專利名稱：輸入裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及具備靜電電容方式觸摸傳感器的輸入裝置。
背景技術(shù)：
已知通過對靜電電容的變化進行檢測而對用戶手指等的觸摸進行檢測的靜電電容方式觸摸傳感器(包括觸摸屏、觸摸墊片、觸摸開關(guān)等。)(例如，專利文獻1)。該觸摸傳感器例如使用于電子設(shè)備殼體的操作面板，作為接受用戶手指輸入的輸入裝置而使電子設(shè)備發(fā)揮作用。在觸摸傳感器中，具體地，例如包括對靜電電容進行檢測而輸出的墊片(pad)、和對從墊片所輸出的靜電電容變化進行檢測而輸出到CPU等的控制器(例如控制IC)。控制器例如將從墊片所輸出的信號變換為可以由CPU進行處理的信號(例如，表示電位的值和 /或頻率)而輸出。專利文獻1 日本特開2008-52583號公報然而，電子設(shè)備的特性、墊片和/或控制器的特性因個體而異。因此，當檢測靜電電容的微小變化時，它們每個個體的特性影響很大，并在各電子設(shè)備間，在通過控制器所測量的值中產(chǎn)生不勻。為了消除由于產(chǎn)生不勻而無法對觸摸進行檢測的電子設(shè)備不良狀況，在電子設(shè)備的制造工序中，將觸摸傳感器安裝于電子設(shè)備之后，進行其調(diào)整。在觸摸傳感器的調(diào)整中， 例如，在手指和/或其他物體不接近或不接觸墊片的狀態(tài)(OFF狀態(tài))下對該墊片的輸出值進行測定，算出能夠使該測定值達到預(yù)先確定的基準值(用于判定為OFF狀態(tài)的適當值) 的校正值(例如，用于對增益進行調(diào)整的校正值)，并預(yù)先存儲于非易失性存儲器等。然后， 對于墊片的輸出，通過控制IC及CPU至少一方的處理，基于該校正值進行校正(例如，增益調(diào)整)，可測定出適當?shù)闹?。但是，在電子設(shè)備的制造工序中，當調(diào)整觸摸傳感器時，存在手指和/或工具及其他物體接近或接觸墊片，無法適當?shù)氐玫綔y定值的情況。于是，得不到適當?shù)男Ｕ?，其結(jié)果，產(chǎn)生觸摸傳感器的不良狀況。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明目的在于，在盡量不受外部影響的狀態(tài)下進行觸摸傳感器的調(diào)整。用于解決上述課問題的本發(fā)明一個方式為輸入裝置，具備基材、基板、一個以上的第一墊片、一個以上的第二墊片、和控制部，其中，所述基材面向該輸入裝置作為操作面的外側(cè)；所述基板在與該輸入裝置作為與操作面相反側(cè)的內(nèi)側(cè)，與前述基材對置配置；所述第一墊片在前述基板，隔著電介質(zhì)構(gòu)件與前述基材對置配置，對靜電電容進行檢測；所述第二墊片在前述基板，隔著空氣層與前述基材對置配置，對靜電電容進行檢測；所述控制部連接于前述第一墊片及前述第二墊片，對前述第一墊片及前述第二墊片進行控制。在此，也可以特征為前述第二墊片是用于前述控制部或連接于前述控制部的CPU基于前述第二墊片的輸出求得對前述第一墊片的輸出進行調(diào)整的校正值的墊片。另外，也可以特征為前述第二墊片配置于前述基板的與前述基材相對的面。另外，也可以特征為前述第二墊片配置于前述基板的與前述基材相對面的相反面。另外，也可以特征為前述電介質(zhì)構(gòu)件與前述基材相接觸，并與前述第一墊片相接觸。另外，也可以特征為前述第二墊片配置于其輸出測定條件比前述第一墊片的輸出測定條件差的位置。另外，也可以特征為對前述第二墊片與前述控制部進行連接的布線比對前述第一墊片與前述控制部進行連接的布線長。另外，也可以特征為前述電介質(zhì)構(gòu)件為導(dǎo)光體，將配置于前述基板的光源光導(dǎo)向前述基材，前述基材的與前述電介質(zhì)構(gòu)件對于的部分使前述光源的光透射。另外，也可以特征為前述輸入裝置為打印機、掃描儀、復(fù)印機、復(fù)合機中的任意一種電子設(shè)備。


