專利名稱：一種提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于多媒體技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
目前，在IXD TV的產(chǎn)品開發(fā)過程中，很多產(chǎn)品都是采用同樣SOC (System on Chip) 主芯片，但由于每個(gè)機(jī)芯平臺(tái)和外觀不同，即每個(gè)機(jī)芯都要對(duì)應(yīng)不同的軟件版本，這就給軟件的開發(fā)和維護(hù)帶來了較大的工作量。為解決該問題，軟件通常通過采用產(chǎn)品識(shí)別碼 (product id)來識(shí)別不同機(jī)芯的方法來減少軟件的版本，并適應(yīng)各種機(jī)型的產(chǎn)品，因此 product id成為產(chǎn)品中最基礎(chǔ)、最關(guān)鍵的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。但現(xiàn)有技術(shù)中，由于對(duì)product id數(shù)據(jù)的校驗(yàn)還存在一定的漏洞，可能會(huì)存在因?yàn)閜roduct id關(guān)鍵數(shù)據(jù)丟失導(dǎo)致系統(tǒng)錯(cuò)誤和產(chǎn)品不可用的風(fēng)險(xiǎn)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)及方法，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中由于對(duì)產(chǎn)品識(shí)別碼的數(shù)據(jù)校驗(yàn)不可靠造成產(chǎn)品識(shí)別碼關(guān)鍵數(shù)據(jù)丟失，導(dǎo)致系統(tǒng)錯(cuò)誤和產(chǎn)品不可用的問題。本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)，包括微處理器單元、組件電壓讀取模塊、產(chǎn)品識(shí)別碼讀取模塊、產(chǎn)品識(shí)別碼比較模塊和系統(tǒng)參數(shù)配置模塊，所述組件電壓讀取模塊與微處理器單元相連，用于從主板讀取電壓值，產(chǎn)品識(shí)別碼讀取模塊與微處理器單元相連，用于讀取產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)并進(jìn)行自校驗(yàn)和糾錯(cuò)，所述產(chǎn)品識(shí)別碼比較模塊與微處理器單元相連，用于對(duì)獲取到的多個(gè)產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)和組件電壓值通過比較算法進(jìn)行綜合運(yùn)算確定正確的產(chǎn)品識(shí)別碼，所述系統(tǒng)參數(shù)配置模塊與微處理器單元相連，用于將正確的產(chǎn)品識(shí)別碼設(shè)為最終使用的產(chǎn)品識(shí)別碼。本發(fā)明的技術(shù)方案還包括所述組件電壓讀取模塊的電壓讀取方式是直接從芯片上指定的管腳讀取寄存器的值。本發(fā)明的技術(shù)方案還包括所述產(chǎn)品識(shí)別碼讀取模塊分別從E2R0M、FLASH兩處存儲(chǔ)設(shè)備中讀取產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)。本發(fā)明的技術(shù)方案還包括所述產(chǎn)品識(shí)別碼比較模塊具體的比較算法包括判斷從E2R0M讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼與從FLASH讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼是否相等，如果相等，將所述產(chǎn)品識(shí)別碼與組件電壓進(jìn)行比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼與組件電壓一致，則將所述產(chǎn)品識(shí)別碼作為最終的所述產(chǎn)品識(shí)別碼。本發(fā)明的技術(shù)方案還包括所述產(chǎn)品識(shí)別碼比較模塊具體的比較算法包括判斷從E2R0M讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼1與產(chǎn)品識(shí)別碼2是否相等，如果相等，則將產(chǎn)品識(shí)別碼記為產(chǎn)品識(shí)別碼12，將產(chǎn)品識(shí)別碼12與從FLASH讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼3比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼12與產(chǎn)品識(shí)別碼3相等，則將產(chǎn)品識(shí)別碼記為產(chǎn)品識(shí)別碼123，并與組件電壓比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼123與組件電壓一致，則將所述產(chǎn)品識(shí)別碼123作為最終的所述產(chǎn)品識(shí)別碼。