專利名稱：輸入裝置、輸入處理程序以及輸入控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及輸入裝置、輸入處理程序以及輸入控制方法。
技術(shù)背景
觸摸板已經(jīng)被當(dāng)作操作輸入裝置(例如，日本未經(jīng)審查的專利申請公開說明書第 2007-109082號)。觸摸板是一種輸入裝置，其被配置為檢測手指等是否接觸操作屏，并輸 出坐標(biāo)數(shù)據(jù)。觸摸板可以放置在顯示裝置(例如，包括液晶顯示器(LCD))上。
電容檢測方法被作為一種適用于觸摸板檢測所述接觸的檢測方法。使用電容檢測 方法的觸摸板包括設(shè)置在觸摸板的操作屏上的多個(gè)電極，以便檢測電容的變化，其中，由于 手指等接觸操作屏而導(dǎo)致所述變化。
根據(jù)使用電容檢測方法的觸摸板，檢測到電容變化，其中，由于手指等接觸操作屏 而導(dǎo)致所述變化。然而，由于觸摸板電極部分的配置變化也會導(dǎo)致電容變化。結(jié)果，當(dāng)由于 觸摸板電極部分的配置變化所導(dǎo)致的電容的變化量超過閾值時(shí)，出現(xiàn)錯誤輸入，因此，即使 實(shí)際上沒有接受操作輸入，但是，仍然確定出現(xiàn)操作輸入。當(dāng)用戶按壓操作屏的力量比所需 要的力量更大時(shí)，或者，當(dāng)壓力是施加在觸摸板的框架上時(shí)，出現(xiàn)所述觸摸板電極部分的配 置變化。
將參照附圖來說明針對觸摸板所出現(xiàn)的錯誤輸入。圖IOA和IOB中的每一個(gè)圖示 出電極如何被設(shè)置在觸摸板上。如圖IOA和IOB中的每一個(gè)圖所示，觸摸板P2放置在液晶 顯示器Pl上。觸摸板P2包括十個(gè)電極Xl至X10，其設(shè)置在X坐標(biāo)軸方向上；以及十四個(gè) 電極Yl至Y14，其設(shè)置在Y坐標(biāo)軸方向上。
當(dāng)用戶的手指與觸摸板P2接觸時(shí)，可以基于電極Xl至XlO以及電極Yl至Y14中 的每一個(gè)電極的電容分布的變化來確定用戶手指接觸位置的坐標(biāo)。此外，可以通過重復(fù)地 測量電極Xl至Xio以及電極Yl至Y14中的每一個(gè)電極的電容分布來檢測手指接觸位置的 移動。根據(jù)圖IOA和IOB中的每一個(gè)圖中所示的示例，手指降低速度在向下的方向上移動， 并且，在液晶顯示器Pl上顯示手指移動的軌跡。圖IOB示意性示出手指移動的軌跡，檢測 出的在圖IOA所示的示例中的手指接觸位置被示出為記號“0”。
圖11是觸摸板輸入裝置的截面圖，圖12A和圖12B中的每一個(gè)是觸摸板電極的電 路圖。觸摸板依次包括在X坐標(biāo)軸方向(X)設(shè)置的觸摸板電極、在Y坐標(biāo)軸方向(Y)設(shè)置 的觸摸板電極、以及在LCD上放置的覆蓋板，這意味著在觸摸板和LCD之間提供了空間。這 里，LCD接地，從而得到GND電位。
圖11所示的X電極寄生電容Cl是在作為地的IXD和在X軸側(cè)設(shè)置的電極Xl至 XlO之間出現(xiàn)的電容。類似地，Y電極寄生電容C2是在IXD和在Y軸側(cè)設(shè)置的電極Yl至 Y14之間出現(xiàn)的電容。此外，圖11所示的XY電極間電容C3是在X軸側(cè)設(shè)置的電極Xl至 XlO和在Y軸側(cè)設(shè)置的電極Yl至Y14之間出現(xiàn)的電容。此外，手指電容Cf是在X軸側(cè)設(shè)置 的電極Xl至XlO和手指之間出現(xiàn)的電容。
如圖12A和圖12B的電路圖所示，觸摸板被配置為使得在Y軸側(cè)設(shè)置的電極Yl至Y14中的每一個(gè)都作為地，用來測量在X軸側(cè)設(shè)置的電極Xl至XlO的電容。此外，當(dāng)測量在 X軸側(cè)設(shè)置的電極Xl至Xio的電容時(shí)，觸摸板針對電極Xl至XlO中的每一個(gè)來測量X電極 寄生電容Cl、XY電極間電容C3以及手指電容Cf的組合電容。此外，當(dāng)測量在Y軸側(cè)設(shè)置 的電極Yi至Y14的電容時(shí)，觸摸板被配置為在X軸側(cè)設(shè)置的電極Xl至XlO接地，并且針對 電極Yl至Y14中的每一個(gè)來測量Y電極寄生電容C2、XY電極間電容C3以及手指電容Cf 的組合電容。然后，觸摸板針對每個(gè)所測量的電容值來執(zhí)行模擬-數(shù)字(A/D)轉(zhuǎn)換，并確定 手指接觸觸摸板的坐標(biāo)。發(fā)明內(nèi)容
本文討論的實(shí)施方式的一個(gè)方面提供了一種輸入裝置，該輸入裝置包括測量來 自觸摸板上設(shè)置的多個(gè)電極的電容；基于所述電極的所述電容的所述測量結(jié)果的分布來確 定所述觸摸板中是否出現(xiàn)了變形；基于所述電容測量結(jié)果分布來輸出所述觸摸板操作輸入 的坐標(biāo)數(shù)據(jù)；并且，當(dāng)所述確定步驟確定存在所述變形時(shí)，停止所述輸出所述坐標(biāo)數(shù)據(jù)的步馬聚ο
將通過權(quán)利要求中特別指出的那些特征、元件和組合來實(shí)現(xiàn)和達(dá)到本發(fā)明的目的 和優(yōu)勢。
應(yīng)當(dāng)理解，以上一般性說明和隨后的詳細(xì)說明都是示例性和解釋性的，不用來限 制所要求的本發(fā)明。


圖1是示出根據(jù)第一實(shí)施方式的示例性輸入裝置的框圖2示出根據(jù)第二實(shí)施方式的終端裝置的示例性構(gòu)造；
圖3示出觸摸板的示例性電極；
圖4是示出根據(jù)第二實(shí)施方式的示例性觸摸輸入-功能單元的框圖5示出了通過電容檢測單元測量的示例性電容；
圖6A示出了為計(jì)算電容的重心坐標(biāo)而執(zhí)行的示例性處理；
圖6B示出為計(jì)算不同電容的重心坐標(biāo)而執(zhí)行的示例性處理；
圖7A示出了示例性變形確定；
圖7B也示出示例性變形確定；
圖8是示出了通過根據(jù)第二實(shí)施方式的終端裝置執(zhí)行的處理過程的示例性流程 的流程圖9示出了執(zhí)行控制程序的示例性計(jì)算機(jī)；
圖IOA示出了相關(guān)技術(shù)中的觸摸板的電極的示例性設(shè)置；
圖IOB也示出了相關(guān)技術(shù)中的觸摸板的電極的示例性設(shè)置；
圖11是相關(guān)技術(shù)中的示例性觸摸板電極的截面圖12A是相關(guān)技術(shù)中的觸摸板電極的示例性電路圖12B是相關(guān)技術(shù)中的觸摸板電極的另一個(gè)示例性電路圖13示出了相關(guān)技術(shù)中在X軸方向出現(xiàn)的電容的示例性測量結(jié)果；
圖14示出相關(guān)技術(shù)中在觸摸板中出現(xiàn)的示例性變形；
圖15A示出了相關(guān)技術(shù)中在觸摸板的框架中出現(xiàn)的示例性變形；
