一種靜態(tài)代碼缺陷測試方法和裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種靜態(tài)代碼缺陷測試方法和裝置，包括：預(yù)先建立缺陷模式描述用戶界面UI，缺陷模式描述UI至少設(shè)置有缺陷模式描述窗口和缺陷模式選擇窗口；預(yù)先從所述缺陷模式描述窗口獲取靜態(tài)代碼的規(guī)則，將篩選后的有效規(guī)則轉(zhuǎn)換為缺陷模式，并建立缺陷模式庫存儲(chǔ)缺陷模式；還包括：缺陷分析工具加載待測試靜態(tài)代碼，根據(jù)所述缺陷模式描述窗口和/或缺陷模式選擇窗口的測試信息調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。通過本發(fā)明方法，能夠簡單高效的進(jìn)行靜態(tài)代碼缺陷測試，且能夠方便擴(kuò)展缺陷模式。
【專利說明】一種靜態(tài)代碼缺陷測試方法和裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤指一種靜態(tài)代碼缺陷測試方法和裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]代碼缺陷，常被叫做8呢，是計(jì)算機(jī)軟件或程序中存在的某種破壞正常運(yùn)行能力的問題、錯(cuò)誤，或者隱藏的功能缺陷。缺陷的存在會(huì)導(dǎo)致軟件產(chǎn)品在某種程度上不能滿足用戶的需要。^￡￡729-1983對(duì)缺陷有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的定義:從產(chǎn)品內(nèi)部看，缺陷是軟件產(chǎn)品開發(fā)或維護(hù)過程中存在的錯(cuò)誤、毛病等各種問題；從產(chǎn)品外部看，缺陷是系統(tǒng)所需要實(shí)現(xiàn)的某種功能的失效或違背。
[0003]基于缺陷模式的代碼缺陷測試技術(shù)是根據(jù)預(yù)先設(shè)定的缺陷模式對(duì)被測程序進(jìn)行缺陷測試，這種測試技術(shù)具有使用簡單、查找速度快等優(yōu)點(diǎn)，是近年來靜態(tài)代碼缺陷測試方法中發(fā)展比較迅速的新技術(shù)。
[0004]但是，目前基于缺陷模式的代碼缺陷測試技術(shù)的大多數(shù)工具沒有為用戶提供足夠易用、高效的擴(kuò)展方式，以使工具能夠支持用戶對(duì)關(guān)注的代碼缺陷進(jìn)行檢測。比如:以最具代表性的5111(181188為例，其所關(guān)注的缺陷模式都是硬編碼到缺陷模式檢查器中，當(dāng)需要使用51=(181188檢查新的缺陷模式時(shí)，用戶必須手動(dòng)修改工具程序，對(duì)于用戶的編碼能力有較高的要求，此類問題限制了工具的靜態(tài)代碼缺陷測試的能力。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種靜態(tài)代碼缺陷測試方法和裝置，能夠簡單高效的進(jìn)行靜態(tài)代碼缺陷測試，且能夠方便擴(kuò)展測試項(xiàng)目。
[0006]為了達(dá)到本發(fā)明目的，本發(fā)明提供了一種靜態(tài)代碼缺陷測試方法，包括:預(yù)先建立缺陷模式描述用戶界面瓜，所述缺陷模式描述瓜至少設(shè)置有缺陷模式描述窗口和缺陷模式選擇窗口 ；預(yù)先從所述缺陷模式描述窗口獲取靜態(tài)代碼的規(guī)則，將篩選后的有效規(guī)則轉(zhuǎn)換為缺陷模式，并建立缺陷模式庫存儲(chǔ)所述缺陷模式；還包括:缺陷分析工具加載待測試靜態(tài)代碼，根據(jù)所述缺陷模式描述窗口和/或缺陷模式選擇窗口的測試信息調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
[0007]所述靜態(tài)代碼的規(guī)則至少包括:靜態(tài)代碼遵循的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)則，和丨或靜態(tài)代碼的概要設(shè)計(jì)，和/或用戶自定義的規(guī)則；所述有效規(guī)則為能夠發(fā)現(xiàn)有效問題的規(guī)則。
[0008]所述將篩選后的有效規(guī)則轉(zhuǎn)換為缺陷模式包括:從獲取的靜態(tài)代碼的規(guī)則中篩選出有效規(guī)則，將篩選后的有效規(guī)則根據(jù)預(yù)先設(shè)置的條件進(jìn)行抽象概括，轉(zhuǎn)化為缺陷模式。
