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用于識別標(biāo)簽或被適配為有待識別的物品的讀取裝置、相關(guān)方法及系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:6593296閱讀:1331來源:國知局
專利名稱:用于識別標(biāo)簽或被適配為有待識別的物品的讀取裝置、相關(guān)方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的多個實施方案涉及讀取裝置的領(lǐng)域。通過舉例,本發(fā)明的多個實施方案 涉及用于識別一個標(biāo)簽或一個有待識別的物品的一種讀取裝置、相關(guān)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
近來,將磁場用于識別的目的已經(jīng)是非常廣泛并且極為重要的。這可以在大量的 利用磁性圖案或磁性顆粒作為它們的識別手段的安全物品中看出。一些實例包括典型地使 用磁性墨或磁條來存儲加密的安全信息的安全文件,如支票、信用卡或票據(jù)。其他實例包括 使用磁性顆粒來生成一種隨機(jī)排列用作磁性指紋的防偽標(biāo)簽。此外,作為磁性安全特征,磁 性條形碼與磁性圖案也正在獲得普及。將磁場用于識別是受歡迎的,因為它是能夠快速并且可靠讀取的不可視識別的一 種負(fù)擔(dān)得起的形式。此外,使用磁場的識別標(biāo)簽通常不需要任何額外的功率來運(yùn)行,因為磁 場是這些磁性材料的一種固有特征。然而,在安全特征領(lǐng)域中用于檢測磁場的手段是非常有限的。大多數(shù)磁性的安全 物品,尤其是安全卡和文件,通常采用一種檢測手段,它涉及將這些物品的磁性面在一個槽 縫中滑動來獲取一個磁信號。盡管如此,增強(qiáng)的安全性常常要求磁場信號的分辨率達(dá)到一 個高的水準(zhǔn)。這鼓勵了對于用戶具有改進(jìn)的可用性的新的高分辨率的的檢測手段的開發(fā)。高分辨率檢測方法的一個實例是一種磁光檢測。在磁光盤(例如Sony公司的 "MiniDiscs")和類似的數(shù)據(jù)存儲裝置的情況下,磁光檢測是通過使偏振光從數(shù)字視頻盤 (DVD)內(nèi)部的反射表面返回而實現(xiàn)的。由于在該反射表面處或其附近存在一個磁場,反射光 的偏振被改變(通常偏振的這種旋轉(zhuǎn)是由于磁光克爾效應(yīng))。通過測量偏振中的改變,檢 測器能夠得到在反射表面處的磁場強(qiáng)度的一個度量。該系統(tǒng)對DVD運(yùn)行良好,這是由于它 們的形狀因素(例如,它們是非常光滑并且平坦的),以及事實上它們通常不會經(jīng)受惡劣環(huán) 境。然而,安全標(biāo)牌和標(biāo)記在它們的使用壽命的過程中可能遭受嚴(yán)重的擦傷以及其他嚴(yán)酷 的情況。因此,對于安全標(biāo)牌和標(biāo)記來說,使用要求被讀取的基片(例如,該標(biāo)牌)包含鏡 面式最終處理的反射表面的一種讀取方法并不總是實用的。幸運(yùn)的是,存在一種替代性磁光檢測方法。這里的反射表面是該讀取裝置本身的 一部分,并且光線內(nèi)部地反射到該讀取裝置自身。該讀取裝置的反射表面與被讀取的基片 進(jìn)行緊密接觸,這樣,來自基片的磁場可以影響該裝置內(nèi)的材料或光線。這意味著被讀取的 基片不受必須有一個平坦的鏡面表面的約束。其他的檢測方法涉及大磁阻(GMR)的使用, 例如,通量集中器。