本發(fā)明采取的另一技術(shù)方案為一種提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的方法，包括以下步驟步驟a:啟動(dòng)電視設(shè)備；步驟b 從主板讀取組件電壓值；步驟c 讀取存儲(chǔ)位置的產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)；步驟d 將產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)和組件電壓值通過比較算法進(jìn)行綜合運(yùn)算，確定正確的產(chǎn)品識(shí)別碼。本發(fā)明的技術(shù)方案還包括在所述步驟b中，讀取組件電壓值的方式為直接從芯片上指定的管腳讀取寄存器的值。本發(fā)明的技術(shù)方案還包括在所述步驟c與所述步驟d之間還進(jìn)一步包括根據(jù)組件電壓值判斷產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)是否合理，如果產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)不合理，依據(jù)電壓值與產(chǎn)品識(shí)別碼的對(duì)應(yīng)范圍對(duì)產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)進(jìn)行自我校驗(yàn)和糾錯(cuò)，如果產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)合理， 則執(zhí)行步驟d。本發(fā)明的技術(shù)方案還包括在所述步驟c中，分別從E2R0M和FLASH讀取產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)，所述步驟d的比較算法具體包括判斷從E2R0M讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼與從FLASH讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼是否相等，如果相等，將所述產(chǎn)品識(shí)別碼與組件電壓進(jìn)行比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼與組件電壓一致，則將所述產(chǎn)品識(shí)別碼作為最終的所述產(chǎn)品識(shí)別碼。本發(fā)明的技術(shù)方案還包括所述步驟d的比較算法具體包括步驟dl 判斷從E2R0M讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼1與產(chǎn)品識(shí)別碼2是否相等，如果相等， 則將產(chǎn)品識(shí)別碼記為產(chǎn)品識(shí)別碼12，轉(zhuǎn)入步驟d2，如果不相等，轉(zhuǎn)入步驟d4 ；步驟d2 將產(chǎn)品識(shí)別碼12與從FLASH讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼3比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼 12與產(chǎn)品識(shí)別碼3相等，則將產(chǎn)品識(shí)別碼記為產(chǎn)品識(shí)別碼123，轉(zhuǎn)入步驟d3，如果不相等，則轉(zhuǎn)入步驟d4 ；步驟d3 將產(chǎn)品識(shí)別碼123與組件電壓比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼123與組件電壓一致，則將所述產(chǎn)品識(shí)別碼123作為最終的所述產(chǎn)品識(shí)別碼，如果不一致，則轉(zhuǎn)入步驟d5 ；步驟d4 產(chǎn)品識(shí)別碼1、產(chǎn)品識(shí)別碼2和產(chǎn)品識(shí)別碼3有任意兩個(gè)不相等，將三者進(jìn)行3取2的比較，將比較的結(jié)果轉(zhuǎn)到步驟d3進(jìn)行處理；步驟d5 判斷比較路徑，如果路徑為dl d2 d3，以d3輸出的產(chǎn)品識(shí)別碼123為準(zhǔn)， 同時(shí)提示組件電壓不正常，如果路徑為dl d4 d3，則將產(chǎn)品識(shí)別碼1、產(chǎn)品識(shí)別碼2、產(chǎn)品識(shí)別碼3和組件電壓進(jìn)行四取三處理，同時(shí)提示用戶產(chǎn)品識(shí)別碼出錯(cuò)。本發(fā)明的技術(shù)方案具有如下優(yōu)點(diǎn)或有益效果本發(fā)明提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)及方法在利用LCD產(chǎn)品的同時(shí)具備E2R0M和FLASH兩種存儲(chǔ)設(shè)備，該存儲(chǔ)設(shè)備對(duì)ftx)duCt id數(shù)據(jù)分區(qū)保存，并且數(shù)據(jù)可進(jìn)行自我校驗(yàn)和錯(cuò)誤恢復(fù)，從而確保product id的安全性和可靠性，避免因?yàn)閷roduct id關(guān)鍵數(shù)據(jù)丟失可能導(dǎo)致的系統(tǒng)錯(cuò)誤和產(chǎn)品不可用的風(fēng)險(xiǎn)， 提高了產(chǎn)品的可用性和競(jìng)爭(zhēng)力。