[0009]所述建立缺陷模式庫存儲(chǔ)所述缺陷模式包括:建立缺陷模式庫并根據(jù)缺陷模式種類存儲(chǔ)缺陷模式。
[0010]所述根據(jù)所述缺陷模式描述窗口和/或缺陷模式選擇窗口的測試信息調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試包括:根據(jù)所述缺陷模式描述窗口的測試信息，倉0建新的缺陷模式存儲(chǔ)在缺陷模式庫中，調(diào)用缺陷模式庫中所述新的缺陷模式，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試；根據(jù)所述缺陷模式選擇窗口的測試信息，確定所述待測試靜態(tài)代碼的需要測試的缺陷模式，調(diào)用缺陷模式庫中的相應(yīng)的缺陷模式，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
[0011]一種靜態(tài)代碼缺陷測試裝置，至少包括:第一預(yù)處理模塊，用于預(yù)先建立缺陷模式描述用戶界面瓜，所述缺陷模式描述瓜至少設(shè)置有缺陷模式描述窗口和缺陷模式選擇窗口 ；第二預(yù)處理模塊，用于從所述缺陷模式描述窗口獲取靜態(tài)代碼的規(guī)則，將篩選后的有效規(guī)則轉(zhuǎn)換為缺陷模式；第三預(yù)處理模塊，用于建立缺陷模式庫存儲(chǔ)所述缺陷模式；缺陷分析工具，用于加載待測試靜態(tài)代碼，根據(jù)所述缺陷模式描述窗口和/或缺陷模式選擇窗口的測試信息調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
[0012]所述靜態(tài)代碼的規(guī)則至少包括:靜態(tài)代碼遵循的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)則，和丨或靜態(tài)代碼的概要設(shè)計(jì)，和/或用戶自定義的規(guī)則；所述有效規(guī)則為能夠發(fā)現(xiàn)有效問題的規(guī)則。
[0013]所述第二預(yù)處理模塊包括規(guī)則挖掘器、規(guī)則精化器和規(guī)則轉(zhuǎn)換器，其中，所述規(guī)則挖掘器用于獲取靜態(tài)代碼的規(guī)則；所述規(guī)則精化器用于對(duì)所述規(guī)則挖掘器獲取的靜態(tài)代碼的規(guī)則進(jìn)行篩選；所述規(guī)則轉(zhuǎn)換器用于將篩選后的有效規(guī)則根據(jù)預(yù)先設(shè)置的條件進(jìn)行抽象概括，轉(zhuǎn)化為缺陷模式。
[0014]所述第三預(yù)處理模塊用于建立缺陷模式庫存儲(chǔ)缺陷模式具體為:所述第三預(yù)處理模塊建立缺陷模式庫并根據(jù)缺陷模式種類存儲(chǔ)缺陷模式。
[0015]所述缺陷分析工具用于根據(jù)所述缺陷模式描述窗口和/或缺陷模式選擇窗口的測試信息調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試具體為:所述缺陷分析工具根據(jù)所述缺陷模式描述窗口的測試信息，創(chuàng)建新的缺陷模式存儲(chǔ)在缺陷模式庫中，調(diào)用缺陷模式庫中所述新的缺陷模式，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試；根據(jù)所述缺陷模式選擇窗口的測試信息，確定所述待測試靜態(tài)代碼的需要測試的缺陷模式，調(diào)用缺陷模式庫中的相應(yīng)的缺陷模式，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
[0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明包括預(yù)先建立缺陷模式描述用戶界面瓜，所述缺陷模式描述III至少設(shè)置有缺陷模式描述窗口和缺陷模式選擇窗口 ；預(yù)先從所述缺陷模式描述窗口獲取靜態(tài)代碼的規(guī)則，將篩選后的有效規(guī)則轉(zhuǎn)換為缺陷模式，并建立缺陷模式庫存儲(chǔ)所述缺陷模式；還包括:缺陷分析工具加載待測試靜態(tài)代碼，根據(jù)所述缺陷模式描述窗口和/或缺陷模式選擇窗口的測試信息調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。本發(fā)明通過預(yù)先建立缺陷模式庫存儲(chǔ)缺陷模式，并根據(jù)缺陷模式建立缺陷模式描述VI，因此，用戶只需要在缺陷模式描述瓜上確定待測試靜態(tài)代碼的需要測試的缺陷模式，就能夠?qū)υ摯郎y試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試，不需要用戶進(jìn)行編碼來輸入需要測試的缺陷模式，實(shí)現(xiàn)了簡單高效的靜態(tài)代碼測試。此外，缺陷模式描述瓜還提供了新增缺陷模式窗口，用戶能夠方便地?cái)U(kuò)展待測試靜態(tài)代碼的缺陷模式。
