專利名稱：在互電容偵測中分析位置的方法與裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種位置分析的方法與裝置，特別是涉及一種具有虛觸忽視的在互電 容偵測中分析位置的方法與裝置。
背景技術(shù)：
觸控顯示器(Touch Display)已廣泛地應(yīng)用于許多電子裝置中，一般的做法是采 用一觸控面板(Touch Sensing Panel)在觸控顯示器上定義出一二維的觸摸區(qū)，藉由在 觸摸板去上縱軸與橫軸的掃瞄來取得感測資訊(Sensing ^formation)，以判斷外在物件 (如手指)在觸摸屏上的碰觸或接近，例如美國專利號US4639720所提供的一種電容式觸摸 顯不器。感測資訊可由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Analog-to-Digital Converter,ADC)轉(zhuǎn)換為多個(gè) 連續(xù)信號值，藉由比較這些信號值在外部物件碰觸或接近前與后的變化量，可判斷出外部 物件碰觸或最接近觸摸屏的位置。一般而言，控制觸摸屏的控制器會(huì)先取得沒有外部物件觸碰或接近時(shí)的感測資 訊，作為基準(zhǔn)值(baseline)。例如在電容式觸摸屏中，每一條導(dǎo)電條相應(yīng)于各自的基準(zhǔn)值。 控制器藉由判斷后續(xù)的感測資訊與基準(zhǔn)值的比較判斷是否有外部物件接近或觸碰，以及更 進(jìn)一步判斷外部物件的位置。例如，在未被外部物件接近或觸碰時(shí)，后續(xù)的感測資訊相對于 基準(zhǔn)值為零值或趨近零值，藉由感測資訊相對于基準(zhǔn)值是否為零值或趨近零值判斷是否有 外部物件接近或觸碰。如圖IA所示，當(dāng)外部物件12(如手指)碰觸或接近觸控顯示器10的感測裝置120 時(shí)，在一軸向(如X軸向)上的感測器140的感測資訊轉(zhuǎn)換成如圖IB所示的信號值，相應(yīng) 于手指的外型，信號值呈現(xiàn)一波形或一指廓(Finger profile)，指廓上的峰14(peak)的位 置即代表手指碰觸或接近的位置。由于用手指書寫的方式與一般人習(xí)慣以手持筆來書寫方式不同。一般應(yīng)用于電容 式感測裝置的導(dǎo)電筆在書寫時(shí)，手掌必需懸空，也與一般人習(xí)慣手掌置放于桌面書寫的習(xí) 慣不同。因此，需要讓感測裝置能分辨出那些觸碰是手掌的觸碰，那個(gè)觸碰才是筆的觸碰， 才能讓一般人以習(xí)慣的方式來進(jìn)行文字的輸入。由此可見，上述現(xiàn)有技術(shù)顯然存在有不便與缺陷，而極待加以進(jìn)一步改進(jìn)。為了解 決上述存在的問題，相關(guān)廠商莫不費(fèi)盡心思來謀求解決之道，但長久以來一直未見適用的 設(shè)計(jì)被發(fā)展完成，而一般產(chǎn)品及方法又沒有適切的結(jié)構(gòu)及方法能夠解決上述問題，此顯然 是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新的在互電容偵測中分析位置的方法與 裝置，實(shí)屬當(dāng)前重要研發(fā)課題之一，也成為當(dāng)前業(yè)界極需改進(jìn)的目標(biāo)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種分析位置的方法與裝置。本發(fā)明是在感測資訊中判斷出相應(yīng)于一 第一特性的觸碰相關(guān)感測資訊中的至少一位置。感測資訊同時(shí)另外存在相應(yīng)于一第二特性的觸碰相關(guān)感測資訊，第二特性與第一特性相反，并且相應(yīng)于一第二特性的觸碰相關(guān)感測 資訊被忽略或被濾除。本發(fā)明另外提供一種分析位置的方法與裝置。由一信號源提供交流信號產(chǎn)生相應(yīng) 第二特性的觸碰相關(guān)感測裝置，可被用來產(chǎn)生與人體觸碰不同的觸碰，如筆的觸碰。本發(fā)明的目的在于，克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，而提供一種新的在互電容偵測中 分析位置的方法與裝置，所要解決的技術(shù)問題是使其利用實(shí)觸與虛觸相應(yīng)于相反的第一特 性與第二特性，判斷出實(shí)觸的位置，非常適于實(shí)用。本發(fā)明的另一目的在于，克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，而提供一種新的在互電容偵 測中分析位置的方法與裝置，所要解決的技術(shù)問題是使其利用第一特性判斷出起始位置， 依據(jù)起始位置相應(yīng)的一方向從起始位置尋找零交會(huì)處，避免誤判出虛觸的位置，從而更加 適于實(shí)用。本發(fā)明的再一目的在于，克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，而提供一種新的在互電容偵 測中分析位置的方法與裝置，所要解決的技術(shù)問題是使其以筆提供交流信號，區(qū)隔手與筆 的觸碰，從而更加適于實(shí)用本發(fā)明的還一目的在于，克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，而提供一種新的在互電容偵 測中分析位置的方法與裝置，所要解決的技術(shù)問題是使其在互電容式以筆提供交流信號 時(shí)，能在不誤判出虛觸的位置的情形下，區(qū)隔手與筆的觸碰，從而更加適于實(shí)用。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出 的一種分析位置的方法，包括由多個(gè)感測器取得相應(yīng)于至少一第一外部物件接近或觸碰 一信號源的一觸敏資訊，其中該至少一第一外部物件電性耦合于至少一第二外部物件，并 且該觸敏資訊相應(yīng)于該些感應(yīng)器互電容耦合于該信號源、該至少一第一外部物件及該至少 一第二外部物件的信號；決定該觸敏資訊中相應(yīng)于該至少一第一外部物件的一特性；以及 僅在該觸敏資訊中符合該特性的部分分析相應(yīng)于該至少一第一外部物件接近或觸碰的位 置。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出 的一種分析位置的裝置，包括包括多個(gè)感測器的一感測裝置；以及一控制器，執(zhí)行下列作 業(yè)由多個(gè)感測器取得相應(yīng)于至少一第一外部物件接近或觸碰一信號源的一觸敏資訊，其 中該至少一第一外部物件電性耦合于至少一第二外部物件，并且該觸敏資訊相應(yīng)于該些感 應(yīng)器互電容耦合于該信號源、該至少一第一外部物件及該至少一第二外部物件的信號；決 定該觸敏資訊中相應(yīng)于該至少一第一外部物件的一特性；以及僅在該觸敏資訊中符合該特 性的部分分析相應(yīng)于該至少一第一外部物件接近或觸碰的位置。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外再采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提 出的一種分析位置的方法，包括由多個(gè)感測器取得相應(yīng)于至少一第一外部物件接近或觸 碰一信號源的一觸敏資訊，其中該至少一第一外部物件電性耦合于至少一第二外部物件， 并且該觸敏資訊相應(yīng)于該些感應(yīng)器與該信號源間、該至少一第一外部物件及該至少一第二 外部物件間的互電容耦合的信號；依據(jù)一第一門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第一起 始位置；以及分別由每一個(gè)第一起始位置朝一第一方向的一第一范圍進(jìn)行一零交會(huì)處位置 分析，其中該第一范圍不包括相應(yīng)該至少一第二外部物件的觸敏資訊。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提6出的一種分析位置的裝置，包括包括多個(gè)感測器的一感測裝置；以及一控制器，執(zhí)行下列 作業(yè)由多個(gè)感測器取得相應(yīng)于至少一第一外部物件接近或觸碰一信號源的一觸敏資訊， 其中該至少一第一外部物件電性耦合于至少一第二外部物件，并且該觸敏資訊相應(yīng)于該些 感應(yīng)器與該信號源間、該至少一第一外部物件及該至少一第二外部物件間的互電容耦合的 信號；依據(jù)一第一門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第一起始位置；以及分別由每一個(gè) 第一起始位置朝一第一方向的一第一范圍進(jìn)行一零交會(huì)處位置分析，其中該第一范圍不包 括相應(yīng)該至少一第二外部物件的觸敏資訊。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提 出的一種分析位置的方法，包括由多個(gè)感測器取得相應(yīng)于至少一外部物件接近或觸碰的 一觸碰相關(guān)感測資訊；預(yù)設(shè)該觸碰相關(guān)感測資訊中相應(yīng)于一第一種外部物件的一第一特性 與相應(yīng)于一第二種外部物件的一第二特性，其中該第一特性與該第二特性相反；以及依據(jù) 該第一特性與該第二特性于該觸碰相關(guān)感測資訊中辨識(shí)該第一種外部物件、該第二種外部 物件、或兩者的接近或觸碰。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提 出的一種分析位置的裝置，包括包括多個(gè)感測器的一感測裝置；以及一控制器，執(zhí)行以下 作業(yè)由多個(gè)感測器取得相應(yīng)于至少一外部物件接近或觸碰的一觸碰相關(guān)感測資訊；預(yù)設(shè) 該觸碰相關(guān)感測資訊中相應(yīng)于一第一種外部物件的一第一特性與相應(yīng)于一第二種外部物 件的一第二特性，其中該第一特性與該第二特性相反；以及依據(jù)該第一特性與該第二特性 于該觸碰相關(guān)感測資訊中辨識(shí)該第一種外部物件、該第二種外部物件、或兩者的接近或觸 碰。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提 出的一種在互電容偵測中分析位置的方法，包括由多個(gè)感測器取得相應(yīng)于至少一外部物 件接近或觸碰一第一信號源的一觸敏資訊；當(dāng)該觸敏資訊包括分別相應(yīng)于一第一特性與相 應(yīng)于一第二特性的第一部分與第二部分，并且該第一特性與該第二特性相反時(shí)，由該第二 特性的部分分析是否存在具有相應(yīng)于一第三特性的一第三部分，其中該第三部分相應(yīng)于該 至少一外部物件接近或觸碰該第一信號源；以及由該第三部分分析出該第三部分中相應(yīng)于 該至少一外部物件的接近或觸碰的位置。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。前述的在互電容偵測中分析位置的方法，其中所述的第一特性與該第二特性之一 為正值，并且該第一特性與該第二特性的另一個(gè)為負(fù)值。前述的在互電容偵測中分析位置的方法，其中所述的第一部分、該第二部分與該 第三部分為至少一單一或連續(xù)多個(gè)正值的集合與至少一單一或連續(xù)多個(gè)負(fù)值的集合的交 替組合。前述的在互電容偵測中分析位置的方法，其中所述的第一特性與該第二特性之一 為起始于該至少一單一或連續(xù)多個(gè)正值的集合，并且該第一特性與該第二特性的另一個(gè)為 起始于該至少一單一或連續(xù)多個(gè)負(fù)值的集合。前述的在互電容偵測中分析位置的方法，其中所述的第一部分相應(yīng)于至少一接地 導(dǎo)體接近或觸碰該第一信號源，并且該第三部分相應(yīng)于至少一提供一交流信號的第二信號 源接近或觸碰該第一信號源。
