專利名稱：一種自診斷plc存儲(chǔ)芯片的方法、自診斷plc的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及可編程控制技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的方法和自診斷PLC。
背景技術(shù)：
可編程邏輯控制器(Programmable Logic Controller, PLC)是一種用于實(shí)時(shí)控制的自動(dòng)化控制裝置，其廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制領(lǐng)域?，F(xiàn)有技術(shù)中，PLC存儲(chǔ)芯片的引腳焊接出現(xiàn)問題的時(shí)候，常常會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)讀寫錯(cuò)誤。PLC存儲(chǔ)芯片的引腳分為地址線引腳和數(shù)據(jù)線引腳兩種，當(dāng)PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳出現(xiàn)虛焊或者短接的時(shí)候，會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到錯(cuò)誤的地址，甚至覆蓋掉其他地址的原有數(shù)據(jù)。為了避免上述問題，現(xiàn)有技術(shù)中往往使用檢測(cè)設(shè)備來檢測(cè)PLC存儲(chǔ)芯片的引腳的焊接品質(zhì)，但是檢測(cè)設(shè)備一般比較昂貴，并且檢測(cè)時(shí)間較長(zhǎng)。并且，檢測(cè)設(shè)備一般在PLC存儲(chǔ)芯片出廠前進(jìn)行嚴(yán)格的品質(zhì)檢查，但是對(duì)于出廠后的PLC存儲(chǔ)芯片卻沒有辦法立即檢查其是否有脫焊或者因?yàn)楝F(xiàn)場(chǎng)震動(dòng)等各種原因?qū)е碌腜LC存儲(chǔ)芯片的引腳松動(dòng)、短接等故障狀態(tài)，因此，出廠之后發(fā)生的PLC存儲(chǔ)芯片的引腳焊接問題不容易察覺，需要送回原廠檢測(cè)，成本較高，耗費(fèi)時(shí)間長(zhǎng)，不利于及時(shí)排除問題。

發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，本發(fā)明提供一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的方法和自診斷PLC，可以快速的自我診斷PLC存儲(chǔ)芯片數(shù)據(jù)線和/或地址線引腳存在的焊接問題，避免因此帶來的數(shù)據(jù)讀寫錯(cuò)誤的問題。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳的方法，包括
通過待測(cè)數(shù)據(jù)線在所述PLC存儲(chǔ)芯片的一地址中寫入數(shù)據(jù)；
通過所述待測(cè)數(shù)據(jù)線從所述PLC存儲(chǔ)芯片的所述地址中讀出數(shù)據(jù)；
比較從所述地址讀出的數(shù)據(jù)是否和之前寫入的數(shù)據(jù)相同；
若是，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳正常；
若否，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。其中，對(duì)待測(cè)數(shù)據(jù)線進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，分奇偶數(shù)據(jù)線分別進(jìn)行診斷。相應(yīng)的，本發(fā)明還提供一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳的方法，包括 通過數(shù)據(jù)線向PLC存儲(chǔ)芯片的待測(cè)地址線對(duì)應(yīng)的地址寫入數(shù)據(jù)；
從與所述待測(cè)地址線相鄰的地址線對(duì)應(yīng)的地址讀取數(shù)據(jù)；
比較所述寫入的數(shù)據(jù)和所述讀取的數(shù)據(jù)是否相同；
若是，判斷所述待測(cè)地址線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)；
若否，判斷所述待測(cè)地址線的引腳正常。
其中，以由低位地址到高位地址的順序，對(duì)所述PLC存儲(chǔ)芯片的地址對(duì)應(yīng)的地址線引腳進(jìn)行診斷，直至檢測(cè)完所有的地址線引腳。相應(yīng)的，本發(fā)明還提供了一種自診斷可編程邏輯控制器，包括，中央處理單元CPU， 診斷裝置和可編程邏輯控制器PLC存儲(chǔ)芯片；