附圖1是本發(fā)明提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意附圖2是本發(fā)明提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)的Product ID比較模塊算法流程示意圖；附圖3是本發(fā)明提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。請(qǐng)參閱圖1，是本發(fā)明提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)包括組件電壓讀取模塊、Product ID讀取模塊、Product ID比較模塊、系統(tǒng)參數(shù)配置模塊和MCU(微處理器單元)。組件電壓讀取模塊與MCU相連，用于從主板讀取電壓值，其中，電壓讀取方式是直接從芯片上指定的管腳讀取寄存器的值。Product ID讀取模塊與MCU相連，用于讀取product id數(shù)據(jù)并進(jìn)行自校驗(yàn)和糾錯(cuò)；product id數(shù)據(jù)讀取讀取方式為分別從E2R0M、FLASH兩處存儲(chǔ)設(shè)備中讀取，其中， E2R0M和FLASH中的product id數(shù)據(jù)是預(yù)先存儲(chǔ)的，該存儲(chǔ)設(shè)備可分區(qū)保存product id數(shù)據(jù)，并且product id數(shù)據(jù)可進(jìn)行自我校驗(yàn)和錯(cuò)誤恢復(fù)。電壓值和porduct id有一個(gè)對(duì)應(yīng)關(guān)系，例如0 0. 7V的電壓值，product id只能在1 100的范圍內(nèi)，如果超過這個(gè)范圍就不合理，說明product id數(shù)據(jù)出錯(cuò)，Product ID讀取模塊依據(jù)這個(gè)對(duì)應(yīng)范圍對(duì)ftx)duCt ID數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)和糾錯(cuò)。Product ID比較模塊與MCU相連，用于對(duì)獲取到的多個(gè)product id數(shù)據(jù)和組件電壓值通過比較算法進(jìn)行綜合運(yùn)算確定正確的Product id。請(qǐng)參閱圖2，是本發(fā)明提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性系統(tǒng)的Product ID比較模塊算法流程示意圖。本發(fā)明提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性系統(tǒng)的I^roduct ID比較模塊具體的比較算法為Product id比較1 系統(tǒng)直接判斷product id 1于product id 2是否相等，如果 product id 1 與 product id 2 相等，則將此時(shí)的 product id 記為 product id 12，并轉(zhuǎn)入比較2 ；如果product id 1于product id 2不相等，則轉(zhuǎn)入比較4;Product id 比較 2 Jfproduct id 12 繼續(xù)和 product id 3 比較，判斷product id 12是否等于product id 3，如果product id 12和product id 3相等，則將此時(shí)的product id記為product id 123，并轉(zhuǎn)入比較3，；如果不相等則轉(zhuǎn)入比較4 ；Product id 比較 3 將 productid 123 與組件電壓比較，判斷 product id 123 與組件電壓是否一致，如果product id 123與組件電壓一致，則說明product idl23是正確的id如果product id 123與組件電壓不一致則轉(zhuǎn)入判斷比較路徑5 ；Product id 比較 4 product id Uproduct id 2 禾口 product id 3 進(jìn) 亍比較， 如果product id Uproduct id 2和product id 3有任意兩個(gè)不相等，那么這三者進(jìn)行3 取2的比較，將比較的結(jié)果再回到比較3處理；判斷比較路徑5 根據(jù)比較路徑判斷是否組件電壓不正常或者product id出錯(cuò)； 具體判斷方法為如果路徑是從1 2 3 5 6，則以3輸出的product id 123為準(zhǔn)，同時(shí)系統(tǒng)提示組件電壓不正常；如果路徑是從1 4 3 5 7 Jl^fproduct id U product id 2、productid3的組件電壓進(jìn)行四取三處理，同時(shí)系統(tǒng)提示用戶product id出錯(cuò)。