本發(fā)明涉及觸控的技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種避免顯示噪聲的觸控偵測(cè)系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

觸控面板的技術(shù)原理是當(dāng)手指或其它介質(zhì)接觸到屏幕時(shí)，依據(jù)不同感應(yīng)方式，偵測(cè)電壓、電流、聲波或紅外線等，進(jìn)而測(cè)出觸壓點(diǎn)的坐標(biāo)位置。例如電阻式觸控感測(cè)技術(shù)即為利用上、下電極間的電位差，用以計(jì)算施壓點(diǎn)位置檢測(cè)出觸碰點(diǎn)所在。電容式觸控感測(cè)技術(shù)是利用排列的透明電極與人體之間的靜電結(jié)合所產(chǎn)生的電容變化，從所產(chǎn)生的電流或電壓來檢測(cè)其坐標(biāo)。電容式觸控感測(cè)技術(shù)是使用電容的微量變化來偵測(cè)是否有產(chǎn)生觸控點(diǎn)。

電容觸控感測(cè)技術(shù)是以偵測(cè)手指接觸面板的電容變化量來當(dāng)作觸控與否的技術(shù)，圖1是電容觸控感測(cè)技術(shù)的示意圖。如圖1所示，在沒有噪聲干擾的前提下，手指與感應(yīng)電極110會(huì)產(chǎn)生一個(gè)感應(yīng)電容Cp。透過感測(cè)電路120偵測(cè)這個(gè)該感應(yīng)電容Cp電容值的變化，來達(dá)到觸控位置的信息，由于該感應(yīng)電容Cp電容值的變化量微弱，容易受噪聲影響及誤判，因此當(dāng)觸控面板貼于液晶顯示面板上時(shí)，便很容易受到顯示面板所產(chǎn)生的噪聲影響。

現(xiàn)有的電容式觸控系統(tǒng)在計(jì)算坐標(biāo)時(shí)，必須經(jīng)由感測(cè)電路120量測(cè)觸控面板上電容值的變化，以得到觸控位置等信息，藉此計(jì)算使用者觸摸位置坐標(biāo)。然而在取得觸控?cái)?shù)據(jù)的過程中，極可能因?yàn)楦袦y(cè)電路、觸控面板單元乃至驅(qū)動(dòng)電路端受到噪聲干擾、外部噪聲對(duì)地干擾、顯示面板或集成電路內(nèi)部所產(chǎn)生的噪聲干擾，使得觸控?cái)?shù)據(jù)失真飄移，造成如圖2中所示雜點(diǎn)出現(xiàn)的情形或是真實(shí)觸碰點(diǎn)消失或坐標(biāo)偏移等現(xiàn)象。圖2是一噪聲干擾的示意圖。如圖2所示，真實(shí)觸控位置位于D6-S1交接處，由于噪聲干擾，電容式觸控系統(tǒng)會(huì)將D2-S1及D2-S3 交接處亦回報(bào)為觸控位置，而產(chǎn)生錯(cuò)誤。

在觸碰位置偵測(cè)時(shí)，對(duì)于顯示面板的噪聲干擾往往無法避免。當(dāng)有外部噪聲干擾如顯示噪聲干擾時(shí)，易使偵測(cè)出來的觸控信息錯(cuò)誤，針對(duì)此問題，許多廠商已經(jīng)有多項(xiàng)方法以降低顯示噪聲的影響。