所述診斷裝置位于所述CPU中，且與所述PLC存儲(chǔ)芯片連接，用于診斷PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳是否正常，包括
第一寫數(shù)據(jù)模塊，用于通過待測(cè)數(shù)據(jù)線在所述PLC存儲(chǔ)芯片的一地址中寫入數(shù)據(jù)；
第一讀數(shù)據(jù)模塊，用于通過所述待測(cè)數(shù)據(jù)線從所述PLC存儲(chǔ)芯片的所述地址中讀出數(shù)
據(jù)；
第一診斷模塊，用于比較所述第一讀數(shù)據(jù)模塊讀出的數(shù)據(jù)是否和之前第一寫數(shù)據(jù)模塊寫入的數(shù)據(jù)相同；若是，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳正常；若否，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。其中，所述第一診斷模塊在對(duì)所述PLC的待測(cè)數(shù)據(jù)線進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，分奇偶數(shù)據(jù)線分別進(jìn)行診斷。相應(yīng)的，本發(fā)明還提供一種自診斷可編程邏輯控制器，包括中央處理單元CPU， 診斷裝置和可編程邏輯控制器PLC存儲(chǔ)芯片；
所述診斷裝置位于所述CPU中，且與所述PLC存儲(chǔ)芯片連接，用于診斷PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳是否正常，包括
第二寫數(shù)據(jù)模塊，用于向PLC存儲(chǔ)芯片的待測(cè)地址線對(duì)應(yīng)的地址寫入數(shù)據(jù)；
第二讀數(shù)據(jù)模塊，用于從與所述待測(cè)地址線相鄰的地址線對(duì)應(yīng)的地址讀取數(shù)據(jù)； 第二診斷模塊，用于比較所述第二寫數(shù)據(jù)模塊寫入的數(shù)據(jù)和所述第二讀數(shù)據(jù)模塊讀取的數(shù)據(jù)是否相同；若是，判斷所述待測(cè)地址線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)；若否，判斷所述待測(cè)地址線的引腳正常。其中，所述第二診斷模塊以由低位地址到高位地址的順序，對(duì)所述PLC存儲(chǔ)芯片的地址對(duì)應(yīng)的地址線的引腳進(jìn)行診斷，直至檢測(cè)完所有的地址線的引腳。本發(fā)明還提供了本發(fā)明還提供一種自診斷可編程邏輯控制器，包括中央處理單元CPU，診斷裝置和可編程邏輯控制器PLC存儲(chǔ)芯片；
所述診斷裝置位于所述CPU中，且與所述PLC存儲(chǔ)芯片連接，用于診斷所述PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳和地址線引腳是否正常，包括
第一寫數(shù)據(jù)模塊，用于通過待測(cè)數(shù)據(jù)線在所述PLC存儲(chǔ)芯片的一地址中寫入數(shù)據(jù)； 第一讀數(shù)據(jù)模塊，用于所述待測(cè)數(shù)據(jù)線從所述PLC存儲(chǔ)芯片的所述地址中讀出數(shù)據(jù)； 第一診斷模塊，用于比較所述第一讀數(shù)據(jù)模塊讀出的數(shù)據(jù)是否和之前第一寫數(shù)據(jù)模塊寫入的數(shù)據(jù)相同；若是，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳正常；若否，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)；
第二寫數(shù)據(jù)模塊，用于向PLC存儲(chǔ)芯片的待測(cè)地址線對(duì)應(yīng)的地址寫入數(shù)據(jù)；
第二讀數(shù)據(jù)模塊，用于從與所述待測(cè)地址線相鄰的地址線對(duì)應(yīng)的地址讀取數(shù)據(jù)； 第二診斷模塊，用于比較所述第二寫數(shù)據(jù)模塊寫入的數(shù)據(jù)和所述第二讀數(shù)據(jù)模塊讀取的數(shù)據(jù)是否相同；若是，判斷所述待測(cè)地址線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)；若否，判斷所述待測(cè)地址線的引腳正常。