系統(tǒng)參數(shù)配置模塊與MCU相連，用于將正確的ftOduct id設(shè)為最終使用的 Productid。請(qǐng)參閱圖3，是本發(fā)明提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的方法的流程圖。本發(fā)明提高 ProductID的可靠性的方法包括以下步驟步驟100 啟動(dòng)電視設(shè)備；步驟200 從主板讀取組件電壓值，其中，電壓讀取方式是直接從芯片上指定的管腳讀取寄存器的值；步驟300 讀取存儲(chǔ)位置的product id數(shù)據(jù)；其中，可分別從E2R0M、FLASH兩處存儲(chǔ)設(shè)備中讀取，其中，E2R0M和FLASH中的 productid數(shù)據(jù)是預(yù)先存儲(chǔ)的，該存儲(chǔ)設(shè)備可分區(qū)保product id數(shù)據(jù)。步驟400 根據(jù)電壓值判斷product id數(shù)據(jù)是否合理，如果product id數(shù)據(jù)不合理，執(zhí)行步驟500，如果product id數(shù)據(jù)合理，執(zhí)行步驟600 ；該步驟中，電壓值和porduct id有一個(gè)對(duì)應(yīng)關(guān)系，例如0 0. 7V的電壓值，
product id只能在1 100的范圍內(nèi)，如果超過這個(gè)范圍就不合理，說明productid數(shù)據(jù)出
ilt 曰ο步驟500 依據(jù)電壓值與Product ID的對(duì)應(yīng)范圍對(duì)Product ID數(shù)據(jù)進(jìn)行自我校驗(yàn)和糾錯(cuò)，并執(zhí)行步驟600;步驟600 將所有product id數(shù)據(jù)和組件電壓值通過比較算法進(jìn)行綜合運(yùn)算，確定正確的ftOdllCt id;為了清楚說明步驟600，請(qǐng)一并參閱圖2 Product id比較1 系統(tǒng)直接判斷product id 1于product id 2是否相等，如果 product id 1 與 product id 2 相等，則將此時(shí)的 product id 記為 product id 12，并轉(zhuǎn)入比較2 ；如果product id 1于product id 2不相等，則轉(zhuǎn)入比較4;Product id 比較 2 Jfproduct id 12 繼續(xù)和 product id 3 比較，判斷product id 12是否等于product id 3，如果product id 12和product id 3相等，則將此時(shí)的product id記為product id 123，并轉(zhuǎn)入比較3，；如果不相等則轉(zhuǎn)入比較4 ；Product id 比較 3 將 product id 123 與組件電壓比較，判斷 product id 123 與組件電壓是否一致，如果product id 123與組件電壓一致，則說明product idl23是正確的id如果product id 123與組件電壓不一致則轉(zhuǎn)入判斷比較路徑5 ；Product id 比較 4 product id Uproduct id 2 禾口 product id 3 進(jìn) 亍比較， 如果product id Uproduct id 2和product id 3有任意兩個(gè)不相等，那么這三者進(jìn)行3 取2的比較，將比較的結(jié)果再回到比較3處理；判斷比較路徑5 根據(jù)比較路徑判斷是否組件電壓不正?；蛘遬roduct id出錯(cuò)； 具體判斷方法為如果路徑是從1 2 3 5 6，則以3輸出的product id 123為準(zhǔn)，同時(shí)系統(tǒng)提示組件電壓不正常；如果路徑是從1 4 3 5 7 Jl^fproduct id U product id 2、 product id3的組件電壓進(jìn)行四取三處理，同時(shí)系統(tǒng)提示用戶product id出錯(cuò)。本發(fā)明提高ftOduct id的可靠性的系統(tǒng)及方法在利用IXD產(chǎn)品的同時(shí)具備E2R0M 和FLASH兩種存儲(chǔ)設(shè)備，這些存儲(chǔ)設(shè)備可分區(qū)保存數(shù)據(jù)，并且數(shù)據(jù)可進(jìn)行自我校驗(yàn)和錯(cuò)誤恢復(fù)。一方面對(duì)product id數(shù)據(jù)進(jìn)行自我校驗(yàn)和錯(cuò)誤恢復(fù)，另外一方面對(duì)存儲(chǔ)在不同的數(shù)據(jù)區(qū)的product id進(jìn)行互校驗(yàn)從而確保product id的安全性和可靠性，避免因?yàn)閷?product id關(guān)鍵數(shù)據(jù)丟失可能導(dǎo)致的系統(tǒng)錯(cuò)誤和產(chǎn)品不可用的風(fēng)險(xiǎn)，提高了產(chǎn)品的可用性和競(jìng)爭(zhēng)力。 