專利名稱：基于附加測試的多參數(shù)系統(tǒng)錯誤模式快速定位方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種多參數(shù)系統(tǒng)的錯誤模式快速定位方法，特別是涉及一種利用附加 測試在待測系統(tǒng)中找出某條測試用例中的錯誤模式的方法。
背景技術(shù)：
當(dāng)今工業(yè)系統(tǒng)規(guī)模越來越大，結(jié)構(gòu)日趨復(fù)雜，系統(tǒng)測試作為一種發(fā)現(xiàn)錯誤的方法， 因其高效、節(jié)約資源的特點(diǎn)，受到了廣泛的應(yīng)用。測試大體上可以分為白盒測試和黑盒測 試。白盒測試在測試過程中，需要知道待測系統(tǒng)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過程，并利用這些信息設(shè) 計測試用例；而黑盒測試的在測試過程中不需要了解待測系統(tǒng)內(nèi)部的結(jié)構(gòu)，只需要根據(jù)待 測系統(tǒng)的功能特征，也就是待測系統(tǒng)的輸入輸出關(guān)系，即可設(shè)計出一組測試用例集，然后在 待測系統(tǒng)上運(yùn)行該測試用例集，以發(fā)現(xiàn)其中的錯誤。關(guān)于黑盒測試，尤其是測試用例集的設(shè)計方法，現(xiàn)在已經(jīng)有很多該方面的研究，這 使得我們可以利用較少的測試用例來發(fā)現(xiàn)待測系統(tǒng)的錯誤，主要是參數(shù)之間相互作用引起的 錯誤。但黑盒測試存在一定的弱點(diǎn)，在測試人員發(fā)現(xiàn)一個系統(tǒng)錯誤后，需要根據(jù)導(dǎo)致出錯的測 試用例來找到真正發(fā)生錯誤的位置，而這往往是一件費(fèi)時費(fèi)力的工作。因此對黑盒測試結(jié)果 的診斷變得很有意義，更多關(guān)于錯誤的信息可以幫助調(diào)試人員更快的發(fā)現(xiàn)錯誤的位置。本發(fā) 明涉及的一類錯誤診斷方法的目標(biāo)是找到導(dǎo)致待測系統(tǒng)錯誤的測試用例中的錯誤模式。在基于黑盒測試的錯誤模式診斷方法上，已經(jīng)有一些成果，專利 200910028630.9(南京大學(xué)，多因素工業(yè)系統(tǒng)的故障快速識別方法[P]，中國專利 200910028630. 9，2009-01-06)中提出了一種附加測試用例的診斷方法。通過一條導(dǎo)致待測 系統(tǒng)出錯的測試用例t = (Vl，v2，. . .，vk)，逐個替換t中的參數(shù)取值，生成一組附加測試用 例集、=(*，V2, . . , Vk)，t2 = (V1,Vk) tk = (V1, v2，· · ·，*)。然后在待測系 統(tǒng)上運(yùn)行這組附加測試用例集，根據(jù)運(yùn)行結(jié)果判斷出該條測試用例中的錯誤模式。若測試 用例ti沒有出錯，則說明參數(shù)Vi是某錯誤模式中的一個參數(shù)。例如附加測試用例t1; t4沒 有發(fā)生錯誤，則錯誤模式可能包含參數(shù)Vl，V4。但是，專利200910028630. 9中的方法存在一定的不足。首先，該方法生成的附加 測試用例數(shù)量為待測系統(tǒng)輸入?yún)?shù)的個數(shù)。而一般來說，原始的測試用例集大小與輸入?yún)?數(shù)的個數(shù)成對數(shù)關(guān)系。當(dāng)參數(shù)數(shù)量較大時，采用該方法產(chǎn)生的附加測試用例數(shù)量相對于原 始測試用例數(shù)量來說會大很多，這樣會造成測試資源的浪費(fèi)。在實(shí)際的黑盒測試中，待測系 統(tǒng)往往有幾十個甚至上百個參數(shù)，這樣附加測試用例會有同樣的數(shù)量，而原始測試用例數(shù) 量相對來說較少，這說明現(xiàn)有方法中附加測試用例數(shù)量較多的問題是存在的。