前述的在互電容偵測中分析位置的方法，其中所述的第三特性為不同于該第二特 性的頻率。前述的在互電容偵測中分析位置的方法，其中所述的第三特性為該第三部分包括 至少一值大于或小于一門檻限值，并且第二部分中第三部分以外的部分不包括任何值大于 或小于該門檻限值。前述的在互電容偵測中分析位置的方法，其中所述的第三部分的位置分析包括 依據(jù)該第一門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第一起始位置；依據(jù)該第二門檻限值在該 觸敏資訊中決定至少一第二起始位置；分別由每一個(gè)第一起始位置朝一第一方向的一第一 范圍進(jìn)行一第一零交會(huì)處位置分析；以及分別由每一個(gè)第二起始位置朝一第二方向的一第 二范圍進(jìn)行該第一零交會(huì)處位置分析，其中該第一零交會(huì)處位置分析所分析出來的零交會(huì) 處為相應(yīng)該第三特性的位置，并且該第一范圍與該第二范圍不包括該第一部分與該第二部 分中第三部分以外的部分。前述的在互電容偵測中分析位置的方法，更包括由該第一部分分析出相應(yīng)于該 至少一外部物件接近或觸碰該第一信號源的位置。前述的在互電容偵測中分析位置的方法，其中所述的第一部分的位置分析包括 依據(jù)該第一門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第三起始位置；依據(jù)該第二門檻限值在該 觸敏資訊中決定至少一第四起始位置；分別由每一個(gè)第三起始位置朝該第二方向的一第三 范圍進(jìn)行一第二零交會(huì)處位置分析；以及分別由每一個(gè)第四起始位置朝該第一方向的一第 四范圍進(jìn)行該第二零交會(huì)處位置分析，其中該第二零交會(huì)處位置分析所分析出來的零交會(huì) 處為相應(yīng)該第一特性的位置，并且其中該第三范圍與該第四范圍不包括該第二部分。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提 出的一種在互電容偵測中分析位置的裝置，包括包括多個(gè)感測器的一感測裝置；以及一 控制器，執(zhí)行下列作業(yè)由多個(gè)感測器取得相應(yīng)于至少一外部物件接近或觸碰一第一信號 源的一觸敏資訊；當(dāng)該觸敏資訊包括分別相應(yīng)于一第一特性與相應(yīng)于一第二特性的第一部 分與第二部分，并且該第一特性與該第二特性相反時(shí)，由該第二特性的部分分析是否存在 具有相應(yīng)于一第三特性的一第三部分，其中該第三部分相應(yīng)于該至少一外部物件接近或觸 碰該第一信號源；以及由該第三部分分析出該第三部分中相應(yīng)于該至少一外部物件的接近 或觸碰的位置。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。前述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其中所述的第一特性與該第二特性之一 為正值，并且該第一特性與該第二特性的另一個(gè)為負(fù)值。前述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其中所述的第一部分、該第二部分與該 第三部分為至少一單一或連續(xù)多個(gè)正值的集合與至少一單一或連續(xù)多個(gè)負(fù)值的集合的交 替組合。前述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其中所述的第一特性與該第二特性之一 為起始于該至少一單一或連續(xù)多個(gè)正值的集合，并且該第一特性與該第二特性的另一個(gè)為 起始于該至少一單一或連續(xù)多個(gè)負(fù)值的集合。前述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其中所述的第一部分相應(yīng)于至少一接地 導(dǎo)體接近或觸碰該第一信號源，并且該第三部分相應(yīng)于至少一提供一交流信號的第二信號8源接近或觸碰該第一信號源。前述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其中所述的第三特性為不同于該第二特 性的頻率。前述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其中所述的第三特性為該第三部分包括 至少一值大于或小于一門檻限值，并且第二部分中第三部分以外的部分不包括任何值大于 或小于該門檻限值。前述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其中所述的第三部分的位置分析包括 依據(jù)該第一門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第一起始位置；依據(jù)該第二門檻限值在該 觸敏資訊中決定至少一第二起始位置；分別由每一個(gè)第一起始位置朝一第一方向的一第一 范圍進(jìn)行一第一零交會(huì)處位置分析；以及分別由每一個(gè)第二起始位置朝一第二方向的一第 二范圍進(jìn)行該第一零交會(huì)處位置分析，其中該第一零交會(huì)處位置分析所分析出來的零交會(huì) 處為相應(yīng)該第三特性的位置，并且該第一范圍與該第二范圍不包括該第一部分與該第二部 分中第三部分以外的部分。前述的在互電容偵測中分析位置的裝置，更包括由該第一部分分析出相應(yīng)于該 至少一外部物件接近或觸碰該第一信號源的位置。前述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其中所述的第一部分的位置分析包括 依據(jù)該第一門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第三起始位置；依據(jù)該第二門檻限值在該 觸敏資訊中決定至少一第四起始位置；分別由每一個(gè)第三起始位置朝該第二方向的一第三 范圍進(jìn)行一第二零交會(huì)處位置分析；以及分別由每一個(gè)第四起始位置朝該第一方向的一第 四范圍進(jìn)行該第二零交會(huì)處位置分析，其中該第二零交會(huì)處位置分析所分析出來的零交會(huì) 處為相應(yīng)該第一特性的位置，并且其中該第三范圍與該第四范圍不包括該第二部分。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點(diǎn)和有益效果。借由上述技術(shù)方案，本發(fā)明 在互電容偵測中分析位置的方法與裝置至少具有下列優(yōu)點(diǎn)及有益效果一、本發(fā)明可以避免誤判出虛觸的位置，防止誤判造成的錯(cuò)誤操作；二、本發(fā)明能夠區(qū)隔手與筆的觸碰，可進(jìn)行忽視手掌的持筆書寫判斷，也可以用于 判斷手與筆的不同觸碰；三、本發(fā)明即使在互電容式偵測時(shí)，仍可進(jìn)行忽視手掌的持筆書寫判斷，也可以用 于判斷手與筆的不同觸碰，但不會(huì)誤判出虛觸的位置。綜上所述，本發(fā)明是有關(guān)于一種在互電容偵測中分析位置的方法與裝置。通過筆 提供交流信號，相應(yīng)于手的觸碰相關(guān)感測資訊的第一特性與相應(yīng)于筆的觸碰相關(guān)感測資訊 的第二特性相反。第一特性與第二特性可被用來區(qū)隔手與筆的觸碰或手掌忽視。本發(fā)明在 技術(shù)上有顯著的進(jìn)步，并具有明顯的積極效果，誠為一新穎、進(jìn)步、實(shí)用的新設(shè)計(jì)。上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段， 而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠 更明顯易懂，以下特舉較佳實(shí)施例，并配合附圖，詳細(xì)說明如下。


圖IA是先前技術(shù)的觸控裝置的示意圖。圖IB是先前技術(shù)的信號值的示意圖。9




圖IC是依據(jù)本發(fā)明的差值的示意圖。圖ID與圖IE是依據(jù)本發(fā)明的雙差值的示意圖。圖IF是依據(jù)本發(fā)明的感測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖IG是依據(jù)本發(fā)明的運(yùn)算系統(tǒng)的功能方框示意圖。圖2A與圖2B是依據(jù)本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)/偵測單元與感測裝置的架構(gòu)示意圖。圖3A是依據(jù)本發(fā)明的偵測單元的功能方框示意圖。圖:3B至圖3D是依據(jù)本發(fā)明的偵測器的電路示意圖。圖3E至圖3J是依據(jù)本發(fā)明的偵測電路與模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路的連接示意圖,圖4A是依據(jù)本發(fā)明的二值化差值偵測位置的示意圖。圖4B至圖4D是依據(jù)本發(fā)明的偵測質(zhì)心位置的范例示意圖.圖5A至圖5C為實(shí)觸與虛觸的范例示意圖。圖6A至圖6B為依據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的流程示意圖。圖7A至圖7D為依據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的流程示意圖。圖8A至圖8C是依據(jù)本發(fā)明的第三實(shí)施例的流程示意圖。圖9A至圖9D是依據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施例的流程示意圖。10 觸控顯示器110 顯示器120 感測裝置140、140A、140B 感測器15 零交會(huì)處130:驅(qū)動(dòng)/偵測單元130B 偵測單元161 處理器170 主機(jī)173 儲(chǔ)存單元311、312、313、314、315、316320 偵測電路322、324 積分器340、350、360 偵測器SI 感測資訊Tn:負(fù)門檻限值A(chǔ)、B 位置Z1、Z2 零交會(huì)處11控制器12外部物件 120AU20B 感測層14、16、17 峰 100 位置偵測裝裝置 130A 驅(qū)動(dòng)單元 160 控制器 162 存儲(chǔ)器 171 中央處理單元 310、370 切換電路 輸入321、323、325 開關(guān)電路 330 模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路 P1、P2 接點(diǎn) Tp:正門檻限值 WU W2 導(dǎo)線 a、b 點(diǎn)SA、SB、SF、SP 觸碰相關(guān)感測資訊
