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檢測觸摸壓力的觸摸輸入裝置的靈敏度修正方法及計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)與流程

文檔序號:11948973閱讀:218來源:國知局
檢測觸摸壓力的觸摸輸入裝置的靈敏度修正方法及計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)與流程

本發(fā)明涉及一種檢測觸摸壓力的觸摸輸入裝置的靈敏度修正方法及計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì),更詳細(xì)地涉及一種能夠均勻地修正對觸摸傳感器面板的觸摸壓力靈敏度的檢測觸摸壓力的觸摸輸入裝置的靈敏度修正方法及記錄了執(zhí)行其的程序的計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)。



背景技術(shù):

按鈕(button)、鍵(key)、控制桿(joystick)及觸摸屏等用于操作計(jì)算系統(tǒng)的多種種類的輸入裝置正被開發(fā)和利用。其中,觸摸屏由于具有操作的簡便性、產(chǎn)品的小型化及制造工序的簡單化等多種優(yōu)點(diǎn),是最受矚目的。

觸摸屏可以構(gòu)成包含可以為具備觸摸-感應(yīng)表面(touch-sensitive surface)的透明面板的觸摸傳感器面板(touch sensor panel)的觸摸輸入裝置的觸摸表面。這種觸摸傳感器面板附著在觸摸屏整個(gè)表面,從而觸摸-檢測表面可以覆蓋觸摸屏。使用者可以用手指等對觸摸屏進(jìn)行觸摸而操作計(jì)算系統(tǒng)。由此,計(jì)算系統(tǒng)識別對觸摸屏的觸摸與否及觸摸位置而執(zhí)行運(yùn)算,從而執(zhí)行按照使用者的意圖的工作。

另外,為了提高操作的便利性興起了還檢測觸摸壓力的裝置的需求,并對這種裝置進(jìn)行著研究,但在檢測觸摸壓力的情況下,無法在顯示器表面以均勻的靈敏度檢測觸摸壓力這一問題。而且,由于制造工序或制造環(huán)境的差異,所制造的每個(gè)產(chǎn)品可能會顯示出不同的靈敏度,因此需要為了彌補(bǔ)這一點(diǎn)的觸摸輸入裝置的靈敏度修正。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

要解決的問題

本發(fā)明是鑒于上述問題提出的,本發(fā)明的目的在于,提供作為檢測觸摸壓力的觸摸輸入裝置,能夠以在顯示器的整個(gè)表面以均勻的靈敏度檢測觸摸壓力的方式修正觸摸輸入裝置的觸摸壓力靈敏度的檢測觸摸壓力的觸摸輸入裝置的靈敏度修正方法及計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)。

問題的解決手段

為實(shí)現(xiàn)上述目的,根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法是檢測觸摸壓力的觸摸輸入裝置的靈敏度修正方法,包括:在觸摸傳感器面板定義分隔的多個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的步驟;生成與對上述多個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)施加規(guī)定的壓力而檢測出的靜電容量變化量對應(yīng)的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的步驟;基于上述基準(zhǔn)數(shù)據(jù),生成與對任意點(diǎn)的靜電容量變化量對應(yīng)的插值數(shù)據(jù)的步驟,其中上述任意點(diǎn)存在于上述多個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)之間;基于生成的上述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)及上述插值數(shù)據(jù),對上述基準(zhǔn)點(diǎn)及上述任意點(diǎn)每一個(gè),算出用于將上述觸摸輸入裝置的靈敏度修正為目標(biāo)值的修正系數(shù)的步驟;以及將算出的上述修正系數(shù)使用于所對應(yīng)的各個(gè)點(diǎn),而均勻地修正上述觸摸輸入裝置的靈敏度的步驟。

并且,上述修正系數(shù)可以相當(dāng)于上述目標(biāo)值除以記錄于上述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)和上述插值數(shù)據(jù)的靜電容量變化量而得的值,并且對上述基準(zhǔn)點(diǎn)及任意點(diǎn)分別算出上述修正系數(shù)。

另外,對于定義上述基準(zhǔn)點(diǎn)的步驟而言,可以通過使上述基準(zhǔn)點(diǎn)位于在上述觸摸傳感器面板上的相互平行的n個(gè)橫線和相互平行的m個(gè)縱線的交叉點(diǎn)來定義n×m(n、m是2以上的自然數(shù))個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)。

并且,上述插值數(shù)據(jù)可以基于在包圍上述任意點(diǎn)的4個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)測得的靜電容量變化量、及上述任意點(diǎn)與上述4個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的分隔距離而生成。

另外,在定義上述基準(zhǔn)點(diǎn)的步驟之前,可以預(yù)先執(zhí)行:在多個(gè)觸摸輸入裝置所具備的觸摸傳感器面板定義多個(gè)位置點(diǎn)的步驟;對上述多個(gè)位置點(diǎn)施加相同的壓力而檢測靜電容量變化量的步驟:算出在上述多個(gè)觸摸輸入裝置之間的相同的位置檢測出的靜電容量變化量的平均值而生成平均值數(shù)據(jù)的步驟;基于上述平均值數(shù)據(jù),算出對上述多個(gè)位置點(diǎn)的初次修正系數(shù)的步驟;以及將上述初次修正系數(shù)使用于上述多個(gè)位置點(diǎn),而均勻地修正上述觸摸輸入裝置的靈敏度的步驟。

另外,上述初次修正系數(shù)可以是相當(dāng)于上述平均值的倒數(shù)的值。

并且,上述多個(gè)位置點(diǎn)可以被定義在與上述基準(zhǔn)點(diǎn)及上述任意點(diǎn)相同的位置。

另外,為了實(shí)現(xiàn)上述目的,根據(jù)本發(fā)明的計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)可記錄有實(shí)行如下步驟的程序:在包括壓力檢測模塊的顯示器表面定義相互分隔的多個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的步驟;生成與對上述多個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)施加規(guī)定的壓力而檢測出的靜電容量變化量對應(yīng)的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的步驟;生成與對任意點(diǎn)的靜電容量變化量對應(yīng)的插值數(shù)據(jù)的步驟,其中上述任意點(diǎn)存在于上述多個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)之間;基于上述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)及插值數(shù)據(jù),對上述基準(zhǔn)點(diǎn)及任意點(diǎn)每一個(gè),算出用于將上述觸摸輸入裝置的靈敏度設(shè)定為目標(biāo)值的修正系數(shù)的步驟;以及將算出的上述修正系數(shù)使用于所對應(yīng)的各個(gè)點(diǎn),而修正觸摸輸入裝置的靈敏度的步驟。

