技術(shù)編號(hào):6335633
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種多參數(shù)系統(tǒng)的錯(cuò)誤模式快速定位方法,特別是涉及一種利用附加 測(cè)試在待測(cè)系統(tǒng)中找出某條測(cè)試用例中的錯(cuò)誤模式的方法。背景技術(shù)當(dāng)今工業(yè)系統(tǒng)規(guī)模越來越大,結(jié)構(gòu)日趨復(fù)雜,系統(tǒng)測(cè)試作為一種發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤的方法, 因其高效、節(jié)約資源的特點(diǎn),受到了廣泛的應(yīng)用。測(cè)試大體上可以分為白盒測(cè)試和黑盒測(cè) 試。白盒測(cè)試在測(cè)試過程中,需要知道待測(cè)系統(tǒng)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過程,并利用這些信息設(shè) 計(jì)測(cè)試用例;而黑盒測(cè)試的在測(cè)試過程中不需要了解待測(cè)系統(tǒng)內(nèi)部的結(jié)構(gòu),只需要根據(jù)待 測(cè)系統(tǒng)的功能...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
請(qǐng)注意,此類技術(shù)沒有源代碼,用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。