一般直接的解決方法是在觸控面板和顯示面板中間多加一層隔離層。圖3是一現(xiàn)有降低噪聲的示意圖。如圖3所示，其是于一觸控感應(yīng)層310與液晶層320之間增加一電場(chǎng)屏蔽層330，以隔絕液晶驅(qū)動(dòng)電極層340驅(qū)動(dòng)液晶層320所產(chǎn)生的噪聲，如此可以避免噪聲干擾到觸控感應(yīng)層310。此種方法的缺點(diǎn)在于無法降低成本，以及產(chǎn)生架構(gòu)上的限制。圖4是一使用電場(chǎng)屏蔽層330的示意圖。如圖4所示，因新增電場(chǎng)屏蔽層330，會(huì)使整個(gè)觸控顯示系統(tǒng)的厚度增加，也會(huì)使產(chǎn)品的厚度增加影響小型電子產(chǎn)品的攜帶性。同時(shí)，在內(nèi)嵌式(In Cell)或半內(nèi)嵌式(On Cell)觸控顯示面板中，由于觸控組件設(shè)置于顯示面板內(nèi)部，無法于顯示面板內(nèi)部新增該電場(chǎng)屏蔽層330，所以無法透過該電場(chǎng)屏蔽層330將噪聲阻絕。

圖5是一使用空氣間隙(air gap)以隔絕噪聲的示意圖，其是由觸控集成電路廠商Maxim？所提出。如圖5所示，其是在X方向觸碰感應(yīng)器與顯示模塊之間使用襯墊(gasket)510，以形成一空氣間隙(air gap)，藉以隔絕顯示模塊所產(chǎn)生的噪聲。然而此技術(shù)仍有前述的問題。

針對(duì)前述的問題，有廠商提出全平面貼合式(non-air-gap)技術(shù)。全平面貼合技術(shù)是將面板直接用膠水黏貼上外層玻璃(或觸控面板)，由于中間為真空狀態(tài)，面板噪聲便不會(huì)影響觸控面板的動(dòng)作，由于需全平面貼合，故此一技術(shù)良率不高，顯示面板尺寸越大越難貼合，當(dāng)貼合失敗便會(huì)造成龐大損失。另外若是使用半內(nèi)嵌式或內(nèi)嵌式電容觸控，便無法使用上述的方法，因?yàn)橐话愕膬?nèi)嵌式電容觸控感應(yīng)組件是在液晶層內(nèi)，完全無法使用上述的方法，否則便會(huì)破壞液晶面板的特性。

另外可以使用濾波器將噪聲濾除。此種方法雖然適用于各種型態(tài)的觸控面板，但是由于需要仿真噪聲情形，反而會(huì)耗費(fèi)大量時(shí)間在研發(fā)濾波器的效果，另外也會(huì)造成集成電路成本變高等缺點(diǎn)。

另一種方法是以加大電壓提高噪聲比(SNR)的方式來抑制顯示噪 聲(display noise)。此種方法確實(shí)可以增加觸碰偵測(cè)的準(zhǔn)確性，但是噪聲依然無法抑制。

由于市場(chǎng)上的需求，便攜式裝置除了需具備觸碰偵測(cè)的功能外，往往要求亦需具備懸浮偵測(cè)的功能。圖6是一懸浮偵測(cè)的示意圖。如圖6所示，其需于手指在觸控面板上方且未碰觸觸控面板的條件下，能準(zhǔn)確地偵測(cè)手指在觸控面板對(duì)應(yīng)處的位置。此時(shí)，因手指接近觸控面板上方而引起的感應(yīng)電容Cp電容值的變化量更為微弱，感測(cè)電路感測(cè)到的觸碰信號(hào)的位準(zhǔn)與噪聲位準(zhǔn)接近的話，那么就會(huì)造成觸碰偵測(cè)困難。亦即，若是連顯示噪聲(display noise)都無法避免，那么要做到懸浮偵測(cè)勢(shì)必更難。

為達(dá)到懸浮偵測(cè)，在架構(gòu)上便有提出內(nèi)嵌式(In Cell)觸控偵測(cè)方式，其內(nèi)嵌式(In Cell)架構(gòu)如下圖7所示。由于觸控組件設(shè)置于顯示面板內(nèi)部，在觸控偵測(cè)時(shí)必然是避開顯示面板的畫面變換的時(shí)間，所以并不會(huì)受到顯示噪聲影響，因此在此架構(gòu)下顯示噪聲基本上是可以被忽視的，但由于觸控組件傳感器需設(shè)置于顯示面板內(nèi)部，故良率問題還未克服。因此，現(xiàn)有避免顯示噪聲的觸控偵測(cè)系統(tǒng)及方法實(shí)仍有改善的空間。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的主要是提供一避免顯示噪聲的觸控偵測(cè)系統(tǒng)及方法，可無需增加觸控偵測(cè)系統(tǒng)的厚度，且不必遷就于半內(nèi)嵌式或是內(nèi)嵌式觸控技術(shù)，便可以避開顯示噪聲(Display Noise)的影響，提升觸碰偵測(cè)的準(zhǔn)確度，還可有效降低成本。