并且,記錄在上述計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)的程序還可以在定義上述基準(zhǔn)點(diǎn)的步驟之前實(shí)行如下步驟:在多個(gè)觸摸輸入裝置所具備的觸摸傳感器面板定義多個(gè)位置點(diǎn)的步驟;對上述多個(gè)位置點(diǎn)施加相同的壓力而檢測靜電容量變化量的步驟:算出在上述多個(gè)觸摸輸入裝置之間的相同的位置檢測出的靜電容量變化量的平均值而生成平均值數(shù)據(jù)的步驟;基于上述平均值數(shù)據(jù),算出對上述多個(gè)位置點(diǎn)的初次修正系數(shù)的步驟;以及將上述初次修正系數(shù)使用于上述多個(gè)位置點(diǎn),而均勻地修正上述觸摸輸入裝置的靈敏度的步驟。

發(fā)明效果

根據(jù)本發(fā)明的輸入裝置的靈敏度修正方法及計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì),能夠以在顯示器的整個(gè)表面以均勻的靈敏度檢測觸摸壓力的方式修正觸摸輸入裝置的靈敏度。

附圖說明

圖1是示出使用本發(fā)明的靈敏度修正方法的觸摸輸入裝置的結(jié)構(gòu)的示意圖。

圖2是使用根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的靈敏度修正方法的、以能夠檢測觸摸 位置及觸摸壓力的方式構(gòu)成的觸摸輸入裝置的剖視圖。

圖3a是示出對觸摸傳感器面板的各位置施加相同的壓力時(shí)檢測出的靜電容量變化量的圖表。

圖3b是示出優(yōu)選的靜電容量變化量的圖表。

圖4是示出根據(jù)本發(fā)明的觸摸輸入裝置的靈敏度修正方法的流程圖。

圖5a及圖5b是示出根據(jù)本發(fā)明的觸摸輸入裝置的靈敏度修正方法中定義的基準(zhǔn)點(diǎn)的一例的圖。

圖6、圖7a及圖7b是用于說明根據(jù)本發(fā)明的觸摸輸入裝置的靈敏度修正方法中生成插值數(shù)據(jù)的圖。

圖8a是示出對多個(gè)位置點(diǎn)施加相同的壓力而檢測出的靜電容量變化量的圖表。

圖8b是示出對多個(gè)位置點(diǎn)施加相同的壓力而檢測出的靜電容量變化量的數(shù)據(jù)。

圖9a是示出使用根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法的結(jié)果的圖表。

圖9b是示出使用根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法的結(jié)果的數(shù)據(jù)。

圖10a是示出使用根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法的結(jié)果的圖表。

圖10b是示出使用根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法的結(jié)果的數(shù)據(jù)。

圖11是示出用于根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的靈敏度修正方法的初次修正步驟的流程圖。

圖12a是示出在根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法中使用初次修正步驟的結(jié)果的圖表。

圖12b是示出在根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法中使用初次修正步驟的結(jié)果的數(shù)據(jù)。

圖13a是示出在根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法中,在經(jīng)過初次修正步驟 后使用實(shí)質(zhì)上的修正步驟的結(jié)果的圖表。

圖13b是示出在根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法中,在經(jīng)過初次修正步驟后使用實(shí)質(zhì)上的修正步驟的結(jié)果的數(shù)據(jù)。

圖14a是示出在根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法中,在經(jīng)過初次修正步驟后使用實(shí)質(zhì)上的修正步驟的結(jié)果的圖表。

圖14b是示出在根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法中,在經(jīng)過初次修正步驟后使用實(shí)質(zhì)上的修正步驟的結(jié)果的數(shù)據(jù)。

附圖標(biāo)記說明

1000…觸摸輸入裝置;100…觸摸傳感器面板

200…顯示器模塊;400…壓力檢測模塊。

具體實(shí)施方式

以能夠?qū)嵤┍景l(fā)明的特定實(shí)施例為示例參照附圖而進(jìn)行下述的對于本發(fā)明的詳細(xì)說明。對這些實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明以能夠使本領(lǐng)域技術(shù)人員充分實(shí)施本發(fā)明。本發(fā)明的多種實(shí)施例雖然不同但應(yīng)理解不存在相互排他的需要。例如,此處記載的特定形狀、結(jié)構(gòu)及特性與一實(shí)施例相關(guān),從而可以在不脫離本發(fā)明的構(gòu)思及范圍內(nèi)以其他實(shí)施例實(shí)現(xiàn)。另外,應(yīng)理解:所示出的各實(shí)施例中的各構(gòu)成要素的位置或者配置在不脫離本發(fā)明的構(gòu)思及范圍的情況下可進(jìn)行變更。因此,下述的詳細(xì)說明并不旨于限定含義,適當(dāng)?shù)卣f明本發(fā)明的范圍,則為包括權(quán)利要求所主張的和與此等同的所有范圍而僅由權(quán)利要求限定。附圖中類似的附圖標(biāo)記指代在多個(gè)側(cè)面上相同或類似的功能。

圖1是示出使用本發(fā)明的靈敏度修正方法的觸摸輸入裝置的結(jié)構(gòu)的示意圖。

參照圖1,本發(fā)明的觸摸傳感器面板100包括多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)及多個(gè)接收電極(RX1至RXm),并且可以包括為了上述觸摸傳感器面板100的工作而對上述多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)施加驅(qū)動信號的驅(qū)動部120、以及接收包含對靜電容量變化量的信息在內(nèi)的檢測信號而檢測觸摸與否及觸摸位置的檢測部110,上述靜電容量變化 量根據(jù)對觸摸傳感器面板100的觸摸表面的觸摸而發(fā)生變化。

如圖1所示,觸摸傳感器面板100可以包括多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)和多個(gè)接收電極(RX1至RXm)。雖然在圖1中示出了觸摸傳感器面板100的多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)和多個(gè)接收電極(RX1至RXm)正交排列的構(gòu)成,但本發(fā)明不限于此,多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)和多個(gè)接收電極(RX1至RXm)可以具有包括對角線、同心圓及三維隨機(jī)排列等任意維數(shù)及其應(yīng)用排列。其中,n及m是正整數(shù),可以具有相同或不同的值,還可以使大小不同。