已經(jīng)由許多集團(tuán)開發(fā)了內(nèi)部反射的磁光讀取器,它們用于存儲裝置的領(lǐng)域,但是 為了識別的目的對它們的使用是非常有限的。下面詳細(xì)說明磁光讀取器的一些實例。美國專利號3,512,866披露了一種磁光手持式觀察器。這種手持式觀察器專門針 對一種裝置,該裝置被構(gòu)造為利用磁光原理來運(yùn)轉(zhuǎn)從而提供磁媒質(zhì)(如一個磁帶)中的磁 狀態(tài)的一種視覺展現(xiàn)。該手持式觀察器利用克爾和法拉第磁光效應(yīng)來提供視覺展現(xiàn)??藸?磁光效應(yīng)使得從一個磁性表面反射的光束的光線偏振的主方向產(chǎn)生一種旋轉(zhuǎn)。法拉第磁光 效應(yīng)使得穿過一個磁媒質(zhì)的光束的光線偏振的主方向產(chǎn)生一種旋轉(zhuǎn)。這種磁光手持式觀察 器利用克爾和法拉第磁光效應(yīng)的組合來提供光束的光線旋轉(zhuǎn)的最大幅度。美國專利號5,742,036披露了利用磁光成像技術(shù)來標(biāo)記、捕獲以及解碼機(jī)器可讀 矩陣符號的方法。該專利涉及通過添加可磁化材料來增強(qiáng)在基片材料上的機(jī)器可讀矩陣符 號的標(biāo)記,并且然后,在一個后來時間,借助于該矩陣符號標(biāo)記相關(guān)聯(lián)的磁特性使用一個磁 光讀取裝置來讀取該標(biāo)記。然而,該專利中所述的方法主要處理Vericode 或其他的通過 沉淀一種粘性磁化合物形成的機(jī)器可讀矩陣符號的檢測。此外,該專利說明了一種磁防偽 符號的檢測,但是它沒有考慮在非符號應(yīng)用中的使用磁光裝置;例如,用于分散的磁性顆粒 的固有隨機(jī)性的成像。換言之,該專利中的磁光讀取器識別用磁性顆粒寫成的符號但是并 不讀取單個的顆粒,并且它考慮了它們在一個固定區(qū)域中的隨機(jī)位置,這樣該區(qū)域具有一 個不可重復(fù)的高分辨率圖案。美國專利號5,920,538披露了一種用于讀取被存儲的數(shù)據(jù)的磁光讀出方法、一種 磁光讀出頭及其制作方法。該專利說明了一種磁光讀出頭,它與具有一個波長的照明光源 一起使用來讀取磁性存儲的數(shù)據(jù)。這種磁光讀出頭包括一個光學(xué)透明基片,該基片具有被 適配為面對磁存儲媒質(zhì)的一個表面;一個光學(xué)透明的法拉第效應(yīng)旋轉(zhuǎn)器,該法拉第效應(yīng)旋 轉(zhuǎn)器具有配置在所述基片的所述表面上的一個法拉第系數(shù)Θρ,并且具有被適配為面對所 述磁存儲媒質(zhì)的一個法拉第效應(yīng)旋轉(zhuǎn)器表面;以及一個光反射性克爾效應(yīng)旋轉(zhuǎn)器,該克爾 效應(yīng)旋轉(zhuǎn)器具有配置在所述法拉第旋轉(zhuǎn)器表面上的一個克爾系數(shù)Θκ,其中 ,和Θρ在所 述照明光的所述波長處具有一個相同的運(yùn)算符號。在防偽技術(shù)領(lǐng)域,還發(fā)現(xiàn)使用多種技術(shù)的組合用于增強(qiáng)的保護(hù)是極為有利的,例 如,讀取磁數(shù)據(jù)及光數(shù)據(jù)二者。光和磁傳感器相結(jié)合的一些實例如以下所示。美國專利號3,612,835披露了一種光和磁結(jié)合的傳感器,該傳感器用于感測一個 物品的光性質(zhì)及磁特性二者,該物品例如是一張紙幣或者具備有待測試或讀取的可見的及 磁性的標(biāo)記的其他文件、一個信息承載媒質(zhì)(如一個有待讀取的數(shù)據(jù)記錄帶)、或者諸如此 類。該傳感器包括一個磁感測頭,該磁感測頭具有一個透明間隙,該透明間隙將該頭的磁芯 的兩極隔離開;以及一個光電元件,該光電元件被置于該頭中與該間隙對齊。