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污點(diǎn)檢測的制作方法與工藝

文檔序號(hào):12603305閱讀:來源:國知局
污點(diǎn)檢測的制作方法與工藝

技術(shù)特征:
1.一種在介質(zhì)項(xiàng)目上檢測污損的方法,所述方法包括:接收所述介質(zhì)項(xiàng)目的圖像,其中所述圖像包括多個(gè)具有在亮度值范圍內(nèi)不同亮度值的像素;使用來自具有一定亮度值的圖像的像素以創(chuàng)建中心加權(quán)圖像,所述一定亮度值在亮度值范圍的中心部位內(nèi),所述中心部位涉及像素亮度而非空間位置;將閾值應(yīng)用到所述中心加權(quán)圖像內(nèi)的每一個(gè)像素以將每一個(gè)像素都轉(zhuǎn)化為二進(jìn)制值從而創(chuàng)建包含多個(gè)像素的評(píng)估圖像,評(píng)估圖像的每一個(gè)像素都具有兩個(gè)可能值中的一個(gè);通過將評(píng)估圖像內(nèi)的像素與二進(jìn)制參考圖像中在相應(yīng)空間位置處的像素進(jìn)行比較來計(jì)算出二進(jìn)制參考圖像與評(píng)估圖像之間的差分圖像,以使差分圖像包括(i)在所述評(píng)估圖像內(nèi)的像素具有低亮度像素并且在所述二進(jìn)制參考圖像內(nèi)相應(yīng)像素具有高亮度像素的每一個(gè)空間位置處的污點(diǎn)像素,以及(ii)在所有其它空間位置處的無污點(diǎn)像素;在差分圖像滿足污損標(biāo)準(zhǔn)的情況下指示所述介質(zhì)項(xiàng)目有污損。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述污損標(biāo)準(zhǔn)包括差分圖像包含覆蓋最大污損區(qū)域的連續(xù)污點(diǎn)像素。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述方法包括在接收所述介質(zhì)項(xiàng)目圖像的步驟之前捕獲所述介質(zhì)項(xiàng)目圖像的附加步驟。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中捕獲所述介質(zhì)項(xiàng)目圖像的步驟進(jìn)一步包括使用所述介質(zhì)項(xiàng)目一側(cè)的紅外線輻射發(fā)射器和所述介質(zhì)項(xiàng)目另一側(cè)的紅外線輻射檢測器來捕獲所述介質(zhì)項(xiàng)目的傳送圖像。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中使用來自具有一定亮度值的圖像的像素以創(chuàng)建中心加權(quán)圖像,所述一定亮度值在亮度值范圍的中心部位內(nèi),所述中心部位涉及像素亮度而非空間位置的步驟包括:對比度擴(kuò)展所接收的圖像以擴(kuò)展亮度值范圍的中心部位以創(chuàng)建對比度擴(kuò)展圖像,從而使所述中心加權(quán)圖像包括對比度擴(kuò)展圖像。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其中將閾值應(yīng)用到在所述中心加權(quán)圖像內(nèi)每一個(gè)像素的步驟進(jìn)一步包括:從創(chuàng)建所述二進(jìn)制參考圖像的參考圖像中確定:(i)閾值像素亮度,其中在所述參考圖像中所有像素的百分之Y具有低于所述閾值像素亮度的像素亮度,(ii)將第一個(gè)二進(jìn)制值賦予具有低于或等于所述閾值像素亮度的像素亮度的中心加權(quán)圖像中的每一個(gè)像素,并且(iii)將第二個(gè)二進(jìn)制值賦予具有高于所述閾值像素亮度的像素亮度的中心加權(quán)圖像中的每一個(gè)像素。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中在計(jì)算差分圖像的步驟之前,所述方法包括附加步驟:(i)將所述評(píng)估圖像的方位和所述二進(jìn)制參考圖像的方位進(jìn)行比較,并且(ii)在所述方位不匹配的地方,實(shí)施所述評(píng)估圖像的幾何變換以匹配所述二進(jìn)制參考圖像的方位。8.一種介質(zhì)驗(yàn)證器,可操作用于檢測提供給所述介質(zhì)驗(yàn)證器的介質(zhì)項(xiàng)目上的污損,所述介質(zhì)驗(yàn)證器包括:用于傳送介質(zhì)項(xiàng)目的介質(zhì)項(xiàng)目傳輸裝置;圖像捕獲設(shè)備,其與所述介質(zhì)項(xiàng)目傳輸裝置對齊并且用于捕獲對應(yīng)于所述介質(zhì)項(xiàng)目的二維陣列像素,每一個(gè)像素都具有與介質(zhì)項(xiàng)目上對應(yīng)于該像素的空間位置處的介質(zhì)項(xiàng)目性質(zhì)相關(guān)的像素亮度;以及處理器,其被編程用于控制所述介質(zhì)項(xiàng)目傳輸裝置和所述圖像捕獲設(shè)備,同時(shí)也被編程用于:(i)接收二維陣列像素;(ii)中心加權(quán)所接收到的二維陣列像素;(iii)將閾值應(yīng)用到在中心加權(quán)后的陣列像素中的每一個(gè)像素以將每一個(gè)像素都轉(zhuǎn)成為二進(jìn)制值從而創(chuàng)建包含多個(gè)像素的評(píng)估圖像,評(píng)估圖像的每一個(gè)像素都具有兩個(gè)可能值中的一個(gè);(iv)通過將在所述評(píng)估圖像中的像素與在二進(jìn)制參考圖像中相應(yīng)的空間位置處的像素進(jìn)行比較來計(jì)算在所述二進(jìn)制參考圖像和所述評(píng)估圖像之間的差分圖像,以使所述差分圖像包括(a)在評(píng)估圖像內(nèi)的像素具有低亮度像素并且在二進(jìn)制參考圖像內(nèi)相應(yīng)的像素具有高亮度像素的每一個(gè)空間位置處的污點(diǎn)像素,以及(b)在所有其它空間位置處的無污點(diǎn)像素;以及(v)在所述差分圖像滿足污損標(biāo)準(zhǔn)的情況下指示所述介質(zhì)項(xiàng)目有污損。