如圖1所示,多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)和多個(gè)接收電極(RX1至RXm)可以分別以相互交叉的方式排列。驅(qū)動電極(TX)可以包括沿著第一軸方向延伸的多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn),接收電極(RX)可以包括沿著與第一軸方向交叉的第二軸方向延伸的多個(gè)接收電極(RX1至RXm)。

在本發(fā)明的結(jié)構(gòu)之一的觸摸傳感器面板100中,多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)和多個(gè)接收電極(RX1至RXm)可以形成在彼此相同的層。例如,多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)和多個(gè)接收電極(RX1至RXm)可以形成在絕緣膜(未圖示)的相同的表面。另外,多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)和多個(gè)接收電極(RX1至RXm)可以形成在彼此不同的層。例如,多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)和多個(gè)接收電極(RX1至RXm)可以分別形成在一個(gè)絕緣膜(未圖示)的雙面,或者也可以是多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)形成在第一絕緣膜(未圖示)的一面,而多個(gè)接收電極(RX1至RXm)形成在不同于上述第一絕緣膜的第二絕緣膜(未圖示)的一面上。

多個(gè)驅(qū)動電極(TX1至TXn)和多個(gè)接收電極(RX1至RXm)可由透明導(dǎo)電性物質(zhì)(例如,由氧化錫(SnO2)及氧化銦(In2O3)等構(gòu)成的ITO(Indium Tin Oxide)或者ATO(Antimony Tin Oxide))等形成。然而,這僅僅是示例,驅(qū)動電極(TX)及接收電極(RX)也可以由其他透明導(dǎo)電性物質(zhì)或者不透明導(dǎo)電性物質(zhì)形成。例如,驅(qū)動電極(TX)及接收電極(RX)可以包含銀墨(silver ink)、銅(copper)和碳納米管(CNT:Carbon Nano tube)中的至少任一個(gè)而構(gòu)成。另外,驅(qū)動電極(TX)及接收電極(RX)可以由金屬網(wǎng)格(metal mesh)實(shí) 現(xiàn)或由納米銀(nano silver)物質(zhì)構(gòu)成。

根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的觸摸輸入裝置100的結(jié)構(gòu)之一的驅(qū)動部120可以對驅(qū)動電極(TX1至TXn)施加驅(qū)動信號。在根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的觸摸輸入裝置1000中,從第一驅(qū)動電極(TX1)到第n驅(qū)動電極(TXn)依次地一次對一個(gè)驅(qū)動電極施加驅(qū)動信號。這種驅(qū)動信號的施加可以再次地重復(fù)性地形成。這僅僅是示例,也可以根據(jù)實(shí)施例對多個(gè)驅(qū)動電極同時(shí)施加驅(qū)動信號。

檢測部110通過接收電極(RX1至RXm)接收檢測信號,能夠檢測觸摸與否及觸摸位置,其中檢測信號包含有關(guān)在施加了驅(qū)動信號的驅(qū)動電極(TX1至TXn)和接收電極(RX1至RXm)之間產(chǎn)生的靜電容量(Cm:101)的信息。例如,檢測信號可以是施加于驅(qū)動電極(TX)的驅(qū)動信號被驅(qū)動電極(TX)和接收電極(RX)之間產(chǎn)生的靜電容量(CM:101)耦合的信號。

像這樣,通過接收電極(RX1至RXm)檢測施加于第一驅(qū)動電極(TX1)部到第n驅(qū)動電極(TXn)的驅(qū)動信號的過程,可以稱為對觸摸傳感器面板100進(jìn)行掃描(scan)。

例如,檢測部110可以包括通過開關(guān)與各接收電極(RX1至RXm)連接的接收器(未圖示)而構(gòu)成。上述開關(guān)在檢測相應(yīng)接收電極(RX)的信號的時(shí)間區(qū)間導(dǎo)通(on),從而從接收電極(RX)由接收器檢測檢測信號。接收器可以包括放大器(未圖示)及與放大器的負(fù)(-)輸入端和放大器的輸出端之間即反饋路徑結(jié)合的反饋電容器而構(gòu)成。此時(shí),放大器的正(+)輸入端可以被接地(ground)。另外,接收器還可以包括與反饋電容器并聯(lián)連接的復(fù)位開關(guān)。復(fù)位開關(guān)可以對通過接收器執(zhí)行的電流到電壓的轉(zhuǎn)換進(jìn)行復(fù)位。放大器的負(fù)輸入端可以與相應(yīng)接收電極(RX)連接而接收包含對靜電容量(CM:101)的信息的電流信號后,對其進(jìn)行積分而轉(zhuǎn)換為電壓。檢測部110還可以包括將通過接收器積分的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為數(shù)字化數(shù)據(jù)的ADC(未圖示,analog to digital converter:模數(shù)轉(zhuǎn)換器)。之后,將數(shù)字化數(shù)據(jù)輸入于處理器(未圖示)而以獲得對觸摸傳感器面板100的觸摸信息的方式對其進(jìn)行處理。檢測部110包括接收器、ADC及處理器而構(gòu)成。

控制部130可以執(zhí)行控制驅(qū)動部120和檢測部110的工作的功能。例如,控制部130可以在生成驅(qū)動控制信號后將其傳遞給驅(qū)動部200,從而使得驅(qū)動信號在規(guī)定時(shí)間內(nèi)施加于預(yù)先設(shè)定的驅(qū)動電極(TX)。另外,控制部130可以在生成檢測控制信號后將其傳遞各檢測部110,使得檢測部110在規(guī)定時(shí)間內(nèi)從由預(yù)先設(shè)定的接收電極(RX)接收檢測信號,從而執(zhí)行預(yù)先設(shè)定的功能。

在圖1中,驅(qū)動部120及檢測部110可以構(gòu)成檢測對根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的觸摸輸入裝置1000的觸摸傳感器面板100的觸摸與否及觸摸位置的觸摸檢測裝置(未示出)。根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的觸摸輸入裝置1000還可以包括控制部130。在本發(fā)明的一實(shí)施例中,在包括觸摸傳感器面板100的觸摸輸入裝置1000中,可以在作為觸摸傳感電路的觸摸傳感IC(touch sensing Integrated Circuit)上直接集成而實(shí)現(xiàn)。觸摸傳感器面板100所包括的驅(qū)動電極(TX)及接收電極(RX)可以通過例如導(dǎo)電性線路(conductive trace)及/或者在電路基板上印刷的導(dǎo)電圖案(conductive pattern)等與觸摸傳感IC(150)所包括的驅(qū)動部120及檢測部110連接。