圖15B也示出了相關(guān)技術(shù)中在觸摸板的框架中出現(xiàn)的示例性變形；
圖15C也示出了相關(guān)技術(shù)中在觸摸板的框架中出現(xiàn)的示例性變形；
圖16A示出了相關(guān)技術(shù)中的示例性變形檢測；
圖16B也示出了相關(guān)技術(shù)中的示例性變形檢測；
圖17A示出了在相關(guān)技術(shù)的操作期間出現(xiàn)的變形所導(dǎo)致的示例性數(shù)據(jù)損失；
圖17B也示出了在相關(guān)技術(shù)的操作期間出現(xiàn)的變形所導(dǎo)致的示例性數(shù)據(jù)損失；以 及
圖17C也示出了在相關(guān)技術(shù)的操作期間出現(xiàn)的變形所導(dǎo)致的示例性數(shù)據(jù)損失。
具體實(shí)施方式
圖13示出了由于手指等接觸觸摸板所導(dǎo)致的在X軸方向上出現(xiàn)的電容的測量結(jié) 果。如圖13所示，觸摸板可以計(jì)算所測量出的電極Xl至XlO的電容的分布。觸摸板將電 容的最大值與給定的測量閾值進(jìn)行比較。當(dāng)最大值比測量閾值更大時(shí)，觸摸板確定用戶的 手指與觸摸板接觸。在此情況下，觸摸板可以計(jì)算所測量出的電極Xi至XlO的電容的分布 的重心，并將計(jì)算得到的重心確定為接觸位置的X坐標(biāo)。類似地，觸摸板可以基于所測量出 的電極Yl至Y14的電容的分布來計(jì)算接觸位置的Y坐標(biāo)。
圖14示出了在觸摸板中出現(xiàn)的變形。當(dāng)在觸摸板的操作屏和/或框架上施加壓 力時(shí)，在觸摸板中出現(xiàn)變形，并且電極和LCD之間的距離減小。當(dāng)距離以此方式減小時(shí)，X電 極寄生電容Cl和Y電極寄生電容C2中的每一個(gè)的數(shù)值都增加。
圖15A、15B和15C中的每一個(gè)示出了由于觸摸板的框架中出現(xiàn)的變形而出現(xiàn)的錯 誤輸入。當(dāng)觸摸板P2的框架被用力按下時(shí)，液晶顯示器Pl和觸摸板P2之間的距離A減小， 在附近的電極中出現(xiàn)變形，從而如圖15A至15C中的每一個(gè)所示，電容值增加。如果作為按 壓的結(jié)果，在X坐標(biāo)軸側(cè)設(shè)置的電極Xl至XlO的電容分布值超出測量閾值，則作出了手指 接觸觸摸板P2的錯誤確定，并且，即使手指沒有接觸觸摸板P2，也輸出電容分布的重心數(shù) 據(jù)作為接觸位置數(shù)據(jù)。圖15B示出記號“0”，作為在圖15A和15C中的每一個(gè)所示的示例中 錯誤檢測的手指接觸位置。
當(dāng)增加被提供用來確定是否存在接觸的閾值以避免由于觸摸板中出現(xiàn)的變形所 導(dǎo)致的錯誤輸入時(shí)，觸摸板的敏感度降低。根據(jù)如下實(shí)施方式的裝置可以基于電容分布來 檢測觸摸板中是否出現(xiàn)變形，并且當(dāng)觸摸板中出現(xiàn)變形時(shí)，可以取消接觸位置計(jì)算。
圖16A和圖16B中的每一個(gè)示出了變形檢測。除了被提供用來檢測接觸的測量閾 值之外，觸摸板還具有被提供用來執(zhí)行變形檢測的變形閾值。觸摸板計(jì)算所輸出的電容的 值超出變形閾值的電極的個(gè)數(shù)。當(dāng)計(jì)算結(jié)果的值大值等于和/或大于變形閾值時(shí)，確定觸 摸板中出現(xiàn)變形，并且取消接觸位置的計(jì)算。
手指與觸摸板的接觸導(dǎo)致在手指附近位置配置的電極的電容較大，而在遠(yuǎn)離手指 的位置配置的電極的電容較小，從而得到具有尖銳的峰值的電容分布。當(dāng)在觸摸板中出現(xiàn) 變形時(shí)，各個(gè)觸摸板電極的電容增加，從而得到具有柔和峰值的電容分布。
例如，假設(shè)當(dāng)由至少五個(gè)電極產(chǎn)生的電容輸出的數(shù)值大于變形閾值時(shí)，觸摸板確 定出現(xiàn)變形。根據(jù)圖16A所示的示例，輸出值大于變形閾值的電容的個(gè)數(shù)是三個(gè)。因此，觸摸板確定沒有出現(xiàn)變形，并確定接觸位置。另一方面，根據(jù)圖16B所示的示例，輸出值大于 變形閾值的電容個(gè)數(shù)是十個(gè)，從而觸摸板確定出現(xiàn)變形，并取消接觸位置確定。
因此，根據(jù)設(shè)置變形閾值并檢測觸摸板中出現(xiàn)的變形的方法，當(dāng)預(yù)定數(shù)量個(gè)電容 值大于變形閾值時(shí)，取消接觸位置計(jì)算。此外，當(dāng)用戶使勁按壓觸摸板的操作屏?xí)r，在操作 位置處的以及操作位置附近的觸摸板電極中出現(xiàn)變形。于是，會測量出具有柔和峰值的電 容的分布。如果在上述情況下取消接觸位置測量，當(dāng)用戶在觸摸板使用和操作期間用力按 壓觸摸板時(shí)，可能損失數(shù)據(jù)。
圖17A、17B和17C中的每一個(gè)示出了由于操作期間出現(xiàn)的變形所導(dǎo)致的數(shù)據(jù)損 失。如圖17A、17B和17C所示，當(dāng)用戶在操作期間用力按壓觸摸板的操作屏?xí)r，得到具有柔 和峰值的電容分布。根據(jù)圖17A、17B和17C所示的示例，在用戶執(zhí)行操作的范圍B中出現(xiàn) 變形，范圍B被限定在觸摸板上。結(jié)果，液晶顯示器Pl很難使用在與操作范圍B相對應(yīng)的 顯示范圍C中從用戶發(fā)送來的數(shù)據(jù)。因此，當(dāng)響應(yīng)于變形檢測取消了輸入時(shí)，在操作期間被 用戶用力按壓的范圍中可能出現(xiàn)信息損失。以下公開的輸入裝置、輸入處理程序和輸入控 制方法中的每一個(gè)實(shí)現(xiàn)了即使操作期間出現(xiàn)變形也會降低信息損失，并且輸出接觸坐標(biāo)。
以下，將參照附圖來說明有關(guān)于本申請的輸入裝置、輸入處理程序和輸入控制方 法。
以下，將說明根據(jù)第一實(shí)施方式的示例性輸入裝置。輸入裝置可以被并入包括便 攜式終端、移動終端、固定終端等的終端裝置，并且可以被并入包括例如觸摸板的終端裝 置。例如，根據(jù)第一實(shí)施方式的輸入裝置測量觸摸板各個(gè)電極和用戶的手指之間出現(xiàn)的電 容，并基于所測量的電容向終端裝置的主CPU輸出接觸位置信息。
首先，將參照圖1的框圖來說明根據(jù)第一實(shí)施方式的示例性輸入裝置和通過所述 示例性輸入裝置執(zhí)行的處理。
輸入裝置1包括電容測量單元2、連續(xù)性確定單元3、變形確定單元4和坐標(biāo)輸出 單元5。電容測量單元2測量觸摸板上配備的各個(gè)電極的電容。連續(xù)性確定單元3確定觸 摸板的操作輸入是否具有連續(xù)性。