其次，該方法 只在t中只有一個錯誤模式的情況下結(jié)果是正確的，當(dāng)t存在多個錯誤模式時，結(jié)果不準(zhǔn)確 甚至得不到任何結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對的是黑盒測試中結(jié)果的診斷問題，提出了一種錯誤定位方法，能夠采用較少的附加測試用例找出出錯的測試用例中的錯誤模式，可以幫助縮小系統(tǒng)中錯誤位置 的范圍，加快錯誤的定位，縮短系統(tǒng)的除錯時間。下面介紹本說明書中用到的主要術(shù)語和符號假定待測系統(tǒng)有k個輸入?yún)?shù)，第i個參數(shù)用Vi表示，其取值范圍是Si。一般來 說，Vi既可以表示第i個參數(shù)，也可以表示第i個參數(shù)的取值。該待測系統(tǒng)的一個測試用例是一個k元組(Vl，V2,...，Vk)，其中Vi e Si。一個測 試用例集是一組測試用例的集合。對于待測系統(tǒng)，取定t (OStSk)個位置上的參數(shù)，其他參數(shù)保持未定(記作-)， 形成的k元組稱為該待測系統(tǒng)的一個t值模式，例如一個4參數(shù)系統(tǒng)的一個2值模式(-， 2，-，1)，表明V2 = 2, v4 = 1，而其他的參數(shù)取值未定。在針對某一條測試用例的模式進(jìn)行討論時，模式可以用固定參數(shù)的集合來表示。 例如，對于測試用例(1，2，1，1)來說，模式(-，2，-，1)可以用集合{v2，v4}來表示。另外，在 針對某一條測試用例的模式進(jìn)行討論時，兩個模式重疊意味著他們的某些固定參數(shù)相同。若當(dāng)待測系統(tǒng)的輸入復(fù)合某個模式時，待測系統(tǒng)會出錯，則說明是該模式導(dǎo)致了 待測系統(tǒng)的錯誤，稱該模式是該待測系統(tǒng)的一個錯誤模式。在本發(fā)明中，種子測試用例是一條給定的測試用例，該測試用例在系統(tǒng)測試中不 通過。替換某參數(shù)取值是指將該參數(shù)的取值替換為其值域內(nèi)，不同于種子測試用例中該參 數(shù)的取值。為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的，采用的技術(shù)方案概述如下一種基于附加測試的多參數(shù)系統(tǒng)錯誤模式快速定位方法，包括以下步驟1)確定待測系統(tǒng)的輸入?yún)?shù)個數(shù)k和每個輸入?yún)?shù)Vi的取值范圍Si，i取值范圍 為1到k之間的整數(shù)；2)獲得一條在黑盒測試中運(yùn)行不通過的測試用例(Vl，V2, ... , vk)，稱為種子測試 用例；3)以種子測試用例為基礎(chǔ)，用替換多個參數(shù)取值的方法生成和運(yùn)行附加測試用 例，查找其中的一個錯誤模式，查找期間保持已找到錯誤模式中包含的固定參數(shù)的取值與 種子測試用例不同，且替換參數(shù)取值時直接跳過錯誤模式中包含的固定參數(shù)；4)重復(fù)執(zhí)行步驟幻直到找不到新的錯誤模式；5)所有在步驟幻中找到的錯誤模式就是多參數(shù)系統(tǒng)中錯誤模式定位的結(jié)果。所述步驟幻具體包括以下步驟3-1)用替換多個參數(shù)取值的方法生成和運(yùn)行附加測試用例，查找該錯誤模式中的 一個固定參數(shù)；3-2)重復(fù)執(zhí)行3-1)直到找不到新的固定參數(shù)為止，與此同時須始終保持該錯誤 模式中已找到固定參數(shù)的取值與種子測試用例相同，且替換參數(shù)取值時直接跳過該錯誤模 式中已找到的固定參數(shù)；3-3)所有在3-1)中找到的固定參數(shù)組成種子測試用例的一個錯誤模式，若該步 驟內(nèi)沒有找任何固定參數(shù)，則說明沒有找到錯誤模式。所述步驟3-1)找到的固定參數(shù)Vi須滿足以下條件3-1-1)替換某些參數(shù)之后的測試用例運(yùn)行不通過；