具體實(shí)施例方式為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合 附圖及較佳實(shí)施例，對依據(jù)本發(fā)明提出的在互電容偵測中分析位置的方法與裝置其具體實(shí) 施方式、方法、步驟、結(jié)構(gòu)、特征及其功效，詳細(xì)說明如后。本發(fā)明的一些實(shí)施例將詳細(xì)描述如下。然而，除了以下描述外，本發(fā)明還可以廣泛10地在其他實(shí)施例施行，并且本發(fā)明的保護(hù)范圍并不受實(shí)施例的限定，其以權(quán)利要求的保護(hù) 范圍為準(zhǔn)。再者，為提供更清楚的描述及更容易理解本發(fā)明，圖式內(nèi)各部分并沒有依照其相 對尺寸繪圖，某些尺寸與其他相關(guān)尺度相比已經(jīng)被夸張；不相關(guān)的細(xì)節(jié)部分也未完全繪示 出，以求圖式的簡潔。感測資訊在本發(fā)明中，感測資訊可以是由觸控裝置(Touch Sensing Device)提供，表示 觸控裝置上一維度、二維度或多維度的狀態(tài)，并且感測資訊可以是由一個(gè)或多個(gè)感測器 (sensor)取得，經(jīng)由一個(gè)或多個(gè)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為多個(gè)連續(xù)信號值，以表示偵測到的 電荷、電流、電壓、電容、阻抗或其他電性特性的量或改變量。感測資訊在取得或傳送的過程 可能是以輪替、循序或平行的方式進(jìn)行，可復(fù)合成一個(gè)或多個(gè)信號，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù) 人員可輕易推知。本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員也可推知，本發(fā)明所述的感測資訊包括但不限于感測 器的信號、感測器的信號扣除基準(zhǔn)值(如未觸碰時(shí)的信號或初始信號)后的結(jié)果、前述信號 或信號扣除基準(zhǔn)值后的結(jié)果經(jīng)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換后的值、前述的值轉(zhuǎn)換為其他表示方式的值。 換言的，感測資訊可以是以信號狀態(tài)、儲(chǔ)存媒體(如暫存器、存儲(chǔ)器、磁盤、光盤)中的記錄 的任何由電性信號轉(zhuǎn)換或可轉(zhuǎn)換成電性信號的狀態(tài)來存在，包括但不限于模擬或數(shù)字形 式。感測資訊可以是以不同軸向的兩個(gè)一維度感測資訊被提供。兩個(gè)一維度感測資訊 可以被用來表示在觸控裝置上第一軸向(如縱軸向)與第二軸向(如橫軸向)上的感測資 訊，可分別用來做第一軸向與第二軸向上的位置偵測，以分別提供第一軸向與第二軸向上 的一維度位置，或進(jìn)一步構(gòu)成二維度位置。此外，兩個(gè)一維度感測資訊也可以基于感測器間 的距離，被用來進(jìn)行三角定位，偵測出在觸控裝置上的二維度位置。感測資訊可以是以一二維度感測資訊被提供，二維度感測資訊為同軸向上多個(gè)一 維度感測資訊所組成。一個(gè)二維度的感測資訊被提供可以表示一個(gè)二維平面上的信號分 布，例如以縱軸向上多個(gè)一維度的感測資訊或橫軸向上多個(gè)一維度的感測資訊表示一個(gè)信 號陣列(signal matrix)，可依據(jù)分水領(lǐng)演算法或其他影像處理的辨識(shí)方法進(jìn)行位置偵測。在本發(fā)明的一范例中，觸控裝置上的感測區(qū)域包括由至少一個(gè)第一感測器偵測的 一第一二維度偵測范圍與至少一個(gè)第二感測器偵測的一第二維度偵測范圍的重疊范圍。本 技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員也可推知，感測區(qū)域可以是三個(gè)以上的二維度偵測范圍的重疊范 圍。例如，單一感測器的偵測范圍為二維度偵測范圍，如基于照像機(jī)的光學(xué)式偵測 (camera-based optical detection)的感測器(如CCD或CMOS感測器)或表面聲波式偵 測的壓電感測器，由二維度偵測范圍中取得一維度感測資訊。此一維度感測資訊可以是由 連續(xù)多個(gè)時(shí)點(diǎn)感測到的資訊構(gòu)成，不同時(shí)點(diǎn)相應(yīng)于不同的角度、位置或范圍。此外，此一維 度感測資訊可以依據(jù)一時(shí)間區(qū)間內(nèi)取得的影像(如CCD或CMOS感測器所取得的影像)所 產(chǎn)生。又例如，二維度偵測范圍是由多個(gè)感測器的偵測范圍所構(gòu)成，如每一個(gè)紅外線式 偵測的光接受器、電容式偵測或電阻式偵測的線狀或帶狀導(dǎo)電條、或電磁式偵測的U形線 圈的偵測范圍為朝向一軸向的扇狀或帶狀偵測范圍，多個(gè)在一線段(直線或弧線)上朝向同一軸向排列的感測器的偵測范圍可構(gòu)成該軸向的二維度偵測范圍，如構(gòu)成矩形或扇形的 平面或弧面的偵測范圍。在本發(fā)明的一較佳范例中，觸控裝置上的感測區(qū)域包括由第一軸向與第二軸向上 的多個(gè)感測器偵測的一二維度范圍。例如自電容式偵測(self-capacitive detection)，提 供一驅(qū)動(dòng)信號給多個(gè)第一感測器，并且感測這些第一感測器的第一二維度偵測范圍電容性 耦合的信號或變化，以取得一第一一維度感測資訊。此外，也提供一驅(qū)動(dòng)信號給多個(gè)第二感 測器，并且感測這些第二感測器的第二二維度偵測范圍電容性耦合的信號或變化，以取得 一第二一維度感測資訊。在本發(fā)明的另一范例中，觸控裝置上的感測區(qū)域包括由多個(gè)感測器偵測一二維度 范圍的多個(gè)一維度感測資訊來構(gòu)成一二維度感測資訊。例如，當(dāng)信號源將驅(qū)動(dòng)信號施循序 加于一第一軸向上一感測器時(shí)，循序偵測一第二軸向上至少一感測器或同時(shí)偵測第二軸向 上多個(gè)(部分或全部)感測器的信號，可取得該軸向上的二維度感測資訊，其中感測器為 第二軸向至少一相鄰感測器或第二軸向至少一不相鄰但鄰近感測器。例如在互電容式偵 測(mutual-capacitive detection)或模擬矢巨陣電阻式偵測(analog matrix resistive detection)，由多個(gè)感測器構(gòu)成多個(gè)感測處，分別偵測各感測處的感測資訊。例如以多個(gè)第 一感測器(如多條第一導(dǎo)電條)與多個(gè)第二感測器(如多條第二導(dǎo)電條)交疊構(gòu)成多個(gè)交 疊區(qū)，輪流施加驅(qū)動(dòng)信號于每一個(gè)第一感測器時(shí)，相應(yīng)于被施加驅(qū)動(dòng)信號的第一感測器，循 序偵測第二軸向上至少一第二感測器或同時(shí)偵測第二軸向上多個(gè)(部分或全部)第二感測 器的信號或信號變化，以取得相應(yīng)于該第一感測器的一維度感測資訊。藉由匯集相應(yīng)于各 第一軸向感測器的一維度感測資訊可構(gòu)成一二維度感測資訊。在本發(fā)明的一范例中，二維 度感測資訊可視為一影像。本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知，本發(fā)明可應(yīng)用于觸敏顯示器(touch sensitive display)，例如具有或附加上述電阻式偵測、電容式偵測、表面聲波式偵測、 或其他偵測觸碰的觸控裝置(或稱觸控裝置(touch sensitive device))的顯示器。 因此，基于觸敏顯示器或觸控裝置所取得感測資訊可視為觸敏資訊(touch sensitive information) 0在本發(fā)明的一范例中，觸控裝置是不同時(shí)點(diǎn)的連續(xù)信號，亦即連續(xù)由一個(gè)或多個(gè) 感測器同時(shí)偵測到的復(fù)合信號。例如，觸控裝置可以是電磁式，連續(xù)地掃瞄電磁式觸控裝置 上的線圈以發(fā)出電磁波，由一電磁筆上的一個(gè)或多個(gè)感測器偵測感測資訊，持續(xù)地復(fù)合成 一信號，再由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為多個(gè)連續(xù)信號值。此外，也可以是電磁筆發(fā)出電磁波或 反射來自電磁式觸控裝置的電磁波，由觸控裝置上的多個(gè)感測器(線圈)來取得感測資訊。MiIffi^^llJ^itl (touch related sensing information)外部物件(如手指)碰觸或接近觸控裝置時(shí)，會(huì)造成外部物件碰觸或接近的相應(yīng) 位置的感測資訊產(chǎn)生相應(yīng)的電性特性或變化，電性特性較強(qiáng)或變化較大之處較接近外部物 件中心(如質(zhì)心(centroid)、重心或幾何中心)。無論感測資訊是模擬還是數(shù)字形式，連 續(xù)的感測資訊可視為由連續(xù)多個(gè)值所構(gòu)成，上述外部物件中心可能是相應(yīng)于一值或兩值之 間。在本發(fā)明中，連續(xù)多個(gè)值可以是相應(yīng)空間上的連續(xù)或時(shí)間上的連續(xù)。本發(fā)明提供的第一種一維度感測資訊是以多個(gè)連續(xù)的信號值呈現(xiàn)，可以是在一時(shí) 間區(qū)間中多個(gè)感測器偵測的信號值，或連續(xù)的時(shí)間區(qū)間中單一感測器偵測的信號值，也可以是單一時(shí)間區(qū)間中單一感測器相應(yīng)不同偵測位置偵測到的信號值。在感測資訊以信號值 呈現(xiàn)的過程中，可以是輪流將相應(yīng)個(gè)別感測器、時(shí)間區(qū)間或位置的信號轉(zhuǎn)換成信號值，也可 以是取得部分或全部的感測資訊后再分析出個(gè)別的信號值。當(dāng)外部物件碰觸或接近感測裝 置時(shí)，一維度感測資訊的連續(xù)信號值可以是如圖IB所示，碰觸位置為相應(yīng)外部物件的感測 資訊的峰14，其中峰14可能落于兩信號值的間。如前述，本發(fā)明不限定感測資訊存在的形 態(tài)，信號值可視為感測器的信號的另一種形態(tài)。為簡化說明，在以下敘述中是以信號值型態(tài) 的實(shí)施方式來敘述本發(fā)明，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可依據(jù)信號值型態(tài)的實(shí)施方式推知 信號型態(tài)的實(shí)施方式。本發(fā)明提供的第二種一維度感測資訊是以多個(gè)連續(xù)的差值(Difference)呈現(xiàn)， 相對于上述信號值，每個(gè)差值為一對信號值的差值，并且連續(xù)多個(gè)差值呈現(xiàn)的感測資訊可 視為差動(dòng)感測資訊(differential sensing information) 0在本發(fā)明中，差動(dòng)感測資訊的 取得可以是在感測時(shí)直接取得，如同時(shí)或連續(xù)地取得多個(gè)信號，每一個(gè)差值是依據(jù)相應(yīng)于 一對感測器、時(shí)間區(qū)間或位置的差動(dòng)信號來產(chǎn)生。差動(dòng)感測資訊也可以是先產(chǎn)生包括多個(gè) 信號值的原始感測資訊(original sensing information)后，再依據(jù)原始感測資訊來產(chǎn) 生。如前面所述，本發(fā)明不限定感測資訊存在的形態(tài)，差值可視為差動(dòng)信號的另一種形態(tài)。 為簡化說明，在下面敘述中是以差值型態(tài)的實(shí)施方式來敘述本發(fā)明，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技 術(shù)人員可依據(jù)差值型態(tài)的實(shí)施方式推知差動(dòng)信號型態(tài)的實(shí)施方式。