實(shí)施本發(fā)明，在PLC存儲(chǔ)芯片出廠之后，仍然可以對(duì)PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線和地址線引腳進(jìn)行診斷，以便及時(shí)排除地址線和/或數(shù)據(jù)線引腳松動(dòng)、短接等故障，大大提高PLC 的可靠性。本發(fā)明實(shí)施成本非常低，耗費(fèi)時(shí)間短，為診斷PLC存儲(chǔ)芯片的故障提供了極大的方便。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳的方法實(shí)施例一的流程不意圖2為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳的方法實(shí)施例二的流程示意圖3為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳的方法實(shí)施例一的流程示意圖4為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳的方法實(shí)施例二的流程示意圖5為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖6為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖7為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC實(shí)施例三的結(jié)構(gòu)示意圖8為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC實(shí)施例四的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明提供一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的方法和自診斷PLC，可以快速的診斷PLC存儲(chǔ)芯片數(shù)據(jù)線和/或地址線引腳存在的焊接問題，避免因此帶來的數(shù)據(jù)讀寫錯(cuò)誤的問題。參見圖1，為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳的方法實(shí)施例一的流程示意圖。本實(shí)施例一提供的方法，包括
步驟100，通過待測(cè)數(shù)據(jù)線在所述PLC存儲(chǔ)芯片的一地址中寫入數(shù)據(jù)。步驟101，通過所述待測(cè)數(shù)據(jù)線從所述PLC存儲(chǔ)芯片的所述地址中讀出數(shù)據(jù)。步驟102，比較從所述地址讀出的數(shù)據(jù)是否和之前寫入的數(shù)據(jù)相同；若是，轉(zhuǎn)入步驟103 ;若否，轉(zhuǎn)入步驟104 ；
步驟103，判斷待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳正常；
步驟104，判斷待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。以上步驟在PLC運(yùn)行中以一定時(shí)間間隔循環(huán)進(jìn)行。在一些實(shí)施例中，對(duì)所述PLC存儲(chǔ)芯片的待測(cè)數(shù)據(jù)線進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，分奇偶數(shù)據(jù)線分別進(jìn)行診斷，以下將做詳細(xì)描述。參見圖2，為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳的方法實(shí)施例
6二的流程示意圖。本實(shí)施例二提供的方法包括
步驟200，向通過待測(cè)數(shù)據(jù)線向地址2#00000000寫入數(shù)據(jù)2#10101010。其中，地址2#00000000是正常的地址，而數(shù)據(jù)2#10101010是用于測(cè)試的數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)經(jīng)過待測(cè)的數(shù)據(jù)線存儲(chǔ)到PLC存儲(chǔ)芯片的存儲(chǔ)器中。步驟201，從PLC存儲(chǔ)芯片的地址2#00000000讀數(shù)據(jù)；
步驟202，判斷步驟201中讀出的數(shù)據(jù)是否為2#10101010。若是，轉(zhuǎn)入步驟203 ;若否轉(zhuǎn)入步驟207 ；
步驟203，向地址2#11111111寫入數(shù)據(jù)2#01010101。其中，地址2#11111111是正常的地址，而數(shù)據(jù)2#01010101是用于測(cè)試的數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)經(jīng)過待測(cè)的數(shù)據(jù)線存儲(chǔ)到PLC存儲(chǔ)芯片的存儲(chǔ)器中。步驟204，從PLC存儲(chǔ)芯片的地址2#11111111讀數(shù)據(jù)；
步驟205，判斷步驟204中讀出的數(shù)據(jù)是否為2#01010101。若是，轉(zhuǎn)入步驟206 ;若否轉(zhuǎn)入步驟207 ；