在該頭之外, 該物品的一側(cè)接觸或者緊密地靠近該間隙處的這些磁極,并且用一個光源照射該物品,這 樣該物品的磁特性及光性質(zhì)二者可以在該物品與傳感器的相對運(yùn)動過程中同時被檢測。美國專利號3,876,981披露了一種字符辨識系統(tǒng)以及用于辨識用磁墨印刷的字 符的方法,其中通過利用磁傳感器和光傳感器二者來感測這些字符而增強(qiáng)了辨識。在該辨 識階段中或者在其之前,將從該磁傳感器的輸出信號導(dǎo)出的至少一個信號與從該光傳感器 的輸出信號導(dǎo)出的至少一個信號相結(jié)合。美國專利號6,745,942披露了一種磁性符號讀取器,該讀取器具有一個外殼,該外殼包含一個偏振光源,該光源通過一個磁光傳感器將光指引到一個反射器上,該反射器 將光通過該磁光傳感器反射回來,并且然后通過至少一個分析器并且進(jìn)入至少一個相機(jī)。 當(dāng)一個處理器與可能的一個第二相機(jī)連接時,一個取景器允許用戶監(jiān)視在該磁光傳感器上 的圖像(如一個取景器式相機(jī)中所看),這樣,當(dāng)檢測到一個圖像時,來自相機(jī)的圖像可以 由一個處理器進(jìn)行處理,以便向一個外部源輸出與該符號相關(guān)聯(lián)的信息。該分析器和偏振 光源提供了由該傳感器檢測到的這些圖像的對比度。位于該磁光傳感器周圍的一個偏壓或 擦除線圈可以增強(qiáng)或擦除在該傳感器上的圖像。磁可讀識別的早期使用之一可以在美國專利號3,755,730中找到。美國專利號 3,755,730披露了一種具有多個可磁化的識別戳的工具、器具或者器械,這些戳被一個不透 明的保護(hù)層(如涂料)所隱藏。這些戳可以通過使用一個磁讀取器來讀取。在PCT公開號WO 2004/013735中揭露了另一個實例。該公開文件披露了一種提 供有待應(yīng)用于商品的材料標(biāo)記的系統(tǒng)及其相關(guān)聯(lián)的方法。在一個實施方案中,以一種預(yù)定 的圖案來施用磁材性料。在跨越該結(jié)構(gòu)化的圖案的一個方向上磁材性料的積累可以提供一 個自動地可感測的值。磁可讀材料可以提供為一個預(yù)定的可重復(fù)的圖案,其中該磁材性料 被施用在一個表面上,該表面具有的分辨率至少在每英寸10,000至100個點的范圍內(nèi)。以下說明了另外的關(guān)于在文件和制造物品上的可重復(fù)的磁性圖案的現(xiàn)有技術(shù)美國專利號3,878’ 367披露了一種安全文件,該安全文件具有一個磁記錄層,該 磁記錄層包含均勻分布的具有磁各向異性的可磁化材料,其中該材料在多個被選定的位置 上相對一個參考位置是不同地實體性地對齊的,以提供一種磁性可檢測的永久性固定的信 息圖案,如用于驗證文件的一種編碼圖案。美國專利號4,081,132披露了一種安全文件,該安全文件具有一個載體和兩層可 磁化材料,一層覆蓋另一層,該載體與這兩個層都粘合在一起。一個層是用于記錄信息,而 另一個層具有一種可以被檢查以用于驗證目的的磁結(jié)構(gòu)。該專利披露了制作該結(jié)構(gòu)化的層 的一種優(yōu)選方法是該信息層上在來自于的一個記錄的磁場的影響下將可磁化材料沉積以 便形成該層,該層具有該結(jié)構(gòu)的形式。當(dāng)已經(jīng)形成該結(jié)構(gòu)化的層時,該記錄被擦除。該安全 文件可以是信用卡、紙幣或其他有價值的紙件。美國專利號3,803,634披露了用于磁印刷的一種裝置及方法,其中在一個主磁媒 質(zhì)的底板中形成了一個或多個孔用于磁性圖案印刷,并且一個或多個磁化元件(示例性地 由永磁體形成)被置于這些齒孔中,其中它們的端面從底板的表面上突出一個小的距離。 