如上所述,驅(qū)動電極(TX)和接收電極(RX)的每個(gè)交叉地點(diǎn)均生成規(guī)定值的靜電容量(C),在手指這種對象接近觸摸傳感器面板100時(shí)這種靜電容量的值可發(fā)生變化。在圖1中上述靜電容量可以表示互電容(mutual capacitance)(Cm)。在檢測部110檢測這種電特性,從而能夠檢測對觸摸傳感器面板100的觸摸與否及/或觸摸位置。例如,能夠檢測對由第一軸和第二軸構(gòu)成的二維平面構(gòu)成的觸摸傳感器面板100的表面的觸摸與否及/或觸摸位置。

更具體而言,發(fā)生對觸摸傳感器面板100的觸摸時(shí),通過檢測施加有驅(qū)動信號的驅(qū)動電極(TX),能夠檢測觸摸的第二軸方向的位置。與此相同地,對觸摸傳感器面板100進(jìn)行觸摸時(shí),由通過接收電極(RX)接收的接收信號檢測靜電容量變化,由此能夠檢測觸摸的第一軸方向的位置。

在上文中對作為觸摸傳感器面板100的互電容方式的觸摸傳感器面板進(jìn)行了詳細(xì)說明,但根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的觸摸輸入裝置1000中用于檢測觸摸與否及觸摸位置的觸摸傳感器面板100,可以利用除上述 方法之外的磁性靜電容量方式、表面靜電容量方式、投射(projected)靜電容量方式、電阻膜方式、表面聲波方式(SAW:surface acoustic wave)、紅外線(infrared)方式、光學(xué)成像方式(optical imaging),分散信號方式(dispersive signal technology)及聲學(xué)脈沖識別(acoustic pulse recognition)方式等任意的觸摸傳感方式來實(shí)現(xiàn)。

在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的觸摸輸入裝置1000中,用于檢測觸摸位置的觸摸傳感器面板100可以位于顯示器模塊200外部或者內(nèi)部。

根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的觸摸輸入裝置1000的顯示器模塊200可以為液晶顯示裝置(LCD:Liquid Crystal Display),此時(shí),采用IPS(In Plane Switching:平面轉(zhuǎn)換)方式、VA(Vertical Alignment:垂直配向)方式及TN(Twisted Nematic:扭曲向列)方式中任意方式的顯示器面板均可以。另外,根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的觸摸輸入裝置1000的顯示器模塊200也可以為PDP(Plasma Display Panel:等離子顯示器)、有機(jī)發(fā)光顯示裝置(Organic Light Emitting Diode:OLED)等所包括的顯示器面板。由此,使用者用肉眼確認(rèn)顯示在顯示器面板的畫面,從而能夠?qū)τ|摸表面執(zhí)行觸摸而執(zhí)行輸入行為。

此時(shí),顯示器模塊200可以包括控制電路,以由用于觸摸輸入裝置100的工作的主板(main board)上的中央處理單元CPU(central processing unit)或者AP(applicationprocessor:應(yīng)用處理器)等接收輸入而在顯示器面板顯示期望的內(nèi)容。

此時(shí),用于顯示器面板200的工作的控制電路,可以包括顯示器面板控制IC、圖形控制IC(graphic controller IC)及其他顯示器面板200工作所需的電路。

圖2是使用根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的靈敏度修正方法的、以能夠檢測觸摸位置及觸摸壓力的方式構(gòu)成的觸摸輸入裝置的剖視圖。

在包括顯示器模塊200的觸摸輸入裝置1000中,用于檢測觸摸位置的觸摸傳感器面板100及壓力檢測模塊400可以附著在顯示器模塊200的整個(gè)表面。由此,可以保護(hù)顯示器模塊200的顯示器屏,提高觸摸傳感器面板100的觸摸檢測靈敏度。

此時(shí),壓力檢測模塊400可以與用于檢測觸摸位置的觸摸傳感器面板100另行工作,例如,壓力檢測模塊400可以以與用于檢測觸摸位置的觸摸傳感器面板100獨(dú)立地以僅檢測壓力的方式構(gòu)成。另外,壓力檢測模塊400可以以與用于檢測觸摸位置的觸摸傳感器面板100結(jié)合而檢測觸摸壓力的方式構(gòu)成。例如,用于檢測觸摸位置的觸摸傳感器面板100所包含的驅(qū)動電極(TX)和接收電極(RX)中的至少一個(gè)電極可以用于檢測觸摸壓力。

圖2中示出了壓力檢測模塊400與觸摸傳感器面板100結(jié)合而可以檢測觸摸壓力的情況。在圖2中,壓力檢測模塊400包括使上述觸摸傳感器面板100和顯示器模塊200分隔的間隔層420。壓力檢測模塊400可以包括通過間隔層420與觸摸傳感器面板100分隔的基準(zhǔn)電位層。此時(shí),顯示器模塊200可以起到作為基準(zhǔn)電位層的功能。

基準(zhǔn)電位層可以具有使在驅(qū)動電極(TX)和接收電極(RX)之間生成的靜電容量(101)產(chǎn)生變化的任意電位。例如,基準(zhǔn)電位層可以為具有接地(ground)電位的接地層?;鶞?zhǔn)電位層可以是顯示器模塊200的接地(ground)層。此時(shí),基準(zhǔn)電位層可以具有與觸摸傳感器面板100的二維平面平行的平面。

如圖2所示,觸摸傳感器面板100和作為基準(zhǔn)電位層的顯示器模塊200分隔配置。此時(shí),根據(jù)觸摸傳感器面板100和顯示器模塊200的粘合方法的不同,觸摸傳感器面板100和顯示器模塊200之間的間隔層420可以由氣隙(air gap)實(shí)現(xiàn)。

此時(shí),為了固定觸摸傳感器面板100和顯示器模塊200,可以利用雙面膠430(DAT:Double Adhesive Tape)。例如,觸摸傳感器面板100和顯示器模塊200可以是各自的面積重疊的形狀,在觸摸傳感器面板100和觸摸傳感器面板200各自的邊緣區(qū)域,通過雙面膠430粘合兩個(gè)層,而在其余區(qū)域中觸摸傳感器面板100和顯示器模塊200可以分隔規(guī)定距離(d)。