步驟206，判斷待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳正常。步驟207，判斷待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，發(fā)出報(bào)警信號(hào)。實(shí)施本發(fā)明提供的診斷PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳的方法，可以快速而準(zhǔn)確的得到診斷結(jié)果，且不分場(chǎng)地進(jìn)行，節(jié)省了檢測(cè)成本和時(shí)間。參見圖3，為本發(fā)明提供的一種診斷PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳的方法實(shí)施例一的流程示意圖。本實(shí)施例一提供的方法，包括
步驟300，通過數(shù)據(jù)線向PLC存儲(chǔ)芯片的待測(cè)地址線對(duì)應(yīng)的地址寫入數(shù)據(jù)；
步驟301，從與所述待測(cè)地址線相鄰的地址線對(duì)應(yīng)的地址讀取數(shù)據(jù)；
步驟302，比較所述寫入的數(shù)據(jù)和讀取的數(shù)據(jù)是否相同；若是，轉(zhuǎn)入步驟303，若否，轉(zhuǎn)入步驟304 ；
步驟303，判斷所述待測(cè)地址線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)；
步驟304，判斷所述待測(cè)地址線的引腳正常。在一些實(shí)施方式中，以由低位地址到高位地址的順序?qū)λ鯬LC存儲(chǔ)芯片的地址對(duì)應(yīng)的地址線引腳進(jìn)行診斷，直至檢測(cè)完所有的地址線引腳，以下的實(shí)施例中將詳細(xì)描述。參見圖4，為本發(fā)明提供的一種診斷PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳的方法實(shí)施例二的流程示意圖。本實(shí)施例二提供的方法包括
步驟400，確定待測(cè)地址線I :該待測(cè)地址線對(duì)應(yīng)的地址的檢測(cè)位為0，其他位都為1，例如地址2#11111110，并向地址2#11111110寫入數(shù)據(jù)2#10101010。步驟401，從PLC存儲(chǔ)芯片的地址讀數(shù)據(jù)，判斷該數(shù)據(jù)是否為 2#10101010。若否轉(zhuǎn)入步驟402 ;若是，轉(zhuǎn)入步驟407 ；
步驟402，確定待測(cè)地址線2 :該待測(cè)地址線對(duì)應(yīng)的地址的檢測(cè)位為1，其他位都為O ; 例如地址2#00000001，并向地址2#00000001寫入數(shù)據(jù)2#01010101。步驟403，從PLC存儲(chǔ)芯片的地址2#00000000讀數(shù)據(jù)，判斷該數(shù)據(jù)是否為2#01010101。若否轉(zhuǎn)入步驟404 ;若是，轉(zhuǎn)入步驟407 ；
步驟404，是否檢測(cè)完了待測(cè)地址線的所有位？若是轉(zhuǎn)入步驟405;若否，轉(zhuǎn)入步驟
406 ；
步驟405，判斷待測(cè)地址線的引腳正常。步驟406，將檢測(cè)位加I,繼續(xù)檢測(cè)；
步驟407，判斷待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，發(fā)出報(bào)警信號(hào)。實(shí)施本發(fā)明提供的診斷PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳的方法，可以快速而準(zhǔn)確的得到診斷結(jié)果，且不分場(chǎng)地進(jìn)行，節(jié)省了檢測(cè)成本和時(shí)間。需要說明的是，上述實(shí)施例一和實(shí)施例二中提供的對(duì)PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳進(jìn)行的檢測(cè)和實(shí)施例三和實(shí)施例四中提供的對(duì)PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳進(jìn)行的檢測(cè)可以分別進(jìn)行，也可以結(jié)合起來進(jìn)行，也即先進(jìn)行數(shù)據(jù)線的檢測(cè)，再進(jìn)行地址線的檢測(cè)；或者先進(jìn)行地址線的檢測(cè)，再進(jìn)行數(shù)據(jù)線的檢測(cè)，其具體實(shí)現(xiàn)過程是以上對(duì)數(shù)據(jù)線引腳和對(duì)地址線引腳檢測(cè)的方法步驟的綜合，在此不再贅述。參見圖5，為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖.