用于復(fù)制的一個從動磁媒質(zhì)的一個磁薄膜的表面與這些磁化元件的端面緊密接觸,并且一 個外部磁場被印記在這些接觸的部分上。通過安排這些磁化元件的或者通過所述磁化元件 關(guān)于該用于復(fù)制的從動磁媒質(zhì)的相對運(yùn)動形成所期望的磁性圖案;其結(jié)果是,所述磁性圖 案被復(fù)制在從動磁媒質(zhì)的磁薄膜上。美國專利號4,183,989披露了一種安全紙件,該安全紙件包含一種安全裝置,例 如條、線或畫板,其上具有至少兩個機(jī)器可驗證的安全特征,其中一個是一種磁材性料,該 磁材性料可以用一個預(yù)先確定的圖案被磁編碼或印刷在該裝置上,而其中第二個是一種發(fā) 光材料、一種X射線吸收劑或一種金屬。在一個裝置上供給幾個特征提供了文件安全性的 大的提高。美國專利號3,701,165披露了被形成為帶有標(biāo)記或縫線的外衣,這些標(biāo)記或縫線攜帶一種可以被磁檢測裝置檢測的物質(zhì)。當(dāng)在制作外衣的過程中檢測到該外衣部分上的磁化物質(zhì)時,響應(yīng)于檢測到該線跡而驅(qū)動后續(xù)的衣服制作步驟。美國專利號4,180,207披露了通過將一個本體牢固地附裝在一個支持物上來生 成一種安全文件,該本體包括一種安全特征并且具有一種形狀,該形狀將信息傳送到眼睛 里。例如,該本體是一個可磁化材料的層,該可磁化材料層具有字母、數(shù)字以及諸如此類的 孔徑。該文件可以被磁檢查裝置與光檢查裝置檢查,以便交叉核對并沒有做出改變。該專 利還說明了制作安全文件及檢查裝置的方法。該安全特征可以是固定在該材料中的磁各向 異性的一種圖案。美國專利號3,755,730披露了一種具有多個可磁化識別戳的工具、器具或者器 械,這些戳被一個不透明的保護(hù)層(如涂料)所隱藏。這些戳可以使用一個磁讀取器來讀 取。在創(chuàng)建優(yōu)選的防偽磁性指紋中,磁性顆粒需要以一種特定的方式排列以給出可區(qū) 分的信號。在美國專利申請?zhí)?0060081151中披露了一種方法。該專利申請披露了一種使 用糊劑用于印刷的方法及裝置,該糊劑例如是墨(如在凹版印刷中所使用的那些),其中該 墨包括一些特殊的薄片,例如薄膜狀光學(xué)可變薄片,或衍射薄片。該專利申請還披露了一種 具有能源的裝置,該能源例如一個熱源,該能源用于在墨內(nèi)的薄片排列過程中暫時降低墨 的粘度。還可以在美國專利號7,047,883中找到一種類似的方法。美國專利號7,047,883 披露了一種裝置及多種相關(guān)的方法來排列一個載體(如一種墨載體或一種涂料載體)中的 多個磁性薄片,以便在一個高速、線性的印刷操作中創(chuàng)建光學(xué)可變的圖像。圖像可以在高價 值的文件(如銀行票據(jù))上提供安全特征。在線性印刷操作中,利用磁體將墨中的磁性薄 片排齊。磁顏料薄片的選定的朝向可以多種虛幻的光學(xué)效應(yīng),它們對于裝飾或安全的應(yīng)用 是有用的。然而,對用于識別標(biāo)簽或被適配為有待識別的物品的一種讀取裝置、系統(tǒng)及方法 仍然存在一種需要,該裝置、系統(tǒng)及方法提供驗證的足夠的安全性,即,在其中識別的可靠 性是足夠高的。本發(fā)明的一個目的是提供這樣一種讀取裝置、系統(tǒng)及方法。這個目的以及其他的 目的是由對應(yīng)的獨立權(quán)利要求所限定的讀取裝置、方法及系統(tǒng)所解決的。

發(fā)明內(nèi)容