一般來說,即使在觸摸傳感器面板100沒有彎曲地對觸摸表面進(jìn)行觸摸的情況下,驅(qū)動電極(TX)和接收電極(RX)之間的靜電容量(101:Cm)也會發(fā)生變化。即,對觸摸傳感器面板100進(jìn)行觸摸時(shí),互電容 (Cm:101)可相對于基本互電容減少。這是因?yàn)椋谌缡种傅茸鳛閷?dǎo)體的對象接近觸摸傳感器面板100的情況下,對象起到接地(GND)的作用,從而互電容(Cm:101)的邊緣靜電容量(fringing capacitance)被對象吸收?;净ル娙菔遣粚τ|摸傳感器面板100觸摸的情況下的驅(qū)動電極(TX)和接收電極(RX)之間的互電容的值。

在用對象對作為觸摸傳感器面板100的觸摸表面的上部表面進(jìn)行觸摸時(shí),施加壓力的情況下,觸摸傳感器面板100可能會被彎曲。此時(shí),驅(qū)動電極(TX)和接收電極(RX)之間的互電容(101:Cm)的值可能會進(jìn)一步減少。這是因?yàn)?,由于觸摸傳感器面板100彎曲,觸摸傳感器面板100和基準(zhǔn)電位層之間的距離由d減少至d',由此上述互電容(101:Cm)的邊緣靜電容量不僅被對象吸收還被基準(zhǔn)電位層吸收。在觸摸對象為非導(dǎo)體的情況下,互電容(Cm)的變化可僅由觸摸傳感器面板100和基準(zhǔn)電位層之間的距離變化(d-d')引起。

如上所述,通過在顯示器模塊200上包括觸摸傳感器面板100及壓力檢測模塊400而構(gòu)成觸摸輸入裝置1000,不僅能夠檢測觸摸位置還能同時(shí)檢測觸摸壓力。

然而,如圖2所示,在不僅將觸摸傳感器面板100配置在顯示器模塊200的上部,還將壓力檢測模塊400配置在顯示器模塊200上部的情況下,會發(fā)生顯示器模塊的顯示器特性降低的問題。尤其是,在顯示器模塊200上部包括氣隙420的情況下,顯示器模塊的清晰度及光透過率可能會降低。

因此,為了防止這種問題的發(fā)生,在用于檢測觸摸位置的觸摸傳感器面板100和顯示器模塊200之間不配置氣隙,而是通過用OCA(Optically Clear Adhesive:光學(xué)透明膠)這種粘合劑使觸摸傳感器面板100和顯示器模塊200被完全層壓(lamination)。

在關(guān)于圖1及圖2的上述說明中,為了說明觸摸位置及觸摸壓力檢測原理,指定使用根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的靈敏度修正方法的觸摸輸入裝置1000的結(jié)構(gòu)而進(jìn)行了說明,但若為可產(chǎn)生觸摸壓力的觸摸輸入裝置,則可以將根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法用于具有與圖1及圖2不同的結(jié)構(gòu)的裝置。

如上所述,壓力檢測是基于對觸摸傳感器面板100施加規(guī)定的壓力所產(chǎn)生的彎曲引起的電極間的距離變化、進(jìn)而是這些電極間的靜電容量變化來實(shí)現(xiàn)的。然而,觸摸傳感器面板100的彎曲程度不可能在所有位置都相同。尤其是,觸摸傳感器面板100的外緣部分,作為固定于殼體的部分,具有如下特點(diǎn):即使被施加相同壓力,相比圖觸摸傳感器面板100的中央部位,彎曲程度更小。

圖3a是對這種觸摸傳感器面板100的各位置施加相同的壓力時(shí)所檢測的靜電容量變化量的圖表化的圖表。在圖3a的圖表中,x軸及y軸分別表示橫軸位置及縱軸位置,z軸表示所檢測的靜電容量變化量。由圖3a的圖表可知,施加相同壓力時(shí),靜電容量變化量根據(jù)位置存在差異,觸摸傳感器面板100的中央部的靜電容量變化大,越靠向外緣部分,靜電容量變化量越小。

這是指觸摸傳感器面板100的外緣具有比中央部更低的靈敏度,是在觸摸輸入裝置1000的制造工序及結(jié)構(gòu)上無法避免的問題。理想的是,優(yōu)選如圖3b所示,在觸摸傳感器面板100的所有區(qū)域具有相同的靈敏度。因此,本發(fā)明提供一種通過靈敏度修正,使在觸摸傳感器面板100的所有位置檢測的靜電容量變化量如圖3b所示均勻地實(shí)現(xiàn)的觸摸輸入裝置的靈敏度修正方法。

圖4是示出根據(jù)本發(fā)明的觸摸輸入裝置的靈敏度修正方法的流程圖。

首先,在觸摸輸入裝置1000所具備的觸摸傳感器面板100定義多個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)(S110)。對所定義的基準(zhǔn)點(diǎn)施加規(guī)定的壓力,之后生成與檢測出的靜電容量變化量對應(yīng)的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)(S120)。

基準(zhǔn)數(shù)據(jù)被生成后,則通過插值法(interpolation)算出對在已定義的基準(zhǔn)點(diǎn)之間存在的任意點(diǎn)的靜電容量變化量,生成插值數(shù)據(jù)(S130)。

生成的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)和插值數(shù)據(jù)具有對觸摸傳感器面板100整體位置的靜電容量變化量的信息?;谏傻幕鶞?zhǔn)數(shù)據(jù)及插值數(shù)據(jù),算出用于將觸摸輸入裝置的靈敏度設(shè)定為目標(biāo)值的修正系數(shù)(S140)。

最后,將算出的修正系數(shù)用于分別對應(yīng)的點(diǎn),從而均勻地修正觸摸輸入裝置1000的靈敏度(S150)。

下面,對圖4的流程圖所示的根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的靈敏度修正方法所包含的各步驟進(jìn)行詳細(xì)說明。

基準(zhǔn)點(diǎn)定義步驟(S110)

在觸摸輸入裝置1000所具備的觸摸傳感器面板100上定義多個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)。在觸摸傳感器面板100設(shè)定虛擬的橫線和縱線之后,使基準(zhǔn)點(diǎn)位于橫線和縱線的交叉點(diǎn),由此能夠定義上述基準(zhǔn)點(diǎn)。

此時(shí),橫線和縱線優(yōu)選在2個(gè)以上,因此至少能夠定義4個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)。

以上述方式定義的基準(zhǔn)點(diǎn)如圖5a及圖5b所示。在圖5a及圖5b中,虛線對應(yīng)于上文中描述的橫線或者縱線,標(biāo)記了英文字母的圓圈表示被定義的基準(zhǔn)點(diǎn)。