[0017]本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過在說明書、權(quán)利要求書以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)和獲得。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]附圖用來提供對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本申請的實(shí)施例一起用于解釋本發(fā)明的技術(shù)方案，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案的限制。
[0019]圖1是本發(fā)明靜態(tài)代碼缺陷測試方法的流程示意圖。
[0020]圖2是本發(fā)明靜態(tài)代碼缺陷測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0021]圖3是本發(fā)明第二預(yù)處理模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0022]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下文中將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互任意組合。
[0023]在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中執(zhí)行。并且，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。
[0024]圖1是本發(fā)明靜態(tài)代碼缺陷測試方法的流程示意圖，如圖1所示，包括:
[0025]步驟11，預(yù)先建立缺陷模式描述用戶界面匕仏忖狀一)，該缺陷模式描述VI至少設(shè)置有缺陷模式描述窗口和缺陷模式選擇窗口。
[0026]在本步驟中，該缺陷模式描述窗口是靜態(tài)代碼規(guī)則的輸入窗口 ；該缺陷模式選擇窗口是選擇靜態(tài)代碼需要測試的缺陷模式的輸入窗口。
[0027]具體如何建立瓜屬于本領(lǐng)域技術(shù)人員的慣用技術(shù)手段，其具體實(shí)現(xiàn)并不用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍，這里不再贅述。
[0028]步驟12，預(yù)先從缺陷模式描述瓜的缺陷模式描述窗口獲取靜態(tài)代碼的規(guī)則，將篩選后的有效規(guī)則轉(zhuǎn)換為缺陷模式，并建立缺陷模式庫存儲(chǔ)缺陷模式。
[0029]在本步驟中，靜態(tài)代碼的規(guī)則包括靜態(tài)代碼遵循的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)則，和丨或靜態(tài)代碼的概要設(shè)計(jì)，和/或用戶自定義的規(guī)則等，例如代碼規(guī)則、復(fù)雜性規(guī)則、控制流規(guī)則、命名規(guī)則、可移植性規(guī)則和資源規(guī)則等。
[0030]有效規(guī)則是指能夠發(fā)現(xiàn)有效問題的規(guī)則，例如在程序中不能直接調(diào)用他!'冊(1.1-1111()函數(shù)、數(shù)據(jù)庫連接使用結(jié)束后必須及時(shí)關(guān)閉、文件流使用規(guī)則等規(guī)則。
[0031]模式是規(guī)則抽象出的概括描述，因此將篩選后的有效規(guī)則轉(zhuǎn)換為缺陷模式包括:根據(jù)測試經(jīng)驗(yàn)或者用戶自定義條件從獲取的靜態(tài)代碼的規(guī)則中篩選出有效規(guī)則，將篩選后的有效規(guī)則根據(jù)預(yù)先設(shè)置的條件進(jìn)行抽象概括，轉(zhuǎn)化為缺陷模式，并為缺陷模式配置相應(yīng)的測試程序，其中該預(yù)先設(shè)置的條件可以是重復(fù)或類似的有效規(guī)則。