當(dāng)連續(xù)性確定單元3確定不存在連續(xù)性時(shí)，變形確定單元4基于電極的電容測量 結(jié)果的分布來確定觸摸板中是否出現(xiàn)變形。坐標(biāo)輸出單元5基于上述電容測量結(jié)果分布來 輸出觸摸板的各操作輸入的坐標(biāo)的數(shù)據(jù)。然后，當(dāng)由變形確定單元4確定存在變形時(shí)，坐標(biāo) 輸出單元5停止輸出坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
從而，在輸入裝置1中，當(dāng)確定連續(xù)的按下計(jì)數(shù)值(touchdown count)大于給定的 接觸閾值時(shí)，確定用戶在觸摸板的框架內(nèi)部用力地并且連續(xù)地觸摸所述觸摸板，并且取消 變形確定處理。結(jié)果，輸入裝置1可以有效減少當(dāng)用戶用力按壓觸摸板時(shí)在終端裝置中出 現(xiàn)的信息損失。稍后將進(jìn)一步說明該連續(xù)的按下計(jì)數(shù)。
以下，將參照圖2來說明根據(jù)第二實(shí)施方式的終端裝置100的示例性構(gòu)造。在以 下說明中，上述終端裝置100作為便攜式電話終端裝置的示例。
首先，將參照圖2來說明終端裝置100的各個(gè)組件。如圖2所示，終端裝置100包 括觸摸輸入-功能單元10、觸摸板11、外部接口(I/F)31、按鍵輸入-功能單元32、系統(tǒng)功率 單元33、主中央處理單元(CPU) 34和傳感器控制單元35。終端裝置100還包括磁加速傳感 器36、語音控制單元37、揚(yáng)聲器(SP) 38、麥克風(fēng)(MIC) 39、存儲器40、顯示單元41、射頻(RF)控制單元42和天線43。
外部I/F 31控制與終端裝置100和外部裝置之間交換的各類信息相關(guān)的通信。 按鍵輸入-功能單元32接受通過按鍵(未示出)發(fā)送的信息，并向主CPU 34通知該信息。 系統(tǒng)功率單元33向各個(gè)組件傳送電力。
主CPU 34管理在終端裝置100中執(zhí)行的處理。傳感器控制單元35控制磁加速傳 感器36。磁加速傳感器36通過使用磁性測量終端裝置100的加速度。語音控制單元37控 制MIC 39和SP 38。MIC 39接受向其發(fā)送的語音信息，并向語音控制單元37通知該信息。
SP 38輸出從語音控制單元37發(fā)送的語音信息。存儲器40存儲數(shù)據(jù)和程序，該程 序適于執(zhí)行由主CPU 34執(zhí)行的各類處理。顯示單元41包括液晶顯示器(LCD)，以便顯示從 主CPU 34發(fā)送的圖像信息。RF控制單元42對向天線43發(fā)送的信號進(jìn)行轉(zhuǎn)換，并向主CPU 34通知該信號。天線43向外部設(shè)備發(fā)送無線電波和/或從外部設(shè)備接收無線電波。
觸摸板11是配備了多個(gè)電極的面板。更具體地說，觸摸板11配置在顯示單元41 的表面上，其包括以柵格形式設(shè)置的多個(gè)透明的電極。這里，將參照圖3來詳細(xì)說明觸摸板 11的電極的示例性設(shè)置。圖3示出了觸摸板11的電極。例如，如圖3所示，觸摸板11包括 在顯示單元41的X軸方向上以規(guī)則間隔設(shè)置的透明電極Xl至X10。此外，觸摸板11包括 在顯示單元41的Y軸方向上以規(guī)則間隔設(shè)置的透明電極Yl至Y14。
觸摸輸入功能單元10確定用戶的手指接觸觸摸板11的接觸位置，并向主CPU 34 輸出有關(guān)于所述接觸位置的信息。更具體地說，觸摸輸入-功能單元10測量觸摸板11的 各個(gè)電極和用戶的手指之間出現(xiàn)的電容，并基于所測量出的電容向主CPU 34輸出所述接 觸位置信息。
這里，將參照圖4的框圖來詳細(xì)說明根據(jù)第二實(shí)施方式的觸摸輸入功能單元10的 構(gòu)造。觸摸輸入功能單元10包括電極掃描開關(guān)12、電容測量單元13、模擬-數(shù)字(A/D)轉(zhuǎn) 換單元14和觸摸控制CPU 15。以下，將說明上述各個(gè)組件的處理。這里，觸摸輸入功能單 元10經(jīng)由電極掃描開關(guān)12連接到觸摸板11，并且經(jīng)由輸出I/F單元20連接到主CPU 34。
電極掃描開關(guān)12在測量電容的多個(gè)電極之間切換。例如，在電極掃描開關(guān)12沒 有通過XY掃描選擇單元21得到軸方向的通知時(shí)，電極掃描開關(guān)12將在軸的方向上設(shè)置的 各個(gè)電極確定為地。此外，在電極掃描開關(guān)12通過XY掃描選擇單元21得到軸的方向的通 知時(shí)，電極掃描開關(guān)12向在軸的方向上設(shè)置的各個(gè)電極施加電壓。
例如，在得到由XY掃描選擇單元21通知測量X軸方向上出現(xiàn)的電容的事實(shí)時(shí)，電 極掃描開關(guān)12確定在Y軸方向上設(shè)置的電極Yl至Y14中的每一個(gè)為地，并且依次向電極 Xl至XlO中的每一個(gè)施加給定的電壓。在得到由XY掃描選擇單元21測量Y軸方向上出現(xiàn) 的電容的事實(shí)的通知時(shí)，電極掃描開關(guān)12確定在X軸方向上設(shè)置的電極Xl至XlO中的每 一個(gè)為地，并且依次向電極Yl至Y14中的每一個(gè)施加給定的電壓。
電容測量單元13測量來自觸摸板11上設(shè)置的各個(gè)電極的電容。這里，將參照圖 5來詳細(xì)說明通過電容測量單元13執(zhí)行的、用來測量來自各個(gè)電極的電容的處理。圖5示 出了電容測量單元13測量的電容。
如圖5所示，終端裝置100包括地(GND)、在X軸方向上設(shè)置的電極(在圖5中用 觸摸電極⑴示出)、在Y軸方向上設(shè)置的電極(在圖5中用觸摸電極⑴示出)以及覆蓋 板，其中，在GND和X軸方向設(shè)置的多個(gè)電極(X)之間提供有空間。
然后，電容測量單元13測量X電極寄生電容Cl和Y電極寄生電容C2，其中，如圖 5所示，X電極寄生電容Cl是在X軸方向設(shè)置的各個(gè)電極和IXD 41之間出現(xiàn)的電容，Y電 極寄生電容C2是在Y軸方向上設(shè)置的各個(gè)電極和LCD 41之間出現(xiàn)的電容。此外，電容測 量單元13測量XY電極間電容C3和手指電容Cf，其中，XY電極間電容C3是在X軸方向上 設(shè)置的電極和在Y軸方向上設(shè)置的電極之間出現(xiàn)的電容，而手指電容Cf是要被電容測量的 電極和手指之間出現(xiàn)的電容。此外，符號GND表示地。
當(dāng)測量來自在X軸方向上設(shè)置的各個(gè)電極的電容時(shí)，電容測量單元13將在Y 軸方向上設(shè)置的各個(gè)電極確定為地，測量電容Cl、C3和Cf，并計(jì)算所測量的電容值之和 (Cl+C3+Cf)。此外，當(dāng)測量在Y軸方向上設(shè)置的各個(gè)電極Yl至Y14的電容時(shí)，電容測量單 元13將在X軸方向上設(shè)置的各個(gè)電極Xl至XlO確定為地，測量電容C2、C3和Cf，并計(jì)算 所測量的電容值之和(C2+C3+Cf)。