圖5a中示出了在5個(gè)橫線和3個(gè)縱線交叉的地點(diǎn)定義從A到O的共15個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn),圖5b中示出了在4個(gè)橫線和3個(gè)縱線交叉的地點(diǎn)定義從A到L的共12個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)。

當(dāng)然,也可以定義比上述個(gè)數(shù)多或少的基準(zhǔn)點(diǎn),但在下文中,為了便于說明及理解,假定如圖5a及圖5b所示定義了共15個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)和共12個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的情況而進(jìn)行說明。

基準(zhǔn)數(shù)據(jù)生成步驟(S120)

基準(zhǔn)點(diǎn)被定義后,對基準(zhǔn)點(diǎn)所存在的位置施加規(guī)定的壓力。此時(shí),優(yōu)選所施加的壓力具有與由人的手指施加的壓力相近的大小。

對各基準(zhǔn)點(diǎn)施加壓力后,檢測對所施加的壓力的靜電容量變化量。對于靜電容量變化量的檢測而言,由于與上述內(nèi)容相同,故在此省略對其的說明。

對各基準(zhǔn)點(diǎn)檢測的靜電容量變化量用于生成基準(zhǔn)數(shù)據(jù)。例如,如圖5a所示定義了15個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的情況下,對從A到O的基準(zhǔn)點(diǎn)的靜電容量變化量被記錄于基準(zhǔn)數(shù)據(jù)中。如圖5b所示定義了12個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的情況下, 對從A到L的基準(zhǔn)點(diǎn)的靜電容量變化量被記錄于基準(zhǔn)數(shù)據(jù)中。基準(zhǔn)數(shù)據(jù)包括各基準(zhǔn)點(diǎn)的位置和靜電容量變化量。

插值數(shù)據(jù)生成步驟(S130)

基準(zhǔn)數(shù)據(jù)是通過對定義的基準(zhǔn)點(diǎn)直接施加壓力,并直接檢測對被施加壓力的靜電容量變化量而生成的,而插值數(shù)據(jù)是基于在定義的基準(zhǔn)點(diǎn)所檢測的靜電容量變化量算出的。

插值數(shù)據(jù)可以基于在包圍任意點(diǎn)的4個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)檢測出的靜電容量變化量及該任意點(diǎn)與4個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的分隔距離生成。

關(guān)于插值數(shù)據(jù)的生成,在圖6中示出算出對任意點(diǎn)的靜電容量變化量的方法的一例。

任意點(diǎn)(x)的靜電容量變化量(X)可以通過下述數(shù)學(xué)式1來定義。

[數(shù)學(xué)式1]

X=A+(B-A)×α+{C+(D-C)×α-A+(A-B)×α}×β

其中,A、B、C、D是在基準(zhǔn)點(diǎn)A、B、C、D檢測出的靜電容量變化量,α及β表示相對于基準(zhǔn)點(diǎn)之間的距離的比例。

圖7a及圖7b是在基準(zhǔn)點(diǎn)A至基準(zhǔn)點(diǎn)D之間設(shè)定更多的任意點(diǎn),并按照上述方法算出對這些點(diǎn)的靜電容量變化量的情況的圖。

圖7a示出了在基準(zhǔn)點(diǎn)A至基準(zhǔn)點(diǎn)D之間假定a至u的共21個(gè)任意點(diǎn)的情況。此時(shí),表示越暗的區(qū)域,所具有的靜電容量變化量越大。對設(shè)定的21個(gè)任意點(diǎn),可以基于上述數(shù)學(xué)式1算出靜電容量變化量。對算出的靜電容量變化量,若與圖7a相同地根據(jù)靜電容量變化量的大小使明暗度不同而表示,則會變成與圖7b相同的形式。

修正系數(shù)算出步驟(S140)

基準(zhǔn)數(shù)據(jù)及插值數(shù)據(jù)對觸摸傳感器面板100的整體表面具有與各位置對應(yīng)的靜電容量變化量信息。

此時(shí),可以預(yù)設(shè)定用于對觸摸傳感器面板100的整體表面設(shè)定均勻的靈敏度的目標(biāo)值。或者,在生成基準(zhǔn)數(shù)據(jù)及插值數(shù)據(jù)之后設(shè)定目標(biāo)值也是可以的。

上述目標(biāo)值與基準(zhǔn)數(shù)據(jù)及插值數(shù)據(jù)一同用于算出對基準(zhǔn)點(diǎn)及任意點(diǎn)的修正系數(shù)。修正系數(shù)可以是記錄于各數(shù)據(jù)的靜電容量變化量的倒數(shù)。與此不同地,修正系數(shù)也可以是記錄于各數(shù)據(jù)的靜電容量變化量的倒數(shù)乘以目標(biāo)值而得的值。

例如,若目標(biāo)值為3000,基準(zhǔn)點(diǎn)A的(直接施加壓力而測得的)靜電容量變化量為962,則基準(zhǔn)點(diǎn)A的修正系數(shù)可以為1/962,也可以將乘以目標(biāo)值而得的3000/962作為修正系數(shù)。另外,若目標(biāo)值為3000,任意點(diǎn)(x)的(通過上述數(shù)學(xué)式1算出的)靜電容量變化量為1024,則任意點(diǎn)(x)的修正系數(shù)可以為1/1024,也可以將乘以目標(biāo)值而得的3000/1024作為修正系數(shù)。

如上所述,算出對定義的基準(zhǔn)點(diǎn)及設(shè)定的任意點(diǎn)、即所有點(diǎn)的修正系數(shù)。

靈敏度修正步驟(S150)

對存在于觸摸傳感器面板100的所有點(diǎn)(基準(zhǔn)點(diǎn)及任意點(diǎn))算出的修正系數(shù)用于均勻地修正觸摸輸入裝置1000的靈敏度。

即,對與各點(diǎn)的位置對應(yīng)的靜電容量變化量乘以修正系數(shù),則最終檢測的靜電容量變化量具有在整體上均勻的值。

圖9a及圖9b,還有圖10a及圖10b示出使用根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正方法的結(jié)果的圖表和數(shù)據(jù)。

對共3組的觸摸輸入裝置1000,將基準(zhǔn)點(diǎn)及任意點(diǎn)加在一起設(shè)定了共45個(gè)點(diǎn)。此時(shí),如圖5a所示,在基準(zhǔn)點(diǎn)為15個(gè)的情況下,設(shè)定了30個(gè)任意點(diǎn);如圖5b所示,基準(zhǔn)點(diǎn)為12個(gè)的情況下,任意點(diǎn)可以為33個(gè)。其中,圖8a及圖8b作為比較對象,示出對所有點(diǎn)施加相同的壓力而檢測出的靜電容量變化量。