依據(jù)本發(fā)明的一特色，本發(fā)明提出一種避免顯示噪聲的觸控偵測(cè)方法，其用于一觸控顯示系統(tǒng)，該觸控顯示系統(tǒng)具有一觸控顯示面板、一顯示驅(qū)動(dòng)集成電路、及一觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路，該顯示驅(qū)動(dòng)集成電路驅(qū)動(dòng)該觸控顯示面板，用以進(jìn)行畫面顯示，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路依據(jù)該顯示驅(qū)動(dòng)集成電路中的一垂直同步信號(hào)，用以驅(qū)動(dòng)該觸控顯示面板，進(jìn)而偵測(cè)該觸控顯示面板上的至少一個(gè)觸碰位置，該觸控偵測(cè)方法包含A)該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路偵測(cè)該垂直同步信號(hào)，用以判斷是否為一垂直空白間隔；B)當(dāng)步驟A)中判定為該垂直空白間隔 時(shí)，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路對(duì)該觸控顯示面板進(jìn)行觸碰位置掃描，進(jìn)而產(chǎn)生一第一組觸碰位置數(shù)據(jù)；C)該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路判斷是否輸出該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)；D)當(dāng)步驟C)中判定輸出該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)時(shí)，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路將該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)與一第二組觸碰位置數(shù)據(jù)執(zhí)行一第一運(yùn)算，用以更新該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)，并將其輸出；E)當(dāng)該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路處于非為該垂直空白間隔時(shí)，對(duì)該觸控顯示面板進(jìn)行觸碰位置掃描，進(jìn)而產(chǎn)生一組觸碰位置數(shù)據(jù)，并將該組觸碰位置數(shù)據(jù)更新為該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)；F)該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路將該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)與該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)執(zhí)行一第二運(yùn)算，進(jìn)而更新并輸出該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)；G)該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路依據(jù)步驟D)輸出的該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)計(jì)算位于該垂直空白間隔時(shí)的觸碰位置坐標(biāo)，并依據(jù)步驟F)輸出的該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)計(jì)算于非為該垂直空白間隔時(shí)的觸碰位置坐標(biāo)；H)該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路輸出該觸碰位置坐標(biāo)；I)該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路判斷是否執(zhí)行完非為該垂直空白間隔時(shí)的觸碰偵測(cè)，若是，重新執(zhí)行步驟A)。

優(yōu)選地，當(dāng)步驟I)中判定并未執(zhí)行完非為該垂直空白間隔時(shí)的觸碰偵測(cè)，則重新執(zhí)行步驟E)。

優(yōu)選地，當(dāng)步驟C)中判定不輸出該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)時(shí)，則執(zhí)行步驟E)。

優(yōu)選地，當(dāng)步驟A)中判定非為該垂直空白間隔時(shí)，則重新執(zhí)行步驟A)。

優(yōu)選地，于步驟B)及步驟E)中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路使用自容式方法、互容式方法、電磁式方法、或電阻式方法。

優(yōu)選地，于步驟B)及步驟E)中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路使用互容式方法時(shí)，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路使用下列其中之一掃描方式：單條逐步掃描、差分逐步掃描、及多條逐次掃描。

優(yōu)選地，于步驟D)中，該第一運(yùn)算將該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)中的一數(shù)據(jù)與該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)中的一對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)相加再除以2，用以更新該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)中的該數(shù)據(jù)。