在本發(fā)明的一范例中，差值可以是相鄰或不相鄰的一對信號值間的差值，例如每 個(gè)信號值與前一信號值的差值，或是每個(gè)信號值與后一信號值的差值。在本發(fā)明的另一范 例中，差值可以是不相鄰兩信號值間的差值。當(dāng)外部物件碰觸或接近觸控裝置時(shí)，一維度感 測資訊的連續(xù)差值可以是如圖IC所示，外部物件位置為相應(yīng)外部物件的感測資訊的零交 會(huì)處15，其中零交會(huì)處15可能落于兩信號值之間。在本發(fā)明的一范例中，在觸控裝置上，每 一個(gè)差值的相應(yīng)位置為兩信號值相應(yīng)的位置的中間。本發(fā)明提供的第三種一維度感測資訊是以多個(gè)連續(xù)的雙差值(Dual Differences)呈現(xiàn)，相對于上述信號值或差值，每個(gè)雙差值可以是一第一對信號值的差值 與一第二對信號值的差值的和或差，亦即兩對信號值的差值和或差。在本發(fā)明的一范例中， 第一對信號值的差值與第二對信號值的差值分別為一第一差值與一第二差值，并且雙差值 為第一差值與第二差值的差，其中第一差值與第二差值皆為在前的信號值減在后的信號值 的差或在后的信號值減在前的信號值的差。在本發(fā)明的另一范例中，第一對信號值的差值 與第二對信號值的差值分別為一第一差值與一第二差值，且雙差值為第一差值與第二差值 的和，其中第一差值與第二差值的一為在前的信號值減在后的信號值的差，并且第一差值 與第二差值的另一個(gè)為在后的信號值減在前的信號值的差。例如，兩對信號值依序包括一 第一信號值、一第二信號值、一第三信號值、一第四信號值，該相應(yīng)于該四個(gè)信號值的雙差 值為(第二信號值-第一信號值)+ (第三信號值-第四信號值)、(第二信號值-第一信號 值)-(第四信號值-第三信號值)、(第一信號值-第二信號值)+ (第四信號值-第三信號 值)或(第一信號值-第二信號值)_(第三信號值-第四信號值)。此外，連續(xù)多個(gè)雙差值 組成的感測資訊可視為雙差動(dòng)感測資訊(dual-differential sensing information)。在 本發(fā)明中，雙差值并不限定是在產(chǎn)生信號值或差值后產(chǎn)生，也可以是在感測資訊被提供時(shí) 已分別完成兩對信號的相減后的和或差，提供相似或等效于兩對信號值的差值的和或差的13雙差動(dòng)信號。如前面所述，本發(fā)明不限定感測資訊存在的形態(tài)，雙差值可視為感測器的雙差 動(dòng)信號的另一種形態(tài)。為簡化說明，在下面敘述中是以雙差值型態(tài)的實(shí)施方式來敘述本發(fā) 明，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可依據(jù)雙差值型態(tài)的實(shí)施方式推知雙差動(dòng)信號型態(tài)的實(shí)施 方式。在本發(fā)明的一范例中，當(dāng)外部物件碰觸或接近觸控裝置時(shí)，兩對信號值由相鄰或 不相鄰的三個(gè)信號值組成。在本發(fā)明的一范例中，前兩個(gè)信號值的差值與后兩個(gè)信號值的 差值分別為一第一差值與一第二差值，并且雙差值為第一差值與第二差值的差，其中第一 差值與第二差值皆為在前的信號值減在后的信號值的差或在后的信號值減在前的信號值 的差。在本發(fā)明的另一范例中，前兩個(gè)信號值的差值與后兩個(gè)信號值的差值分別為一第一 差值與一第二差值，必且雙差值為第一差值與第二差值的和，其中第一差值與第二差值的 一為在前的信號值減在后的信號值的差，并且第一差值與第二差值的另一個(gè)為在后的信號 值減在前的信號值的差。例如，兩對信號值依序包括一第一信號值、一第二信號值、一第三 信號值，該相應(yīng)于該三個(gè)信號值的雙差值為(第二信號值-第一信號值)+ (第二信號值-第 三信號值)、(第二信號值-第一信號值)-(第三信號值-第二信號值)、(第一信號值-第 二信號值)+ (第三信號值-第二信號值)或(第一信號值-第二信號值)-(第二信號值-第 三信號值)。當(dāng)兩對信號值由相鄰的三個(gè)信號值組成，并且外部物件碰觸或接近觸控裝置 時(shí)，一維度感測資訊的連續(xù)雙差值可以是如圖ID所示，其中外部物件位置為相應(yīng)外部物件 的感測資訊的中央峰16，其中中央峰16可能落于兩信號值之間。當(dāng)兩對信號值由不相鄰的 三個(gè)信號值組成，并且外部物件碰觸或接近觸控裝置時(shí)，一維度感測資訊的連續(xù)雙差值可 以是如圖IE所示，其中外部物件位置為相應(yīng)外部物件的感測資訊的中央峰17，其中央峰17 可能落于兩信號值之間。在本發(fā)明中，相應(yīng)個(gè)別感測器、時(shí)間區(qū)間或位置的感測資訊可以是感測器偵測的 信號，當(dāng)信號為模擬時(shí)，可經(jīng)由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字的信號值。因此，上述的差值也 可以是一對信號的差的值，例如是一對信號經(jīng)差動(dòng)放大器進(jìn)行相減后所轉(zhuǎn)換的值。同樣地， 雙差值也可以是兩對信號分別經(jīng)差動(dòng)放大器進(jìn)行相減后再相加(或相減)所轉(zhuǎn)換的值。本 技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知本發(fā)明所述的差值與雙差值包括但不限于是以信號或信 號值來產(chǎn)生，也包括硬件或軟件實(shí)施過程中的記錄(電性記錄、磁性記錄、光學(xué)記錄)、信號 或信號值的暫時(shí)狀態(tài)。換言之，感測資訊可以是感測器上或感測器間的信號、差動(dòng)信號(如一對信號 差)、雙差動(dòng)信號(如二對信號差的和或差)，信號值、差值、雙差值(經(jīng)模擬轉(zhuǎn)換數(shù)字后的 信號、差值、雙差值)為另一種存在形態(tài)。由于信號與信號值、差動(dòng)信號與差值、雙差動(dòng)信號 與雙差值可以是感測資訊在不同階段的呈現(xiàn)。此外，為簡化說明，在本發(fā)明的說明中以觸碰 相關(guān)感測資訊泛指相應(yīng)于外部物件觸碰或接近的感測資訊，如原始觸碰相關(guān)感測資訊、差 動(dòng)觸碰相關(guān)感測資訊、雙差動(dòng)觸碰相關(guān)感測資訊。本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知在差值或雙差值中，零交會(huì)處位于至少一正 值與至少一負(fù)值間，亦即位于一對正值與負(fù)值之間(between apair of positive and negative values)。相應(yīng)于外部物件接近與觸碰的差值或雙差值為連續(xù)的至少一正值與至 少一負(fù)值的交替組合，至少一正值與至少一負(fù)值間為彼此相鄰或間隔至少一零值。在大部 分的情況下，相應(yīng)于外部物件接近或觸碰的差值或雙差值為連續(xù)的多個(gè)正值與多個(gè)負(fù)值的14交替組合，正值與負(fù)值間的零交會(huì)處可能是至少一零值或位于兩值間。相對地，觸碰相關(guān)的信號值為多個(gè)連續(xù)的非零值，或可能是一個(gè)不相鄰其他非零 值的獨(dú)立非零值。在某些情形中，一個(gè)不相鄰其他非零值的獨(dú)立非零值可能是因雜訊所產(chǎn) 生，需要靠一門檻值或其他機(jī)制辨識(shí)或排除(neglect)。由于在雜訊較大時(shí)，有可能產(chǎn)生類似外部物件接近與觸碰的零交會(huì)處，因此在本 發(fā)明的一范例中，是將落于一零值范圍內(nèi)的值皆視為零值，相應(yīng)于外部物件接近與觸碰的 差值或雙差值為連續(xù)多個(gè)大于一正門檻的值與小于一負(fù)門檻的值的交替組合，大于一正門 檻的值與小于一負(fù)門檻的值間的零交會(huì)處可能是至少一零值或位于兩值間。綜合上述，差動(dòng)觸碰相關(guān)感測資訊與雙差動(dòng)觸碰相關(guān)感測資訊為包括零交會(huì)處的 連續(xù)至少一正值與至少一負(fù)值的交替組合，其中零交會(huì)處可能是至少一零值或位于正值與 負(fù)值間。換言之，本發(fā)明將差動(dòng)觸碰相關(guān)感測資訊為雙差動(dòng)觸碰相關(guān)感測資訊中正值與負(fù) 值間連續(xù)多個(gè)零值也視為零交會(huì)處，或其中一個(gè)零值為零交會(huì)處。在本發(fā)明的一范例中，觸碰相關(guān)感測資訊預(yù)設(shè)是由至少一正值或一負(fù)值起始，由 起始的至少一正值或負(fù)值搜尋包括零交會(huì)處的連續(xù)至少一正值與至少一負(fù)值的交替組合， 其中零交會(huì)處可能是至少一零值或位于正值與負(fù)值間。在觸碰相關(guān)的差動(dòng)感測資訊中，至 少一正值與至少一負(fù)值的交替組合為對襯出現(xiàn)，并且在觸碰相關(guān)的雙差動(dòng)感測資訊中，至 少一正值與至少一負(fù)值的交替組合為不對襯出現(xiàn)。在本發(fā)明的另一范例中，觸碰相關(guān)感測 資訊是連續(xù)的非零值，如連續(xù)多個(gè)非零的信號值。上述至少一正值可視為一正值集合，包括至少一正值，同樣地上述至少一負(fù)值可 視為一負(fù)值集合，包括至少一負(fù)值。因此上述的交替組合可以是包括一正值集合與一負(fù)值 集合的兩個(gè)集合的組合或三個(gè)以上的集合以正值集合與負(fù)值集合交互穿插的組合。在本發(fā) 明的一范例中，可能在零個(gè)、一個(gè)、或多個(gè)正值集合與負(fù)值集合間存在至少一零值。系統(tǒng)架構(gòu)為了更清楚說明本發(fā)明的感測資訊的產(chǎn)生方式，本發(fā)明采用電容式觸控裝置為 例，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可輕易推知其他應(yīng)用于電阻式、紅外線式、表面聲波式、光 學(xué)式觸控裝置的應(yīng)用方式。請參閱圖IF所示，本發(fā)明提出一種位置偵測裝置100，包括一感測裝置120，與一 驅(qū)動(dòng)/偵測單元130。感測裝置120具有一感測層。在本發(fā)明的一范例中，可包括一第一感 測層120A與一第二感測層120B，第一感測層120A與第二感測層120B分別有多個(gè)感測器 140，其中第一感測層120A的多個(gè)第一感測器140A與第二感測層120B的多個(gè)第二感測器 140B交疊。在本發(fā)明的另一范例中，多個(gè)第一感測器140A與第二感測器140B可以配置在 共平面的感測層中。驅(qū)動(dòng)/偵測單元130依據(jù)多個(gè)感測器140的信號產(chǎn)生一感測資訊。例 如在自電容式偵測時(shí)，是感測被驅(qū)動(dòng)的感測器140，并且在互電容式偵測時(shí)，感測的是沒有 被驅(qū)動(dòng)/偵測單元130直接驅(qū)動(dòng)的部分感測器140。此外，感測裝置120可以是配置在顯示 器110上，感測裝置120與顯示器110間可以是有配置一屏蔽層(shielding layer)(未顯 于圖示)或者沒有配置屏蔽層。本發(fā)明的位置偵測裝置100可以是應(yīng)用于一計(jì)算系統(tǒng)中，如圖IG所示，包括一控 制器160與一主機(jī)170?？刂破靼?qū)動(dòng)/偵測單元130，以操作性耦合感測裝置120 (未 顯于圖示)。此外，控制器160可包括一處理器161，控制驅(qū)動(dòng)/偵測單元130產(chǎn)生感測資訊，感測資訊可以是儲(chǔ)存在存儲(chǔ)器162中，以供處理器161存取。