3-1-2)替換3-1-1)中的參數(shù)以及參數(shù)Vi后的測試用例運(yùn)行通過。所述步驟3-1)采用順序查找的方法查找錯誤模式中的一個固定參數(shù)，具體步驟 如下3-1-a-l)多替換種子測試用例中一個參數(shù)的取值，得到附加測試用例，第一次替 換一個參數(shù)；3-l-a-2)運(yùn)行附加測試用例；3-l-a-3)反復(fù)執(zhí)行3_l-a_l)和3_l-a_2)，若某次附加測試用例運(yùn)行通過，則新替 換的參數(shù)就是所查找的固定參數(shù)，該步驟結(jié)束，若直到?jīng)]有參數(shù)可替換時，所有附加測試用 例運(yùn)行都不通過，則說明沒有找到固定參數(shù)，該步驟結(jié)束。所述步驟3-1)采用二分查找的方法查找錯誤模式中的一個固定參數(shù)，具體步驟 如下3-1-b-l)確定參數(shù)序列中二分查找的上下界；3-l-b-2)挑選一個上下界之間的參數(shù)Vi ；3-l-b-3)替換Vi之前的所有參數(shù)的取值，得到附加測試用例；3-l-b-4)運(yùn)行附加測試用例，若通過，則修改上界為Vi的前一個參數(shù)，否則修改下 界為Vi的后一個參數(shù)；3-l-b-5)反復(fù)執(zhí)行3-l-b_2)到3-l_b_4)，直到下界大于上界為止；3-l-b-6)在3-l-b_4)的運(yùn)行結(jié)果中替換參數(shù)最少且運(yùn)行通過的測試用例中，最 后一個被替換的參數(shù)就是所查找的固定參數(shù)，若所有測試用例都不通過，則說明未找到固
定參數(shù)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)1)本發(fā)明的查找該錯誤模式中的新參數(shù)的步驟采用二分查找等實(shí)現(xiàn)方法時可降 低附加測試用例的數(shù)量。本發(fā)明如采用二分查找法查找錯誤模式中的參數(shù)，假定待測系統(tǒng) 參數(shù)數(shù)量為k，則查找一個參數(shù)需要的附加測試用例數(shù)量最多為lo&k+l。有研究標(biāo)明，錯 誤模式的參數(shù)數(shù)量最多不超過6，平均數(shù)量為2. 037，因此得到一個錯誤模式需要的附加測 試用例的數(shù)量最多為6(lo&k+l)，平均為2. 037(log2k+l)。在實(shí)際的黑盒測試中，待測系統(tǒng) 的參數(shù)數(shù)量為幾十個至上百個，可以知道附加測試用例的平均數(shù)量一般不超過20個。現(xiàn)有 的方法需要的附加測試用例的數(shù)量一般與參數(shù)數(shù)量相當(dāng)。與此相比，本發(fā)明方法在減少附 加測試用例數(shù)量上具有很大的優(yōu)越性。2)本發(fā)明的錯誤模式定位能力強(qiáng)，可有效處理多錯誤模式的情況?，F(xiàn)有的技術(shù)在 種子測試用例中僅包含一個錯誤模式時能夠進(jìn)行正確診斷，而當(dāng)錯誤模式多于一個時，診 斷結(jié)果不正確甚至無法得到結(jié)果。本發(fā)明不但能夠在只有一個錯誤模式時進(jìn)行正確診斷， 而且可以在錯誤模式多于一個時，找到多個不互相重疊的錯誤模式。由此可見本發(fā)明不但 能進(jìn)行現(xiàn)有技術(shù)能完成的診斷，而且能進(jìn)行一些現(xiàn)有技術(shù)不能完成的診斷，因此診斷能力 得到了提高。


圖1是本發(fā)明方法在實(shí)施例中的實(shí)現(xiàn)的總體流程圖；圖2是本發(fā)明方法在實(shí)施例中的實(shí)現(xiàn)的查找單個錯誤模式過程(步驟C))的流程圖3是本發(fā)明方法是實(shí)施例中的實(shí)現(xiàn)的利用順序查找方法查找錯誤模式固定參 數(shù)過程(步驟c2a))的流程圖；圖4是本發(fā)明方法是實(shí)施例中的實(shí)現(xiàn)的利用二分查找方法查找錯誤模式固定參 數(shù)過程(步驟c2b))的流程具體實(shí)施例方式本發(fā)明采用運(yùn)行附加測試用例的方法對系統(tǒng)錯誤進(jìn)行診斷。