本實(shí)施例一提供的自診斷PLC，包括診斷裝置1、PLC存儲(chǔ)芯片2、中央處理單元CPU3 ； 所述診斷裝置I位于所述CPU3中，且與所述PLC存儲(chǔ)芯片2連接，
所述PLC存儲(chǔ)芯片2包括多個(gè)數(shù)據(jù)線及其引腳，多個(gè)地址線及其引腳；存儲(chǔ)器(圖未
示)；
所述診斷裝置I的具體實(shí)現(xiàn)方式在圖6至圖8所示的實(shí)施例中詳細(xì)描述。參見圖6，為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)施例二主要描述診斷裝置I的具體實(shí)現(xiàn)方式，在本實(shí)施例中，其用于診斷PLC 存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳是否正常，包括
第一寫數(shù)據(jù)模塊10，用于通過待測(cè)數(shù)據(jù)線在所述PLC存儲(chǔ)芯片的一地址中寫入數(shù)據(jù)； 第一讀數(shù)據(jù)模塊11，用于通過所述待測(cè)數(shù)據(jù)線從所述PLC存儲(chǔ)芯片的所述地址中讀出數(shù)據(jù)；
第一診斷模塊12，用于比較所述第一讀數(shù)據(jù)模塊11讀出的數(shù)據(jù)是否和之前第一寫數(shù)據(jù)模塊11寫入的數(shù)據(jù)相同；若是，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳正常；若否，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。其中，所述第一診斷模塊12在對(duì)所述PLC的待測(cè)數(shù)據(jù)線進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，分奇偶數(shù)據(jù)線分別進(jìn)行診斷。本發(fā)明提供的診斷PLC存儲(chǔ)芯片的裝置進(jìn)行PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳的診斷具體實(shí)現(xiàn)方式如圖I和圖2所示的診斷PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳的方法實(shí)施例一和實(shí)施例二對(duì)應(yīng)的流程，在此不再贅述。參見圖7，為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC的實(shí)施例三的結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)施例三主要描述診斷裝置I的功能和結(jié)構(gòu)，其位于PLC存儲(chǔ)芯片中，用于診斷 PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳是否正常，包括
第二寫數(shù)據(jù)模塊20，用于向PLC存儲(chǔ)芯片的待測(cè)地址線對(duì)應(yīng)的地址寫入數(shù)據(jù)；
第二讀數(shù)據(jù)模塊21，用于從與所述待測(cè)地址線相鄰的地址線對(duì)應(yīng)的地址讀取數(shù)據(jù)； 第二診斷模塊22，用于比較所述第二寫數(shù)據(jù)模塊20寫入的數(shù)據(jù)和所述第二讀數(shù)據(jù)模塊21讀取的數(shù)據(jù)是否相同；若是，判斷所述待測(cè)地址線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)；若否，判斷所述待測(cè)地址線的引腳正常。其中，所述第二診斷模塊22以由低位地址到高位地址的順序，對(duì)所述PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳進(jìn)行診斷，直至檢測(cè)完所有的地址線引腳。本發(fā)明提供的診斷PLC存儲(chǔ)芯片的裝置進(jìn)行PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳的診斷具體實(shí)現(xiàn)方式如圖3和圖4所示的診斷PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳的方法實(shí)施例一和實(shí)施例二對(duì)應(yīng)的流程，在此不再贅述。參見圖8，為本發(fā)明提供的一種自診斷PLC的實(shí)施例四的結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)施例四主要描述診斷裝置I的功能和結(jié)構(gòu)，其位于PLC存儲(chǔ)芯片中，用于診斷 PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳和地址線引腳是否正常，包括
第一寫數(shù)據(jù)模塊10，用于通過待測(cè)數(shù)據(jù)線在所述PLC存儲(chǔ)芯片的一地址中寫入數(shù)據(jù)； 第一讀數(shù)據(jù)模塊11，用于通過所述待測(cè)數(shù)據(jù)線從所述PLC存儲(chǔ)芯片的所述地址中讀出數(shù)據(jù)；
第一診斷模塊12，用于比較所述第一讀數(shù)據(jù)模塊11讀出的數(shù)據(jù)是否和之前第一寫數(shù)據(jù)模塊11寫入的數(shù)據(jù)相同；若是，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳正常；若否，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。第二寫數(shù)據(jù)模塊20，用于向PLC存儲(chǔ)芯片的待測(cè)地址線對(duì)應(yīng)的地址寫入數(shù)據(jù)；