另外，主機(jī)170構(gòu)成計(jì)算 系統(tǒng)的主體，主要包括一中央處理單元171，以及供中央處理單元171存取的儲(chǔ)存單元173， 以及顯示運(yùn)算結(jié)果的顯示器110。在本發(fā)明的另一范例中，控制器160與主機(jī)170間包括一傳輸界面，控制單元通 過傳輸界面?zhèn)魉唾Y料至主機(jī)，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知傳輸界面包括但不限于 UART、USB、lV、Bluet00th、WiFi等各種有線或無線的傳輸界面。在本發(fā)明的一范例中，傳輸 的資料可以是位置(如座標(biāo))、辮識(shí)結(jié)果(如手勢代碼)、命令、感測資訊或其他控制器160 可提供的資訊。在本發(fā)明的一范例中，感測資訊可以是由處理器161控制所產(chǎn)生的初始感測資訊 (initial sensing information)，交由主機(jī)170進(jìn)行位置分析，例如位置分析、手勢判斷、 命令辨識(shí)等等。在本發(fā)明的另一范例中，感測資訊可以是由處理器161先進(jìn)行分析，再將判 斷出來的位置、手勢、命令等等遞交給主機(jī)170。本發(fā)明包括但不限于前述的范例，本技術(shù)領(lǐng) 域的普通技術(shù)人員可推知其他控制器160與主機(jī)170之間的互動(dòng)。請參閱圖2A所示，在本發(fā)明的一范例中，驅(qū)動(dòng)/偵測單元130可以是包含驅(qū)動(dòng)單 元130A與偵測單元130B。感測裝置120的多個(gè)感測器140是經(jīng)由多條導(dǎo)線(wires)操作 性耦合至驅(qū)動(dòng)/偵測單元130。在圖2A的范例中，驅(qū)動(dòng)單元130A與偵測單元130B是分別 經(jīng)由導(dǎo)線Wl操作性耦合至感測器140A與經(jīng)由導(dǎo)線W2操作性耦合至感測器140B。例如，在自電容式偵測時(shí)，驅(qū)動(dòng)單元130A是經(jīng)由導(dǎo)線Wl在一第一時(shí)段輪流驅(qū)動(dòng)或 同時(shí)驅(qū)動(dòng)全部感測器140A，也可以是分次同時(shí)驅(qū)動(dòng)部分感測器140A，由偵測單元130B經(jīng)導(dǎo) 線Wl依據(jù)感測器140A的信號產(chǎn)生一第一軸向的感測資訊(一維度感測資訊)。同理，驅(qū)動(dòng) 單元130A是經(jīng)由導(dǎo)線W2在一第二時(shí)段輪流驅(qū)動(dòng)或同時(shí)驅(qū)動(dòng)全部感測器140B，也可以是分 次同時(shí)驅(qū)動(dòng)部分感測器140B，由偵測單元130B經(jīng)導(dǎo)線W2依據(jù)感測器140B的信號產(chǎn)生一第 二軸向的感測資訊(一維度感測資訊)。又例如，在互電容式偵測時(shí)，驅(qū)動(dòng)單元130A是經(jīng)由導(dǎo)線W2在第一時(shí)段輪流驅(qū)動(dòng) 感測器140B，分別在每一個(gè)感測器140B被驅(qū)動(dòng)時(shí)，由偵測單元130B經(jīng)導(dǎo)線Wl依據(jù)感測器 140A的信號產(chǎn)生相應(yīng)于被驅(qū)動(dòng)感測器的第一軸向的一維度感測資訊，這些第一軸向的一維 度感測資訊構(gòu)成第一軸向的一二維度感測資訊(或一影像)。同理，驅(qū)動(dòng)單元130A是經(jīng)由 導(dǎo)線Wl在第二時(shí)段輪流驅(qū)動(dòng)感測器140A，分別在每一個(gè)感測器140A被驅(qū)動(dòng)時(shí)，由偵測單元 130B經(jīng)導(dǎo)線W2依據(jù)感測器140B的信號產(chǎn)生相應(yīng)于被驅(qū)動(dòng)感測器的第二軸向的一維度感 測資訊，這些第二軸向的一維度感測資訊構(gòu)成第二軸向的一二維度感測資訊(或一影像)。 此外，驅(qū)動(dòng)單元130A與偵測單元130B間可以經(jīng)由線路132提供信號來進(jìn)行同步，線路132 的信號可以是由上述處理器160提供。請參閱圖2B所示，感測裝置120也可以是只產(chǎn)生單一軸向的二維度感測資訊，在 本范例中是由導(dǎo)線W2輪流驅(qū)動(dòng)感測器140B，分別在每一個(gè)感測器140B被驅(qū)動(dòng)時(shí)，由偵測單 元130B經(jīng)導(dǎo)線Wl依據(jù)感測器140A的信號產(chǎn)生相應(yīng)于被驅(qū)動(dòng)感測器的一維度感測資訊，這 些一維度感測資訊構(gòu)成一二維度感測資訊(或一影像)。換言之，本發(fā)明的位置偵測裝置100可以是具備產(chǎn)生兩個(gè)軸向的一維度感測資訊 或兩個(gè)軸向的二維度感測資訊的能力，或者是兼具產(chǎn)生兩個(gè)軸向的一維度感測資訊與二維 度感測資訊的能力，也可以只產(chǎn)生單軸向的二維度感測資訊。本發(fā)明包括但不限于上述電16置，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可輕易推知其他應(yīng)用于電阻式、紅外線式、 表面聲波式、光學(xué)式觸控裝置的應(yīng)用方式。請參閱圖3A所示，上述偵測單元130B是經(jīng)由導(dǎo)線(如Wl)操作性耦合至感測裝 置，操作性耦合可以是由一切換電路310來達(dá)成，切換電路可以是由一個(gè)或多個(gè)多工器、開 關(guān)(switch)等電性元件組合，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知其他切換電路的應(yīng)用。感 測器140的信號可以是由一偵測電路320來偵測，當(dāng)偵測電路320輸出的信號為模擬時(shí)，可 再經(jīng)由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路320來產(chǎn)生感測資訊Si。感測資訊SI可以是模擬或數(shù)字型式， 在本發(fā)明一較佳范例中，感測資訊為數(shù)字型式。本發(fā)明包括但不限于上述范例，本技術(shù)領(lǐng)域 的普通技術(shù)人員可推知偵測電路320與模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路330可以是整合于一個(gè)或多個(gè)電 路。偵測電路320可以是由一個(gè)或多個(gè)偵測器組成，每一個(gè)偵測器接收至少一感測器 140的信號來產(chǎn)生一輸出，偵測器可以是如圖:3B至圖3D的偵測器340、350、360所示。在本發(fā)明的一范例中，對于感測器140的信號的偵測，可以是以一積分器來偵測， 本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知其他如模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器等可量測電性特性(如電壓、電 流、電容、電感等等)的電路也可應(yīng)用于本發(fā)明。積分器可以是可以是以一放大器來實(shí)施， 具有有一輸入(如圖3B的積分器322所示)或一對輸入(如圖3C及圖3D的積分器3M所 示)，以及一輸出，輸出的信號可以是經(jīng)由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路320來產(chǎn)生感測資訊SI的值， 每一個(gè)值的產(chǎn)生可以是通過一重置信號來控制，如圖3B至圖3D的重置信號。在本發(fā)明的另一范例中，感測器140的信號為交流信號，隨一對半周期而改變，因 此對于感測器140的信號的偵測也是依據(jù)不同的半周期而改變，如在前半周期偵測感測器 140的信號，在后半周期偵測感測器140的反向信號，反的也然。因此，感測器140的信號 的偵測可以是通過一同步信號來控制，如圖3B至圖3C所示，同步信號與感測器140的信號 可以是同步或具有相同周期。例如，利用同步信號Ssync控制一個(gè)或多個(gè)開關(guān)(如開關(guān)電 路321、323、32幻在基點(diǎn)Pl與P2間切換，在前半周期偵測感測器140的信號，在后半周期 偵測感測器140的反向信號。在圖:3B中，反向信號可以是藉由一反向器來提供。在本發(fā)明的再一范例中，感測器140的信號的偵測是在至少一周期的至少一預(yù)設(shè) 的時(shí)段(或相位)偵測，可以是在前半周期的至少一時(shí)段與后半周期的至少一時(shí)段來偵測， 也可以只在前半周期或只在后半周期的至少一時(shí)段來偵測。在本發(fā)明的一較佳范例中，是 先掃描一周期中信號較佳的至少一時(shí)段，作為偵測時(shí)段，其中偵測時(shí)段相對于其他時(shí)段受 到雜訊的干擾較小。偵測時(shí)段的掃描可以依據(jù)至少一個(gè)感測器的信號在至少一周期中每一 個(gè)時(shí)段的偵測來判斷。在偵測時(shí)段判斷出來的后，感測器140的信號的偵測只在偵測時(shí)段 偵測，可以是通過一信號來控制，如圖:3B至圖3D中的致能信號。本發(fā)明是依據(jù)至少一感測器140的信號來產(chǎn)生感測資訊SI的值。在本發(fā)明的一 范例中，感測資訊SI是由多個(gè)信號值組成。例如圖;3B所示，是由一輸入311操作性耦合至 一感測器140，來偵測出一信號，再經(jīng)由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路330產(chǎn)生感測資訊SI的一信號 值。在本發(fā)明的另一范例中，感測資訊SI是由多個(gè)差值組成。例如圖3C所示，是由一對輸 入312、313操作性耦合至一對感測器140，來偵測出一差動(dòng)信號，再經(jīng)由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路 330產(chǎn)生感測資訊SI的一差值(或稱單差值)。在本發(fā)明的再一范例中，感測資訊SI是由 多個(gè)雙差值組成。例如圖3D所示。是由三個(gè)輸入314、315、316操作性耦合至三個(gè)感測器17140，來偵測出一雙差動(dòng)信號，再經(jīng)由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路330產(chǎn)生感測資訊SI的一雙差值。 雙差動(dòng)信號是依據(jù)一對差動(dòng)信號的差來產(chǎn)生，每一個(gè)差動(dòng)信號是依據(jù)一對感測器的信號來 產(chǎn)生。換言之，雙差動(dòng)信號可以是依據(jù)一第一對感測器與一第二對感測器的信號來產(chǎn)生，第 一對感測器為三個(gè)感測器中的前兩個(gè)感測器，并且第二對感測器為三個(gè)感測器中的后兩個(gè) 感測器，其中三個(gè)感測器可以是相鄰或不相鄰。在本發(fā)明的一較佳范例中，偵測電路320包含多個(gè)偵測器，可同時(shí)產(chǎn)生感測資訊 SI中的全部或部分的值。例如圖3E至圖3J所示，偵測電路320可以是由多個(gè)偵測器340、 350或360所組成，這些偵測器的輸出再由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路330轉(zhuǎn)換成感測資訊SI的值。