專利名稱：測(cè)試腳本及測(cè)試套件生成的方法和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通訊產(chǎn)品的自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種測(cè)試腳本及測(cè)試套件生 成的方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在產(chǎn)品的研發(fā)過(guò)程中，當(dāng)產(chǎn)品進(jìn)入系統(tǒng)測(cè)試階段后，為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量，需 要對(duì)其在模擬實(shí)際的使用環(huán)境下的功能和性能進(jìn)行全面的測(cè)試。根據(jù)在測(cè)試過(guò)程中所發(fā) 現(xiàn)的產(chǎn)品缺陷，開(kāi)發(fā)人員需要對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)進(jìn)行修正。為保證對(duì)原有錯(cuò)誤的修改不會(huì)引入 新的錯(cuò)誤，需要多次對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行回歸測(cè)試。普通的測(cè)試人員大多采用手工的方式進(jìn)行測(cè) 試，在軟件版本更替比較頻繁的時(shí)候，測(cè)試人員需要大量重復(fù)執(zhí)行同樣的測(cè)試用例，以 驗(yàn)證系統(tǒng)的正確性和可靠性，測(cè)試效率非常低。因此測(cè)試人員常常需要將經(jīng)常使用的測(cè) 試用例通過(guò)測(cè)試腳本的形式實(shí)現(xiàn)，以自動(dòng)化測(cè)試的方式重復(fù)執(zhí)行這些測(cè)試用例。當(dāng)測(cè)試 腳本較多時(shí)，測(cè)試腳本和測(cè)試套件的生成效率是制約自動(dòng)化測(cè)試實(shí)施的一大瓶頸。目前業(yè)界在創(chuàng)建測(cè)試腳本方面的普遍做法是1、采用硬編程實(shí)現(xiàn)測(cè)試腳本，這種方式編程方式對(duì)測(cè)試人員要求較高，而且測(cè) 試腳本開(kāi)發(fā)效率低下；2、采用計(jì)算機(jī)軟件錄制生成測(cè)試腳本，具體是開(kāi)發(fā)一套軟件以圖形化的方式模 擬操作設(shè)備，并用軟件自動(dòng)錄制界面的操作過(guò)程，最終生成所需要的測(cè)試腳本。這種方 式首先需要開(kāi)發(fā)一套界面控制軟件，然后才能使用錄制回放軟件進(jìn)行測(cè)試腳本錄制和回 放，界面控制軟件開(kāi)發(fā)工作量較大，而且錄制的測(cè)試腳本缺乏靈活性，維護(hù)起來(lái)比較困 難，并且不方便其他測(cè)試人員復(fù)用。目前業(yè)界在創(chuàng)建自動(dòng)化測(cè)試套件方面的普遍做法是根據(jù)測(cè)試管理人員下發(fā)的 測(cè)試任務(wù)，手工選擇已經(jīng)開(kāi)發(fā)完畢的測(cè)試腳本并創(chuàng)建測(cè)試套件，當(dāng)開(kāi)發(fā)的測(cè)試腳本比較 多時(shí)，采用這種方式進(jìn)行測(cè)試套件創(chuàng)建的效率比較低下，而且測(cè)試腳本的管理和共享也 相當(dāng)困難。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種測(cè)試腳本、套件生成方法和系統(tǒng)，以測(cè)試 腳本、套件生成效率。為解決以上技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種測(cè)試腳本生成方法，該方法基于測(cè)試 腳本生成系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，該方法包括所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)封裝并保存函數(shù)生成函數(shù)庫(kù)，不同函數(shù)采用函數(shù)標(biāo)識(shí)區(qū) 分；所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)生成并保存測(cè)試腳本配置，所述測(cè)試腳本配置中包括函 數(shù)標(biāo)識(shí)；所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)根據(jù)測(cè)試腳本配置中的函數(shù)標(biāo)識(shí)自動(dòng)從所述函數(shù)庫(kù)提取