第二讀數(shù)據(jù)模塊21，用于從與所述待測(cè)地址線相鄰的地址線對(duì)應(yīng)的地址讀取數(shù)據(jù)； 第二診斷模塊22，用于比較所述第二寫數(shù)據(jù)模塊20寫入的數(shù)據(jù)和所述第二讀數(shù)據(jù)模
塊21讀取的數(shù)據(jù)是否相同；若是，判斷所述待測(cè)地址線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)；若否，判斷所述待測(cè)地址線的引腳正常。需要說明的是，所述第一寫數(shù)據(jù)模塊10和第二寫數(shù)據(jù)模塊20在具體實(shí)現(xiàn)過程中， 可以是相互獨(dú)立的兩個(gè)模塊，也可以由一個(gè)寫數(shù)據(jù)模塊來實(shí)現(xiàn)兩者的功能。所述第一讀數(shù)據(jù)模塊11和第二讀數(shù)據(jù)模塊21同理；所述第一診斷模塊11和第二診斷模塊21同理。實(shí)施本發(fā)明提供的自診斷PLC，在PLC存儲(chǔ)芯片出出廠之后，可以隨時(shí)隨地的對(duì) PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線和地址線引腳進(jìn)行診斷，以便及時(shí)排除地址線和/或數(shù)據(jù)線引腳松動(dòng)、短接等故障。本發(fā)明實(shí)施成本非常低，耗費(fèi)時(shí)間短，為診斷PLC存儲(chǔ)芯片的故障提供了極大的方便。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分流程，是可以通過計(jì)算機(jī)程序來指令相關(guān)的硬件來完成，所述的程序可存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，可包括如上述各方法的實(shí)施例的流程。其中，所述的存儲(chǔ)介質(zhì)可為磁碟、光盤、只讀存儲(chǔ)記憶體(Read-Only Memory, ROM)或隨機(jī)存儲(chǔ)記憶體(Random Access Memory, RAM)等。以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明所作的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能認(rèn)定本發(fā)明的具體實(shí)施只局限于這些說明。對(duì)于本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡(jiǎn)單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳的方法，其特征在于，包括通過待測(cè)數(shù)據(jù)線在所述PLC存儲(chǔ)芯片的一地址中寫入數(shù)據(jù)；通過所述待測(cè)數(shù)據(jù)線從所述PLC存儲(chǔ)芯片的所述地址中讀出數(shù)據(jù)；比較從所述地址讀出的數(shù)據(jù)是否和之前寫入的數(shù)據(jù)相同；若是，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳正常；若否，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
2.如權(quán)利要求I所述的診斷PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳的方法，其特征在于，對(duì)待測(cè)數(shù)據(jù)線進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，分奇偶數(shù)據(jù)線分別進(jìn)行診斷。
3.—種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳的方法，其特征在于，包括通過數(shù)據(jù)線向PLC存儲(chǔ)芯片的待測(cè)地址線對(duì)應(yīng)的地址寫入數(shù)據(jù)；從與所述待測(cè)地址線相鄰的地址線對(duì)應(yīng)的地址讀取數(shù)據(jù)；比較所述寫入的數(shù)據(jù)和所述讀取的數(shù)據(jù)是否相同；若是，判斷所述待測(cè)地址線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)；若否，判斷所述待測(cè)地址線的引腳正常。
4.如權(quán)利要求3所述的診斷PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳的方法，其特征在于，以由低位地址到高位地址的順序，對(duì)所述PLC存儲(chǔ)芯片的地址對(duì)應(yīng)的地址線引腳進(jìn)行診斷，直至檢測(cè)完所有的地址線引腳。