例如，當(dāng)用戶在操作期間用力按壓觸摸板11時(shí)，電容測量單元13測量顯示出尖銳 峰值的電容，其中，所述尖銳峰值的中心對應(yīng)于手指接觸觸摸板11的位置，并且測量顯示 出柔和峰值的電容。A/D轉(zhuǎn)換單元14將從電容測量單元13發(fā)送來的電容值的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為 數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，并向觸摸控制CPU 15發(fā)送該數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
如圖4所示，觸摸控制CPU 15包括各電極輸出檢測單元16(連續(xù)性確定單元)、重 心計(jì)算單元17、變形確定單元18、錯誤數(shù)據(jù)取消單元19、輸出I/F單元20和XY掃描選擇單 元21。以下，將說明上述各個(gè)單元執(zhí)行的處理。
各電極輸出檢測單元16確定觸摸板11上的操作輸入是否具有連續(xù)性。例如，各 電極輸出檢測單元16具有指示觸摸板11接觸對象的位置的數(shù)據(jù)的連續(xù)輸出次數(shù)的連續(xù)按 下計(jì)數(shù)的數(shù)據(jù)。在接收從A/D轉(zhuǎn)換單元14發(fā)送的數(shù)字化電容值數(shù)據(jù)時(shí)，電極輸出檢測單元 16將所發(fā)送的數(shù)字化電容值數(shù)據(jù)的最大值與給定的測量閾值進(jìn)行比較。
當(dāng)基于比較結(jié)果確定所發(fā)送的電容值數(shù)據(jù)的最大值小于給定的測量閾值時(shí)，電極 輸出檢測單元16丟棄所述電容數(shù)據(jù)，并將連續(xù)按下計(jì)數(shù)的數(shù)值改變?yōu)椤?”。當(dāng)確定所發(fā)送 的電容值數(shù)據(jù)的最大值大于給定的測量閾值并且連續(xù)按下計(jì)數(shù)值小于給定的接觸閾值時(shí)， 電極輸出檢測單元16向重心計(jì)算單元17和變形確定單元18中的每一個(gè)發(fā)送各個(gè)電容值 的數(shù)據(jù)。
當(dāng)確定所發(fā)送的電容值數(shù)據(jù)的最大值大于給定的測量閾值并且連續(xù)按下計(jì)數(shù)值 大于給定的接觸閾值時(shí)，電極輸出檢測單元16向重心計(jì)算單元17發(fā)送各個(gè)電容值的數(shù)據(jù)。 在接收到從錯誤數(shù)據(jù)取消單元19發(fā)送的、指示接觸坐標(biāo)輸出(稍后將說明)的信息時(shí)，各 電極輸出檢測單元16將連續(xù)按下計(jì)數(shù)值加“1”。
以下，將詳細(xì)說明各電極輸出檢測單元16執(zhí)行的處理。當(dāng)向終端裝置100供電時(shí)， 各電極輸出檢測單元16將連續(xù)按下計(jì)數(shù)初始化為“0”。
在接收到從A/D轉(zhuǎn)換單元14發(fā)送的數(shù)字化的電容值數(shù)據(jù)時(shí)，各電極輸出檢測單元 16對所發(fā)送的數(shù)字化電容值數(shù)據(jù)的最大值和給定的測量閾值進(jìn)行比較。例如，在接收到各 個(gè)電極Xl至XlO的測量電容值數(shù)據(jù)時(shí)，各電極輸出檢測單元16確定所接收的電容值數(shù)據(jù) 的最大值是否大于給定的測量閾值。
當(dāng)比較結(jié)果表明所接收的電容值數(shù)據(jù)的最大值大致等于和/或小于給定的測量 閾值時(shí)，各電極輸出檢測單元16丟棄所接收的電容值數(shù)據(jù)，并將連續(xù)按下計(jì)數(shù)改變?yōu)椤?”。例如，當(dāng)測量閾值是“30”并且所接收的電容值數(shù)據(jù)的最大值是“20”時(shí)，各電極輸出檢測單 元16丟棄所接收的電容值數(shù)據(jù)，并將連續(xù)按下計(jì)數(shù)值改變?yōu)椤?”。
當(dāng)確定所接收到的電容值數(shù)據(jù)的最大值大于給定的測量閾值時(shí)，各電極輸出檢測 單元16確定連續(xù)按下計(jì)數(shù)值是否大于給定的接觸閾值。當(dāng)確定結(jié)果表明連續(xù)按下計(jì)數(shù)值 大致等于和/或小于給定的接觸閾值時(shí)，各電極輸出檢測單元16向重心計(jì)算單元17和變 形確定單元18中的每一個(gè)發(fā)送各個(gè)電容值數(shù)據(jù)。
此外，當(dāng)確定連續(xù)按下計(jì)數(shù)值大于給定的接觸閾值時(shí)，各電極輸出檢測單元16向 重心計(jì)算單元17發(fā)送各個(gè)電容值數(shù)據(jù)。也就是說，當(dāng)確定連續(xù)按下計(jì)數(shù)值大于給定的接觸 閾值時(shí)，各電極輸出檢測單元16確定用戶在觸摸板11的框架內(nèi)部用力地、連續(xù)地觸摸所述 觸摸板11，并取消變形確定處理。結(jié)果，即使在操作期間出現(xiàn)變形，仍然可以減小由變形確 定處理所導(dǎo)致的數(shù)據(jù)損失，并輸出操作輸入的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
此外，在接收到從錯誤數(shù)據(jù)取消單元19 (稍后將說明)發(fā)送的指示輸出接觸坐標(biāo) 數(shù)據(jù)的信息時(shí)，各電極輸出檢測單元16將連續(xù)按下計(jì)數(shù)值加“1”。例如，當(dāng)連續(xù)按下計(jì)數(shù)值 是“3”并且從錯誤數(shù)據(jù)取消單元19向各電極輸出檢測單元16發(fā)送了指示輸出接觸坐標(biāo)數(shù) 據(jù)(稍后將說明)的信息時(shí)，各電極輸出檢測單元16將連續(xù)按下計(jì)數(shù)改變?yōu)椤?”。
當(dāng)電容測量單元13測量出的電容的最大值大于給定的測量閾值時(shí)，重心計(jì)算單 元17基于所述電容來計(jì)算電容的重心坐標(biāo)。更具體地說，在接收到從各電極輸出檢測單元 16發(fā)送的各個(gè)電容值數(shù)據(jù)時(shí)，重心計(jì)算單元17基于所發(fā)送來的數(shù)據(jù)計(jì)算與電容相關(guān)的重 心坐標(biāo)，其中，所發(fā)送來的數(shù)據(jù)指示在各個(gè)軸方向上出現(xiàn)的電容的數(shù)值。當(dāng)計(jì)算出了與電容 相關(guān)的重心坐標(biāo)時(shí)，重心計(jì)算單元17向錯誤數(shù)據(jù)取消單元19發(fā)送指示所計(jì)算出的與電容 相關(guān)的重心坐標(biāo)的信息。