[0032]缺陷模式庫負(fù)責(zé)存儲(chǔ)缺陷模式，具體地可以根據(jù)缺陷模式種類存儲(chǔ)缺陷模式，其中缺陷模式種類包括時(shí)序相關(guān)的缺陷模式、值相關(guān)的缺陷模式、繼承相關(guān)的缺陷模式和實(shí)現(xiàn)相關(guān)的缺陷模式等。
[0033]此外，通過缺陷模式描述口I界面的缺陷模式描述窗口可以對(duì)缺陷模式庫中的缺陷模式進(jìn)行補(bǔ)充和/或刪除。如此，當(dāng)用戶發(fā)現(xiàn)新的靜態(tài)代碼規(guī)則后，只需要通過缺陷模式描述窗口來添加相關(guān)規(guī)則信息，經(jīng)過轉(zhuǎn)換成缺陷模式后存儲(chǔ)到缺陷模式庫中，而無須手動(dòng)修改缺陷分析工具，從而實(shí)現(xiàn)方便地?cái)U(kuò)展待測試靜態(tài)代碼的缺陷模式。
[0034]步驟13，缺陷分析工具加載待測試靜態(tài)代碼，根據(jù)所述缺陷模式描述窗口和/或缺陷模式選擇窗口的測試信息，調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)該待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
[0035]在本步驟中，如果有多個(gè)待測試靜態(tài)代碼，缺陷分析工具可以按照業(yè)務(wù)流的執(zhí)行順序加載待測試靜態(tài)代碼。具體如何加載待測試靜態(tài)代碼屬于本領(lǐng)域技術(shù)人員的慣用技術(shù)手段，其具體實(shí)現(xiàn)并不用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍，這里不再贅述。
[0036]如果用戶不確定該待測試靜態(tài)代碼可能存在哪些缺陷的情況下，在缺陷分析工具加載完成待測試靜態(tài)代碼后，可以對(duì)待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行全面測試，即通過缺陷模式描述窗口確定缺陷模式庫中的所有缺陷模式，對(duì)該待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
[0037]也可以對(duì)該待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行指定缺陷模式的測試，具體地，通過從缺陷模式選擇窗口中確定待測試靜態(tài)代碼的需要測試的缺陷模式，缺陷分析工具調(diào)用缺陷模式庫中相應(yīng)的缺陷模式，對(duì)該待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
[0038]還可以根據(jù)缺陷模式描述窗口，創(chuàng)建新的缺陷模式存儲(chǔ)在缺陷模式庫中，調(diào)用缺陷模式庫中新的缺陷模式，對(duì)該待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
[0039]本發(fā)明中，通過預(yù)先建立缺陷模式庫存儲(chǔ)缺陷模式，并根據(jù)缺陷模式建立缺陷模式描述口I，因此，用戶只需要在缺陷模式描述口I上確定待測試靜態(tài)代碼的需要測試的缺陷模式，就能夠?qū)υ摯郎y試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試，不需要用戶進(jìn)行編碼來輸入需要測試的缺陷模式，實(shí)現(xiàn)了簡單高效的靜態(tài)代碼測試。此外，缺陷模式描述瓜還提供了新增缺陷模式窗口，用戶能夠方便地?cái)U(kuò)展待測試靜態(tài)代碼的缺陷模式。
[0040]圖2是本發(fā)明靜態(tài)代碼缺陷測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖1所示，至少包括:
[0041]第一預(yù)處理模塊，用于預(yù)先建立缺陷模式描述用戶界面瓜，該缺陷模式描述VI至少設(shè)置有缺陷模式描述窗口和缺陷模式選擇窗口。
[0042]第二預(yù)處理模塊，用于預(yù)先從缺陷模式描述VI獲取靜態(tài)代碼遵循的規(guī)則，將篩選后的有效規(guī)則轉(zhuǎn)換為缺陷模式。