優(yōu)選地，于步驟D)中，該第一運(yùn)算忽略該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)， 用以直接輸出該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)。

優(yōu)選地，于步驟F)中，該第二運(yùn)算將該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)中的一數(shù)據(jù)與該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)中的一對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)相加再除以2，用以更新該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)的該數(shù)據(jù)。

依據(jù)本發(fā)明的另一特色，本發(fā)明提出一種避免顯示噪聲的觸控偵測(cè)系統(tǒng)，其包含一觸控顯示面板、一顯示驅(qū)動(dòng)集成電路、及一觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路。該觸控顯示面板用以顯示畫面及偵測(cè)觸碰位置。該顯示驅(qū)動(dòng)集成電路連接至該觸控顯示面板，依據(jù)一顯示像素信號(hào)及一顯示驅(qū)動(dòng)信號(hào)，用以驅(qū)動(dòng)對(duì)應(yīng)的像素晶體管及該像素電容，進(jìn)而執(zhí)行顯示操作。該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路連接至該觸控顯示面板及該顯示驅(qū)動(dòng)集成電路；其中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路依據(jù)該顯示驅(qū)動(dòng)集成電路中的一垂直同步信號(hào)，用以在垂直空白間隔時(shí)進(jìn)行觸碰位置偵測(cè)，進(jìn)而產(chǎn)生一第一組觸碰位置數(shù)據(jù)，并在非垂直空白間隔時(shí)進(jìn)行觸碰位置偵測(cè)，進(jìn)而產(chǎn)生一第二組觸碰位置數(shù)據(jù)，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路并依據(jù)該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)修改該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有電容觸控感測(cè)技術(shù)的示意圖。

圖2是一噪聲干擾的示意圖。

圖3是一現(xiàn)有降低噪聲的示意圖。

圖4是一使用電場(chǎng)屏蔽層的示意圖

圖5是一使用空氣間隙以隔絕噪聲的示意圖。

圖6是一懸浮偵測(cè)的示意圖。

圖7是內(nèi)嵌式架構(gòu)的示意圖。

圖8是本發(fā)明一種避免顯示噪聲的觸控偵測(cè)系統(tǒng)的方塊圖。

圖9是本發(fā)明一種避免顯示噪聲的觸控偵測(cè)方法的流程圖。

圖10是本發(fā)明觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)的示意圖。

圖11A-圖11C是本發(fā)明觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)執(zhí)行運(yùn)算的示意圖。

【符號(hào)說明】

感應(yīng)電極110 感測(cè)電路120

觸控感應(yīng)層310 液晶層320

電場(chǎng)屏蔽層330 液晶驅(qū)動(dòng)電極層340

襯墊510

避免顯示噪聲的觸控偵測(cè)系統(tǒng)800

觸控顯示面板810 顯示驅(qū)動(dòng)集成電路820

觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830

步驟(A)-步驟(I)。

具體實(shí)施方式

圖8是本發(fā)明一種避免顯示噪聲的觸控偵測(cè)系統(tǒng)800的方塊圖，其包含一觸控顯示面板810、一顯示驅(qū)動(dòng)集成電路820、及一觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830。

該觸控顯示面板810用以顯示畫面及偵測(cè)觸碰位置。該顯示驅(qū)動(dòng)集成電路820連接至該觸控顯示面板810，依據(jù)一顯示像素信號(hào)及一顯示驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)對(duì)應(yīng)的像素晶體管及該像素電容，進(jìn)而執(zhí)行顯示操作。該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830連接至該觸控顯示面板810及該顯示驅(qū)動(dòng)集成電路820；其中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830依據(jù)該顯示驅(qū)動(dòng)集成電路820的一垂直同步信號(hào)(Vsync)，用以在垂直空白間隔(Vertical Blanking Interval,VBI)時(shí)進(jìn)行觸碰位置偵測(cè)，進(jìn)而產(chǎn)生一第一組觸碰位置數(shù)據(jù)，以及在非垂直空白間隔(non-VBI)時(shí)進(jìn)行觸碰位置偵測(cè)，進(jìn)而產(chǎn)生一第二組觸碰位置數(shù)據(jù)，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830并依據(jù)第一組觸碰位置數(shù)據(jù)修改第二組觸碰位置數(shù)據(jù)。