該方法的使用位于黑 盒測試后續(xù)階段，以黑盒測試中導(dǎo)致待測系統(tǒng)錯誤的測試用例作為種子測試用例，根據(jù)種 子測試用例設(shè)計并運(yùn)行一組附加的測試用例集，根據(jù)附加測試用例的運(yùn)行結(jié)果對待測系統(tǒng) 的錯誤進(jìn)行診斷，最終得到種子測試用例中的錯誤模式。本發(fā)明的錯誤模式快速定位方法總體上分為如下幾個步驟1)確定待測系統(tǒng)的輸入?yún)?shù)個數(shù)k和每個輸入?yún)?shù)Vi的取值范圍Si，i取值范圍 為1到k之間的整數(shù)；2)獲得一條在黑盒測試中運(yùn)行不通過的測試用例(Vl，V2, ... , vk)，稱為種子測試 用例；3)以種子測試用例為基礎(chǔ)，用替換多個參數(shù)取值的方法生成和運(yùn)行附加測試用 例，查找其中的一個錯誤模式，在此期間須始終保持已找到錯誤模式中的固定參數(shù)取值與 種子測試用例不同，且過程內(nèi)不再考慮這些參數(shù)；4)重復(fù)執(zhí)行步驟幻直到找不到新的錯誤模式；5)所有在步驟幻中找到的錯誤模式就是錯誤模式定位的結(jié)果。下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本發(fā)明提供的錯誤模式快速定位方法進(jìn)行詳細(xì)描 述。本發(fā)明的一種實(shí)現(xiàn)方法包括以下步驟(對應(yīng)說明書附圖中圖1)a)確定待測系統(tǒng)的輸入?yún)?shù)個數(shù)k和每個輸入?yún)?shù)Vi的取值范圍Si，i取值范圍 為1到k之間的整數(shù)；b)獲得一條在黑盒測試中運(yùn)行不通過的測試用例(Vl，V2, ... , vk)，稱為種子測試 用例；c)以種子測試用例為基礎(chǔ)，用替換多個參數(shù)取值的方法生成和運(yùn)行附加測試用 例，查找其中的一個錯誤模式，與此同時須始終保持已找到錯誤模式中的參數(shù)取值與種子 測試用例不同，且過程內(nèi)不再考慮這些參數(shù)；d)若找到錯誤模式，則執(zhí)行C)，否則執(zhí)行e)；e)所有在步驟C)中找到的錯誤模式就是錯誤模式定位的結(jié)果。其中，所述步驟C)具體包括(對應(yīng)說明書附圖中圖2)cl)初始化當(dāng)前錯誤模式參數(shù)集合為空；c2)查找該錯誤模式中的新的固定參數(shù)，將其放入當(dāng)前錯誤模式參數(shù)集合中，在查 找過程中須始終保持錯誤模式參數(shù)集合中參數(shù)的取值與種子測試用例相同，且替換參數(shù)取 值時直接跳過這些參數(shù)；c3)若找到新的固定參數(shù)，則執(zhí)行c2)，否則執(zhí)行c4)；c4)當(dāng)前錯誤模式參數(shù)集合構(gòu)成一個錯誤模式，若該集合為空，則說明沒有找到錯誤模式。此外，所述步驟(^)有多種實(shí)現(xiàn)方法。一種實(shí)現(xiàn)方法是順序查找的實(shí)現(xiàn)c2a)，其步驟具體包括(對應(yīng)說明書附圖中圖 3)c2al)將當(dāng)前錯誤模式參數(shù)集合的最后一個參數(shù)的后一個參數(shù)進(jìn)行標(biāo)記，若錯誤 模式參數(shù)集合為空，則標(biāo)記V1;c2a2)若標(biāo)記越界，執(zhí)行c2a8)，否則執(zhí)行c2a3)；c2a3)替換被標(biāo)記參數(shù)之前所有參數(shù)(包括被標(biāo)記參數(shù))的取值，其他參數(shù)取值與 seed相同，得到附加測試用例；c2a4)運(yùn)行附加測試用例；c2a5)若運(yùn)行通過，執(zhí)行c2a7)，否則執(zhí)行c2a6)；da6)將標(biāo)記后移到下一個參數(shù)，執(zhí)行c2a2)；c2a7)被標(biāo)記的參數(shù)就是所查找的固定參數(shù)，步驟c2a)結(jié)束；c2a8)沒有找到固定參數(shù)，步驟c2a)結(jié)束。