模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路330包括至少一模擬轉(zhuǎn)換數(shù)字器ADC，每一個(gè)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器 可以是只依據(jù)一偵測器的輸出產(chǎn)生感測資訊SI的值，如圖3E、圖3G、圖31所示，也可以是 輪流由多個(gè)偵測器的輸出產(chǎn)生感測資訊SI的值，如圖3F、圖3H、圖3J所示。感測資訊SI的 值可以是平行產(chǎn)生也可以是序列產(chǎn)生，在本發(fā)明的一較佳范例中，感測資訊SI的值是序列 產(chǎn)生，可以是由一切換電路370來達(dá)成，例如將多個(gè)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器輪流輸出感測資訊SI 的值，如圖3E、圖3G、圖31所示，或?qū)⒍鄠€(gè)積分器的輸出輪流提供給一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器來產(chǎn) 生感測資訊SI的值，如圖3F、圖3H、圖3J所示。據(jù)此，在本發(fā)明的一范例中，是依據(jù)多個(gè)感測器的信號產(chǎn)生具有有多個(gè)信號值的 感測資訊Si，其中每一個(gè)信號值是依據(jù)一個(gè)感測器的信號來產(chǎn)生，如圖3B、圖3E與圖3F所 示。在本發(fā)明的另一范例中，是依據(jù)多個(gè)感測器的信號產(chǎn)生具有有多個(gè)差值的感測資訊Si， 其中每一個(gè)差值是依據(jù)一對感測器的信號來產(chǎn)生，如圖3C、圖3G與圖;3H所示。在本發(fā)明的 再一范例中，是依據(jù)多個(gè)感測器的信號產(chǎn)生具有多個(gè)雙差值的感測資訊Si，其中每一個(gè)雙 差值是依據(jù)三個(gè)感測器的信號來產(chǎn)生，如圖3D、圖31與圖3J所示。在圖3E至圖3J中，連接多個(gè)偵測器的導(dǎo)線包括但不限于導(dǎo)線W1，也可以是導(dǎo)線 W2。積分器與導(dǎo)線間包括但不限于直接連接，也可以是通過切換電路來連接，如圖3A所示。 在本發(fā)明的一范例中，感測資訊的值是由偵測電路320的至少一個(gè)偵測器以多次偵測來產(chǎn) 生，偵測電路320是通過切換電路310由這些感測器中挑選部分的感測器來進(jìn)行偵測。此 外，只有被挑選的感測器被驅(qū)動(dòng)單元130A驅(qū)動(dòng)，例如是在自電容式偵測中。另外，也可以是 只有被挑選的感測器與部分相鄰于被挑選的感測器被驅(qū)動(dòng)單元130A驅(qū)動(dòng)。在本發(fā)明的一第一范例中，感測資訊可以是由一雙差動(dòng)電路取得，雙差動(dòng)電路包 括一第一級差動(dòng)電路、一第二級差動(dòng)電路與一量測電路，例如圖3D、圖31或圖3J所示。第一級差動(dòng)電路包括一對或多個(gè)第一減法器(例如開關(guān)電路325中的差動(dòng)放大 器)，每一個(gè)第一減法器分別依據(jù)這些感測器中的一對感測器的信號產(chǎn)生一第一級差值信 號。此外，第二級差動(dòng)電路包括一個(gè)或多個(gè)第二減法器(例如積分電路324中的積分器)，每一個(gè)第二減法器分別依據(jù)這些第一級差值信號中的一對第一級差值信號產(chǎn)生一第 二級差值信號。另外，量測電路可以是如圖3A的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路所示，可以是如圖3D的積分器 3M與模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC所組成，或是如圖31的多個(gè)積分器324、多個(gè)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電 路ADC與一切換電路370所組成，也可以是如圖31的多個(gè)積分器324、一切換電路370與 一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC所組成。此外，量測電路是在一個(gè)或多個(gè)時(shí)點(diǎn)量測這些第二級差值信號，以產(chǎn)生該感測資訊。例如圖3D或圖3J所示，是在多個(gè)時(shí)點(diǎn)量測這些第二級差值信 號，或如圖31所示，是在一個(gè)時(shí)點(diǎn)量測這些第二級差值信號。在本發(fā)明圖3D、圖31與圖3J中，是以差動(dòng)積分器324同時(shí)進(jìn)行信號相減與量測， 其中信號量測可再包括以模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC產(chǎn)生一數(shù)字值。前述相關(guān)圖示與說明僅為 本發(fā)明的范例之一，并非用以限制本發(fā)明，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知信號相減與 信號量測可以是以不同電路施行，例如先經(jīng)過一減法器再經(jīng)過一積分器，在此不再贅述。在前述雙差動(dòng)電路中，感測資訊的每一個(gè)值分別是由這些第二級差值信號之一產(chǎn) 生，并且每一個(gè)第二級差值信號分別是由所述一對第一級差值信號的一第一差值信號與一 第二差值信號產(chǎn)生，其中第一差值信號是分別依據(jù)這些感測器的一第一感測器與一第二感 測器的信號產(chǎn)生，并且第二差值信號是分別依據(jù)這些感測器的第二感測器與一第三感測器 的信號產(chǎn)生。換言之，感測資訊的每一個(gè)值分別相應(yīng)于這些感測器中三個(gè)感測器的信號。在本發(fā)明的一第二范例中，感測資訊可以是由一差動(dòng)電路取得，差動(dòng)電路包括一 個(gè)或多個(gè)減法器與一量測電路，例如圖3C、圖3G或圖3H所示。在這些減法器中，每一個(gè)減 法器分別依據(jù)一對感測器的信號產(chǎn)生一差值信號。量測電路則量測這些差值信號，以產(chǎn)生 一差動(dòng)感測資訊，其中感測資訊的每一個(gè)值分別是由差動(dòng)感測資訊的一對值的差值。此外，量測電路是在一個(gè)或多個(gè)時(shí)點(diǎn)量測這些第二級差值信號，以產(chǎn)生該感測資 訊。例如圖3C或圖3H所示，是在多個(gè)時(shí)點(diǎn)量測這些第二級差值信號，或如圖3G所示，是在 一個(gè)時(shí)點(diǎn)量測這些第二級差值信號。在圖3C、圖3G或圖3H，減法器與量測電路的部分可以是由積分器3M來實(shí)施。前 述相關(guān)圖示與說明僅為本發(fā)明的范例之一，并非用以限制本發(fā)明，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù) 人員可推知信號相減與信號量測可以是以不同電路施行，例如先經(jīng)過一減法器再經(jīng)過一積 分器，在此不再贅述。此外，感測資訊的每一個(gè)值分別是差動(dòng)感測資訊的一第一差值與一第二差值的差 值，其中第一差值是分別依據(jù)這些感測器的一第一感測器與一第二感測器的信號產(chǎn)生，并 且第二差值是分別依據(jù)這些感測器的第二感測器與一第三感測器的信號產(chǎn)生。換言之，感 測資訊的每一個(gè)值分別相應(yīng)于這些感測器中三個(gè)感測器的信號。在本發(fā)明的第三范例中，感測資訊可以是由一量測電路取得，如圖:3B、圖3E或圖 3F所示。量測電路在一個(gè)或多個(gè)時(shí)點(diǎn)量測這些感測器的信號，以產(chǎn)生一初始感測資訊，感測 資訊是依據(jù)初始感測資訊產(chǎn)生，其中感測資訊的每一個(gè)值分別是由初始感測資訊的三個(gè)值產(chǎn)生。此外，量測電路是在一個(gè)或多個(gè)時(shí)點(diǎn)量測這些第二級差值信號，以產(chǎn)生該感測資 訊。例如圖3B或圖3F所示，是在多個(gè)時(shí)點(diǎn)量測這些第二級差值信號，或如圖3E所示，是在 一個(gè)時(shí)點(diǎn)量測這些第二級差值信號。感測資訊的每一個(gè)值分別是一第一差值與一第二差值的差或和，其中第一差值為 初始感測資訊的三個(gè)值的前兩個(gè)值的差值，并且第二差值為初始感測資訊的三個(gè)值的后 兩個(gè)值的差值。換言之，所述初始感測資訊的三個(gè)值分別是一第一值、一第二值與一第三 值，感測資訊的每一個(gè)值分別是(第二值-第一值)_(第三值-第二值)、(第一值-第 二值)_(第二值-第三值)、(第二值-第一值)+ (第二值-第一值)或(第一值-第二 值)+ (第三值-第二值)。前述初始感測資訊的每一個(gè)值是依據(jù)這些感測器之一的信號產(chǎn)19測資訊的每一個(gè)值分別相應(yīng)于這些感測器中三個(gè)感測器的信號。在發(fā)明的一范例中，感測資訊中的每一個(gè)觸碰相關(guān)感測資訊具有兩個(gè)零交會(huì)處， 并且被外部物件接近或觸碰的位置是依據(jù)每一個(gè)觸碰相關(guān)感測資訊判斷出來。在發(fā)明的另 一范例中，觸碰相關(guān)感測資訊位于感測資訊最前面部分或最后面部分，外部物件僅部分接 近或觸碰感測裝置的主動(dòng)區(qū)邊緣，而不具有兩個(gè)零交會(huì)處，需要例外處理。此外，前述的時(shí)點(diǎn)可以是包括但不限于經(jīng)過一個(gè)或多個(gè)時(shí)脈，或一個(gè)或多個(gè)時(shí)脈 的部分。再者，上述感測資訊的取得與產(chǎn)生可以是由前述控制器160來實(shí)施，上述雙差動(dòng) 電路、差動(dòng)電路與量測電路也可以是由控制器160來實(shí)施。在本發(fā)明中，感測器可以是由多個(gè)導(dǎo)電片與連接導(dǎo)線所構(gòu)成，例如是由多個(gè)連接 導(dǎo)線串連一連串的菱形或方形導(dǎo)電片所構(gòu)成。在結(jié)構(gòu)上，第一感測器140A與第二感測器 140B的導(dǎo)電片可以是排列不同平面，也可以是排列在相同平面。例如，第一、第二感測層 120A、120B間隔著一絕緣層或一壓阻(piezoresistive)層，其中壓阻層可以是由異方性導(dǎo) 電膠所構(gòu)成。又例如，第一感測器140A與第二感測器140B的導(dǎo)電片大體上排列在同一平 面，第一感測器140A的連接導(dǎo)線跨過第二感測器140B的連接導(dǎo)線。此外，第一感測器140A 的連接導(dǎo)線與第二感測器140B的連接導(dǎo)線間可配置一墊片，墊片可以是由絕緣材質(zhì)或壓 阻材質(zhì)所構(gòu)成。因此，在本發(fā)明的一范例中，每一感測器感測一感測范圍，并且是由多個(gè)感測器來 感測，這些感測器包含多個(gè)第一感測器與多個(gè)第二感測器，這些第一感測器間的感測范圍 平行，并且這些第二感測器間的感測范圍平行，這些第一、第二感測器的平行感測范圍交疊 構(gòu)成一交疊區(qū)陣列。例如這些第一、第二感測器分別為橫向與縱向排列的兩列紅外線接收 器，分別感測重直與水平的平行掃瞄范圍，重直與水平的平行掃瞄范圍交錯(cuò)處構(gòu)成一交疊 區(qū)陣列。又例如上述重直與水平的平行掃瞄范圍系由電容式或電阻式的多條交疊的感測器 來實(shí)施。感測資訊轉(zhuǎn)換(Conversion of Touch Sensitive Information)上述感測資訊的信號值、差值、雙差值間可以相互轉(zhuǎn)換。