在本發(fā)明的一個第一實施方案中,提供了用于識別一個標(biāo)簽或被適配為有待識別 的物品的一種讀取裝置。該讀取裝置包括一個第一讀取元件,該第一讀取元件用于讀取位 于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的一個第一組的識別特征,其中該第一讀取元件 是一個磁光讀取元件;以及一個第二讀取元件,該第二讀取元件用于讀取位于該標(biāo)簽或該 被適配為有待識別的物品中的一個第二組的識別特征。注意,此處當(dāng)介詞“中”或“上”被 用于說明識別特征相對標(biāo)簽或物品的位置時,還考慮了另一個介詞的使用(例如,“在一個 標(biāo)簽中”也應(yīng)該被認(rèn)為是“在一個標(biāo)簽上”,并且反之亦然。)該讀取裝置被配置為使得從讀 取的第一組的識別特征中生成的一種第一信號以及通過讀取該第二組的識別特征生成的 一種第二信號被獨立地用于導(dǎo)出用于識別該標(biāo)簽或物品的一個第一簽名和一個第二簽名。
在一個實施方案中,被用于該磁光讀取的光是在該磁光讀取元件中內(nèi)部地反射 的。在另一個實施方案中,該磁光讀取元件包括至少一個光處理單元以及至少一個磁 光基片。該至少一個光處理單元包括多個部件,這些部件包括至少一個光學(xué)檢測器、至少 一個透鏡、至少一個偏光器、以及至少一個光源。該磁光基片可以包括一個光學(xué)透明(基 底)基片、一個第一涂敷層(如一個磁光薄膜)以及一個第二涂敷層(例如,反射層)。該 光學(xué)透明(基底)基片、該第一涂敷層以及該第二涂敷層可以是以一種層安排的形式,下文 中也討論了這種形式。該磁光基片以及該層安排可以進(jìn)一步包括一個保護(hù)層。該磁光基片 包括至少一個開口,該開口用于對該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品上的一個第三組的 識別特征的一種直接的光學(xué)讀取。在另一個實施方案中,該光處理單元以及該磁光基片中的多個部件可以具有彼此 相對的一種固定的空間關(guān)系。在另一個實施方案中,該第二讀取元件是選自下組,其組成為條形碼掃描器、射 頻識別標(biāo)簽讀取器、字符辨識讀取器、光學(xué)圖像捕獲系統(tǒng)、高斯計、磁強(qiáng)計、熒光計、剩磁計、 以及發(fā)送接收器。在另一個實施方案中,該第一讀取元件包括一個接合元件,該接合元件用于將該 磁光基片定位于該第一組的識別特征的一個區(qū)域上。該接合元件實質(zhì)上包圍了該磁光基 片。該接合元件在形狀上于該標(biāo)簽或物品中的一個接合軌道是實質(zhì)上互補(bǔ)的,從而形成一 種互鎖裝置。該接合元件可以被形成為一個腔或一個凹陷,并且該凹陷具有的高度為至少 大約50微米、至少大約150微米、至少大約200微米、或至少250微米。該接合元件還可以 被形成為一個突起。該突起具有的高度為至少大約50微米、至少大約150微米、至少大約 200微米、或至少250微米。該接合元件在截面上具有一個圓形的形狀或一個多邊形截面形 狀。在另一個實施方案中,至少該第一讀取元件被適配為當(dāng)與該標(biāo)簽或有待識別的物 品相接觸時與該標(biāo)簽或有待識別的物品相符合。該第一讀取元件可以包括一個構(gòu)造元件, 當(dāng)使該第一讀取元件與該標(biāo)簽或有待識別的物品相接觸時,該構(gòu)造元件協(xié)助至少該第一讀 取元件與該標(biāo)簽或有待識別的物品相符合。該構(gòu)造元件可以包括至少一個成員,如彈簧、海 綿、抽吸系統(tǒng)、液壓系統(tǒng)、或氣壓系統(tǒng)。該構(gòu)造元件被適配為在讀取過程中將至少該第一讀 取元件推在有待讀取的一個區(qū)域上。該構(gòu)造元件還可以被適配為如果該讀取裝置被掉落在 或者碰到一個硬的表面上時保護(hù)該第一讀取元件的表面不被損壞。該構(gòu)造元件還可以被設(shè) 計為如果該第一讀取元件被推動時允許該第一讀取元件下沉到該接合元件的水平以下。