另一種實(shí)現(xiàn)方法是基于二分查找的實(shí)現(xiàn)c2b)，其步驟具體包括(對應(yīng)說明書附圖 中圖4)c2bl)替換所有參數(shù)取值得到附加測試用例；c2b2)運(yùn)行附加測試用例，記錄結(jié)果；c2b3)若運(yùn)行通過，則執(zhí)行db5)，否則執(zhí)行c2b4)；c2b4)找不到錯誤模式的固定參數(shù)，步驟c2b)結(jié)束；c2b5)初始化下界為當(dāng)前錯誤模式參數(shù)集合中最后一個參數(shù)后的第一個參數(shù)，上 界為最后一個參數(shù)；c2b6)找到中間參數(shù)Vi,即位于下界與上界中間的參數(shù)；c2b7)替換Vi之前的所有參數(shù)，其他參數(shù)取值與種子測試用例相同，得到附加測試 用例；c2b8)運(yùn)行附加測試用例，記錄運(yùn)行結(jié)果，以中間參數(shù)的序號標(biāo)識；c2b9)若運(yùn)行通過，執(zhí)行c2bl0)，否則執(zhí)行c2bll)；c2bl0)修改上界為中間參數(shù)的前一個參數(shù)，執(zhí)行c2bl2)；c2bll)修改下界為中間參數(shù)的后一個參數(shù)；c2bl2)若下界大于上界，則執(zhí)行c2bl3)，否則執(zhí)行c21d6)；c2bl3)從之前記錄的運(yùn)行結(jié)果中，尋找序號最小且運(yùn)行通過的測試用例，該序號 對應(yīng)的參數(shù)就是所查找的固定參數(shù)；若沒有運(yùn)行通過的測試用例，則表明沒有找到固定參 數(shù)。下面以一個8參數(shù)系統(tǒng)的測試為例，說明本發(fā)明的工作流程，c2)采用基于順序查 找的實(shí)現(xiàn)c2a)。某待測系統(tǒng)包含8個參數(shù)，每個參數(shù)取值范圍都是{1，2}，第i個參數(shù)用Vi表示。 首先對該待測系統(tǒng)進(jìn)行黑盒測試，假設(shè)已經(jīng)得到了一條導(dǎo)致系統(tǒng)出錯的測試用例t = (1， 2，2，1，2，2，1，1)。在本例中提到的所有的模式如非特殊指明，都是指t的模式。假設(shè)t中 包含2個錯誤模式{v3，v6}和{v4}，而且任意包含這兩個錯誤模式的測試用例都會出錯。在
8診斷之前，假定測試者并不知道這兩個錯誤模式，使用本發(fā)明的方法對錯誤進(jìn)行診斷。生成的所有的附加測試用例如表1所示，其中花括號{}內(nèi)的參數(shù)是已找到錯誤模 式的固定參數(shù)，圓括號0內(nèi)參數(shù)是當(dāng)前錯誤模式集合中的參數(shù)，方括號[]內(nèi)的參數(shù)是被替 換取值的參數(shù)。表lc2)采用順序查找的實(shí)現(xiàn)c2a)時附加測試用例集
權(quán)利要求
1.一種基于附加測試的多參數(shù)系統(tǒng)錯誤模式快速定位方法，包括以下步驟1)確定待測系統(tǒng)的輸入?yún)?shù)個數(shù)k和每個輸入?yún)?shù)Vi的取值范圍Si，i取值范圍為1 到k之間的整數(shù)；2)獲得一條在黑盒測試中運(yùn)行不通過的測試用例(Vl，v2,... , vk)，稱為種子測試用例；3)以種子測試用例為基礎(chǔ)，用替換多個參數(shù)取值的方法生成和運(yùn)行附加測試用例，查 找其中的一個錯誤模式，查找期間保持已找到錯誤模式中包含的固定參數(shù)的取值與種子測 試用例不同，且替換參數(shù)取值時直接跳過錯誤模式中包含的固定參數(shù)；4)重復(fù)執(zhí)行步驟幻直到找不到新的錯誤模式；5)所有在步驟幻中找到的錯誤模式就是多參數(shù)系統(tǒng)中錯誤模式定位的結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟3)具體包括以下步驟3-1)用替換多個參數(shù)取值的方法生成和運(yùn)行附加測試用例，查找該錯誤模式中的一個 固定參數(shù)；3-2)重復(fù)執(zhí)行3-1)直到找不到新的固定參數(shù)為止，與此同時須始終保持該錯誤模式 中已找到固定參數(shù)的取值與種子測試用例相同，且替換參數(shù)取值時直接跳過該錯誤模式中 已找到的固定參數(shù)；3-3)所有在3-1)中找到的固定參數(shù)組成種子測試用例的一個錯誤模式，若該步驟內(nèi) 沒有找任何固定參數(shù)，則說明沒有找到錯誤模式。