專利名稱：測(cè)試卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試卡，特別涉及一種對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行負(fù)載測(cè)試的測(cè)試卡。
背景技術(shù)：
隨著電腦功能的擴(kuò)展能力愈來愈強(qiáng)，例如聲卡、網(wǎng)卡、顯卡以及USB外設(shè)等的介 入，電腦系統(tǒng)的穩(wěn)定性及可靠性也愈加重要，電腦系統(tǒng)的擴(kuò)展接口的負(fù)載能力成為電腦系 統(tǒng)的穩(wěn)定性的重要考察因素。一般地，電腦系統(tǒng)的擴(kuò)展接口(例如PCIE接口)的輸出電壓隨著擴(kuò)展接口的所接 外設(shè)的阻值的減小而降低，所述擴(kuò)展接口的輸出電壓必須大于插置于該擴(kuò)展接口的外設(shè)的 最小工作電壓以保證該外設(shè)能夠正常工作。在該擴(kuò)展接口所接的外設(shè)減小相同阻值的情況 下，擴(kuò)展接口的輸出電壓的降低幅度越小說明擴(kuò)展接口的負(fù)載能力越大，也就是當(dāng)擴(kuò)展接 口的電壓降低到一設(shè)定值時(shí)，擴(kuò)展接口所接的外設(shè)的阻值越小說明該擴(kuò)展接口的負(fù)載能力 越大。具體地，通過一張監(jiān)測(cè)卡來對(duì)電腦系統(tǒng)的擴(kuò)展接口進(jìn)行測(cè)試。雖然監(jiān)測(cè)卡能夠達(dá) 到檢測(cè)擴(kuò)展接口的目的，但只是檢測(cè)擴(kuò)展接口的回路是否通暢，并不能測(cè)試擴(kuò)展接口的負(fù) 載能力的大小。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種用于測(cè)試電腦系統(tǒng)的擴(kuò)展接口的負(fù)載能力的測(cè)試 卡。一種測(cè)試卡，包括一通訊接口模塊；一測(cè)試接口模塊，用于與一待測(cè)電腦系統(tǒng)的待測(cè)數(shù)據(jù)接口連接；一阻值調(diào)節(jié)模塊，與所述測(cè)試接口模塊連接；一電壓測(cè)量模塊，用于測(cè)量所述阻值調(diào)節(jié)模塊的輸入電壓并輸出所述輸入電壓的 值；一微控制器，用于調(diào)整所述阻值調(diào)節(jié)模塊的阻值；還用于接收所述輸入電壓的值 并通過所述通訊接口模塊輸出所述輸入電壓的值及所述阻值調(diào)節(jié)模塊的阻值；及一信號(hào)處理模塊，與所述通訊接口模塊連接，用于接收所述輸入電壓的值并將其 與一基準(zhǔn)電壓值進(jìn)行比較以判斷二者的大小，并在所述輸入電壓的值小于所述基準(zhǔn)電壓值 時(shí)根據(jù)所述阻值調(diào)節(jié)模塊的阻值大小判斷所述待測(cè)電腦系統(tǒng)的負(fù)載能力的大小。本發(fā)明測(cè)試卡通過所述測(cè)試接口模塊與待測(cè)數(shù)據(jù)接口連接，所述微控制器調(diào)整所 述阻值調(diào)節(jié)模塊接至所述測(cè)試接口模塊的阻值，所述電壓測(cè)量模塊測(cè)量所述阻值調(diào)節(jié)模塊 的輸入電壓的值并傳送給微控制器，然后所述微控制器通過所述通訊接口模塊將所述輸入 電壓的值及阻值調(diào)節(jié)模塊的阻值傳送給所述信號(hào)處理模塊，所述輸入電壓的值隨所述阻值 調(diào)節(jié)模塊的阻值的減小而降低，當(dāng)所述輸入電壓的值是否小于所述基準(zhǔn)電壓值時(shí)，所述信號(hào)處理模塊根據(jù)所述輸入電壓的值判斷所述待測(cè)數(shù)據(jù)接口的負(fù)載能力的大小，簡(jiǎn)單方便。


下面參照附圖結(jié)合具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。圖1是本發(fā)明測(cè)試卡的較佳實(shí)施方式與一待測(cè)電腦系統(tǒng)的框圖。主要元件符號(hào)說明
