法的散射校正將所估計(jì)的散射信號從投影圖像數(shù)據(jù)組(P1，P2，P3)中減去。
10.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，基于投影圖像數(shù)據(jù)組(P1，P2，P3)，借助迭代的重建方法形成散射校正過的斷層圖像(Fcorr)，并且在多個(gè)或所有迭代中借助自適應(yīng)濾波器(TV)平滑該散射校正過的斷層圖像。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中，將ART方法或者SART方法或者統(tǒng)計(jì)方法用作迭代的重建方法。
12.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，斷層圖像(Fcorr,Funcorr)是從對象的受散射影響的和散射校正過的體積模型(Funcorr,Fcorr)中提取的。
13.一種計(jì)算機(jī)斷層成像設(shè)備(10)，其具有用于從不同的投影角度透照對象(24)的輻射源(20)以及用于探測輻射和產(chǎn)生被透照對象的多個(gè)投影圖像數(shù)據(jù)組(P1，P2，P3)的輻射探測器(22)，
其特征在于，
分析裝置(14)，其設(shè)計(jì)為基于所述投影圖像數(shù)據(jù)組(P1，P2，P3)執(zhí)行按照上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法。