在本發(fā)明提供的一第一轉(zhuǎn) 換方式中，是將連續(xù)的信號值轉(zhuǎn)換成連續(xù)的差值，每一個(gè)差值為一對相鄰或不相鄰信號值 的差值。在本發(fā)明提供的一第二轉(zhuǎn)換方式中，是將連續(xù)的信號值轉(zhuǎn)換成連續(xù)的雙差值，每 一個(gè)雙差值為兩對信號值的差值和或差。在本發(fā)明提供的一第三轉(zhuǎn)換方式中，是將連續(xù)的差值轉(zhuǎn)換成連續(xù)的信號值，以每 一個(gè)差值加上在前或在后所有差值來產(chǎn)生相應(yīng)的信號值，組成連續(xù)的信號值。在本發(fā)明提供的一第四轉(zhuǎn)換方式中，是將連續(xù)的差值轉(zhuǎn)換成連續(xù)的雙差值，每一 個(gè)雙差值為相鄰或不相鄰的一對差值的和或差。在本發(fā)明提供的一第五轉(zhuǎn)換方式中，是將連續(xù)的雙差值轉(zhuǎn)換成連續(xù)的差值，以每 一個(gè)雙差值加上在前或在后所有雙差值來產(chǎn)生相應(yīng)的差值，組成連續(xù)的差值。在本發(fā)明提供的一第六轉(zhuǎn)換方式中，是將連續(xù)的雙差值轉(zhuǎn)換成連續(xù)的信號值。在 本發(fā)明的一范例中，是以每一個(gè)雙差值加上在前所有雙差值來產(chǎn)生相應(yīng)的差值，組成連續(xù) 的差值，再以每一個(gè)差值減去在后所有的差值來產(chǎn)生相應(yīng)的信號值，組成連續(xù)的信號值。在20本發(fā)明的另一范例中，是以每一個(gè)雙差值減去在前所有雙差值來產(chǎn)生相應(yīng)的差值，組成連 續(xù)的差值，再以每一個(gè)差值加上在后所有的差值來產(chǎn)生相應(yīng)的信號值，組成連續(xù)的信號值。前述加上在前或在后的所有差值或雙差值可以是以向前或向后累加或累減方式 來依序產(chǎn)生相應(yīng)的信號值或差值。上述的轉(zhuǎn)換方式包括但不限于一維度感測資訊的轉(zhuǎn)換，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人 員可推知上述的轉(zhuǎn)換方式也可以應(yīng)用于二維度感測資訊或三維度以上的感測資訊。此外， 本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知上述的轉(zhuǎn)換方式的作業(yè)可以是由前述控制器160或主 機(jī)170來執(zhí)行。據(jù)此，在本發(fā)明的一范例中，是將偵測到的第一形式的感測資訊(如一維度、二維 度感測資訊)轉(zhuǎn)換成用于位置分析的感測資訊。在本發(fā)明的另一范例中，是將偵測到的第 一形式的感測資訊轉(zhuǎn)換成一第二形式的感測資訊，再將第二形式的感測資訊轉(zhuǎn)換成用于位 置分析的感測資訊，例如由連續(xù)的雙差值轉(zhuǎn)換成連續(xù)的信號值。一維度位置分析(One Dimension Position Analysis)本發(fā)明提供的一第一種位置分析是依據(jù)感測資訊中多個(gè)差值分析出零交會(huì)處 (zero-crossing)的位置作為外部物件相應(yīng)的位置。本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知位 置分析可以是包括但不限于外部物件接近與觸碰的判斷，亦即外部物件相應(yīng)的位置的判斷 包括但不限于外部物件接近與觸碰的判斷。在本發(fā)明的一范例中，是搜尋包含一正值與一負(fù)值的一對鄰近差值，即零交會(huì)處 兩側(cè)的一對正值與負(fù)值，再判斷出這對鄰近的差值間零交會(huì)處的位置，例如依據(jù)這對鄰近 的差值產(chǎn)生一斜率來判斷出零交會(huì)處。此外，更可以是依據(jù)正值與負(fù)值的出現(xiàn)的先后順序 配合鄰近的差值間零交會(huì)處的判斷。前述的這對鄰近的差值可以是相鄰的差值，也可以中 間包含至少一零值的非相鄰的差值。此外，可以是以一預(yù)設(shè)的排列順序來搜尋這對鄰近正 值與負(fù)值，例如是搜尋先出現(xiàn)正值再出現(xiàn)負(fù)值的一對鄰近正值與負(fù)值。在本發(fā)明的另一范例中，是利用一門檻限值決定搜尋零交會(huì)處的起始位置，由起 始位置搜尋包含一正值與一負(fù)值的一對鄰近的差值，再依據(jù)這對鄰近的差值判斷出零交會(huì) 處的位置。本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知在差值表示的感測資訊中，相應(yīng)于外部物件 接近或觸碰的感測資訊大于一正門檻限值或小于一負(fù)門檻限值時(shí)，以此門檻限值所進(jìn)行的 搜尋包括但不限于對外部物件接近或觸碰的判斷。換言之，在掃描感測資訊的過程中，每當(dāng) 感測資訊大于一正門檻限值或小于一負(fù)門檻限值時(shí)，可判斷出感測資訊存在相應(yīng)一外部物 件接近或觸碰的零交會(huì)處。例如以一門檻限值產(chǎn)生相應(yīng)于正值的差值的二值化值，例如小于門檻限值(如正 門檻限值)的差值以0或偽值(false)代表，并且大于門檻限值的差值以1或真值(true) 代表，以相鄰差值為10的1處或真值及偽值的真值處為起始位置，零交會(huì)處的搜尋方向?yàn)?向后搜尋。同樣地，可以是以大于門檻限值(如負(fù)門檻限值)的差值以0或偽值(false) 代表，并且小于門檻限值的差值以1或真值(true)代表，以相鄰差值為01的1處或真值及 偽值的真值處為起始位置，零交會(huì)處的搜尋方向?yàn)橄蚯八褜?。例如表一及圖4A為以門檻限值判斷外部物件接近或觸碰的范例。表一21
編號信號值差值帛一二 值化差值 (Tl=4)第二二 值化差值 (Τ2=-4)10000200003030343710510-70163-300700008000090200102510117000127-501132-200140000150000范例中包括相應(yīng)15個(gè)感測器的信號值與差值，以及利用一正門檻限值Tl (以4為 例)及一負(fù)門檻限值T2(以-4為例)的判斷結(jié)果。在利用正門檻限值的判斷結(jié)果中，起始 位置10的1處，即第4個(gè)差值與第10個(gè)差值，在圖示中以直紋棒為例，代表有兩個(gè)外部物件 接近或觸碰。同樣地，在利用負(fù)門檻限值的判斷結(jié)果中，起始位置為相鄰差值為01的1處， 即第5個(gè)差值與第12個(gè)差值，在圖示中以橫紋棒為例，代表有兩個(gè)外部物件接近或觸碰。本 技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知起始位置的數(shù)量相應(yīng)于外部物件接近或觸碰的數(shù)量，本發(fā) 明不限于本范例中的2個(gè)外部物件接近或觸碰的數(shù)量，也可以是1個(gè)或更多個(gè)。在本發(fā)明的另一范例中，是利用一第一門檻限值與一第二門檻限值決定搜尋零交 會(huì)處的區(qū)間，包括但不限于判斷出一外部物件的接近或觸碰，再由區(qū)間內(nèi)搜尋零交會(huì)處的 位置。例如以一第一門檻限值產(chǎn)生相應(yīng)于正值的差值的二值化值，例如小于門檻限值的差 值以0(或偽值(false))代表，并且大于門檻限值的差值以1(或真值(true))代表，以相 鄰兩差值為10處的1為起始位置。此外，以第二門檻限值產(chǎn)生相應(yīng)于負(fù)值的差值的二值化 值，例如大于門檻限值的差值以0(或偽值)代表，并且小于門檻限值的差值以1(或真值) 代表，以相鄰兩差值為01處的1為結(jié)束位置。另外，將起始位置、結(jié)束位置配對決定搜尋零 交會(huì)處的區(qū)間。在本發(fā)明的一范例中，是以起始位置(如10處中的1位置)與結(jié)束位置 (如01處中的1位置)間的斜率判斷出零交會(huì)處。本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知上述 起始位置與結(jié)束位置可分別互換為結(jié)束位置與起始位置。本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員也可 推知可以是起始位置為01的1處并且結(jié)束位置為10的1處來判斷出觸碰相關(guān)感測資訊。例如以前述圖4A與表一為例，配對后的第一個(gè)搜尋零交會(huì)處的區(qū)間為第4個(gè)與第 5個(gè)差值間，配對后的第二個(gè)搜尋零交會(huì)處的區(qū)間為第10個(gè)與第12個(gè)差值間。本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知正門檻限值的掃描與負(fù)門檻限值的掃瞄可以 是同時(shí)進(jìn)行(或平行處理)，區(qū)間的配對也可以是在一起始位置被判斷出后，配對在后判斷22出來的結(jié)束位置。在本發(fā)明的一范例中，門檻限值是依感測資訊來產(chǎn)生，例如門檻限值是以所有差 值的絕對值中最大者乘上一比例(如小于一的比例，例如0.9)來決定，也可以是正門檻限 值是以正差值中最大者乘上一比例來決定，或是負(fù)門檻限值是以負(fù)差值中最小者乘上一比 例來決定。換言之，門檻限值可以是固定的或是動(dòng)態(tài)的。因此，門檻限值的絕對值較大時(shí)， 有可能發(fā)生相應(yīng)的外部物件的接近或觸碰在利用正門檻限值的掃描中被判斷出來，但在利 用負(fù)門檻限值的掃描中未被判斷出來，反之亦然。其中較大的門檻限值較有利于濾除雜訊 或虛觸，較小的門檻限值較有利于避免漏判真實(shí)的觸碰，或有利于判斷外部物件的接近。從上述說明中可推知，相應(yīng)于同一外部物件的接近或觸碰，不論是由正門檻限值 來判斷出起始位置后向后搜尋，或是由負(fù)門檻限值來判斷出起始位置后向前搜尋，皆會(huì)搜 尋到相同的零交會(huì)處。因此，在本發(fā)明的一范例中，是分別利用正門檻限值與負(fù)門檻限值掃 描起始位置，由起始位置搜尋零交會(huì)處，依據(jù)搜尋到的零交會(huì)處的數(shù)量判斷被外部物件接 近或觸碰的數(shù)量，并進(jìn)一步判斷零交會(huì)處的位置。當(dāng)相應(yīng)于外部物件觸碰或接近的零交會(huì) 處兩側(cè)的一對正值與負(fù)值是先正值再負(fù)值，依據(jù)正門檻限值判斷出的起始位置是向后搜尋 零交會(huì)處，而依據(jù)負(fù)門檻限值判斷出的起始位置是向前搜尋零交會(huì)處，反之亦然。另外，相 應(yīng)于同一外部物件的接近或觸碰不必然能在利用正門檻限值與負(fù)門檻限值掃描時(shí)都判斷 出起始位置。本發(fā)明提供的一第二種位置分析是依據(jù)感測資訊中多個(gè)信號值或雙差值分析出 質(zhì)心(centroid)位置(重心位置或加權(quán)平均位置)作為外部物件相應(yīng)的位置。在本發(fā)明的一范例中，是利用一門檻限值決定用于判斷質(zhì)心位置的信號值或雙差 值。如圖4B至圖4D所示，可以是以一門檻限值產(chǎn)生相應(yīng)于信號值或雙差值的二值化值，例 如小于門檻限值的信號值或雙差值以0或偽值(false)代表，并且大于門檻限值的信號值 或雙差值以1或真值(true)代表。在本例中是以1或真值代表的信號值或雙差值為用于 判斷質(zhì)心位置的信號值或雙差值。本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可推知其他以一門檻限值決 定用于判斷質(zhì)心位置的信號值或雙差值的方式，例如是以1或真值代表的信號值或雙差值 再加上兩側(cè)相鄰的多個(gè)信號值或雙差值為用于判斷質(zhì)心位置的信號值或雙差值。又例如是 以相鄰的連續(xù)1或真值代表的信號值或雙差值中相對中央的信號值或雙差值向前與向后 分別取i與j個(gè)信號值或雙差值作為用于判斷質(zhì)心位置的信號值或雙差值。在本發(fā)明的另一范例中，是將連續(xù)的信號值或雙差值轉(zhuǎn)換為連續(xù)差值，以分析出 零交會(huì)處相應(yīng)的信號值或雙差值作為中央的信號值或雙差值，再以中央的信號值或雙差值 向前與向后分別取i與j個(gè)信號值或雙差值作為用于判斷質(zhì)心位置的信號值或雙差值。在本發(fā)明的另一范例中，是以連續(xù)差值分析出零交會(huì)處，并且將連續(xù)的差值轉(zhuǎn)換 為連續(xù)的信號值或雙差值，再分析出零交會(huì)處相應(yīng)的信號值或雙差值作為中央的信號值或 雙差值，然后以中央的信號值或雙差值向前與向后分別取i與j個(gè)信號值或雙差值作為用 于判斷質(zhì)心位置的信號值或雙差值。假設(shè)以第η個(gè)信號值向前及向后分別取i個(gè)及j個(gè)信號值作為質(zhì)心計(jì)算范圍，依 據(jù)質(zhì)心計(jì)算范圍中的每個(gè)信號值Ck及每個(gè)信號值所在位置Xk判斷質(zhì)心位置c。mte。id，如下。