4對(duì)應(yīng)的函數(shù)自動(dòng)生成測(cè)試腳本。進(jìn)一步地，生成測(cè)試腳本配置的步驟包括(a)所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)讀取并保存所述函數(shù)庫(kù)中所有函數(shù)標(biāo)識(shí)及對(duì)應(yīng)函數(shù)的 參數(shù)信息；(b)所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)提取并顯示所述函數(shù)標(biāo)識(shí)及函數(shù)參數(shù)信息，所述提取 包括主動(dòng)提取或根據(jù)用戶需求查找提??；(C)所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)獲取用戶操作的函數(shù)標(biāo)識(shí)及輸入的函數(shù)參數(shù)，并更新 保存所述測(cè)試腳本配置；(d)重復(fù)以上步驟(b)至(C)直到生成完整的測(cè)試腳本配置。進(jìn)一步地，所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)分層提取并顯示函數(shù)標(biāo)識(shí)和函數(shù)參數(shù)信息。進(jìn)一步地，所述函數(shù)庫(kù)的函數(shù)包括設(shè)備操作、儀表操作或邏輯控制操作函數(shù)。為解決以上技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明還提供一種測(cè)試套件生成方法，該方法基于測(cè)試 套件生成系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，包括該測(cè)試套件生成系統(tǒng)創(chuàng)建測(cè)試腳本數(shù)據(jù)庫(kù)，且不同的測(cè)試腳本采用不同的測(cè)試 腳本標(biāo)識(shí)區(qū)分；該測(cè)試套件生成系統(tǒng)生成并保存測(cè)試套件配置，所述測(cè)試套件配置包括測(cè)試腳 本標(biāo)識(shí)；所述測(cè)試套件生成系統(tǒng)根據(jù)測(cè)試套件配置中的測(cè)試腳本標(biāo)識(shí)自動(dòng)從測(cè)試腳本數(shù) 據(jù)庫(kù)提取對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本生成測(cè)試套件。進(jìn)一步地，所述測(cè)試套件配置包括環(huán)境參數(shù)，所述測(cè)試套件生成系統(tǒng)生成測(cè)試 套件時(shí)，還根據(jù)所述測(cè)試套件配置完成環(huán)境參數(shù)配置。為解決以上技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明還提供了一種測(cè)試腳本生成系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括函數(shù)庫(kù)，用于封裝函數(shù)生成函數(shù)庫(kù)，不同函數(shù)采用函數(shù)標(biāo)識(shí)區(qū)分；測(cè)試腳本配置裝置，用于生成并保存測(cè)試腳本配置，所述測(cè)試腳本配置中包括 函數(shù)標(biāo)識(shí)；測(cè)試腳本自動(dòng)生成裝置，用于根據(jù)測(cè)試腳本配置中的函數(shù)標(biāo)識(shí)自動(dòng)從所述函數(shù) 庫(kù)提取對(duì)應(yīng)的函數(shù)自動(dòng)生成測(cè)試腳本。進(jìn)一步地，所述測(cè)試腳本配置裝置包括讀寫(xiě)模塊，用于讀取并保存所述函數(shù)庫(kù)中所有函數(shù)標(biāo)識(shí)及對(duì)應(yīng)函數(shù)的參數(shù)信 息；提取顯示模塊，用于提取并顯示所述讀寫(xiě)模塊中的函數(shù)標(biāo)識(shí)及函數(shù)參數(shù)信息， 所述提取包括主動(dòng)提取或根據(jù)用戶需求查找提取；測(cè)試腳本配置保存模塊，用于獲取用戶操作的函數(shù)標(biāo)識(shí)及輸入的函數(shù)參數(shù)，更 新保存所述測(cè)試腳本配置；為解決以上技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明還提供了一種測(cè)試套件生成系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括測(cè)試腳本數(shù)據(jù)庫(kù)，用于保存測(cè)試腳本，且不同的測(cè)試腳本采用不同的測(cè)試腳本 標(biāo)識(shí)區(qū)分；測(cè)試套件配置裝置，用于生成并保存測(cè)試套件配置，所述測(cè)試套件配置包括測(cè) 試腳本標(biāo)識(shí)；
測(cè)試套件自動(dòng)生成裝置，用于根據(jù)所述測(cè)試套件配置中的測(cè)試腳本標(biāo)識(shí)自動(dòng)從 測(cè)試腳本數(shù)據(jù)庫(kù)提取對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本生成測(cè)試套件。本發(fā)明方法和系統(tǒng)使得測(cè)試腳本和測(cè)試套件的生成更加簡(jiǎn)單快速，在生成過(guò)程 中測(cè)試人員只需要關(guān)注測(cè)試用例的設(shè)計(jì)，提高了整個(gè)測(cè)試腳本生成過(guò)程的靈活性，且操 作更加方便，提高了測(cè)試腳本和測(cè)試套件的生成效率，使得自動(dòng)化測(cè)試能夠真正的達(dá)到 實(shí)用。