該 第一讀取元件在不使用時被容納在該接合元件的水平以下,但是當(dāng)它與該標(biāo)簽或有待讀取 的物品接合時,該接合元件被定位為將該第一讀取元件推到有待讀取的區(qū)域的表面上。至 少該第一讀取元件在被置于同該標(biāo)簽或有待識別的物品相接觸時是與該接合元件有距離 的,從而允許該第一讀取元件與該標(biāo)簽或有待識別的物品相符合。在本發(fā)明的一個第二實施方案中,提供了用于識別一個標(biāo)簽或被適配為有待識別 的物品的一種讀取裝置。該讀取裝置包括一個第一讀取元件,該第一讀取元件用于讀取位 于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中一個第一組的識別特征,其中該第一讀取元件是 一個磁光讀取元件,其中該第一讀取元件被適配為當(dāng)與該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品進(jìn)行接觸時,該第一讀取元件與該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品相符合。注意,此 處當(dāng)使用術(shù)語“磁光讀取元件”時,所有形式的磁光讀取元件都被考慮在內(nèi),特別是那些被 配置為使得被分析用以確定磁場特征的光是在讀取裝置之中內(nèi)部地反射的磁光讀取元件 (美國專利號5,920,538中披露的配置提供了這樣一種配置的實例)。在一個實施方案中,該讀取裝置進(jìn)一步包括一個第二讀取元件,該第二讀取元件 用于讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的一個第二組的識別特征。該讀取裝 置被配置為使得從讀取的第一組的識別特征中生成的一種第一信號以及通過讀取該第二 組的識別特征生成的一種第二信號被獨立地用于導(dǎo)出用于識別該標(biāo)簽或物品的一個第一 簽名和一個第二簽名。被用于該磁光讀取的光是在該磁光讀取元件中內(nèi)部地反射的。在另一個實施方案中,該磁光讀取元件包括至少一個光處理單元以及至少一個磁 光基片。該至少一個光處理單元可以包括多個部件,其中這些部件包括至少一個光學(xué)檢測 器、至少一個透鏡、至少一個偏光器、以及至少一個光源??扇芜x地,該光學(xué)處理單元還可以 包括至少一個分束器。該磁光基片包括一個光學(xué)透明(基底)基片、一個第一涂敷層(例 如,一個磁光薄膜)以及一個第二涂敷層(例如,一個反射層)??梢允乖摴鈱W(xué)透明(基底) 基片、該第一涂敷層以及該第二涂敷層形成為一種層安排。該磁光基片可以進(jìn)一步包括一 個保護(hù)層。該磁光基片包括至少一個開口,該開口用于對一個標(biāo)簽或一個被適配為有待識 別的物品上的多個識別特征和/或多個對齊標(biāo)記的一種直接的光學(xué)讀取。在這種情況下, 注意到此處說明的每個磁光基底可以包括可任選地形成為一種層安排的一個光學(xué)透明基 片、一個第一涂敷層以及一個第二涂敷層。在另一個實施方案中,該光處理單元以及該磁光基片中的多個部件彼此相對具有 一種固定的空間關(guān)系。在該光學(xué)透明的基片的情況下,如本申請中所說明的一個磁光基片 的第一涂敷層與第二涂敷層被形成為一種層安排,這個層安排以及該光處理單元中的這些 部件可以彼此相對具有一種固定的空間關(guān)系。在另一個實施方案中,該第二讀取元件是選自下組,其組成為條形碼掃描器、射 頻識別標(biāo)簽讀取器、字符辨識讀取器、光學(xué)圖像捕獲系統(tǒng)、高斯計、磁強(qiáng)計、熒光計、剩磁計 以及發(fā)送接收器。