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述步驟3-1)找到的固定參數(shù)Vi須滿足以 下條件3-1-1)替換某些參數(shù)之后的測試用例運(yùn)行不通過；3-1-2)替換3-1-1)中的參數(shù)以及參數(shù)Vi后的測試用例運(yùn)行通過。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述步驟3-1)采用順序查找的方法查找 錯誤模式中的一個固定參數(shù)，具體步驟如下3-1-a-l)多替換種子測試用例中一個參數(shù)的取值，得到附加測試用例，第一次替換一 個參數(shù)；3-l-a-2)運(yùn)行附加測試用例；3-l-a-3)反復(fù)執(zhí)行3-1-a-l)和3_l-a_2)，若某次附加測試用例運(yùn)行通過，則新替換的 參數(shù)就是所查找的固定參數(shù)，該步驟結(jié)束，若直到?jīng)]有參數(shù)可替換時，所有附加測試用例運(yùn) 行都不通過，則說明沒有找到固定參數(shù)，該步驟結(jié)束。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述步驟3-1)采用二分查找的方法查找 錯誤模式中的一個固定參數(shù)，具體步驟如下3-1-b-l)確定參數(shù)序列中二分查找的上下界； 3-l-b-2)挑選一個上下界之間的參數(shù)Vi ； 3-l-b-3)替換Vi之前的所有參數(shù)的取值，得到附加測試用例； 3-l-b-4)運(yùn)行附加測試用例，若通過，則修改上界為Vi的前一個參數(shù)，否則修改下界為 Vi的后一個參數(shù)；3-l-b-5)反復(fù)執(zhí)行3-l-b-2)到3-l-b-4)，直到下界大于上界為止； 3-l-b-6)在3-l-b-4)的運(yùn)行結(jié)果中替換參數(shù)最少且運(yùn)行通過的測試用例中，最后一個被替換的參數(shù)就是所查找的固定參數(shù)，若所有測試用例都不通過，則說明未找到固定參數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種基于附加測試的多參數(shù)系統(tǒng)錯誤模式快速定位方法，本發(fā)明所述方法主要包括以下步驟1)確定待測系統(tǒng)的輸入?yún)?shù)個數(shù)k和每個輸入?yún)?shù)vi的取值范圍si，i取值范圍為1到k之間的整數(shù)；2)獲得一條在黑盒測試中運(yùn)行不通過的測試用例(v1，v2，...，vk)，稱為種子測試用例；3)以種子測試用例為基礎(chǔ)，用替換多個參數(shù)取值的方法生成和運(yùn)行附加測試用例，查找其中的一個錯誤模式，查找期間保持已找到錯誤模式中包含的固定參數(shù)的取值與種子測試用例不同，且替換參數(shù)取值時直接跳過錯誤模式中包含的固定參數(shù)；4)重復(fù)執(zhí)行步驟3)直到找不到新的錯誤模式；5)所有在步驟3)中找到的錯誤模式就是多參數(shù)系統(tǒng)中錯誤模式定位的結(jié)果。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的方法減少了附加測試用例的數(shù)量，對多個錯誤模式仍能得出正確的診斷結(jié)果，提高了診斷能力。
文檔編號G06F11/36GK102073584SQ201010539469
公開日2011年5月25日 申請日期2010年11月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月9日
發(fā)明者張健, 張智強(qiáng) 申請人:中國科學(xué)院軟件研究所