該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830將該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)與該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)的對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)相加再除以2，用以更新該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)。該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830在垂直空白間隔(VBI)時(shí)，執(zhí)行互容式單條逐步掃描觸碰位置偵測(cè)，以及在非垂直空白間隔(non-VBI)時(shí)，進(jìn)行互容式差分逐步掃描觸碰位置偵測(cè)。

圖9是本發(fā)明一種避免顯示噪聲的觸控偵測(cè)方法的流程圖。該避免顯示噪聲的觸控偵測(cè)方法其用于如圖8所示的觸控顯示系統(tǒng)800，該觸控顯示系統(tǒng)800具有一觸控顯示面板810、一顯示驅(qū)動(dòng)集成電路820、及一觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830，該顯示驅(qū)動(dòng)集成電路820驅(qū)動(dòng)該觸控顯示面板810，以進(jìn)行畫面顯示。該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830依據(jù)該 顯示驅(qū)動(dòng)集成電路820的一垂直同步信號(hào)(Vsync)，用以驅(qū)動(dòng)該觸控顯示面板810，以進(jìn)行偵測(cè)該觸控顯示面板810上的至少一個(gè)觸碰位置。于該方法中，首先于步驟(A)中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830偵測(cè)該垂直同步信號(hào)(Vsync)，用以判斷是否為垂直空白間隔(Vertical Blanking Interval,VBI)。該垂直同步信號(hào)(Vsync)平常為低電位，當(dāng)垂直空白間隔(VBI)時(shí)，該垂直同步信號(hào)(Vsync)變?yōu)闉榈碗娢?，以指示為垂直空白間隔(VBI)。

當(dāng)步驟(A)中判定為垂直空白間隔(VBI)時(shí)，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830則于步驟(B)中對(duì)該觸控顯示面板810進(jìn)行觸碰位置掃描，并產(chǎn)生一第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1。當(dāng)步驟(A)中判定非為垂直空白間隔(non-VBI)時(shí)，則重新執(zhí)行步驟(A)。

該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830進(jìn)行觸控顯示面板810偵測(cè)必須連結(jié)顯示驅(qū)動(dòng)集成電路820的垂直同步信號(hào)(Vsync)，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830必須等待顯示驅(qū)動(dòng)集成電路820傳送垂直同步信號(hào)(Vsync)時(shí)，才能在垂直空白間隔(VBI)執(zhí)行觸控偵測(cè)。此時(shí)，觸控偵測(cè)方式可以是自容式、互容式或電磁式等偵測(cè)觸控面板的方式。

于本實(shí)施例中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830是以互容式觸控偵測(cè)。而互容式觸控偵測(cè)技術(shù)又可分為單條逐步掃描、差分逐步掃描及多條逐次掃描等偵測(cè)模式。本實(shí)施例是以單條逐步掃描及差分逐步掃描混合使用。于其它實(shí)施例中，可以自容式搭配互容式偵測(cè)等方式達(dá)成濾除顯示噪聲(display noise)效果。

于本實(shí)施例中，該垂直同步信號(hào)(Vsync)為高電位時(shí)，用以指示一垂直空白間隔(VBI)。本實(shí)施例中，當(dāng)觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830接收到高電位的該垂直同步信號(hào)(Vsync)，即進(jìn)行觸控偵測(cè)。圖10是本發(fā)明觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)的示意圖，在垂直空白間隔(VBI)，觸控偵測(cè)方式是以單條逐步掃描方式，其中在垂直空白間隔(VBI)中，觸控偵測(cè)的掃描次數(shù)不限于一次，可以依據(jù)回報(bào)率(report rate)來調(diào)整觸控偵測(cè)的掃描次數(shù)，且不限于一種型態(tài)的觸控偵測(cè)，可與其它觸控方式混搭，本實(shí)施例是在垂直空白間隔(VBI)中執(zhí)行一次單條逐步掃描。