在另一個實施方案中,該第一讀取元件包括一個接合元件,該接合元件用于將該 磁光基片定位于該第一組的識別特征的一個區(qū)域上。該接合元件實質(zhì)上包圍了該磁光基 片。該接合元件在形狀上與該標(biāo)簽或物品中的一個接合軌道是實質(zhì)上互補(bǔ)的,從而形成一 種互鎖裝置。該接合元件可以被形成為一個腔或一個凹陷,并且該凹陷具有的高度為至少 大約50微米、至少大約150微米、至少大約200微米、或至少250微米。該接合元件也可以 被形成為一個突起。該突起具有的高度為至少大約50微米、至少大約150微米、至少大約 200微米、或至少250微米。該接合元件在截面上具有一個圓形的形狀或一個多邊形截面形 狀。在另一個實施方案中,該第一讀取元件包括一個構(gòu)造元件,當(dāng)使該第一讀取元件 與該標(biāo)簽或有待識別的物品相接觸時,該構(gòu)造元件協(xié)助至少該第一讀取元件與該標(biāo)簽或有 待識別的物品相符合。該構(gòu)造元件包括至少一個彈簧、海綿、抽吸系統(tǒng)、液壓系統(tǒng)、或氣壓系 統(tǒng)。該構(gòu)造元件在讀取過程中將至少該第一讀取元件推在有待讀取的一個區(qū)域上。該構(gòu)造 元件被適配為如果該讀取裝置被掉落在或者碰到一個硬的表面上時保護(hù)該第一讀取元件的表面不被損壞。該構(gòu)造元件被設(shè)計為如果該第一讀取元件被推動時允許該第一讀取元件 下沉到該接合元件的水平以下。該第一讀取元件在不使用時被容納在該接合元件的水平以 下,但是當(dāng)它與該標(biāo)簽或有待讀取的物品接合時,該接合元件被定位為將該第一讀取元件 推到有待讀取的區(qū)域的表面上。至少該第一讀取元件在被置于同該標(biāo)簽或有待識別的物品 相接觸時是與該接合元件有距離的,從而允許該第一讀取元件與該標(biāo)簽或有待識別的物品 相符合。在本發(fā)明的一個第三實施方案中,提供了用于識別一個標(biāo)簽或被適配為有待識別 的物品的一種讀取裝置。該讀取裝置包括一個第一讀取元件,該第一讀取元件用于讀取位 于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的一個第一組的識別特征,其中該第一讀取元件 是一個磁光讀取元件,該磁光讀取元件包括至少一個光處理單元以及至少一個磁光基片。 該第一讀取元件包括一個接合元件,該接合元件用于將該第一讀取元件定位于該第一組的 識別特征的一個區(qū)域上,其中該接合元件實質(zhì)上包圍了該第一讀取元件,并且該接合元件 在形狀上與該標(biāo)簽或被適配為有待識別的物品中的一個接合軌道是實質(zhì)上互補(bǔ)的,從而形 成一種互鎖裝置。該接合元件被形成為一個凹陷或突起。在本發(fā)明的一個第四實施方案中,提供了用于識別一個標(biāo)簽或被適配為有待識別 的物品的一種讀取裝置。該讀取裝置包括一個讀取元件,該讀取元件用于讀取位于該標(biāo)簽 或該被適配為有待識別的物品中的磁性特征及光學(xué)特征。該讀取元件進(jìn)一步包括至少一個 光處理單元以及至少一個磁光基片。該讀取元件進(jìn)一步包括至少一個開口,該開口用于對 該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品上的多個光學(xué)特征和/或多個對齊標(biāo)記的一種直接 的光學(xué)讀取。在該讀取裝置的一個實施方案中,該至少一個光處理單元包括多個部件,其中這 些部件包括至少一個光學(xué)檢測器、至少一個透鏡、至少一個偏光器、以及至少一個光源。這種讀取裝置的磁光基片可以包括一個光學(xué)透明基片、一個第一涂敷層以及一個 第二涂敷層。該第一涂敷層可以是一個磁光薄膜或多個薄膜,而該第二涂敷層可以是一個 反射層。