以下，將詳細(xì)說明由重心計(jì)算單元17執(zhí)行的處理。首先，在接收到從各電極輸出 檢測單元16發(fā)送的各個(gè)電容值數(shù)據(jù)時(shí)，重心計(jì)算單元17基于所發(fā)送來的數(shù)據(jù)計(jì)算與電容 相關(guān)的重心坐標(biāo)，其中，所發(fā)送來的數(shù)據(jù)指示在各個(gè)軸方向上出現(xiàn)的電容的數(shù)值。例如，在 接收到X軸方向上設(shè)置的各個(gè)電極的電容數(shù)據(jù)時(shí)(其中，從各電極輸出檢測單元16發(fā)送所 述電容數(shù)據(jù))，重心計(jì)算單元17計(jì)算在X軸方向上設(shè)置的電極的電容分布的重心，作為接觸 位置的坐標(biāo)。
這里，將參照圖6A和圖6B來說明用來計(jì)算在X軸方向和Y軸方向的每一個(gè)方向 上出現(xiàn)的電容的重心坐標(biāo)所執(zhí)行的處理。圖6A和6B中的每一個(gè)圖示出了怎樣計(jì)算電容的 重心坐標(biāo)。圖6A示出了在X軸方向上設(shè)置的電極Xl至XlO的位置的示例性曲線圖，其中， 沿著水平軸方向示出位置，沿著垂直軸方向示出電極Xl至XlO的電容值。此外，圖6B示出 在Y軸方向上設(shè)置的電極Yl至Y14的位置的示例性曲線圖，其中，沿著水平軸方向示出位 置，沿著垂直軸方向示出電極Yl至Y14的電容值。
例如，當(dāng)計(jì)算沿著X軸方向出現(xiàn)的電容的重心坐標(biāo)時(shí)，重心計(jì)算單元17計(jì)算接近 電容值的正態(tài)分布函數(shù)。然后，重心計(jì)算單元17計(jì)算與由所計(jì)算出的正態(tài)分布函數(shù)所示的 電容最大值相對應(yīng)的點(diǎn)的水平坐標(biāo)，并將所計(jì)算出的坐標(biāo)確定為沿著X軸方向出現(xiàn)的電容 的重心坐標(biāo)。根據(jù)圖6A所示的曲線圖，重心計(jì)算單元17計(jì)算使所計(jì)算出的正態(tài)分布函數(shù) 最大的點(diǎn)“Tx”的水平坐標(biāo)“6. 45”，作為在X軸方向上出現(xiàn)的電容的重心坐標(biāo)。類似地，根 據(jù)圖6Β所示的曲線圖，重心計(jì)算單元17計(jì)算在Y軸方向出現(xiàn)的電容的重心坐標(biāo)“7. 45”。
當(dāng)確定不存在連續(xù)性時(shí)，變形確定單元18基于電極的電容測量結(jié)果的分布來確 定觸摸板11中有沒有出現(xiàn)變形。例如，在接收到多個(gè)電容值數(shù)據(jù)時(shí)，變形確定單元18將低 于測量閾值的變形閾值與所發(fā)送的電容數(shù)據(jù)值進(jìn)行比較，并確定電容值大于變形閾值的電 容的個(gè)數(shù)。
如果確定結(jié)果表明電容值大于變形閾值的電容個(gè)數(shù)大于給定數(shù)，則變形確定單元 18確定在觸摸板11中出現(xiàn)變形，并向錯誤數(shù)據(jù)取消單元19發(fā)送指示在觸摸板11中出現(xiàn)變 形的信息。此外，當(dāng)各電極輸出檢測單元16確定觸摸板11連續(xù)地接觸物體時(shí)，則變形確定 單元18丟棄電容值數(shù)據(jù)，而不向錯誤數(shù)據(jù)取消單元19發(fā)送電容值數(shù)據(jù)。
這里，將參照圖7A和7B來詳細(xì)說明由變形確定單元18執(zhí)行的將所發(fā)送的電容數(shù) 據(jù)值與變形閾值進(jìn)行比較的處理。圖7A和7B中的每一個(gè)都示出了變形確定。根據(jù)圖7A 和7B中的每一個(gè)所示的示例，變形確定單元18存儲數(shù)據(jù)“25”作為變形閾值，并存儲數(shù)據(jù) “35”作為測量閾值。
當(dāng)用戶手指接觸觸摸板11時(shí)，如圖7A所示，隨著電極和手指之間的距離下降，電 容Cf增加，從而終端裝置100測量顯示出尖銳峰值的電容。此外，當(dāng)用戶的手指用力地、連 續(xù)地按壓觸摸板11而使得觸摸板11中出現(xiàn)變形時(shí)，如圖7B所示，各個(gè)電極的寄生電容Cl 和C2增加，從而各個(gè)電極的電容增加。于是，終端裝置100測量出顯示出柔和峰值的電容。
根據(jù)圖7A所示的示例，變形確定單元18將變形閾值與發(fā)送到變形確定單元18的 各個(gè)電容數(shù)據(jù)值進(jìn)行比較，并確定測量出了電容值大于變形閾值的三個(gè)電容。此外，根據(jù)圖 7B所示的示例，變形確定單元18將變形閾值與發(fā)送到變形確定單元18的各個(gè)電容數(shù)據(jù)值 進(jìn)行比較，并確定測量出了電容值大于變形閾值的10個(gè)電容。之后，當(dāng)確定出電容值大于 變形閾值的電容個(gè)數(shù)大于給定數(shù)時(shí)，變形確定單元18確定在觸摸板11中出現(xiàn)變形，并向錯 誤數(shù)據(jù)取消單元19發(fā)送指示在觸摸板11中出現(xiàn)變形的信息。
錯誤數(shù)據(jù)取消單元19基于多個(gè)電極的電容測量結(jié)果的分布來輸出觸摸板11的操 作輸入的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。此外，在確定出存在變形時(shí)，錯誤數(shù)據(jù)取消單元19停止輸出坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
例如，當(dāng)變形確定單元18確定出在觸摸板11中出現(xiàn)變形時(shí)，錯誤數(shù)據(jù)取消單元19 不輸出重心計(jì)算單元17計(jì)算出來的重心坐標(biāo)的數(shù)據(jù)。當(dāng)變形確定單元18確定在觸摸板11 中沒有出現(xiàn)變形時(shí)，錯誤數(shù)據(jù)取消單元19輸出重心計(jì)算單元17計(jì)算出來的重心坐標(biāo)的數(shù) 據(jù)。當(dāng)各電極輸出檢測單元16確定觸摸板11連續(xù)地接觸物體時(shí)，錯誤數(shù)據(jù)取消單元19輸 出重心計(jì)算單元17計(jì)算出來的重心坐標(biāo)的數(shù)據(jù)。