權(quán)利要求
1.一種在互電容偵測中分析位置的方法，其特征在于其包括以下步驟由多個(gè)感測器取得相應(yīng)于至少一外部物件接近或觸碰一第一信號源的一觸敏資訊；當(dāng)該觸敏資訊包括分別相應(yīng)于一第一特性與相應(yīng)于一第二特性的第一部分與第二部 分，并且該第一特性與該第二特性相反時(shí)，由該第二特性的部分分析是否存在具有相應(yīng)于 一第三特性的一第三部分，其中該第三部分相應(yīng)于該至少一外部物件接近或觸碰該第一信 號源；以及由該第三部分分析出該第三部分中相應(yīng)于該至少一外部物件的接近或觸碰的位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測中分析位置的方法，其特征在于其中所述的第 一特性與該第二特性之一為正值，并且該第一特性與該第二特性的另一個(gè)為負(fù)值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測中分析位置的方法，其特征在于其中所述的第 一部分、該第二部分與該第三部分為至少一單一或連續(xù)多個(gè)正值的集合與至少一單一或連 續(xù)多個(gè)負(fù)值的集合的交替組合。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的在互電容偵測中分析位置的方法，其特征在于其中所述的第 一特性與該第二特性之一為起始于該至少一單一或連續(xù)多個(gè)正值的集合，并且該第一特性 與該第二特性的另一個(gè)為起始于該至少一單一或連續(xù)多個(gè)負(fù)值的集合。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測中分析位置的方法，其特征在于其中所述的第 一部分相應(yīng)于至少一接地導(dǎo)體接近或觸碰該第一信號源，并且該第三部分相應(yīng)于至少一提 供一交流信號的第二信號源接近或觸碰該第一信號源。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測中分析位置的方法，其特征在于其中所述的第 三特性為不同于該第二特性的頻率。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測中分析位置的方法，其特征在于其中所述的第 三特性為該第三部分包括至少一值大于或小于一門檻限值，并且第二部分中第三部分以外 的部分不包括任何值大于或小于該門檻限值。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在互電容偵測中分析位置的方法，其特征在于其中所述的第 三部分的位置分析包括依據(jù)該第一門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第一起始位置；依據(jù)該第二門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第二起始位置；分別由每一個(gè)第一起始位置朝一第一方向的一第一范圍進(jìn)行一第一零交會(huì)處位置分 析；以及分別由每一個(gè)第二起始位置朝一第二方向的一第二范圍進(jìn)行該第一零交會(huì)處位置分 析，其中該第一零交會(huì)處位置分析所分析出來的零交會(huì)處為相應(yīng)該第三特性的位置，并且 該第一范圍與該第二范圍不包括該第一部分與該第二部分中第三部分以外的部分。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的在互電容偵測中分析位置的方法，其特征在于更包括由該第一部分分析出相應(yīng)于該至少一外部物件接近或觸碰該第一信號源的位置。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的在互電容偵測中分析位置的方法，其特征在于其中所述的 第一部分的位置分析包括依據(jù)該第一門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第三起始位置；依據(jù)該第二門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第四起始位置；分別由每一個(gè)第三起始位置朝該第二方向的一第三范圍進(jìn)行一第二零交會(huì)處位置分析；以及分別由每一個(gè)第四起始位置朝該第一方向的一第四范圍進(jìn)行該第二零交會(huì)處位置分 析，其中該第二零交會(huì)處位置分析所分析出來的零交會(huì)處為相應(yīng)該第一特性的位置，并且 其中該第三范圍與該第四范圍不包括該第二部分。
11.一種在互電容偵測中分析位置的裝置，其特征在于其包括包括多個(gè)感測器的一感測裝置；以及一控制器，執(zhí)行下列作業(yè)由多個(gè)感測器取得相應(yīng)于至少一外部物件接近或觸碰一第一信號源的一觸敏資訊；當(dāng)該觸敏資訊包括分別相應(yīng)于一第一特性與相應(yīng)于一第二特性的第一部分與第二部 分，并且該第一特性與該第二特性相反時(shí)，由該第二特性的部分分析是否存在具有有相應(yīng) 于一第三特性的一第三部分，其中該第三部分相應(yīng)于該至少一外部物件接近或觸碰該第一 信號源；以及由該第三部分分析出該第三部分中相應(yīng)于該至少一外部物件的接近或觸碰的位置。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其特征在于其中所述的 第一特性與該第二特性之一為正值，并且該第一特性與該第二特性的另一個(gè)為負(fù)值。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其特征在于其中所述的 第一部分、該第二部分與該第三部分為至少一單一或連續(xù)多個(gè)正值的集合與至少一單一或 連續(xù)多個(gè)負(fù)值的集合的交替組合。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其特征在于其中所述的 第一特性與該第二特性之一為起始于該至少一單一或連續(xù)多個(gè)正值的集合，并且該第一特 性與該第二特性的另一個(gè)為起始于該至少一單一或連續(xù)多個(gè)負(fù)值的集合。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其特征在于其中所述的 第一部分相應(yīng)于至少一接地導(dǎo)體接近或觸碰該第一信號源，并且該第三部分相應(yīng)于至少一 提供一交流信號的第二信號源接近或觸碰該第一信號源。
16.根據(jù)權(quán)利要求11所述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其特征在于其中所述的 第三特性為不同于該第二特性的頻率。
17.根據(jù)權(quán)利要求11所述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其特征在于其中所述的 第三特性為該第三部分包括至少一值大于或小于一門檻限值，并且第二部分中第三部分以 外的部分不包括任何值大于或小于該門檻限值。
18.根據(jù)權(quán)利要求11所述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其特征在于其中所述的 第三部分的位置分析包括依據(jù)該第一門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第一起始位置；依據(jù)該第二門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第二起始位置；分別由每一個(gè)第一起始位置朝一第一方向的一第一范圍進(jìn)行一第一零交會(huì)處位置分 析；以及分別由每一個(gè)第二起始位置朝一第二方向的一第二范圍進(jìn)行該第一零交會(huì)處位置分 析，其中該第一零交會(huì)處位置分析所分析出來的零交會(huì)處為相應(yīng)該第三特性的位置，并且 該第一范圍與該第二范圍不包括該第一部分與該第二部分中第三部分以外的部分。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其特征在于更包括由該第一部分分析出相應(yīng)于該至少一外部物件接近或觸碰該第一信號源的位置。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的在互電容偵測中分析位置的裝置，其特征在于其中所述的 第一部分的位置分析包括依據(jù)該第一門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第三起始位置； 依據(jù)該第二門檻限值在該觸敏資訊中決定至少一第四起始位置； 分別由每一個(gè)第三起始位置朝該第二方向的一第三范圍進(jìn)行一第二零交會(huì)處位置分 析；以及分別由每一個(gè)第四起始位置朝該第一方向的一第四范圍進(jìn)行該第二零交會(huì)處位置分 析，其中該第二零交會(huì)處位置分析所分析出來的零交會(huì)處為相應(yīng)該第一特性的位置，并且 其中該第三范圍與該第四范圍不包括該第二部分。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)于一種在互電容偵測中分析位置的方法與裝置。通過筆提供交流信號，相應(yīng)于手的觸碰相關(guān)感測資訊的第一特性與相應(yīng)于筆的觸碰相關(guān)感測資訊的第二特性相反。第一特性與第二特性可被用來區(qū)隔手與筆的觸碰或手掌忽視。
文檔編號G06F3/044GK102043553SQ20101050268
公開日2011年5月4日 申請日期2010年10月8日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月9日
發(fā)明者何順隆, 唐啟豪, 張欽富, 李政翰 申請人:禾瑞亞科技股份有限公司