掃描的結(jié)果(第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1)予以保留并作為計(jì)算觸碰點(diǎn)的坐標(biāo)。保留的數(shù)據(jù)可以在非垂直空白間隔(non-VBI)時(shí)做噪聲濾除 的功用。

當(dāng)步驟(A)中判定非為垂直空白間隔(VBI)時(shí)，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830則重新執(zhí)行步驟(A)。

于步驟(C)中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830判斷是否輸出該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1。

當(dāng)步驟(C)中判定輸出該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)時(shí)，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830于步驟(D)中將該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1與一第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2執(zhí)行一第一運(yùn)算，以更新該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1，并將該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1輸出。當(dāng)步驟(C)中判定不輸出該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)時(shí)，則執(zhí)行步驟(E)。

當(dāng)步驟(B)中單條逐步掃描結(jié)束后，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830保存數(shù)據(jù)為該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1，可以于步驟(C)中判斷是否輸出坐標(biāo)。若要輸出觸碰位置的坐標(biāo)時(shí)會(huì)執(zhí)行數(shù)據(jù)比對(duì)。此時(shí)會(huì)對(duì)該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1與該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2執(zhí)行一第一運(yùn)算。于執(zhí)行一第一運(yùn)算后并更新該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1，該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2為上個(gè)觸碰偵測(cè)圖框(touch detecting frame)中的最后數(shù)據(jù)。于本實(shí)施例中，使用該垂直同步信號(hào)(Vsync)作為擷取該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1的指示信號(hào)，故觸碰偵測(cè)圖框(touch detecting frame)會(huì)與顯示圖框(display frame)同步。

該第一運(yùn)算將該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1的一數(shù)據(jù)與該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2的一對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)相加再除以2，以更新該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1的該數(shù)據(jù)。

相對(duì)于在非為垂直空白間隔(non-VBI)下所獲得的該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2，垂直空白間隔(VBI)的該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1受噪聲影響較小，所以該第一運(yùn)算已可忽略該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2，直接輸出該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1。亦即，亦可以直接使用垂直空白間隔(VBI)的該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1作坐標(biāo)計(jì)算，不執(zhí)行數(shù)據(jù)比對(duì)而直接進(jìn)行坐標(biāo)計(jì)算并輸出坐標(biāo)。

于步驟(E)中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830于非垂直空白間隔(non-VBI)時(shí)，對(duì)該觸控顯示面板810進(jìn)行觸碰位置掃描，并產(chǎn)生一組觸碰位置數(shù)據(jù)，且將該組觸碰位置數(shù)據(jù)更新為該第二組觸碰位置數(shù)據(jù) Data2。

當(dāng)垂直空白間隔(VBI)結(jié)束后進(jìn)入非垂直空白間隔(non-VBI)，觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830會(huì)執(zhí)行差分逐步掃描，差分逐步掃描執(zhí)行并不一定落在垂直同步信號(hào)(Vsync)由高電位轉(zhuǎn)為低電位時(shí)，亦可在兩個(gè)垂直同步信號(hào)(Vsync)為高電位區(qū)間做掃描，差分逐步掃描次數(shù)并不限于一次，可以多次掃描，且不限于一種型態(tài)的觸控偵測(cè)，可與其它觸控方式混搭。在本實(shí)施例中為一次差分掃描。當(dāng)執(zhí)行完差分逐步掃描，所得到的為一組觸碰位置數(shù)據(jù)，并更新為該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2。

于步驟(F)中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830將該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2與該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1執(zhí)行一第二運(yùn)算，以更新該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2，并將其輸出。該第二運(yùn)算系將該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2的一數(shù)據(jù)與該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1的一對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)相加再除以2，以更新該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2的該數(shù)據(jù)。

