技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及電子設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種選擇讀參數(shù)的方法及裝置。本發(fā)明中，選擇讀參數(shù)的方法，包含以下步驟：降低存儲器與應用處理器的輸出驅(qū)動能力；對存儲器進行數(shù)據(jù)的讀操作，并選出錯誤的讀參數(shù)，如果選不出錯誤的讀參數(shù)，則繼續(xù)降低存儲器與應用處理器的輸出驅(qū)動能力，直至選出錯誤的讀參數(shù)；其中，錯誤的讀參數(shù)對應的時鐘信號為第一時鐘信號；從第一時鐘信號所在的采樣周期內(nèi)，選擇第二時鐘信號對應的采樣點的讀參數(shù)；其中，第二時鐘信號與所述第一時鐘信號相隔預設(shè)時長。這樣，能夠正確有效地挑選出存儲器的讀參數(shù)，解決由于讀參數(shù)挑選不合理導致的系統(tǒng)死機的問題。

技術(shù)研發(fā)人員：李斌
受保護的技術(shù)使用者：聯(lián)芯科技有限公司;大唐半導體設(shè)計有限公司
文檔號碼：201510548935
技術(shù)研發(fā)日：2015.08.31
技術(shù)公布日：2017.03.08