圖8a及圖8b是示出在不執(zhí)行修正的情況下的觸摸輸入裝置的靜電 容量變化量的圖??梢岳斫鉃槭菍?yīng)于圖3a的圖表。

此時(shí),圖8a的橫軸表示測定位置,是以依次掃描圖8b的各行的方式設(shè)定了編號。例如,圖8b的(1,A)、(1,B)、(1,C)、(1,D)、(1,E)分別對應(yīng)于圖8a的橫軸所記載的1、2、3、4、5,并且,圖8b的(2,A)、(2,B)、(2,C)、(2,D)、(2,E)分別對應(yīng)于圖8a的橫軸所記載的6、7、8、9、10。圖8b的各單元格的位置可以對應(yīng)于觸摸傳感器面板100的位置。

參照圖8a及圖8b,可知即使施加了相同的壓力,對各點(diǎn)的靜電容量變化量也不是均勻的。

圖9a及圖9b示出進(jìn)行了根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正后的靜電容量變化量。尤其是,圖9a及圖9b示出如圖5a所示定義了15個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)后最終算出修正系數(shù)的情況。

參照圖9a及圖9b,可知在使用分別對45個(gè)點(diǎn)算出的修正系數(shù)的情況下,在這45個(gè)所有的點(diǎn)上檢測到在整體上均勻的靜電容量變化量,并且,這是指觸摸輸入裝置1000的靈敏度實(shí)現(xiàn)了均勻化。

參照圖9b的數(shù)據(jù),可知(1,A)、(1,C)、(1,E),(3,A)、(3,C)、(3,E),(5,A)、(5,C)、(5,E),(7,A)、(7,C)、(7,E),(9,A)、(9,C)、(9,E)的單元格均具有作為目標(biāo)值的3000的值,這是因?yàn)椋鳛閷?yīng)于直接檢測靜電容量變化量的基準(zhǔn)點(diǎn)的單元格,對靜電容量變化量的倒數(shù)乘以目標(biāo)值而得的修正系數(shù)乘以靜電容量變化量引起的,因此具有保持目標(biāo)值的3000的值。

然而,其余點(diǎn)由于是基于靜電容量變化量值,而該靜電容量變化量值是基于基準(zhǔn)點(diǎn)算出的,所以可能與目標(biāo)值存在略微的誤差。然而,由于這種誤差相當(dāng)于使用者難以識別的程度的靈敏度,所以能夠與圖3b相同地,實(shí)現(xiàn)理想的壓力觸摸靈敏度。

圖10a及圖10b示出進(jìn)行了根據(jù)本發(fā)明的靈敏度修正后的靜電容量變化量。尤其是,圖10a及圖10b示出如圖5b所示定義了12個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)之后最終算出修正系數(shù)的情況。

參照圖10a及圖10b,可知在使用分別對45個(gè)點(diǎn)算出的修正系數(shù)的情況下,在這45個(gè)所有的點(diǎn)上檢測到在整體上均勻的靜電容量變化量,這是指觸摸輸入裝置1000的靈敏度實(shí)現(xiàn)了均勻化。

參照圖10b的數(shù)據(jù),(1,A)、(1,C)、(1,E),(4,A)、(4,C)、(4,E),(6,A)、(6,C)、(6,E),(9,A)、(9,C)、(9,E)的單元格均具有作為目標(biāo)值的3000的值,這是因?yàn)?,作為對?yīng)于直接檢測靜電容量變化量的基準(zhǔn)點(diǎn)的單元格,對靜電容量變化量的倒數(shù)乘以目標(biāo)值而得的修正系數(shù)乘以靜電容量變化量而引起的,因此具有保持目標(biāo)值的3000的值。

然而,由于在該情況下,其余點(diǎn)也是基于靜電容量變化量值的,而該靜電容量變化量值是基于基準(zhǔn)點(diǎn)算出的,所以可能與目標(biāo)值存在略微的誤差。然而,由于這種誤差相當(dāng)于使用者難以識別的程度的靈敏度,所以能夠與圖3b相同地,實(shí)現(xiàn)理想的壓力觸摸靈敏度。

另外,根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的靈敏度修正方法中,可以預(yù)先執(zhí)行圖4的初次修正步驟(S200)。圖11是示出用于根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的靈敏度修正方法的初次修正步驟(事先修正步驟)的流程圖。

在初次修正步驟中,首先,在多個(gè)觸摸輸入裝置所具備的觸摸傳感器面板定義多個(gè)位置點(diǎn)(S210)。在上述的圖4的方法中,可以僅用一個(gè)觸摸輸入裝置100進(jìn)行靈敏度修正,但是為了執(zhí)行初次修正,需要至少2個(gè)觸摸輸入裝置100。

多個(gè)位置點(diǎn)被定義后,對多個(gè)位置點(diǎn)施加相同的壓力而檢測靜電容量變化量(S220)。此時(shí),對多個(gè)觸摸輸入裝置執(zhí)行S220步驟,在各觸摸輸入裝置中取出相互對應(yīng)的位置的靜電容量變化量,并算出其平均值。對所有位置點(diǎn)進(jìn)行這種過程后,能夠算出對所有位置點(diǎn)的靜電容量變化量的平均值,并基于此生成平均值數(shù)據(jù)(S230)。

生成的平均值數(shù)據(jù)用在算出用于初次修正的初次修正系數(shù)(S240)。此時(shí),初次修正系數(shù)可以是采用平均值的倒數(shù)的值,也可以是在該值上乘以目標(biāo)值而得的值。

初次修正系數(shù)被算出后,將該初次修正系數(shù)用于多個(gè)位置點(diǎn),從 而修正觸摸輸入裝置的靈敏度(S250)。

在下文中,對用于執(zhí)行初次修正的各步驟進(jìn)行更詳細(xì)的說明。

位置點(diǎn)定義步驟(S210)

在初次修正中,位置點(diǎn)可以對應(yīng)于在圖4的方法中定義的基準(zhǔn)點(diǎn)及任意點(diǎn)。即,在圖4的方法中定義15個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)及30個(gè)任意點(diǎn)的情況下,位置點(diǎn)也可以分別配置于上述15個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)及30個(gè)任意點(diǎn)所處的區(qū)域。并且,定義12個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)及33個(gè)任意點(diǎn)的情況下,位置點(diǎn)也可以分別配置于上述12個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)及30個(gè)任意點(diǎn)所處的區(qū)域。