例如，錯誤數(shù)據(jù)取消單元19接收從重心計(jì)算單元17發(fā)送的、指示與X軸方向和Y 軸方向相對應(yīng)的重心坐標(biāo)的信息。然后，在接收到從變形確定單元18發(fā)送的指示觸摸板11 中出現(xiàn)變形的信息時(shí)，在接收與X軸方向和Y軸方向中的每一個(gè)相對應(yīng)的重心坐標(biāo)的給定 時(shí)間之內(nèi)，錯誤數(shù)據(jù)取消單元19丟棄所接收的指示與各個(gè)軸方向相對應(yīng)的重心坐標(biāo)的信 息，而不發(fā)送上述所接收的信息。
另一方面，當(dāng)錯誤數(shù)據(jù)取消單元19在接收到了指示與各個(gè)軸方向相對應(yīng)的重心 坐標(biāo)的信息的給定時(shí)間之內(nèi)未接收到指示在觸摸板11中出現(xiàn)變形的信息時(shí)，錯誤數(shù)據(jù)取 消單元19向輸出I/F單元20發(fā)送所接收的、指示與各個(gè)軸方向相對應(yīng)的重心坐標(biāo)的信息， 作為接觸位置的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。然后，當(dāng)向輸出I/F單元20發(fā)送所接收的、指示與各個(gè)軸方向 相對應(yīng)的重心坐標(biāo)的信息作為接觸位置的坐標(biāo)數(shù)據(jù)時(shí)，錯誤數(shù)據(jù)取消單元19向各電極輸出檢測單元16發(fā)送指示輸出了接觸坐標(biāo)數(shù)據(jù)的信息。
此外，當(dāng)錯誤數(shù)據(jù)取消單元19在接收到指示與各個(gè)軸方向相對應(yīng)的重心坐標(biāo)的 信息的給定時(shí)間之內(nèi)未接收到指示在觸摸板11中出現(xiàn)變形的信息時(shí)，錯誤數(shù)據(jù)取消單元 19向輸出I/F單元20發(fā)送所接收的、指示與各個(gè)軸方向相對應(yīng)的重心坐標(biāo)的信息，作為接 觸位置的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
例如，在接收到指示重心坐標(biāo)的信息之后的“ 1毫秒”期滿之前接收到指示在觸摸 板11中出現(xiàn)變形的信息時(shí)，錯誤數(shù)據(jù)取消單元19丟棄所接收的重心坐標(biāo)信息，不發(fā)送上述 所接收的信息。此外，當(dāng)錯誤數(shù)據(jù)取消單元19在接收到指示重心坐標(biāo)的信息之后的“1毫 秒”期滿之前未接收到指示在觸摸板11中出現(xiàn)變形的信息時(shí)，錯誤數(shù)據(jù)取消單元19向輸出 I/F單元四發(fā)送所接收的、指示重心坐標(biāo)的信息，作為接觸位置的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
也就是說，當(dāng)各電極輸出檢測單元16確定觸摸板11連續(xù)地接觸物體時(shí)，錯誤數(shù)據(jù) 取消單元19不接收指示在觸摸板11中出現(xiàn)變形的信息。因此，當(dāng)用戶在觸摸板11的框架 內(nèi)用力地、連續(xù)地接觸觸摸板11時(shí)，錯誤數(shù)據(jù)取消單元19輸出與重心計(jì)算單元17計(jì)算出 的重心坐標(biāo)相關(guān)的信息。
輸出I/F單元20向主CPU 34輸出從錯誤數(shù)據(jù)取消單元19發(fā)送來的、指示接觸坐 標(biāo)的數(shù)據(jù)。XY掃描選擇單元21選擇測量X軸方向中出現(xiàn)的電容或者測量Y軸方向中出現(xiàn) 的電容，并且向電極掃描開關(guān)12通知測量在選擇的軸方向中出現(xiàn)的電容的指令。
因而，當(dāng)確定觸摸板11連續(xù)地接觸物體時(shí)，終端裝置100取消變形確定單元18執(zhí) 行的變形確定處理，并輸出重心坐標(biāo)數(shù)據(jù)，從而即使在操作期間出現(xiàn)變形，也輸出接觸坐標(biāo) 數(shù)據(jù)。
[終端裝置的處理]接著，將參照圖8的流程圖來說明根據(jù)第二實(shí)施方式的終端 裝置100執(zhí)行的處理過程的示例流程。盡管圖8示出了執(zhí)行用來測量觸摸板坐標(biāo)(X)的處 理過程，但是，同樣的處理過程可用來執(zhí)行對觸摸板坐標(biāo)(Y)的測量。此外，在如下說明中， 確定針對在X軸方向上設(shè)置的電極Xl至XlO所測量的電容是電容CXl至CX10，而針對在Y 軸方向上設(shè)置的電極Yl至Y14所測量的電容是電容CYl至CY14。
如圖8所示，終端裝置100在步驟SlOl中將連續(xù)按下計(jì)數(shù)初始化為“0”。然后， 終端裝置100在步驟S102中測量在X軸方向上設(shè)置的電極Xl至XlO的電容CXl至CX10。 接著，終端裝置100在步驟S103中檢測具有所測量的電容CXl至CXlO的電容峰值。然后， 終端裝置100在步驟S104中確定該電容峰值是否大于測量閾值。
如果確定結(jié)果表明電容CXl至CXlO的峰值大于測量閾值，這意味著步驟S104的 答案是“是”，則終端裝置100在步驟S105中確定連續(xù)按下計(jì)數(shù)值是否大于接觸閾值。當(dāng)連 續(xù)按下計(jì)數(shù)值大于接觸閾值時(shí)，這意味著步驟S105的答案是“是”，則終端裝置100在步驟 S108輸出X軸接觸坐標(biāo)的數(shù)據(jù)。此外，終端裝置100在步驟S109中將連續(xù)按下計(jì)數(shù)值加 1。
另一方面，當(dāng)電容CXl至CXlO的峰值不大于測量閾值時(shí)，這意味著步驟S104的答 案是“否”，則終端裝置100在步驟SlOl中將連續(xù)按下計(jì)數(shù)值初始化為“0”，并再次在步驟 SlOl至S104執(zhí)行所述處理過程。此外，當(dāng)連續(xù)按下計(jì)數(shù)值等于和/或小于接觸閾值時(shí)，這 意味著步驟S105的答案是“否”，則終端裝置100在步驟S106中確定電容值大于變形閾值 的電容個(gè)數(shù)。
接著，終端裝置100在步驟S107中確定電容值大于變形閾值的電容個(gè)數(shù)是否大于 給定數(shù)。當(dāng)電容值大于變形閾值的電容個(gè)數(shù)大于給定數(shù)時(shí)，這意味著步驟S107的答案是 “是”，則終端裝置100在步驟S102中再次測量各個(gè)電極的電容，而不輸出接觸坐標(biāo)的數(shù)據(jù)。 另一方面，當(dāng)電容值大于變形閾值的電容個(gè)數(shù)小于給定數(shù)時(shí)，這意味著步驟S107的答案是 “否”，則終端裝置100在步驟S108中輸出接觸坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