圖1是本發(fā)明測(cè)試腳本生成方法的示意圖；圖2為本發(fā)明測(cè)試腳本生成方法的實(shí)施例示意圖；圖3為本發(fā)明測(cè)試套件生成方法的示意圖；圖4為本發(fā)明測(cè)試套件生成方法的實(shí)施例示意圖；圖5為本發(fā)明測(cè)試腳本生成系統(tǒng)的示意圖；圖6為本發(fā)明測(cè)試套件生成系統(tǒng)的示意圖。
具體實(shí)施例方式下文中將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。需要說(shuō)明的是，在不沖突 的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。如圖1所示，本發(fā)明測(cè)試腳本生成方法，基于測(cè)試腳本生成系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，該方法 包括步驟101:所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)封裝并保存函數(shù)生成函數(shù)庫(kù)，不同函數(shù)采用 函數(shù)標(biāo)識(shí)區(qū)分；根據(jù)測(cè)試人員的測(cè)試需求封裝常用的設(shè)備和儀表操作函數(shù)庫(kù)，這些函數(shù)庫(kù)以樹(shù) 形列表方式呈現(xiàn)給測(cè)試腳本編寫(xiě)人員，方便測(cè)試腳本編寫(xiě)人員查找。本發(fā)明所述的函數(shù)庫(kù)中的函數(shù)包括但不限于設(shè)備操作、儀表操作、邏輯控制 函數(shù)。步驟102 所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)生成并保存測(cè)試腳本配置，所述測(cè)試腳本配 置中包括函數(shù)標(biāo)識(shí)；生成測(cè)試腳本配置的方法有很多種，以下給出一種具體實(shí)現(xiàn)方案，具體包括(a)所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)讀取并保存所述函數(shù)庫(kù)中所有函數(shù)標(biāo)識(shí)及對(duì)應(yīng)函數(shù)的 參數(shù)信息； 這里讀取的函數(shù)標(biāo)識(shí)和函數(shù)參數(shù)可以采用XML (Extensible Markup Language,即
可擴(kuò)展標(biāo)記語(yǔ)言)或其他形式體現(xiàn)。(b)所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)提取并顯示所述函數(shù)標(biāo)識(shí)及函數(shù)參數(shù)信息，所述提取 包括主動(dòng)提取或根據(jù)用戶需求查找提??；主動(dòng)提取指，通過(guò)遍歷的方式顯示所有函數(shù)的標(biāo)識(shí)根據(jù)用戶需求查找指根據(jù)用戶輸入的信息在現(xiàn)有函數(shù)名和/或函數(shù)的說(shuō)明中查 找完全匹配或者部分匹配信息，把符合條件的函數(shù)標(biāo)識(shí)顯示出來(lái)。函數(shù)標(biāo)識(shí)及對(duì)應(yīng)的函數(shù)參數(shù)，可一次性顯示，也可分層顯示。
顯示的方式包括但不限于以下幾種從XML文件讀取的所有函數(shù)標(biāo)識(shí)可通過(guò)遍歷的方式顯示到一個(gè)樹(shù)形列表中，當(dāng) 用戶點(diǎn)擊某個(gè)函數(shù)時(shí)再顯示這個(gè)函數(shù)的參數(shù)列表，也可構(gòu)造為樹(shù)形列表顯示。根據(jù)用戶輸入的信息進(jìn)行實(shí)時(shí)的搜索，當(dāng)用戶輸入字符時(shí)，獲取文本框中的信 息，并在現(xiàn)有函數(shù)名以及函數(shù)的說(shuō)明中查找完全匹配或者部分匹配信息，把符合條件的 函數(shù)節(jié)點(diǎn)重新構(gòu)造成一個(gè)樹(shù)形列表進(jìn)行顯示。(c)所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)獲取用戶操作的函數(shù)標(biāo)識(shí)及輸入的函數(shù)參數(shù)，并更新 保存所述測(cè)試腳本配置；測(cè)試腳本編寫(xiě)人員點(diǎn)擊相關(guān)功能函數(shù)時(shí)，在界面上填寫(xiě)需要設(shè)置的相關(guān)參數(shù)， 即可生成函數(shù)代碼。(d)重復(fù)以上步驟(b)至(C)直到生成完整的測(cè)試腳本配置。步驟103 所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)根據(jù)測(cè)試腳本配置中的函數(shù)標(biāo)識(shí)自動(dòng)從所述 函數(shù)庫(kù)提取對(duì)應(yīng)的函數(shù)自動(dòng)生成測(cè)試腳本。