圖11A-圖11C是本發(fā)明觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)執(zhí)行運(yùn)算的示意圖。圖11A是本發(fā)明該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1的示意圖、圖11B是本發(fā)明該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2的示意圖、圖11C是本發(fā)明該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1與該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2執(zhí)行運(yùn)算的示意圖。如圖11C所示，其是對(duì)該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1的一數(shù)據(jù)與該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2的一對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)相加再除以2。

于圖11B中，D3-S5交接處為假點(diǎn)，經(jīng)過運(yùn)算后，其數(shù)值降低，而不再被視為是觸碰點(diǎn)。由于在非垂直空白間隔(non-VBI)期間，顯示驅(qū)動(dòng)集成電路820驅(qū)動(dòng)該觸控顯示面板810以進(jìn)行畫面顯示，故噪聲在非垂直空白間隔(non-VBI)期間會(huì)比較明顯，本發(fā)明技術(shù)會(huì)直接將噪聲信號(hào)的大小減半，故信號(hào)噪聲比(SNR)至少會(huì)上升50％。

于步驟(G)中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830依據(jù)步驟(D)輸出的該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1計(jì)算于垂直空白間隔(VBI)時(shí)的觸碰位置坐標(biāo)，并依據(jù)步驟(F)輸出的該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2計(jì)算于非垂直空白間隔(VBI)時(shí)的觸碰位置坐標(biāo)。

于步驟(H)中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830輸出觸碰位置坐標(biāo)。于步驟(I)中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路判斷是否執(zhí)行完非垂直空白間 隔(non-VBI)時(shí)的觸碰偵測(cè)，若是，重新執(zhí)行步驟(A)。當(dāng)步驟(I)中判定并未執(zhí)行完非垂直空白間隔(VBI)時(shí)的觸碰偵測(cè)，則重新執(zhí)行步驟(E)。

由前述說明可知，于步驟(B)及步驟(E)中，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830使用下列其中之一方法：自容式方法、互容式方法、電磁式方法、及電阻式方法。而當(dāng)該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830使用互容式方法時(shí)，該觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路830可使用下列其中之一掃描方式：單條逐步掃描、差分逐步掃描、及多條逐次掃描。

由圖11A-11C可知，差分逐次掃描在非垂直空白間隔(non-VBI)，掃描的數(shù)據(jù)所產(chǎn)生的假點(diǎn)(fake point)在經(jīng)過數(shù)據(jù)處理后，已大幅下降其噪聲(Noise)程度。此運(yùn)算后的數(shù)據(jù)于步驟(F)中予以保存，以留做下個(gè)觸碰偵測(cè)圖框(touch detecting frame)中的步驟(D)中，將此數(shù)據(jù)作為與該第一組觸碰位置數(shù)據(jù)Data1執(zhí)行第一運(yùn)算的該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2。于步驟(G)中且將該第二組觸碰位置數(shù)據(jù)Data2作坐標(biāo)計(jì)算，即可得到比較準(zhǔn)確的報(bào)點(diǎn)坐標(biāo)。

由前述說明可知，本發(fā)明技術(shù)可無需增加觸控偵測(cè)系統(tǒng)800的厚度，且不必遷就于半內(nèi)嵌式或是內(nèi)嵌式觸控技術(shù)，只需將驅(qū)動(dòng)顯示驅(qū)動(dòng)集成電路上的垂直同步信號(hào)(Vsync)連接至觸控驅(qū)動(dòng)偵測(cè)集成電路做同步信號(hào)使用，便可以避開顯示噪聲(Display Noise)的影響，進(jìn)而提升觸碰偵測(cè)的準(zhǔn)確度，更可有效降低成本。本發(fā)明技術(shù)亦可在非垂直空白間隔(non-VBI)進(jìn)行觸碰偵測(cè)，可有效提升回報(bào)率(report rate)。

上述實(shí)施例僅是為了方便說明而舉例而已，本發(fā)明所主張的權(quán)利范圍自應(yīng)以權(quán)利要求書所述為準(zhǔn)，而非僅限于上述實(shí)施例。