5.一種自診斷可編程邏輯控制器，其特征在于，包括中央處理單元CPU，診斷裝置和可編程邏輯控制器PLC存儲(chǔ)芯片；所述診斷裝置位于所述CPU中，且與所述PLC存儲(chǔ)芯片連接，用于診斷所述PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳是否正常，包括第一寫數(shù)據(jù)模塊，用于通過待測(cè)數(shù)據(jù)線在所述PLC存儲(chǔ)芯片的一地址中寫入數(shù)據(jù)；第一讀數(shù)據(jù)模塊，用于通過所述待測(cè)數(shù)據(jù)線從所述PLC存儲(chǔ)芯片的所述地址讀出數(shù)據(jù)；第一診斷模塊，用于比較所述第一讀數(shù)據(jù)模塊讀出的數(shù)據(jù)是否和之前第一寫數(shù)據(jù)模塊寫入的數(shù)據(jù)相同；若是，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳正常；若否，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。
6.如權(quán)利要求5所述的自診斷可編程邏輯控制器，其特征在于，所述第一診斷模塊在對(duì)所述PLC的待測(cè)數(shù)據(jù)線進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，分奇偶數(shù)據(jù)線分別進(jìn)行診斷。
7.—種自診斷可編程邏輯控制器，其特征在于，包括中央處理單元CPU，診斷裝置和可編程邏輯控制器PLC存儲(chǔ)芯片；所述診斷裝置位于所述CPU中，且與所述PLC存儲(chǔ)芯片連接，用于診斷PLC存儲(chǔ)芯片的地址線引腳是否正常，包括第二寫數(shù)據(jù)模塊，用于向PLC存儲(chǔ)芯片的待測(cè)地址線對(duì)應(yīng)的地址寫入數(shù)據(jù)；第二讀數(shù)據(jù)模塊，用于從與所述待測(cè)地址線相鄰的地址線對(duì)應(yīng)的地址讀取數(shù)據(jù)； 第二診斷模塊，用于比較所述第二寫數(shù)據(jù)模塊寫入的數(shù)據(jù)和所述第二讀數(shù)據(jù)模塊讀取的數(shù)據(jù)是否相同；若是，判斷所述待測(cè)地址線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)；若否，判斷所述待測(cè)地址線的引腳正常。
8.如權(quán)利要求7所述的自診斷可編程邏輯控制器，其特征在于，所述第二診斷模塊以由低位地址到高位地址的順序，對(duì)所述PLC存儲(chǔ)芯片的地址對(duì)應(yīng)的地址線引腳進(jìn)行診斷， 直至檢測(cè)完所有的地址線弓I腳。
9.一種自診斷可編程邏輯控制器，其特征在于，包括中央處理單元CPU，診斷裝置和可編程邏輯控制器PLC存儲(chǔ)芯片；所述診斷裝置位于所述CPU中，且與所述PLC存儲(chǔ)芯片連接，用于診斷所述PLC存儲(chǔ)芯片的數(shù)據(jù)線引腳和地址線引腳是否正常，包括第一寫數(shù)據(jù)模塊，用于通過待測(cè)數(shù)據(jù)線在所述PLC存儲(chǔ)芯片的一地址中寫入數(shù)據(jù)； 第一讀數(shù)據(jù)模塊，用于所述待測(cè)數(shù)據(jù)線從所述PLC存儲(chǔ)芯片的所述地址中讀出數(shù)據(jù)； 第一診斷模塊，用于比較所述第一讀數(shù)據(jù)模塊讀出的數(shù)據(jù)是否和之前第一寫數(shù)據(jù)模塊寫入的數(shù)據(jù)相同；若是，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳正常；若否，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)；第二寫數(shù)據(jù)模塊，用于向PLC存儲(chǔ)芯片的待測(cè)地址線對(duì)應(yīng)的地址寫入數(shù)據(jù)；第二讀數(shù)據(jù)模塊，用于從與所述待測(cè)地址線相鄰的地址線對(duì)應(yīng)的地址讀取數(shù)據(jù)； 第二診斷模塊，用于比較所述第二寫數(shù)據(jù)模塊寫入的數(shù)據(jù)和所述第二讀數(shù)據(jù)模塊讀取的數(shù)據(jù)是否相同；若是，判斷所述待測(cè)地址線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)；若否，判斷所述待測(cè)地址線的引腳正常。
全文摘要
本發(fā)明提供一種自診斷PLC存儲(chǔ)芯片的方法和一種自診斷PLC。所述方法之一包括通過待測(cè)數(shù)據(jù)線在所述PLC存儲(chǔ)芯片的一地址中寫入數(shù)據(jù)；通過所述待測(cè)數(shù)據(jù)線從所述PLC存儲(chǔ)芯片的所述地址中讀出數(shù)據(jù)；比較從所述地址讀出的數(shù)據(jù)是否和之前寫入的數(shù)據(jù)相同；若是，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳正常；若否，則判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的引腳異常，并發(fā)出報(bào)警信號(hào)。實(shí)施本發(fā)明，可以快速的診斷PLC存儲(chǔ)芯片數(shù)據(jù)線和/或地址線引腳存在的焊接問題，避免因此帶來的數(shù)據(jù)讀寫錯(cuò)誤的問題。
文檔編號(hào)G06F11/267GK102591762SQ20111042432
公開日2012年7月18日 申請(qǐng)日期2011年12月16日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月16日
發(fā)明者張小軍 申請(qǐng)人:深圳市合信自動(dòng)化技術(shù)有限公司