如圖2所示為生成測(cè)試腳本的示意圖，具體步驟包括步驟201，首先分析測(cè)試人員的需求，看看哪些常用設(shè)備操作、儀表操作和邏輯 控制需要封裝成底層函數(shù)；步驟202，測(cè)試腳本生成系統(tǒng)選擇合適的粒度進(jìn)行底層函數(shù)封裝；步驟203，測(cè)試腳本生成系統(tǒng)編寫(xiě)底層函數(shù)的XML文件，XML文件生成后底層 函數(shù)會(huì)在平臺(tái)界面列表顯示；步驟204，測(cè)試人員根據(jù)手工測(cè)試用例的步驟選擇底層庫(kù)相應(yīng)函數(shù)，當(dāng)沒(méi)有手工 測(cè)試用例時(shí)，有經(jīng)驗(yàn)的測(cè)試人員可以根據(jù)已有的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)直接選擇庫(kù)函數(shù)組成自動(dòng)化測(cè) 試用例；步驟205，測(cè)試人員根據(jù)實(shí)際測(cè)試需要設(shè)置函數(shù)的輸入?yún)?shù)；步驟206，測(cè)試腳本生成系統(tǒng)獲取測(cè)試人員操作的函數(shù)標(biāo)識(shí)及輸入的函數(shù)參數(shù)， 并更新保存測(cè)試腳本配置；步驟207，測(cè)試人員點(diǎn)擊測(cè)試腳本自動(dòng)生成按鈕，測(cè)試腳本生成系統(tǒng)即可根據(jù)測(cè) 試腳本配置中的函數(shù)標(biāo)識(shí)從函數(shù)庫(kù)中自動(dòng)提取函數(shù)生成測(cè)試腳本；如圖3所示，本發(fā)明測(cè)試套件生成方法基于測(cè)試套件生成系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，包括步驟301:該測(cè)試套件生成系統(tǒng)創(chuàng)建測(cè)試腳本數(shù)據(jù)庫(kù)，且不同的測(cè)試腳本采用 不同的測(cè)試腳本標(biāo)識(shí)區(qū)分；為了便于識(shí)別，可以采用手工測(cè)試用例作為測(cè)試腳本標(biāo)識(shí)。測(cè)試腳本和手工測(cè)試用例關(guān)聯(lián)，并放在一個(gè)遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行管理。該遠(yuǎn)程數(shù) 據(jù)庫(kù)可以作為共享的數(shù)據(jù)庫(kù)。步驟302:該測(cè)試套件生成系統(tǒng)生成并保存測(cè)試套件配置，所述測(cè)試套件配置 包括測(cè)試腳本標(biāo)識(shí)；步驟303 所述測(cè)試套件生成系統(tǒng)根據(jù)測(cè)試套件配置中的測(cè)試腳本標(biāo)識(shí)自動(dòng)從 測(cè)試腳本數(shù)據(jù)庫(kù)提取對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本生成測(cè)試套件。所述測(cè)試套件配置包括環(huán)境參數(shù)，所述測(cè)試套件生成系統(tǒng)生成測(cè)試套件時(shí)，還 包括根據(jù)所述測(cè)試套件配置完成環(huán)境參數(shù)配置
測(cè)試管理人員下發(fā)測(cè)試任務(wù)時(shí)會(huì)選擇需要測(cè)試的手工測(cè)試用例并創(chuàng)建一個(gè)測(cè)試 任務(wù)，如果測(cè)試套件生成系統(tǒng)中手工測(cè)試用例已經(jīng)關(guān)聯(lián)了對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本，這些測(cè)試腳 本名稱可以自動(dòng)組成一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試套件，點(diǎn)擊執(zhí)行自動(dòng)化測(cè)試套件按鈕，系統(tǒng)會(huì)從數(shù) 據(jù)庫(kù)中自動(dòng)提取相應(yīng)的測(cè)試腳本，并自動(dòng)執(zhí)行。節(jié)省了手工選擇測(cè)試腳本并創(chuàng)建自動(dòng)化 測(cè)試套件的時(shí)間。圖4是測(cè)試套件生成方法實(shí)施例的示意圖，該實(shí)施例中，測(cè)試腳本已預(yù)先生 成，具體步驟包括步驟401，首先根據(jù)圖2編寫(xiě)好測(cè)試腳本；步驟402，測(cè)試套件生成系統(tǒng)將編寫(xiě)好的測(cè)試腳本放到數(shù)據(jù)庫(kù)中，并與測(cè)試管理 平臺(tái)的手工測(cè)試用例建立關(guān)聯(lián)關(guān)系，可認(rèn)為已生成腳本數(shù)據(jù)庫(kù)；步驟403，測(cè)試管理人員根據(jù)測(cè)試需求選擇需要進(jìn)行測(cè)試的手工測(cè)試用例，并組 成一個(gè)測(cè)試任務(wù)；步驟404，測(cè)試管理人員針對(duì)某個(gè)測(cè)試人員下發(fā)該測(cè)試任務(wù)；步驟405，該測(cè)試任務(wù)下的手工測(cè)試用例已經(jīng)關(guān)聯(lián)了測(cè)試腳本，配置該自動(dòng)化測(cè) 