如上所述，根據(jù)第二實(shí)施方式的終端裝置100測量在觸摸板11上設(shè)置的多個(gè)電極 的電容，并確定觸摸板11的操作輸出是否存在連續(xù)性。當(dāng)確定不存在連續(xù)性時(shí)，終端裝置 100基于電極的電容測量結(jié)果的分布來確定觸摸板11中是否存在變形，并且，當(dāng)確定存在 變形時(shí)，停止輸出坐標(biāo)數(shù)據(jù)。于是，終端裝置100確定用戶在觸摸板11的框架之內(nèi)用力地、 連續(xù)地接觸觸摸板11，并且取消變形確定處理。結(jié)果，在用戶在操作期間在區(qū)域內(nèi)部用力按 壓觸摸板的情況下，終端裝置100降低了在觸摸板上限定的區(qū)域中出現(xiàn)的信息損失。
此外，終端裝置100將從多個(gè)電極測量的多個(gè)電容輸出值與變形閾值進(jìn)行比較， 并且當(dāng)電容輸出值大于變形閾值的電容個(gè)數(shù)大于給定數(shù)時(shí)確定出現(xiàn)變形。于是，終端裝置 100確定變形。
此外，當(dāng)多個(gè)電容輸出中的任意一個(gè)的數(shù)值大于比變形閾值更大的測量閾值時(shí)， 則終端裝置100輸出電容輸出的分布的重心數(shù)據(jù)，作為坐標(biāo)數(shù)據(jù)。因此，可以適當(dāng)?shù)剌敵鲇?戶接觸觸摸板的位置的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
此外，終端裝置100反復(fù)地測量電極的電容。當(dāng)作為測量結(jié)果，至少超過給定次數(shù) 連續(xù)得到數(shù)值大于測量閾值的電容輸出時(shí)，則終端裝置100確定存在連續(xù)性。因此，終端裝 置100確定用戶在觸摸板框架之內(nèi)用力地、連續(xù)地接觸觸摸板。
此外，觸摸板11放置在顯示裝置上，與該顯示裝置的距離為給定距離。也就是說， 在觸摸板和顯示裝置之間提供空間，從而終端裝置100檢測用戶接觸觸摸板11。
以下，將說明上述實(shí)施方式的示例性變型例。
(1)變形確定
在上述第二實(shí)施方式中，當(dāng)確定出操作輸入存在連續(xù)性時(shí)，取消變形確定處理的 實(shí)際執(zhí)行。然而，根據(jù)第三實(shí)施方式，可以取消變形確定的結(jié)果，而無需限制為第二實(shí)施方 式。
更具體地說，終端裝置從觸摸板上設(shè)置的多個(gè)電極測量電容，確定觸摸板的操作 輸入是否存在連續(xù)性，并基于電極的電容測量結(jié)果的分布來確定觸摸板中是否存在變形。 如果確定結(jié)果表明不存在連續(xù)性并且出現(xiàn)變形，則終端裝置停止輸出坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
因此，根據(jù)第三實(shí)施方式的終端裝置100從觸摸板上設(shè)置的電極測量電容，確定 觸摸板的操作輸入是否存在連續(xù)性，并基于電極的電容測量結(jié)果的分布來確定觸摸板中是 否出現(xiàn)變形。然后，如果確定出不存在連續(xù)性并且出現(xiàn)變形，則終端裝置100停止輸出坐標(biāo) 數(shù)據(jù)。結(jié)果，終端裝置100確定出用戶在觸摸板11的框架之內(nèi)用力地、連續(xù)地接觸觸摸板 11，并取消變形確定處理。結(jié)果，在用戶在操作期間在在觸摸板所限定的區(qū)域內(nèi)用力按壓觸 摸板的情況下，終端裝置100減少所述區(qū)域中出現(xiàn)的信息損失。
(2)電極
根據(jù)上述第二實(shí)施方式的終端裝置100包括在X軸方向上設(shè)置的十個(gè)電極和在Y 軸方向上設(shè)置的十四個(gè)電極。然而，在第三實(shí)施方式中，可以在各個(gè)軸方向上設(shè)置任意個(gè)電極，而不限于第二實(shí)施方式。也就是說，只要能夠識別手指與觸摸板11接觸的坐標(biāo)，那么任 意個(gè)電極都是可行的。
C3)各個(gè)組件的處理
在附圖中功能性、概念性地示出各個(gè)裝置的組件，但是，這些組件可能并不是完全 按照附圖所示來進(jìn)行配置的。也就是說，裝置的分布和/或集成的具體形式不限于附圖所 示，可以基于各種負(fù)載和/或業(yè)務(wù)條件以任意單元來功能性和/或物理性地分布和/或集 成全部裝置或者一部分裝置。例如，各電極輸出檢測單元16可以集成到重心計(jì)算單元17 中。
(4)程序
順便提一下，根據(jù)第二實(shí)施方式的終端裝置通過使用硬件來獲得各種類型的處 理。然而，在第三實(shí)施方式中，可以通過在終端裝置中提供的、執(zhí)行預(yù)先準(zhǔn)備的程序的計(jì)算 機(jī)來獲得各種類型的處理，而不限于上述構(gòu)造。因此，以下，將參照圖9來說明執(zhí)行與第一 實(shí)施方式所示的輸入裝置具有相同功能的控制程序的示例計(jì)算機(jī)200。
在圖9所示的示例計(jì)算機(jī)200中，隨機(jī)訪問存儲器(RAM) 120、只讀存儲器 (ROM) 130和中央處理單元(CPU) 140經(jīng)由總線170相互連接。此外，被提供用來連接作為無 線資源的RF單元的連接端接部件1/0160和/或天線連接到總線170。
電容測量程序132、連續(xù)性確定程序133、變形確定程序134和坐標(biāo)輸出程序135 預(yù)先存儲在ROM 130中。根據(jù)圖9所示的示例，CPU 140執(zhí)行從ROM 130讀取的程序132和 133，從而程序132和133作為相應(yīng)的電容測量處理142和連續(xù)性確定處理143。此外，CPU 140執(zhí)行從R0M130讀取的程序134和135，從而程序134和135作為相應(yīng)的變形確定處理 144和坐標(biāo)輸出處理145。順便提一下，處理142至145可以與圖1所示的單元2至5具有 相同的功能。此外，處理142至145可以具有與根據(jù)第二實(shí)施方式的單元13和單元16至 19相同的功能。
第三實(shí)施方式所示的控制程序可以通過執(zhí)行預(yù)先準(zhǔn)備的程序的計(jì)算機(jī)來實(shí)現(xiàn)，其 中，所述計(jì)算機(jī)包括個(gè)人計(jì)算機(jī)、工作站等。經(jīng)由包括互聯(lián)網(wǎng)等的網(wǎng)絡(luò)來分布所述程序。此 外，程序存儲在計(jì)算機(jī)可讀的記錄介質(zhì)中，該計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)包括硬盤、軟盤(FD)、只 讀光盤(⑶-ROM)、磁光盤(M0)、高容量數(shù)字式光盤(DVD)等。此外，可以通過從記錄介質(zhì)讀 取程序的計(jì)算機(jī)來執(zhí)行程序。
相關(guān)申請的交叉引用