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試卡，包括一通訊接口模塊；一測(cè)試接口模塊，用于與一待測(cè)電腦系統(tǒng)的待測(cè)數(shù)據(jù)接口連接；一阻值調(diào)節(jié)模塊，與所述測(cè)試接口模塊連接；一電壓測(cè)量模塊，用于測(cè)量所述阻值調(diào)節(jié)模塊的輸入電壓并輸出所述輸入電壓的值；一微控制器，用于調(diào)整所述阻值調(diào)節(jié)模塊的阻值；還用于接收所述輸入電壓的值并通 過所述通訊接口模塊輸出所述輸入電壓的值及所述阻值調(diào)節(jié)模塊的阻值；及一信號(hào)處理模塊，與所述通訊接口模塊連接，用于接收所述輸入電壓的值并將其與一 基準(zhǔn)電壓值進(jìn)行比較以判斷二者的大小，并在所述輸入電壓的值小于所述基準(zhǔn)電壓值時(shí)根 據(jù)所述阻值調(diào)節(jié)模塊的阻值大小判斷所述待測(cè)電腦系統(tǒng)的待測(cè)數(shù)據(jù)接口的負(fù)載能力大小。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試卡，其特征在于所述通訊接口模塊至少包括USB接口、串 口、并口、IEEE1394接口及ESATA接口中的一個(gè)。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試卡，其特征在于所述測(cè)試接口模塊至少包括PCI接口、 PCIE接口及USB接口中的一個(gè)。
4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試卡，其特征在于所述阻值調(diào)節(jié)模塊包括一數(shù)字電位器，通 過所述微控制器控制所述數(shù)字電位器以調(diào)節(jié)所述阻值調(diào)節(jié)模塊與所述測(cè)試接口模塊連接 的阻值。
5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試卡，其特征在于所述阻值調(diào)節(jié)模塊至少包括多個(gè)繼電器 及多個(gè)阻值不同的電阻，通過所述微控制器控制所述繼電器來選擇不同的電阻與所述測(cè)試 接口模塊連接。
全文摘要
一種測(cè)試卡，包括一通訊接口模塊、一測(cè)試接口模塊、一阻值調(diào)節(jié)模塊、一電壓測(cè)量模塊、一微控制器及一信號(hào)處理模塊。測(cè)試接口模塊與一待測(cè)電腦系統(tǒng)的待測(cè)數(shù)據(jù)接口連接；阻值調(diào)節(jié)模塊與測(cè)試接口模塊連接；電壓測(cè)量模塊用于測(cè)量阻值調(diào)節(jié)模塊的輸入電壓并輸出輸入電壓的值；微控制器用于調(diào)整阻值調(diào)節(jié)模塊的阻值及接收輸入電壓的值并通過通訊接口模塊輸出輸入電壓的值及阻值調(diào)節(jié)模塊的阻值；信號(hào)處理模塊與通訊接口模塊連接，用于接收輸入電壓的值并將其與一基準(zhǔn)電壓值進(jìn)行比較以判斷待測(cè)數(shù)據(jù)接口的負(fù)載能力大小。本發(fā)明測(cè)試卡可測(cè)試電腦系統(tǒng)的數(shù)據(jù)接口的負(fù)載能力，簡(jiǎn)單方便。
文檔編號(hào)G06F11/267GK102129402SQ20101030042
公開日2011年7月20日 申請(qǐng)日期2010年1月19日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月19日
發(fā)明者朱鴻儒 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司