試套件中的測(cè)試腳本執(zhí)行環(huán)境參數(shù)，包括各測(cè)試腳本分別需要執(zhí)行幾次、對(duì)哪個(gè)設(shè)備和 端口進(jìn)行測(cè)試等；步驟406 測(cè)試套件生成系統(tǒng)獲取并保存手工測(cè)試用例(起到測(cè)試腳本標(biāo)識(shí)的作 用)及環(huán)境參數(shù)，認(rèn)為已生成套件配置；步驟407，測(cè)試人員點(diǎn)擊執(zhí)行自動(dòng)化測(cè)試套件按鈕，測(cè)試套件生成系統(tǒng)會(huì)從數(shù)據(jù) 庫(kù)中自動(dòng)提取相應(yīng)的測(cè)試腳本，并對(duì)其環(huán)境參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，然后系統(tǒng)開(kāi)始自動(dòng)執(zhí)行。為了實(shí)現(xiàn)以上測(cè)試腳本生成方法，本發(fā)明還提供了一種測(cè)試腳本生成系統(tǒng)，如 圖5所示，該系統(tǒng)包括函數(shù)庫(kù)，用于封裝函數(shù)生成函數(shù)庫(kù)，不同函數(shù)采用函數(shù)標(biāo)識(shí)區(qū)分；所述函數(shù)包括但不限于設(shè)備操作、儀表操作和邏輯控制函數(shù)。測(cè)試腳本配置裝置，用于生成并保存測(cè)試腳本配置，所述測(cè)試腳本配置中包括 函數(shù)標(biāo)識(shí)；測(cè)試腳本自動(dòng)生成裝置，用于根據(jù)測(cè)試腳本配置中的函數(shù)標(biāo)識(shí)自動(dòng)從所述函數(shù) 庫(kù)提取對(duì)應(yīng)的函數(shù)自動(dòng)生成測(cè)試腳本。如圖5所示，給出一種測(cè)試腳本配置裝置實(shí)現(xiàn)的方案，該測(cè)試腳本配置裝置包 括讀寫(xiě)模塊，用于讀取并保存所述函數(shù)庫(kù)中所有函數(shù)標(biāo)識(shí)及對(duì)應(yīng)函數(shù)的參數(shù)信 息；該讀寫(xiě)模塊可將函數(shù)標(biāo)識(shí)及函數(shù)參數(shù)采用XML文件的方式表示。提取顯示模塊，用于提取并顯示所述讀寫(xiě)模塊中的函數(shù)標(biāo)識(shí)及函數(shù)參數(shù)信息， 所述提取包括主動(dòng)提取或根據(jù)用戶需求查找提?。恢鲃?dòng)提取指，通過(guò)遍歷的方式顯示所有函數(shù)的標(biāo)識(shí)；根據(jù)用戶需求查找指根據(jù) 用戶輸入的信息在現(xiàn)有函數(shù)名和/或函數(shù)的說(shuō)明中查找完全匹配或者部分匹配信息，把 符合條件的函數(shù)標(biāo)識(shí)顯示出來(lái)。函數(shù)標(biāo)識(shí)及對(duì)應(yīng)的函數(shù)參數(shù)，可一次性顯示，也可分層顯示。
測(cè)試腳本配置保存模塊，用于獲取用戶操作的函數(shù)標(biāo)識(shí)及輸入的函數(shù)參數(shù)，更 新保存所述測(cè)試腳本配置；為了實(shí)現(xiàn)以上測(cè)試套件生成方法，本發(fā)明還提供了一種測(cè)試套件生成系統(tǒng)，該 系統(tǒng)包括測(cè)試腳本數(shù)據(jù)庫(kù)，用于保存測(cè)試腳本，且不同的測(cè)試腳本采用不同的測(cè)試腳本 標(biāo)識(shí)區(qū)分；測(cè)試套件配置裝置，用于生成并保存測(cè)試套件配置，所述測(cè)試套件配置包括測(cè) 試腳本標(biāo)識(shí)；測(cè)試套件自動(dòng)生成裝置，用于根據(jù)所述測(cè)試套件配置中的測(cè)試腳本標(biāo)識(shí)自動(dòng)從 測(cè)試腳本數(shù)據(jù)庫(kù)提取對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本生成測(cè)試套件。所述測(cè)試套件配置包括環(huán)境參數(shù)，所述測(cè)試套件自動(dòng)生成裝置生成測(cè)試套件 時(shí)，包括根據(jù)所述測(cè)試套件配置完成環(huán)境參數(shù)配置。測(cè)試套件生成系統(tǒng)，測(cè)試腳本保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中并與手工測(cè)試用例建立關(guān)聯(lián)關(guān) 系，客戶端界面列表顯示所有測(cè)試腳本的名稱。測(cè)試管理人員根據(jù)測(cè)試需要選擇需要進(jìn) 行測(cè)試的手工測(cè)試用例，并給測(cè)試執(zhí)行人員下發(fā)一個(gè)測(cè)試計(jì)劃，已經(jīng)和手工測(cè)試用例關(guān) 聯(lián)的測(cè)試腳本名稱自動(dòng)組成一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試套件。測(cè)試執(zhí)行人員配置該自動(dòng)化測(cè)試套件 中的測(cè)試腳本執(zhí)行環(huán)境參數(shù)，包括各測(cè)試腳本分別需要執(zhí)行幾次、對(duì)哪個(gè)設(shè)備和端口進(jìn) 行測(cè)試等。