以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)，包括微處理器單元，其特征在于，還包括組件電壓讀取模塊、產(chǎn)品識(shí)別碼讀取模塊、產(chǎn)品識(shí)別碼比較模塊和系統(tǒng)參數(shù)配置模塊，所述組件電壓讀取模塊與微處理器單元相連，用于從主板讀取電壓值，產(chǎn)品識(shí)別碼讀取模塊與微處理器單元相連，用于讀取產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)并進(jìn)行自校驗(yàn)和糾錯(cuò)，所述產(chǎn)品識(shí)別碼比較模塊與微處理器單元相連，用于對(duì)獲取到的多個(gè)產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)和組件電壓值通過比較算法進(jìn)行綜合運(yùn)算確定正確的產(chǎn)品識(shí)別碼，所述系統(tǒng)參數(shù)配置模塊與微處理器單元相連，用于將正確的產(chǎn)品識(shí)別碼設(shè)為最終使用的產(chǎn)品識(shí)別碼。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)，其特征在于，所述組件電壓讀取模塊的電壓讀取方式是直接從芯片上指定的管腳讀取寄存器的值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)，其特征在于，所述產(chǎn)品識(shí)別碼讀取模塊分別從E2R0M、FLASH兩處存儲(chǔ)設(shè)備中讀取產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)，其特征在于，所述產(chǎn)品識(shí)別碼比較模塊具體的比較算法包括判斷從E2R0M讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼與從FLASH讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼是否相等，如果相等，將所述產(chǎn)品識(shí)別碼與組件電壓進(jìn)行比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼與組件電壓一致，則將所述產(chǎn)品識(shí)別碼作為最終的所述產(chǎn)品識(shí)別碼。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)，其特征在于，所述產(chǎn)品識(shí)別碼比較模塊具體的比較算法包括判斷從E2R0M讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼1與產(chǎn)品識(shí)別碼2是否相等，如果相等，則將產(chǎn)品識(shí)別碼記為產(chǎn)品識(shí)別碼12，將產(chǎn)品識(shí)別碼12與從FLASH讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼3比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼12與產(chǎn)品識(shí)別碼3相等，則將產(chǎn)品識(shí)別碼記為產(chǎn)品識(shí)別碼123，并與組件電壓比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼123與組件電壓一致，則將所述產(chǎn)品識(shí)別碼123 作為最終的所述產(chǎn)品識(shí)別碼。
6.一種提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的方法，包括以下步驟步驟a:啟動(dòng)電視設(shè)備；步驟b 從主板讀取組件電壓值；步驟c 讀取存儲(chǔ)位置的產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)；步驟d 將產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)和組件電壓值通過比較算法進(jìn)行綜合運(yùn)算，確定正確的產(chǎn)品識(shí)別碼。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的方法，其特征在于，在所述步驟b 中，讀取組件電壓值的方式為直接從芯片上指定的管腳讀取寄存器的值。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的方法，其特征在于，在所述步驟 c與所述步驟d之間還進(jìn)一步包括根據(jù)組件電壓值判斷產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)是否合理，如果產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)不合理，依據(jù)電壓值與產(chǎn)品識(shí)別碼的對(duì)應(yīng)范圍對(duì)產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)進(jìn)行自我校驗(yàn)和糾錯(cuò)，如果產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)合理，則執(zhí)行步驟d。
