轉(zhuǎn)換裝置制造方法
【專利摘要】一種轉(zhuǎn)換裝置，包括一轉(zhuǎn)換電路及一測(cè)試治具。所述轉(zhuǎn)換電路設(shè)置于主板上，所述轉(zhuǎn)換電路包括一平臺(tái)控制器、一電阻及一測(cè)試焊點(diǎn)。所述平臺(tái)控制器通過所述電阻與主板上的電源相連，所述平臺(tái)控制器還與所述測(cè)試焊點(diǎn)相連。所述測(cè)試治具包括一測(cè)試探針，所述測(cè)試探針接地。當(dāng)所述主板進(jìn)行測(cè)試時(shí)，所述測(cè)試探針與所述測(cè)試焊點(diǎn)相接。上述轉(zhuǎn)換裝置可實(shí)現(xiàn)BIOS模式與UEFI模式的相互轉(zhuǎn)換。
【專利說明】轉(zhuǎn)換裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種轉(zhuǎn)換裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]目前的基本輸入/輸出系統(tǒng)(Basic Input/Output System, B1S)負(fù)責(zé)在開機(jī)時(shí)做硬件啟動(dòng)和檢測(cè)等工作，并且擔(dān)任操作系統(tǒng)控制硬件的中介角色。統(tǒng)一的可擴(kuò)展固件接口(Unified Extensible Firmware Interface, UEFI)是一種全新類型的接口標(biāo)準(zhǔn)，這種接口用于操作系統(tǒng)自動(dòng)從預(yù)啟動(dòng)的操作環(huán)境，加載到一種操作系統(tǒng)上，從而使開機(jī)程序化繁為簡(jiǎn)，節(jié)省時(shí)間。
[0003]目前很多電腦是利用B1S在開機(jī)時(shí)做硬件啟動(dòng)和檢測(cè)等工作，電腦主板的默認(rèn)參數(shù)設(shè)定也是B1S，但是目前工廠測(cè)試時(shí)主板的大多測(cè)試程序都使用UEFI的代碼，這就導(dǎo)致測(cè)試時(shí)需要通過手動(dòng)設(shè)置多個(gè)參數(shù)將主板調(diào)制UEFI模式，測(cè)試完成后再手動(dòng)設(shè)置多個(gè)參數(shù)以調(diào)回B1S模式，且每一主板都需要經(jīng)過這樣復(fù)雜的測(cè)試過程，這將使得操作繁瑣且耗費(fèi)大量時(shí)間。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種操作方便的轉(zhuǎn)換裝置，以在測(cè)試時(shí)實(shí)現(xiàn)B1S模式與UEFI模式的相互轉(zhuǎn)換。
[0005]一種轉(zhuǎn)換裝置，包括一轉(zhuǎn)換電路及一測(cè)試治具，所述轉(zhuǎn)換電路設(shè)置于一主板上，所述轉(zhuǎn)換電路包括一平臺(tái)控制器、一電阻及一測(cè)試焊點(diǎn)，所述平臺(tái)控制器的用來偵測(cè)測(cè)試模式的通用輸入輸出引腳通過所述電阻與所述主板上的電源相連，所述平臺(tái)控制器的用來偵測(cè)測(cè)試模式的通用輸入輸出引腳還與所述測(cè)試焊點(diǎn)相連，所述測(cè)試治具包括一測(cè)試探針，所述測(cè)試探針接地，當(dāng)所述主板進(jìn)行測(cè)試時(shí)，所述測(cè)試探針與所述測(cè)試焊點(diǎn)相接，所述平臺(tái)控制器接收一低電平信號(hào)進(jìn)而控制所述主板切換至UEFI模式，當(dāng)測(cè)試完成后，所述測(cè)試探針與所述測(cè)試焊點(diǎn)分離，所述平臺(tái)控制器從所述電源接收一高電平信號(hào)進(jìn)而控制所述主板切換至B1S模式。
[0006]上述轉(zhuǎn)換裝置可實(shí)現(xiàn)當(dāng)主板測(cè)試時(shí)利用測(cè)試治具使主板自動(dòng)設(shè)置UEFI參數(shù)并進(jìn)入U(xiǎn)EFI模式，當(dāng)測(cè)試完成時(shí)，主板再自動(dòng)設(shè)置B1S參數(shù)并切換至B1S模式。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1是本發(fā)明轉(zhuǎn)換裝置的較佳實(shí)施方式的示意圖。
[0008]主要元件符號(hào)說明

【權(quán)利要求】
1.一種轉(zhuǎn)換裝置，包括一轉(zhuǎn)換電路及一測(cè)試治具，所述轉(zhuǎn)換電路設(shè)置于一主板上，所述轉(zhuǎn)換電路包括一平臺(tái)控制器、一電阻及一測(cè)試焊點(diǎn)，所述平臺(tái)控制器的用來偵測(cè)測(cè)試模式的通用輸入輸出引腳通過所述電阻與所述主板上的電源相連，所述平臺(tái)控制器的用來偵測(cè)測(cè)試模式的通用輸入輸出引腳還與所述測(cè)試焊點(diǎn)相連，所述測(cè)試治具包括一測(cè)試探針，所述測(cè)試探針接地，當(dāng)所述主板進(jìn)行測(cè)試時(shí)，所述測(cè)試探針與所述測(cè)試焊點(diǎn)相接，所述平臺(tái)控制器接收一低電平信號(hào)進(jìn)而控制所述主板切換至UEFI模式，當(dāng)測(cè)試完成后，所述測(cè)試探針與所述測(cè)試焊點(diǎn)分離，所述平臺(tái)控制器從所述電源接收一高電平信號(hào)進(jìn)而控制所述主板切換至B1S模式。
【文檔編號(hào)】G06F11/26GK104182316SQ201310193766
【公開日】2014年12月3日 申請(qǐng)日期:2013年5月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年5月22日
【發(fā)明者】王晶, 陳俊生, 李道偉 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(武漢)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司