點(diǎn)擊執(zhí)行自動(dòng)化測(cè)試套件按鈕，系統(tǒng)會(huì)從數(shù)據(jù)庫(kù)中自動(dòng)提取相應(yīng)的測(cè)試腳 本，并對(duì)其環(huán)境參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，然后開(kāi)始自動(dòng)執(zhí)行。對(duì)于已自動(dòng)生成測(cè)試腳本，可以選擇直接單獨(dú)運(yùn)行，也可以選擇和其他測(cè)試腳 本組成自動(dòng)化測(cè)試套件一塊運(yùn)行。由上述所提供的技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明實(shí)施方式能夠使測(cè)試腳本和測(cè)試套 件的生成更加簡(jiǎn)單快速，在生成過(guò)程中測(cè)試人員只需要關(guān)注測(cè)試用例的設(shè)計(jì)，提高了整 個(gè)測(cè)試腳本生成過(guò)程的靈活性，且操作更加方便，提高了測(cè)試腳本和測(cè)試套件的生成效 率，使得自動(dòng)化測(cè)試能夠真正的達(dá)到實(shí)用。本專利的測(cè)試腳本和測(cè)試套件生成方法適用于開(kāi)展自動(dòng)化測(cè)試的產(chǎn)品。為了使 本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清晰，下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步闡 述。實(shí)施例描述僅僅是為了解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。為進(jìn)一步描述本發(fā)明實(shí)施方式，以SDH通訊設(shè)備自動(dòng)化測(cè)試為例對(duì)其技術(shù)方案 作進(jìn)一步說(shuō)明。根據(jù)各個(gè)廠家的具體情況，SDH對(duì)外提供的控制接口可能不太一樣，有的是串 口，有的是網(wǎng)口，但是不管是什么接口，都有對(duì)設(shè)備的控制命令，只是命令格式不太一 樣。對(duì)SDH (Synchronous Digital Hierarchy,同步數(shù)字體系)設(shè)備操作無(wú)外乎有以下幾種 控制命令配置命令，對(duì)設(shè)備進(jìn)行各種配置操作；告警命令，設(shè)置或查詢?cè)O(shè)備的相關(guān)告 警；性能命令，設(shè)置或查詢?cè)O(shè)備的相關(guān)性能；上載命令，將設(shè)備的相關(guān)運(yùn)行數(shù)據(jù)提取出 來(lái)進(jìn)行分析；倒換命令，對(duì)設(shè)備進(jìn)行各種倒換操作。首先將這些命令封裝成一系列基本 操作函數(shù)，比如一個(gè)插入告警操作封裝成一個(gè)InsertAlarm的函數(shù)，后面帶有槽位號(hào)、端 口號(hào)等參數(shù)，只要輸入這個(gè)命令并跟上對(duì)應(yīng)的槽位號(hào)和端口號(hào)即可對(duì)該端口進(jìn)行下插告 警操作。同理，對(duì)于SDH設(shè)備測(cè)試需要用到的儀表，主要有Agilent37718(安捷倫公司的一款常用SDH測(cè)試儀表)、ANT_20(安立公司的一款常用SDH測(cè)試儀表)等儀表，這 些儀表除了界面控制外，也對(duì)外提供控制接口，包括串口、網(wǎng)口和GPIB(General-Purpose Interface Bus-通用接口總線)口等，而且廠商也提供一些遠(yuǎn)程控制命令，比如*RST就是 一個(gè)復(fù)位的操作命令，將這些操作也按照設(shè)備的方式封裝成一系列基本操作函數(shù)，比如 將儀表SDH映射的操作封裝成一個(gè)Inst_SDHMapCfg的函數(shù)，后面跟AU號(hào)(管理單元 號(hào))、TU號(hào)(支路單元號(hào))等參數(shù)，只要輸入這個(gè)命令并跟上對(duì)應(yīng)的AU號(hào)和TU號(hào)就可 進(jìn)行相應(yīng)的映射操作。同理也可以封裝一些邏輯操作的命令，比如循環(huán)、分支、選擇、 延時(shí)等等。封裝好這些命令后，編寫(xiě)一個(gè)XML描述文件，把底層函數(shù)以指定的格式保存到 XML文件，界面讀取函數(shù)信息并顯示出來(lái)，用戶可以根據(jù)需要填寫(xiě)各參數(shù)字段，點(diǎn)擊生 成按鈕后函數(shù)代碼。如果在平臺(tái)界面上把所有的底層函數(shù)按照手工測(cè)試用例描述的邏輯 關(guān)系組合在一起，填寫(xiě)好各參數(shù)字段后，點(diǎn)擊生成按鈕后即可生成測(cè)試腳本。測(cè)試腳本 生成后將其導(dǎo)入數(shù)據(jù)庫(kù)中，并和已有的手工測(cè)試用例關(guān)聯(lián)起來(lái)。因?yàn)闇y(cè)試資源有限，測(cè)試人員不可能每次都對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行全面測(cè)試。