專利名稱：一種大規(guī)模集成電路測(cè)試人力成本管理方法
一種大規(guī)模集成電路測(cè)試人力成本管理方法
背景技術(shù)：
本發(fā)明屬于大規(guī)模集成電路(VLSI)設(shè)計(jì)驗(yàn)證的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)領(lǐng)域，特別涉及一種大規(guī)模集成電路測(cè)試的人力成本管理方法。
背景技術(shù)：
VLSI設(shè)計(jì)的驗(yàn)證工作對(duì)于保證芯片的功能正確性具有非常重要的意義，在VLSI的設(shè)計(jì)過程中，回歸測(cè)試貫穿始終。VLSI設(shè)計(jì)一般以RTL代碼描述，當(dāng)RTL代碼進(jìn)行了少量改動(dòng)時(shí)，要重復(fù)運(yùn)行已有的全部測(cè)試以確保本次修改沒有引入設(shè)計(jì)錯(cuò)誤。對(duì)于復(fù)雜的、含多個(gè)RTL模塊的VLSI設(shè)計(jì)，多個(gè)驗(yàn)證人員參與回歸測(cè)試的編寫，回歸測(cè)試較多，為快速達(dá)到整體100%的功能覆蓋率指標(biāo)，要求測(cè)試人員對(duì)每個(gè)測(cè)試進(jìn)行多次改進(jìn)，當(dāng)然每次測(cè)試的改進(jìn)需要投入人力成本，而實(shí)際的人力成本是受限的，不可能無限制多。由此存在著下面的問 題在某個(gè)狀態(tài)下，管理者如何確定優(yōu)先改進(jìn)哪個(gè)測(cè)試，改進(jìn)到何種程度，才能使得在人力成本受限的情況下，測(cè)試的整體功能覆蓋率指標(biāo)改進(jìn)的最高，也就是使得有限的人力資源達(dá)到最佳的利用，可見測(cè)試人力資源的全局規(guī)劃顯得十分重要。目前的狀況是，缺乏全局的測(cè)試人力成本管理方法，無法合理分配可用的測(cè)試人力成本，無法高效地改進(jìn)測(cè)試過程。要求每個(gè)測(cè)試人員盡全力改進(jìn)，而缺少每個(gè)模塊改進(jìn)程度的量化指標(biāo)，浪費(fèi)了很多測(cè)試人力資源。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對(duì)上述問題的缺點(diǎn)，提出了一種大規(guī)模集成電路測(cè)試的人力成本管理方法，此方法可以充分利用有限的人力資源，合理分配每項(xiàng)測(cè)試的改進(jìn)程度，使人力資源達(dá)到最佳的利用，避免了人力資源分配不合理導(dǎo)致的浪費(fèi)，進(jìn)而加快測(cè)試快速達(dá)到整體100%的功能覆蓋率指標(biāo)。本發(fā)明的方法實(shí)現(xiàn)步驟如下I)運(yùn)行各個(gè)回歸測(cè)試，收集功能覆蓋率，并將其建模為時(shí)間t的冪函數(shù)-Ji = Ci^(i = 1,2,…，N)，其中系數(shù)Ci，Xi分別是正實(shí)數(shù)與實(shí)數(shù)，自然數(shù)N代表回歸測(cè)試的數(shù)目。2)同樣運(yùn)行各個(gè)回歸測(cè)試，收集磁盤用量信息，并也將其建模為時(shí)間t的冪函數(shù)di = S1I^ (i = 1,2,…，N)，其中系數(shù)Si，71分別是正實(shí)數(shù)與實(shí)數(shù)，自然數(shù)N代表回歸測(cè)試的數(shù)目。3)當(dāng)對(duì)RTL代碼進(jìn)行少量改動(dòng)時(shí)，由設(shè)計(jì)人員提供一組加權(quán)參數(shù)@ Ji = 1,2,,N)，一般取作OS PiS 1，表示某模塊與本次RTL代碼改動(dòng)的相關(guān)程度。對(duì)于明顯不相關(guān)的模塊，可設(shè)置I為很小，相關(guān)程度越大取值越大。4)管理者給出可用的總計(jì)算時(shí)間上限T及總磁盤用量上限S。5)用凸優(yōu)化軟件包求解下述幾何規(guī)劃問題(求解算法具有多項(xiàng)式時(shí)間復(fù)雜性):7s. t. Citixi > /Vr Q = 1,2，…，N)
權(quán)利要求
1.一種大規(guī)模集成電路測(cè)試人力成本管理方法，此方法的實(shí)現(xiàn)步驟為 1)運(yùn)行各個(gè)回歸測(cè)試，收集功能覆蓋率，將其建模為時(shí)間t的冪函數(shù)-Ji= Ci^ (i = 1，2，…，N)，其中系數(shù)Ci，Xi分別是正實(shí)數(shù)與實(shí)數(shù)，自然數(shù)N代表回歸測(cè)試的數(shù)目； 2)運(yùn)行各個(gè)回歸測(cè)試，收集磁盤用量信息，將其建模為時(shí)間t的冪函數(shù)A= Si^ (i =1,2,…，N)，其中系數(shù)Si，yi分別是正實(shí)數(shù)與實(shí)數(shù)，自然數(shù)N代表回歸測(cè)試的數(shù)目； 3)RTL代碼進(jìn)行少量改動(dòng)時(shí)，由設(shè)計(jì)人員提供一組加權(quán)參數(shù)PiQ = 1,2,…，N)，取作O ^ ^ I，表示模塊與本次RTL代碼改動(dòng)的相關(guān)程度； 4)管理者給出可用的總計(jì)算時(shí)間上限T及總磁盤用量上限S； 5)用凸優(yōu)化軟件包求解幾何規(guī)劃問題
全文摘要
本發(fā)明屬于大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化領(lǐng)域，特別涉及一種大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證測(cè)試人力成本管理方法。本發(fā)明對(duì)測(cè)試過程中，人力成本受限和追求快速最大功能覆蓋率指標(biāo)之間的矛盾問題，解決管理者如何分配每項(xiàng)測(cè)試改進(jìn)的量化指標(biāo)，才能達(dá)到人力成本的最佳利用，使得測(cè)試的功能覆蓋率快速達(dá)到最高。本發(fā)明將功能覆蓋率和磁盤用量信息建模為時(shí)間的冪函數(shù)，基于幾何規(guī)劃方法得出最大功能覆蓋率的最優(yōu)解γ*和γ*關(guān)于約束βiγ*0≤βi≤1的靈敏度(i＝1，2，…，N)，N代表回歸測(cè)試的數(shù)目，將每項(xiàng)測(cè)試人力成本建模為改進(jìn)量化指標(biāo)的冪函數(shù)，最終將最優(yōu)人力資源管理問題轉(zhuǎn)化為幾何規(guī)劃問題，由此求得每項(xiàng)測(cè)試需改進(jìn)的最優(yōu)量化指標(biāo)及改進(jìn)后的最大功能覆蓋率最優(yōu)值。
文檔編號(hào)G06Q10/00GK102799516SQ20111013775
公開日2012年11月28日 申請(qǐng)日期2011年5月21日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月21日
發(fā)明者周麗明 申請(qǐng)人:江南大學(xué)