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的介質(zhì)驗(yàn)證器,其中所述介質(zhì)項(xiàng)目傳輸裝置包括一個(gè)或多個(gè)環(huán)形帶。10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的介質(zhì)驗(yàn)證器,其中所述圖像捕獲設(shè)備包括具有至少像所述介質(zhì)項(xiàng)目區(qū)域一樣大的傳感器區(qū)域的二維傳感器。11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的介質(zhì)驗(yàn)證器,其中所述圖像捕獲設(shè)備進(jìn)一步包括位于通向紅外線檢測器的介質(zhì)項(xiàng)目路徑相對側(cè)的紅外線光源。12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的介質(zhì)驗(yàn)證器,其中所述介質(zhì)驗(yàn)證器包括紙幣驗(yàn)證器。13.一種介質(zhì)存儲(chǔ)裝置,包括根據(jù)權(quán)利要求8所述的介質(zhì)驗(yàn)證器。14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的介質(zhì)存儲(chǔ)裝置,其中所述介質(zhì)存儲(chǔ)裝置包括紙幣存儲(chǔ)區(qū)域和檢查存儲(chǔ)區(qū)域。15.一種在介質(zhì)項(xiàng)目上檢測污損的方法,所述方法包括:接收所述介質(zhì)項(xiàng)目的圖像,其中所述圖像包括多個(gè)具有在亮度值范圍內(nèi)不同亮度值的像素;中心加權(quán)所述多個(gè)像素以創(chuàng)建中心加權(quán)圖像;將閾值應(yīng)用到所述中心加權(quán)圖像內(nèi)的每一個(gè)像素以將每一個(gè)像素都轉(zhuǎn)化為二進(jìn)制值從而創(chuàng)建包含多個(gè)像素的評(píng)估圖像,評(píng)估圖像的每一個(gè)像素都具有兩個(gè)可能值中的一個(gè);通過將評(píng)估圖像內(nèi)的像素與二進(jìn)制參考圖像中在相應(yīng)空間位置處的像素進(jìn)行比較來計(jì)算出二進(jìn)制參考圖像與評(píng)估圖像之間的差分圖像,以使差分圖像包括(i)在所述評(píng)估圖像內(nèi)的像素具有低亮度像素并且在所述二進(jìn)制參考圖像內(nèi)相應(yīng)像素具有高亮度像素的每一個(gè)空間位置處的污點(diǎn)像素,以及(ii)在所有其它空間位置處的無污點(diǎn)像素;在差分圖像滿足污損標(biāo)準(zhǔn)的情況下指示所述介質(zhì)項(xiàng)目有污損。16.一種介質(zhì)驗(yàn)證器,可操作用于檢測提供給所述介質(zhì)驗(yàn)證器的介質(zhì)項(xiàng)目上的污損,所述介質(zhì)驗(yàn)證器包括:用于傳送介質(zhì)項(xiàng)目的介質(zhì)項(xiàng)目傳輸裝置;圖像捕獲設(shè)備,其與所述介質(zhì)項(xiàng)目傳輸裝置對齊并且用于捕獲對應(yīng)于所述介質(zhì)項(xiàng)目的二維陣列像素,每一個(gè)像素都具有與介質(zhì)項(xiàng)目上對應(yīng)于該像素的空間位置處的介質(zhì)項(xiàng)目性質(zhì)相關(guān)的像素亮度;以及處理器,其被編程用于:(i)接收二維陣列像素;(ii)中心加權(quán)所接收到的二維陣列像素;(iii)將閾值應(yīng)用到在中心加權(quán)后的陣列像素中的每一個(gè)像素以將每一個(gè)像素都轉(zhuǎn)成為二進(jìn)制值從而創(chuàng)建包含多個(gè)像素的評(píng)估圖像,評(píng)估圖像的每一個(gè)像素都具有兩個(gè)可能值中的一個(gè);(iv)通過將在所述評(píng)估圖像中的像素與在二進(jìn)制參考圖像中相應(yīng)的空間位置處的像素進(jìn)行比較來計(jì)算在所述二進(jìn)制參考圖像和所述評(píng)估圖像之間的差分圖像,以使所述差分圖像包括(a)在評(píng)估圖像內(nèi)的像素具有低亮度像素并且在二進(jìn)制參考圖像內(nèi)相應(yīng)的像素具有高亮度像素的每一個(gè)空間位置處的污點(diǎn)像素,以及(b)在所有其它空間位置處的無污點(diǎn)像素;以及(v)在所述差分圖像滿足污損標(biāo)準(zhǔn)的情況下指示所述介質(zhì)項(xiàng)目有污損。
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