[0043]具體地，如圖3所示，第二預(yù)處理模塊包括規(guī)則挖掘器、規(guī)則精化器和規(guī)則轉(zhuǎn)換器，其中規(guī)則挖掘器獲取靜態(tài)代碼遵循的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)則，和/或軟件的概要設(shè)計(jì)，和/或用戶自定義的規(guī)則，規(guī)則精化器對(duì)規(guī)則挖掘器獲取的靜態(tài)代碼的規(guī)則進(jìn)行篩選，規(guī)則轉(zhuǎn)換器將篩選后重復(fù)或類似的有效規(guī)則進(jìn)行抽象概括，轉(zhuǎn)化為缺陷模式。
[0044]第三預(yù)處理模塊，用于建立缺陷模式庫存儲(chǔ)缺陷模式。
[0045]具體地，第三預(yù)處理模塊建立缺陷模式庫并根據(jù)缺陷模式種類存儲(chǔ)缺陷模式。
[0046]缺陷分析工具，用于加載待測試靜態(tài)代碼，調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)該待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
[0047]具體地，缺陷分析工具用于按照業(yè)務(wù)流的執(zhí)行順序加載待測試靜態(tài)代碼；確定待測試靜態(tài)代碼需要測試的缺陷模式，調(diào)用缺陷模式庫中相應(yīng)的缺陷模式，對(duì)該待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
[0048]本發(fā)明的靜態(tài)代碼缺陷測試裝置和靜態(tài)代碼缺陷測試方法相應(yīng)，因此，靜態(tài)代碼缺陷測試裝置具體的實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)可參看靜態(tài)代碼缺陷測試方法，在此不贅述。
[0049]本發(fā)明中，通過預(yù)先建立缺陷模式庫存儲(chǔ)缺陷模式，并根據(jù)缺陷模式建立缺陷模式描述口I，因此，用戶只需要在缺陷模式描述口I上確定待測試靜態(tài)代碼的需要測試的缺陷模式，就能夠?qū)υ摯郎y試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試，不需要用戶進(jìn)行編碼來輸入需要測試的缺陷模式，實(shí)現(xiàn)了簡單高效的靜態(tài)代碼測試。此外，缺陷模式描述瓜還提供了新增缺陷模式窗口，用戶能夠方便地?cái)U(kuò)展待測試靜態(tài)代碼的缺陷模式。
[0050]雖然本發(fā)明所揭露的實(shí)施方式如上，但所述的內(nèi)容僅為便于理解本發(fā)明而采用的實(shí)施方式，并非用以限定本發(fā)明。任何本發(fā)明所屬領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明所揭露的精神和范圍的前提下，可以在實(shí)施的形式及細(xì)節(jié)上進(jìn)行任何的修改與變化，但本發(fā)明的專利保護(hù)范圍，仍須以所附的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種靜態(tài)代碼缺陷測試方法，其特征在于，包括: 預(yù)先建立缺陷模式描述用戶界面Π，所述缺陷模式描述Π至少設(shè)置有缺陷模式描述窗口和缺陷模式選擇窗口； 預(yù)先從所述缺陷模式描述窗口獲取靜態(tài)代碼的規(guī)則，將篩選后的有效規(guī)則轉(zhuǎn)換為缺陷模式，并建立缺陷模式庫存儲(chǔ)所述缺陷模式； 還包括: 缺陷分析工具加載待測試靜態(tài)代碼，根據(jù)所述缺陷模式描述窗口和/或缺陷模式選擇窗口的測試信息調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述靜態(tài)代碼的規(guī)則至少包括:靜態(tài)代碼遵循的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)則，和/或靜態(tài)代碼的概要設(shè)計(jì)，和/或用戶自定義的規(guī)則； 所述有效規(guī)則為能夠發(fā)現(xiàn)有效問題的規(guī)則。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述將篩選后的有效規(guī)則轉(zhuǎn)換為缺陷模式包括: 從獲取的靜態(tài)代碼的規(guī)則中篩選出有效規(guī)則，將篩選后的有效規(guī)則根據(jù)預(yù)先設(shè)置的條件進(jìn)行抽象概括，轉(zhuǎn)化為缺陷模式。