當(dāng)有一個(gè)具 體的測(cè)試任務(wù)時(shí)，測(cè)試經(jīng)理會(huì)根據(jù)測(cè)試進(jìn)度和資源制定測(cè)試策略，并選擇部分必要的測(cè) 試用例進(jìn)行執(zhí)行，當(dāng)測(cè)試經(jīng)理從數(shù)據(jù)庫(kù)中選擇好這些測(cè)試用例后，和測(cè)試用例關(guān)聯(lián)的測(cè) 試腳本在平臺(tái)界面上自動(dòng)生成一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試套件，當(dāng)點(diǎn)擊運(yùn)行按鈕后，平臺(tái)會(huì)從數(shù)據(jù) 庫(kù)中找到對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本進(jìn)行執(zhí)行，執(zhí)行完后將測(cè)試結(jié)論自動(dòng)反饋給對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例， 并在平臺(tái)界面上顯示哪些測(cè)試用例測(cè)試成功、哪些測(cè)試用例測(cè)試失敗，測(cè)試通過(guò)率是多 少等數(shù)據(jù)，并將測(cè)試過(guò)程的日志保存到一個(gè)文件中，方便對(duì)故障原因進(jìn)行分析。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述方法中的全部或部分步驟可通過(guò)程序來(lái)指令 相關(guān)硬件完成，所述程序可以存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，如只讀存儲(chǔ)器、磁盤(pán)或光 盤(pán)等?？蛇x地，上述實(shí)施例的全部或部分步驟也可以使用一個(gè)或多個(gè)集成電路來(lái)實(shí)現(xiàn)。 相應(yīng)地，上述實(shí)施例中的各模塊/單元可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能 模塊的形式實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明不限制于任何特定形式的硬件和軟件的結(jié)合。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試腳本生成方法，其特征在于，該方法基于測(cè)試腳本生成系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，該方 法包括所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)封裝并保存函數(shù)生成函數(shù)庫(kù)，不同函數(shù)采用函數(shù)標(biāo)識(shí)區(qū)分； 所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)生成并保存測(cè)試腳本配置，所述測(cè)試腳本配置中包括函數(shù)標(biāo)識(shí)；所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)根據(jù)測(cè)試腳本配置中的函數(shù)標(biāo)識(shí)自動(dòng)從所述函數(shù)庫(kù)提取對(duì)應(yīng) 的函數(shù)自動(dòng)生成測(cè)試腳本。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，生成測(cè)試腳本配置的步驟包括(a)所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)讀取并保存所述函數(shù)庫(kù)中所有函數(shù)標(biāo)識(shí)及對(duì)應(yīng)函數(shù)的參數(shù) fn息；(b)所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)提取并顯示所述函數(shù)標(biāo)識(shí)及函數(shù)參數(shù)信息，所述提取包括 主動(dòng)提取或根據(jù)用戶需求查找提取；(C)所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)獲取用戶操作的函數(shù)標(biāo)識(shí)及輸入的函數(shù)參數(shù)，并更新保存 所述測(cè)試腳本配置；(d)重復(fù)以上步驟(b)至(C)直到生成完整的測(cè)試腳本配置。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)分層提取并顯示 函數(shù)標(biāo)識(shí)和函數(shù)參數(shù)信息。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述函數(shù)庫(kù)的函數(shù)包括設(shè)備操作、儀表 操作或邏輯控制操作函數(shù)。