圖1是表示本發(fā)明第一實施方式涉及的觸摸傳感器基板的概略構(gòu)成例的圖。圖2是對本發(fā)明第一實施方式涉及的電子設(shè)備與觸摸傳感器基板的關(guān)系進行說明的圖。圖3是表示本發(fā)明第一實施方式變形例涉及的電子設(shè)備與觸摸傳感器基板的關(guān)系的圖。圖4是表示現(xiàn)有觸摸傳感器基板的概略構(gòu)成例的圖。圖5是對現(xiàn)有電子設(shè)備與觸摸傳感器基板的關(guān)系進行說明的圖。標號說明1 殼體，2 觸摸傳感器基板，3 操作用墊片，4 調(diào)整用墊片，5 導(dǎo)光板，6 控制 IC，7 布線，8 布線
具體實施例方式以下，關(guān)于本發(fā)明的第一實施方式，參照附圖進行說明。本實施方式中，具備觸摸傳感器的輸入裝置例如是打印機、掃描儀、復(fù)印機、復(fù)合機等電子設(shè)備。電子設(shè)備例如在其殼體(殼體的外側(cè)，操作面)具備用戶用于向電子設(shè)備進行輸入的操作面板區(qū)域。在操作面板區(qū)域之下(殼體的內(nèi)側(cè)，電子設(shè)備的內(nèi)部)，與操作面板區(qū)域相對而設(shè)置觸摸傳感器基板，能夠?qū)Σ僮髅姘鍏^(qū)域的用戶觸摸操作進行檢測。圖1是表示本發(fā)明第一實施方式涉及的觸摸傳感器基板的概略構(gòu)成例的圖。本圖是從正面看設(shè)置于上述電子設(shè)備操作面板區(qū)域之下的觸摸傳感器基板2的圖。圖2是對本發(fā)明第一實施方式涉及的電子設(shè)備與觸摸傳感器基板的關(guān)系進行說明的圖。本圖是從側(cè)面看觸摸傳感器基板2安裝于電子設(shè)備的殼體1內(nèi)部的狀態(tài)的圖(殼體1為剖面)。觸摸傳感器基板2包括操作用墊片3、調(diào)整用墊片4、和控制IC6。操作用墊片3與控制IC6以布線7所連接。調(diào)整用墊片4與控制IC6以布線8所連接。
操作用墊片3是所謂的靜電墊片，例如由絕緣體墊片和配置于該墊片之下的電極所構(gòu)成。操作用墊片3例如對通過人手指等電介質(zhì)接近或接觸所蓄積的電荷進行檢測，并通過布線7輸出到控制IC6。在操作用墊片3與殼體1之間，配置作為電介質(zhì)的導(dǎo)光板5。導(dǎo)光板5的上端從殼體ι的內(nèi)側(cè)接觸或接合于殼體1，下端接觸或接合于操作用墊片3的上側(cè)。在觸摸傳感器基板2的操作用墊片3鄰近，配置LED等的光源(未圖示)，導(dǎo)光板5將光源的光導(dǎo)向殼體1。 殼體1至少與導(dǎo)光板5相接觸或相接合的部分成為使光透射的材質(zhì)或構(gòu)成，用戶能夠看該光而確認應(yīng)當操作的位置。根據(jù)上述構(gòu)成，操作用墊片3能夠?qū)νㄟ^人手指等接近或接觸殼體1與導(dǎo)光板5 相對應(yīng)的部分所蓄積的靜電電容進行檢測。還有，本實施方式中，操作用墊片3及調(diào)整用墊片4不管在電介質(zhì)未接近的狀態(tài)還是電介質(zhì)接近的狀態(tài)，都能夠進行靜電電容的輸出；控制IC6不管在電介質(zhì)未接近的狀態(tài)還是電介質(zhì)已接近的狀態(tài)，都能夠得到測定值。調(diào)整用墊片4例如是與操作用墊片3相同制品的靜電墊片。調(diào)整用墊片4例如對通過人手指等電介質(zhì)接近所蓄積的電荷進行檢測，并通過布線8輸出到控制IC6。調(diào)整用墊片4配置于輸出值的測量條件比操作用墊片3的輸出值的測定條件差的位置。例如配置為，來自調(diào)整用墊片4剛輸出后的電流值雖然與來自操作用墊片3剛輸出后的電流值相同，但是當以控制IC6檢測時，變?yōu)殡娏髦当炔僮饔脡|片3的電流值小。本實施方式中，配置調(diào)整用墊片4，使得布線8的長度比布線7長。如后述地，因為計算出用于進行增益調(diào)整使得測量條件差的調(diào)整用墊片4測定值變得適當?shù)男Ｕ担灾灰褂迷撔Ｕ?，則測量條件比調(diào)整用墊片4的測量條件好的操作用墊片3的測定值就會變得適當。還有，調(diào)整用墊片4的測定值因為只要以條件比操作用墊片3差的狀態(tài)測定即可， 所以并不限定于如上述地使布線長度存在差別的方法，例如，也可以使調(diào)整用墊片4的面積比操作用墊片3的面積小。也可以組合這些方法。另外，例如，也可以設(shè)置多個調(diào)整用墊片4，使用其中最差的測定值。