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述建立缺陷模式庫存儲(chǔ)所述缺陷模式包括: 建立缺陷模式庫并根據(jù)缺陷模式種類存儲(chǔ)缺陷模式。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述缺陷模式描述窗口和/或缺陷模式選擇窗口的測試信息調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試包括: 根據(jù)所述缺陷模式描述窗口的測試信息，創(chuàng)建新的缺陷模式存儲(chǔ)在缺陷模式庫中，調(diào)用缺陷模式庫中所述新的缺陷模式，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試； 根據(jù)所述缺陷模式選擇窗口的測試信息，確定所述待測試靜態(tài)代碼的需要測試的缺陷模式，調(diào)用缺陷模式庫中的相應(yīng)的缺陷模式，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
6.一種靜態(tài)代碼缺陷測試裝置，其特征在于，至少包括: 第一預(yù)處理模塊，用于預(yù)先建立缺陷模式描述用戶界面Π，所述缺陷模式描述Π至少設(shè)置有缺陷模式描述窗口和缺陷模式選擇窗口； 第二預(yù)處理模塊，用于從所述缺陷模式描述窗口獲取靜態(tài)代碼的規(guī)則，將篩選后的有效規(guī)則轉(zhuǎn)換為缺陷模式； 第三預(yù)處理模塊，用于建立缺陷模式庫存儲(chǔ)所述缺陷模式； 缺陷分析工具，用于加載待測試靜態(tài)代碼，根據(jù)所述缺陷模式描述窗口和/或缺陷模式選擇窗口的測試信息調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述靜態(tài)代碼的規(guī)則至少包括:靜態(tài)代碼遵循的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)則，和/或靜態(tài)代碼的概要設(shè)計(jì)，和/或用戶自定義的規(guī)則； 所述有效規(guī)則為能夠發(fā)現(xiàn)有效問題的規(guī)則。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的裝置，其特征在于，所述第二預(yù)處理模塊包括規(guī)則挖掘器、規(guī)則精化器和規(guī)則轉(zhuǎn)換器，其中， 所述規(guī)則挖掘器用于獲取靜態(tài)代碼的規(guī)則； 所述規(guī)則精化器用于對(duì)所述規(guī)則挖掘器獲取的靜態(tài)代碼的規(guī)則進(jìn)行篩選； 所述規(guī)則轉(zhuǎn)換器用于將篩選后的有效規(guī)則根據(jù)預(yù)先設(shè)置的條件進(jìn)行抽象概括，轉(zhuǎn)化為缺陷模式。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述第三預(yù)處理模塊用于建立缺陷模式庫存儲(chǔ)缺陷模式具體為: 所述第三預(yù)處理模塊建立缺陷模式庫并根據(jù)缺陷模式種類存儲(chǔ)缺陷模式。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述缺陷分析工具用于根據(jù)所述缺陷模式描述窗口和/或缺陷模式選擇窗口的測試信息調(diào)用缺陷模式庫，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試具體為: 所述缺陷分析工具根據(jù)所述缺陷模式描述窗口的測試信息，創(chuàng)建新的缺陷模式存儲(chǔ)在缺陷模式庫中，調(diào)用缺陷模式庫中所述新的缺陷模式，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試； 根據(jù)所述缺陷模式選擇窗口的測試信息，確定所述待測試靜態(tài)代碼的需要測試的缺陷模式，調(diào)用缺陷模式庫中的相應(yīng)的缺陷模式，對(duì)所述待測試靜態(tài)代碼進(jìn)行測試。
【文檔編號(hào)】G06F11/36GK104484278SQ201510005060
【公開日】2015年4月1日 申請日期:2015年1月5日 優(yōu)先權(quán)日:2015年1月5日
【發(fā)明者】孫言弟, 趙霞, 劉成平 申請人:浪潮(北京)電子信息產(chǎn)業(yè)有限公司