靜電容量變化量檢測步驟(S220)

對多個(gè)位置點(diǎn)施加相同的壓力,此時(shí)優(yōu)選地,對各位置點(diǎn)施加的壓力具有與由人的手指施加的壓力相近的大小。

若對各位置點(diǎn)施加相同的壓力,則檢測對施加的壓力的靜電容量變化量。對于靜電容量變化量的檢測已在上文中描述過,故在此省略對其的說明。

平均值數(shù)據(jù)生成步驟(S230)

例如,可以如圖8a及圖8b所示,對3個(gè)觸摸輸入裝置檢測對各位置點(diǎn)的靜電容量變化量。圖8b所示的3個(gè)數(shù)據(jù)是分別由3個(gè)觸摸輸入裝置檢測的靜電容量變化量,算出與相同的位置點(diǎn)對應(yīng)的靜電容量變化量(記錄在相同的單元格的靜電容量變化量)的平均值,從而生成平均值數(shù)據(jù)。

初次修正系數(shù)算出步驟(S240)

平均值數(shù)據(jù)被生成后,基于此算出對各位置點(diǎn)的初次修正系數(shù)。初次修正系數(shù)可以具有對各位置點(diǎn)算出的平均值的倒數(shù)的值或?qū)υ撝党艘阅繕?biāo)值而得的值。

觸摸輸入裝置的靈敏度修正步驟(S240)

算出的初次修正系數(shù)用于對觸摸輸入裝置的靈敏度進(jìn)行初次修 正,初次修正的觸摸輸入裝置的靈敏度再次經(jīng)過實(shí)質(zhì)上的修正步驟(圖4的S110至S150)時(shí),會再次進(jìn)行修正。

圖12a及圖12b是示出經(jīng)過初次修正的觸摸輸入裝置的靈敏度的圖表及數(shù)據(jù)。經(jīng)過初次修正后,能夠得到遠(yuǎn)比經(jīng)過修正之前的圖表(參照圖8a)均勻的圖表。這是指觸摸輸入裝置的靈敏度在經(jīng)過初次修正后實(shí)現(xiàn)均勻化。

圖13a及圖13b示出在進(jìn)行初次修正之后,再次經(jīng)過實(shí)質(zhì)上的修正步驟(圖4的S110至S150)的情況下的各位置點(diǎn)(基準(zhǔn)點(diǎn)及任意點(diǎn))的靜電容量變化量。尤其是,圖13a及圖13b示出假定15個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)及30個(gè)任意點(diǎn)而執(zhí)行修正的情況。

可知與不進(jìn)行初次修正而只進(jìn)行實(shí)質(zhì)上的修正的情況(參照圖9a)相比,將初次修正和實(shí)質(zhì)上的修正都執(zhí)行的觸摸輸入裝置具有更均勻的壓力觸摸靈敏度。

圖14a及圖14b示出在進(jìn)行初次修正之后,再次經(jīng)過實(shí)質(zhì)上的修正步驟(圖4的S110至S150)的情況下的各位置點(diǎn)(基準(zhǔn)點(diǎn)及任意點(diǎn))的靜電容量變化量。尤其是,圖14a及圖14b示出假定12個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)及33個(gè)任意點(diǎn)而執(zhí)行修正的情況。

可知與不進(jìn)行初次修正而只進(jìn)行實(shí)質(zhì)上的修正的情況(參照圖10a)相比,將初次修正和實(shí)質(zhì)上的修正都執(zhí)行的觸摸輸入裝置具有更均勻的壓力觸摸靈敏度。

另外,本發(fā)明可以以記錄程序的計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)的形式實(shí)現(xiàn),該程序用于實(shí)行上述靈敏度修正方法所包括的各步驟。

即,可以通過根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的記錄介質(zhì)所記錄的程序來執(zhí)行上述S110至S150步驟(包括或不包括S210至S250步驟)。

上述用計(jì)算機(jī)可讀的記錄介質(zhì)所記錄的程序命令語句,可以是為了本發(fā)明特別設(shè)計(jì)而構(gòu)成的,或者也可以是對于計(jì)算機(jī)軟件領(lǐng)域的本領(lǐng)域技術(shù)人員而言公知而可以使用的。

用計(jì)算機(jī)可讀的記錄介質(zhì)可包括硬盤、軟盤及磁帶等磁性介質(zhì), CD-ROM、DVD等光記錄介質(zhì),光磁軟盤(floptical disk)等磁光介質(zhì)(magneto-optical media),及ROM、RAM、閃存等以儲存程序命令語句而實(shí)行的特殊方式構(gòu)成的硬件裝置。

程序命令語句不僅可以包括像由編譯器編譯出的機(jī)器代碼,還可以包括能夠使用解釋器等而由計(jì)算機(jī)實(shí)行的高級語言代碼等。

上述硬件裝置,可以為了實(shí)行根據(jù)本發(fā)明的處理而可以作為一個(gè)以上的軟件模塊工作的方式構(gòu)成,反之也是相同的。

在上文中,在實(shí)施例中描述的特點(diǎn)、結(jié)構(gòu)、效果等由本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例包含,但并非必須僅限定于一個(gè)實(shí)施例。進(jìn)而,對于各實(shí)施例中示出的特點(diǎn)、結(jié)構(gòu)、效果等,可以由實(shí)施例所屬的領(lǐng)域中具有常規(guī)知識的人對其他實(shí)施例進(jìn)行組合或變形而實(shí)施。因此,應(yīng)理解有關(guān)這種組合和變形的內(nèi)容均包含在本發(fā)明的范圍內(nèi)。

另外,上文中以實(shí)施例中心進(jìn)行了說明,但這僅僅是示例,并不旨于限定本發(fā)明,若為本發(fā)明所屬的領(lǐng)域中具有常規(guī)知識的人,則可知在不脫離本實(shí)施例的本質(zhì)特性的范圍內(nèi)可以進(jìn)行在上文中未示出的各種變形及應(yīng)用。例如,可以對實(shí)施例中具體示出的各構(gòu)成要素進(jìn)行變形而實(shí)施。另外,與這種變形及應(yīng)用相關(guān)的不同點(diǎn)應(yīng)被解釋為包含在隨附的權(quán)利要求書所規(guī)定的本發(fā)明的范圍內(nèi)。

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