9.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的方法，其特征在于，在所述步驟c中，分別從E2R0M和FLASH讀取產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)，所述步驟d的比較算法具體包括判斷從E2R0M讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼與從FLASH讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼是否相等，如果相等，將所述產(chǎn)品識(shí)別碼與組件電壓進(jìn)行比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼與組件電壓一致，則將所述產(chǎn)品識(shí)別碼作為最終的所述產(chǎn)品識(shí)別碼。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的方法，其特征在于，所述步驟d的比較算法具體包括步驟dl 判斷從E2R0M讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼1與產(chǎn)品識(shí)別碼2是否相等，如果相等，則將產(chǎn)品識(shí)別碼記為產(chǎn)品識(shí)別碼12，轉(zhuǎn)入步驟d2，如果不相等，轉(zhuǎn)入步驟d4 ；步驟d2 將產(chǎn)品識(shí)別碼12與從FLASH讀取的產(chǎn)品識(shí)別碼3比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼12與產(chǎn)品識(shí)別碼3相等，則將產(chǎn)品識(shí)別碼記為產(chǎn)品識(shí)別碼123，轉(zhuǎn)入步驟d3，如果不相等，則轉(zhuǎn)入步驟d4 ；步驟d3 將產(chǎn)品識(shí)別碼123與組件電壓比較，如果產(chǎn)品識(shí)別碼123與組件電壓一致，則將所述產(chǎn)品識(shí)別碼123作為最終的所述產(chǎn)品識(shí)別碼，如果不一致，則轉(zhuǎn)入步驟d5 ；步驟d4 產(chǎn)品識(shí)別碼1、產(chǎn)品識(shí)別碼2和產(chǎn)品識(shí)別碼3有任意兩個(gè)不相等，將三者進(jìn)行 3取2的比較，將比較的結(jié)果轉(zhuǎn)到步驟d3進(jìn)行處理；步驟d5 判斷比較路徑，如果路徑為dl d2 d3，以d3輸出的產(chǎn)品識(shí)別碼123為準(zhǔn)，同時(shí)提示組件電壓不正常，如果路徑為dl d4 d3，則將產(chǎn)品識(shí)別碼1、產(chǎn)品識(shí)別碼2、產(chǎn)品識(shí)別碼 3和組件電壓進(jìn)行四取三處理，同時(shí)提示用戶產(chǎn)品識(shí)別碼出錯(cuò)。
全文摘要
本發(fā)明屬于多媒體技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)及方法。本發(fā)明提高產(chǎn)品識(shí)別碼可靠性的系統(tǒng)包括微處理器單元、組件電壓讀取模塊、產(chǎn)品識(shí)別碼讀取模塊、產(chǎn)品識(shí)別碼比較模塊和系統(tǒng)參數(shù)配置模塊，所述組件電壓讀取模塊用于從主板讀取電壓值，產(chǎn)品識(shí)別碼讀取模塊用于讀取產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)并進(jìn)行自校驗(yàn)和糾錯(cuò)，所述產(chǎn)品識(shí)別碼比較模塊用于對(duì)獲取到的多個(gè)產(chǎn)品識(shí)別碼數(shù)據(jù)和組件電壓值通過比較算法進(jìn)行綜合運(yùn)算確定正確的產(chǎn)品識(shí)別碼，所述系統(tǒng)參數(shù)配置模塊用于將正確的產(chǎn)品識(shí)別碼設(shè)為最終使用的產(chǎn)品識(shí)別碼。本發(fā)明的有益效果在于避免product id關(guān)鍵數(shù)據(jù)丟失導(dǎo)致系統(tǒng)錯(cuò)誤和產(chǎn)品不可用，提高了產(chǎn)品的可用性和競(jìng)爭(zhēng)力。
文檔編號(hào)G06K7/00GK102467645SQ20101053384
公開日2012年5月23日 申請(qǐng)日期2010年11月4日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月4日
發(fā)明者鄒建宇 申請(qǐng)人:Tcl集團(tuán)股份有限公司, 深圳Tcl新技術(shù)有限公司