另外，例如，在將調(diào)整用墊片4配置于與操作用墊片3同樣的測定條件位置的情況下，也可以使布線8蜿蜒蛇行等使得布線8的長度變得比布線7的長度要長，將測量條件設(shè)定得差。在此，在調(diào)整用墊片4與殼體1之間，不配置作為電介質(zhì)的導(dǎo)光板5。S卩，在調(diào)整用墊片4與殼體1之間，存在空氣層(空氣間隙)，并變成電介質(zhì)向殼體1表面的接近或接觸盡量小地影響調(diào)整用墊片4輸出的狀態(tài)。空氣層的寬度(Wl)為使得電介質(zhì)向殼體1表面的接近或接觸對以調(diào)整用墊片4所檢測到的靜電電容的影響盡量小或消失的寬度。控制IC6對操作用墊片3及調(diào)整用墊片4進行控制?？刂艻C6例如在電子設(shè)備的制造工序中，對調(diào)整用墊片4的輸出進行測定，并變換為CPU可以處理的信號而輸出到CPU 等。另外，控制IC6通過由CPU所設(shè)定的校正值，對操作用墊片3的增益進行校正。另外， 取得校正過的操作用墊片3的測定值，并變換為CPU可以處理的信號而輸出到CPU。還有，觸摸傳感器基板2例如連接于對電子設(shè)備進行控制的主控制器基板(未圖示)等。在主控制器基板，例如，設(shè)置CPU、RAM、R0M等?？刂艻C6將測定值輸出到CPU。當然，觸摸傳感器基板2與主控制器基板也可以為一體，各墊片與控制IC6也可以搭載于不同的基板。
CPU通過執(zhí)行預(yù)定的程序，例如，在制造工序中，接受從控制IC6所輸出的調(diào)整用墊片4的測定值，并使用預(yù)先確定的變換式和/或變換表，算出能夠使該測定值達到預(yù)先確定的基準值的校正值。然后，將該校正值存儲于ROM等。上述校正值用于對操作用墊片3的輸出進行校正。例如，當電子設(shè)備啟動時，CPU 將該校正值設(shè)定于控制IC6，控制IC6對操作用墊片3的增益以該校正值進行校正。還有， CPU例如每預(yù)定時間地從操作用墊片3取得測定值，對某時刻的測定值與預(yù)定時間后的某時刻的測定值的差量進行計算，在該差量超出預(yù)先確定的值情況下判定為操作用墊片3受過觸摸。還有，雖然本實施方式中，校正值通過CPU來計算，但是例如，也可以通過控制IC 來計算。另外，雖然在本實施方式中，校正值設(shè)定于控制IC，但是例如也可以，控制IC并不進行校正，而CPU使用校正值進行校正。還有，上述本發(fā)明第一實施方式涉及的觸摸傳感器基板及電子設(shè)備的構(gòu)成是當對本申請發(fā)明的特征進行說明時對主要構(gòu)成進行了說明的構(gòu)成，并不限于上述的構(gòu)成。另外， 并不排除一般性觸摸傳感器基板及電子設(shè)備具備的構(gòu)成。以上為本發(fā)明的第一實施方式。根據(jù)本實施方式，能夠在盡量不受外部影響的狀態(tài)下進行觸摸傳感器的調(diào)整。S卩，本實施方式中，在從通常用戶操作范圍離開的位置設(shè)置調(diào)整用墊片，該調(diào)整用墊片與殼體隔著空氣層。通過如此的構(gòu)成，即使在手指和/或物體接近或接觸殼體的情況下，也能夠不受其影響地對靜電電容進行檢測。其結(jié)果，能夠恰當?shù)剡M行觸摸傳感器的調(diào)離
iF. ο對上述實施方式與現(xiàn)有技術(shù)進行比較。如圖4及圖5所示，現(xiàn)有的觸摸傳感器基板2’具備操作用墊片3、控制IC6、和布線7，但是并不具備調(diào)整用墊片4與布線8。操作用墊片3通過導(dǎo)光板5與殼體1相接觸或相接合。因此，現(xiàn)有的觸摸傳感器的調(diào)整需要使用操作用墊片3的測定值來進行，在手指和/或物體接近或接觸殼體1的情況下，無法得到適當?shù)臏y定值。接下來，關(guān)于本發(fā)明第一實施方式的變形例，以與第一實施方式的不同點為中心進行說明。圖3是表示本發(fā)明第一實施方式的變形例涉及的電子設(shè)備與觸摸傳感器基板的關(guān)系的圖。在本變形例中，觸摸傳感器基板2在收置于電子設(shè)備的殼體1之中情況下，殼體1 與觸摸傳感器基板2的距離(W2)比第一實施方式中的距離(Wl)要短。因此，若調(diào)整用墊片4設(shè)置于觸摸傳感器基板2的殼體側(cè)，則在手指等接近或接觸殼體1表面的情況下有可能在靜電電容產(chǎn)生變化，無法得到適當?shù)臏y定值。