本申請基于2009年9月30日提交的在先日本專利申請第2009_2觀845號，并要 求在先日本專利申請第2009-2^845號的優(yōu)先權(quán)權(quán)益，將其全部內(nèi)容通過引用并入本文。
權(quán)利要求
1.一種輸入裝置，該輸入裝置包括電容測量單元，其被配置為測量觸摸板上設(shè)置的多個(gè)電極的電容；變形確定單元，其被配置為基于所述電容的結(jié)果分布來確定所述觸摸板中是否存在變 形；以及坐標(biāo)輸出單元，其被配置為當(dāng)確定不存在變形時(shí)基于所述結(jié)果分布來輸出所述觸摸板 上的操作輸入的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，該輸入裝置還包括連續(xù)性確定單元，所述連續(xù)性 確定單元被配置為確定所述觸摸板上的所述操作輸入是否存在連續(xù)性。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的輸入裝置，其中，所述電容測量單元反復(fù)測量所述多個(gè)電極 的所述電容，并且所述連續(xù)性確定單元在連續(xù)預(yù)定次數(shù)有至少一個(gè)電容輸出值大于測量閾 值時(shí)確定存在所述連續(xù)性。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的輸入裝置，其中，所述變形確定單元在所述連續(xù)性確定單元 確定不存在所述連續(xù)性時(shí)確定是否存在所述變形。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，該輸入裝置還包括連續(xù)性確定單元，所述連續(xù)性 確定單元被配置為確定所述觸摸板上的所述操作輸入是否存在連續(xù)性。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的輸入裝置，其中，當(dāng)所述連續(xù)性確定單元確定不存在所述連 續(xù)性并且所述變形確定單元確定存在所述變形時(shí)，所述坐標(biāo)輸出單元停止輸出所述坐標(biāo)數(shù) 據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其中，所述變形確定單元將多個(gè)從所述電極測量 的電容輸出與變形閾值進(jìn)行比較，并且，當(dāng)值大于所述變形閾值的電容輸出的個(gè)數(shù)等于和/ 或大于給定數(shù)時(shí)，確定存在所述變形。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的輸入裝置，其中，當(dāng)所述多個(gè)電容輸出中的任何一個(gè)超過比 所述變形閾值更大的測量閾值時(shí)，所述坐標(biāo)輸出單元輸出所述電容輸出的分布重心的數(shù) 據(jù)，作為所述坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其中，所述觸摸板設(shè)置在顯示裝置上，并且，所述 觸摸板與所述顯示裝置隔開預(yù)定距離。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其中，當(dāng)所述變形確定單元確定存在所述變形 時(shí)，所述坐標(biāo)輸出單元停止輸出所述坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
11.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，該計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)具有存儲在存儲器中的程序代 碼，當(dāng)由處理器執(zhí)行時(shí)，該程序代碼控制輸入，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)包括測量觸摸板上設(shè)置的多個(gè)電極的電容的程序代碼；基于所述電容的結(jié)果分布來確定所述觸摸板中是否出現(xiàn)變形的程序代碼；以及當(dāng)確定不存在變形時(shí)基于所述結(jié)果分布來輸出所述觸摸板上的操作輸入的坐標(biāo)數(shù)據(jù) 的程序代碼。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，該計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)還包括確定 所述觸摸板的操作輸入是否存在連續(xù)性的程序代碼。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，該計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)還包括當(dāng)所 述確定是否存在變形的程序代碼確定存在變形時(shí)停止輸出所述坐標(biāo)數(shù)據(jù)的程序代碼。
14.一種輸入控制方法，該輸入控制方法包括測量觸摸板上設(shè)置的多個(gè)電極的電容；基于所述電容的結(jié)果分布來確定所述觸摸板中是否出現(xiàn)了變形；以及 當(dāng)確定不存在變形時(shí)基于所述結(jié)果分布來輸出所述觸摸板上的所述操作輸入的坐標(biāo) 數(shù)據(jù)。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的輸入控制方法，該輸入控制方法還包括確定所述觸摸板上 的操作輸入是否存在連續(xù)性的步驟。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的輸入控制方法，該輸入控制方法還包括當(dāng)確定存在所述變 形時(shí)停止輸出所述坐標(biāo)數(shù)據(jù)的步驟。
全文摘要
本發(fā)明涉及輸入裝置、輸入處理程序以及輸入控制方法，該輸入裝置包括電容測量單元，其測量觸摸板上設(shè)置的多個(gè)電極的電容；變形確定單元，其基于所述電極的電容的結(jié)果的分布來確定所述觸摸板中是否出現(xiàn)變形；以及坐標(biāo)輸出單元，其基于所述結(jié)果的分布來輸出所述觸摸板上的操作輸入的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
文檔編號G06F3/044GK102033670SQ20101050291
公開日2011年4月27日 申請日期2010年9月28日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月30日
發(fā)明者井上欣也, 仁川進(jìn), 藤田博 申請人:富士通株式會社