專利名稱：嵌入式設備燒機測試方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種測試方法，尤其涉及一種嵌入式設備燒機測試方法。
背景技術：
提高和保證嵌入式設備的產(chǎn)品質(zhì)量，是嵌入式設備生產(chǎn)企業(yè)的重要工作內(nèi)容。在 嵌入式設備產(chǎn)品出廠之前，對嵌入式設備各項性能進行測試、查找出問題點，能有效地保證 嵌入式設備的品質(zhì)，避免不良品流入市場。嵌入式設備的各項性能測試中，包含一項燒機測試，即對嵌入式設備長時間開機， 并檢測在該長時間開機過程中嵌入式設備是否能夠正常運行。然而，在以往的燒機測試中， 需要通過計算機將嵌入式設備燒機測試程序拷貝到嵌入式設備中，且需要作業(yè)員定期通過 計算機的顯示器查看嵌入式設備的測試狀態(tài)。若嵌入式設備通過測試，還需要將嵌入式設 備燒機測試程序從嵌入式設備中移除，降低了測試效率。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提出一種嵌入式設備燒機測試方法，其可以使嵌入式設備 燒機測試程序在嵌入式設備的內(nèi)存中獨立運行，且當嵌入式設備通過測試時，該嵌入式設 備燒機測試程序會自動從嵌入式設備的內(nèi)存中清除，提高了燒機測試效率。一種嵌入式設備燒機測試方法，該嵌入式設備燒機測試方法包括于計算機中設 置測試時間并啟動外置存儲設備中的嵌入式設備燒機測試程序，使該嵌入式設備燒機測試 程序在嵌入式設備的內(nèi)存中運行；斷開計算機與嵌入式設備間的連接，并將外置存儲設備 與嵌入式設備斷開；在上述設置的測試時間內(nèi)對該嵌入式設備進行測試；標識測試結(jié)果并 將嵌入式設備斷電，使得嵌入式設備燒機測試程序在嵌入式設備的內(nèi)存中被清除。相較于現(xiàn)有技術，所述的嵌入式設備燒機測試方法，可以將外置存儲設備與嵌入 式設備斷開，使嵌入式設備燒機測試程序在嵌入式設備的內(nèi)存中獨立運行，且當嵌入式設 備通過測試時，嵌入式設備燒機測試程序會自動從嵌入式設備的內(nèi)存中清除，提高了燒機 測試效率。


圖1是本發(fā)明嵌入式設備燒機測試方法較佳實施例的架構(gòu)圖。圖2是本發(fā)明嵌入式設備燒機測試方法較佳實施例的流程圖。圖3是圖2步驟S20中嵌入式設備燒機測試程序?qū)η度胧皆O備進行測試的具體作 業(yè)流程圖。主要元件符號說明
權利要求
1.一種嵌入式設備燒機測試方法，其特征在于，該嵌入式設備燒機測試方法包括于計算機中設置測試時間并啟動外置存儲設備中的嵌入式設備燒機測試程序，使該嵌 入式設備燒機測試程序在嵌入式設備的內(nèi)存中運行；斷開計算機與嵌入式設備間的連接，并將外置存儲設備與嵌入式設備斷開； 在上述設置的測試時間內(nèi)對該嵌入式設備進行測試；及標識測試結(jié)果并將嵌入式設備斷電，使得嵌入式設備燒機測試程序在嵌入式設備的內(nèi) 存中被清除。
2.如權利要求1所述的嵌入式設備燒機測試方法，其特征在于，所述在上述設置的測 試時間內(nèi)對該嵌入式設備進行測試的步驟包括如下步驟(a)啟動嵌入式設備中的進程查看指令以查看嵌入式設備所運行的進程；(b)判斷所查看到的嵌入式設備運行的進程與該嵌入式設備合格時所運行的進程是否一致；(c)當所查看的嵌入式設備運行的進程與該嵌入式設備合格時所運行的進程一致且測 試時間結(jié)束時，判定嵌入式設備通過測試；或(d)當所查看的嵌入式設備運行的進程與該嵌入式設備合格時所運行的進程不一致 時，判定該嵌入式設備沒有通過測試；及(e)將測試結(jié)果發(fā)送給所述測試設備。
3.如權利要求1所述的嵌入式設備燒機測試方法，其特征在于，所述嵌入式設備包括 網(wǎng)絡攝像頭、路由器及交換機。
4.如權利要求1所述的嵌入式設備燒機測試方法，其特征在于，所述在測試設備上標 識測試結(jié)果是指通過LED燈的亮或暗進行標識。
5.如權利要求1所述的嵌入式設備燒機測試方法，其特征在于，所述在測試設備上標 識測試結(jié)果是指通過在顯示器上顯示測試結(jié)果進行標識。
全文摘要
一種嵌入式設備燒機測試方法，該方法包括于計算機中設置測試時間并啟動外置存儲設備中的嵌入式設備燒機測試程序，使該嵌入式設備燒機測試程序在嵌入式設備的內(nèi)存中運行；斷開計算機與嵌入式設備間的連接，并將外置存儲設備與嵌入式設備斷開；在上述設置的測試時間內(nèi)對該嵌入式設備進行測試；標識測試結(jié)果并將嵌入式設備斷電，使得嵌入式設備燒機測試程序在嵌入式設備的內(nèi)存中被清除。利用本發(fā)明可嵌入式設備內(nèi)存中的嵌入式設備燒機測試程序自動清除，提高了燒機測試效率。
文檔編號G06F11/36GK102129403SQ201010300308
公開日2011年7月20日 申請日期2010年1月14日 優(yōu)先權日2010年1月14日
發(fā)明者曹朝杰, 田志海, 董華 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司