因此，在本變形例中，調(diào)整用墊片4設(shè)置于觸摸傳感器基板2背面?zhèn)?與殼體1相反側(cè))的表面。還有，布線8也設(shè)置于觸摸傳感器基板2的背面?zhèn)缺砻?。通過為如上述的構(gòu)成，即使在殼體與觸摸傳感器基板接近的情況下，也能夠在盡量不受外部影響的狀態(tài)下進行觸摸傳感器的調(diào)整。還有，上述本發(fā)明的各實施方式意圖對本發(fā)明的主旨與范圍進行例示，并非進行限定。許多代替物、修正及變形例對本領(lǐng)域技術(shù)人員而言顯而易見。
雖然在上述的實施方式中，在電子設(shè)備的制造工序中決定校正值，但是例如，也可以在由用戶購買之后，在接通電子設(shè)備電源的定時、從節(jié)電模式恢復(fù)為通常模式的定時，決定校正值。
權(quán)利要求
1.一種輸入裝置，其特征在于，具備形成該輸入裝置的操作面的基材；與前述基材對置配置的基板；在前述基板，隔著電介質(zhì)構(gòu)件與前述基材對置配置，對靜電電容進行檢測的一個以上的第一墊片；在前述基板，未隔著電介質(zhì)構(gòu)件與前述基材對置配置，對靜電電容進行檢測的一個以上的第二墊片；和連接于前述第一墊片及前述第二墊片，對前述第一墊片及前述第二墊片進行控制的控制部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于前述第二墊片為用于前述控制部或連接于前述控制部的CPU基于前述第二墊片的輸出求得對前述第一墊片的輸出進行調(diào)整的校正值的墊片。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的輸入裝置，其特征在于前述第二墊片配置于前述基板的與前述基材相對的面。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的輸入裝置，其特征在于前述第二墊片配置于前述基板的與前述基材相對的面的相反面。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于前述電介質(zhì)構(gòu)件與前述基材相接觸，并與前述第一墊片相接觸。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于前述第二墊片配置于其輸出測定條件比前述第一墊片的輸出測定條件差的位置。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的輸入裝置，其特征在于對前述第二墊片與前述控制部進行連接的布線比對前述第一墊片與前述控制部進行連接的布線長。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于前述電介質(zhì)構(gòu)件為導(dǎo)光體，將配置于前述基板的光源光導(dǎo)向前述基材，前述基材的與前述電介質(zhì)構(gòu)件對應(yīng)的部分使前述光源的光透射。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于該輸入裝置為打印機、掃描儀、復(fù)印機、復(fù)合機中的任意一種電子設(shè)備。
全文摘要
本發(fā)明涉及輸入裝置。在盡量不受外部影響的狀態(tài)下進行觸摸傳感器的調(diào)整。輸入裝置具備面向該輸入裝置作為操作面的外側(cè)的基材；在與該輸入裝置作為與操作面相反側(cè)的內(nèi)側(cè)對置配置于前述基材的基板；在前述基板隔著電介質(zhì)構(gòu)件與前述基材對置配置、對靜電電容進行檢測的一個以上的第一墊片；在前述基板隔著空氣層與前述基材對置配置、對靜電電容進行檢測的一個以上的第二墊片；和連接于前述第一墊片及前述第二墊片，對前述第一墊片及前述第二墊片進行控制的控制部。
文檔編號G06F3/044GK102467311SQ20111033388
公開日2012年5月23日 申請日期2011年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月28日
發(fā)明者中村直樹 申請人:精工愛普生株式會社