5.—種測(cè)試套件生成方法，其特征在于，該方法基于測(cè)試套件生成系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，包括該測(cè)試套件生成系統(tǒng)創(chuàng)建測(cè)試腳本數(shù)據(jù)庫(kù)，且不同的測(cè)試腳本采用不同的測(cè)試腳本 標(biāo)識(shí)區(qū)分；該測(cè)試套件生成系統(tǒng)生成并保存測(cè)試套件配置，所述測(cè)試套件配置包括測(cè)試腳本標(biāo)識(shí)；所述測(cè)試套件生成系統(tǒng)根據(jù)測(cè)試套件配置中的測(cè)試腳本標(biāo)識(shí)自動(dòng)從測(cè)試腳本數(shù)據(jù)庫(kù) 提取對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本生成測(cè)試套件。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試套件配置包括環(huán)境參數(shù)，所述測(cè) 試套件生成系統(tǒng)生成測(cè)試套件時(shí)，還根據(jù)所述測(cè)試套件配置完成環(huán)境參數(shù)配置。
7.—種測(cè)試腳本生成系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括函數(shù)庫(kù)，用于封裝函數(shù)生成函數(shù)庫(kù)，不同函數(shù)采用函數(shù)標(biāo)識(shí)區(qū)分； 測(cè)試腳本配置裝置，用于生成并保存測(cè)試腳本配置，所述測(cè)試腳本配置中包括函數(shù) 標(biāo)識(shí)；測(cè)試腳本自動(dòng)生成裝置，用于根據(jù)測(cè)試腳本配置中的函數(shù)標(biāo)識(shí)自動(dòng)從所述函數(shù)庫(kù)提 取對(duì)應(yīng)的函數(shù)自動(dòng)生成測(cè)試腳本。
8.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試腳本配置裝置包括讀寫(xiě)模塊，用于讀取并保存所述函數(shù)庫(kù)中所有函數(shù)標(biāo)識(shí)及對(duì)應(yīng)函數(shù)的參數(shù)信息； 提取顯示模塊，用于提取并顯示所述讀寫(xiě)模塊中的函數(shù)標(biāo)識(shí)及函數(shù)參數(shù)信息，所述 提取包括主動(dòng)提取或根據(jù)用戶需求查找提取；測(cè)試腳本配置保存模塊，用于獲取用戶操作的函數(shù)標(biāo)識(shí)及輸入的函數(shù)參數(shù)，更新保 存所述測(cè)試腳本配置；
9.一種測(cè)試套件生成系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括測(cè)試腳本數(shù)據(jù)庫(kù)，用于保存測(cè)試腳本，且不同的測(cè)試腳本采用不同的測(cè)試腳本標(biāo)識(shí) 區(qū)分；測(cè)試套件配置裝置，用于生成并保存測(cè)試套件配置，所述測(cè)試套件配置包括測(cè)試腳 本標(biāo)識(shí)；測(cè)試套件自動(dòng)生成裝置，用于根據(jù)所述測(cè)試套件配置中的測(cè)試腳本標(biāo)識(shí)自動(dòng)從測(cè)試 腳本數(shù)據(jù)庫(kù)提取對(duì)應(yīng)的測(cè)試腳本生成測(cè)試套件。
10.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試套件配置包括環(huán)境參數(shù)，所 述測(cè)試套件自動(dòng)生成裝置生成測(cè)試套件時(shí)，包括根據(jù)所述測(cè)試套件配置完成環(huán)境參數(shù)配置。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種測(cè)試腳本、套件生成方法和系統(tǒng)，測(cè)試腳本生成方法包括所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)封裝并保存函數(shù)生成函數(shù)庫(kù)，不同函數(shù)采用函數(shù)標(biāo)識(shí)區(qū)分；所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)生成并保存測(cè)試腳本配置，所述測(cè)試腳本配置中包括函數(shù)標(biāo)識(shí)；所述測(cè)試腳本生成系統(tǒng)根據(jù)測(cè)試腳本配置中的函數(shù)標(biāo)識(shí)自動(dòng)從所述函數(shù)庫(kù)提取對(duì)應(yīng)的函數(shù)自動(dòng)生成測(cè)試腳本。本發(fā)明方法和系統(tǒng)可以測(cè)試腳本、套件生成效率。
文檔編號(hào)G06F9/44GK102023861SQ201010579699
公開(kāi)日2011年4月20日 申請(qǐng)日期2010年12月8日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月8日
發(fā)明者何劍鋒, 張祎強(qiáng), 柯志勇 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司