該磁光基片可以進(jìn)一步包括一個保護(hù)層(與上述披露相一致),該光學(xué)透明基片、 該第一涂敷層以及該第二涂敷層可以被提供為一種層安排。在該讀取裝置的一個實施方案中,該光處理單元以及該磁光基片中的多個部件可 以彼此相對具有一種固定的空間關(guān)系。在該光學(xué)透明磁光基片、一個第一涂敷層以及一個 第二涂敷層的一種層安排的情況下,該層安排可以相對該光處理單元的其他部件中的一個 或多個具有一種固定的空間關(guān)系。在另一個實施方案中,該讀取元件的至少一個開口允許該光學(xué)檢測器在同一個圖 像內(nèi)獲取磁信息和光信息二者。該讀取元件的光學(xué)檢測器可以是任何適當(dāng)?shù)某上駟卧?,?括但不限于一個CMOS芯片或一個CXD芯片。在該讀取裝置的一個實施方案中,在該磁光基片中形成了至少一個開口,該開口 允許對在該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品上的多個光學(xué)特征和/或?qū)R標(biāo)記的直接 的光學(xué)讀取。該至少一個開口可以通過形成該磁光基片的一個或多個涂敷層的圖案來形 成。在另一個實施方案中,通過鄰近該磁光基片的該讀取元件的一個光學(xué)透明部分形 成了該至少一個開口,該開口允許對在該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品上的多個光學(xué)特征和/或?qū)R標(biāo)記的直接的光學(xué)讀取。在本發(fā)明的一個第五實施方案中,提供了用于識別一個標(biāo)簽或被適配為有待識別 的物品的一種方法。該方法包括利用一個讀取元件讀取多個磁性特征及多個光學(xué)特征二 者。該讀取元件包括至少一個光處理單元和至少一個磁光基片;并且該讀取元件進(jìn)一步包 括至少一個開口,該開口用于對該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品上的所述多個光學(xué)特 征的直接的光學(xué)讀取。在該方法的一個實施方案中,這些磁性特征包括位于該標(biāo)簽或該有待識別物品中 的一個第一組的識別特征。在另一個實施方案中,該方法包括通過位于該標(biāo)簽或該有待識別的物品中的該第 一組的識別特征生成一個信號。在這種方法中使用的該第一組的識別特征可以包括多個 磁性的或者可磁化的顆粒的一種無序安排,這些顆粒被包括在該標(biāo)簽或物品的一個識別層 中。這些磁性的或者可磁化的顆粒的無序安排可以包括多個隨機(jī)分布的磁性的或者可磁化 的顆粒。這些磁性顆??梢园ㄔ诖怂兑约皡⒄毡景l(fā)明的其他實施方案所解釋的任意 高矯頑性材料或任意亞鐵磁性材料、反鐵磁性材料、鐵磁性材料、或在一種連續(xù)材料中具有 變化的磁特性的多個域(包括引起可變磁特性的多個空隙)、以及它們的多種組合。在該第五實施方案的方法的一個實施方案中,這些被讀取的光學(xué)特征是多個對齊 標(biāo)記和/或一個第二組的識別特征。在另一個實施方案中,這些對齊標(biāo)記可以被用于確定相對于一個參考讀取對該第 一組的識別特征的該讀取的方向和位置,該參考讀取用于獲得位于該標(biāo)簽或該有待識別的 物品中的該第一組的識別特征的一個參考簽名。在另一個實施方案中,來自這些磁性特征和光學(xué)特征二者中的信息是從由一個光 學(xué)檢測器捕獲的同一個圖像中獲取的。在該方法中使用的該光學(xué)檢測器可以是一個成像單 元,如一個CMOS芯片或一個CCD芯片。在本發(fā)明的一個第六實施方案中,披露了用于識別一個標(biāo)簽或被適配為有待識別 的物品的一種方法。該方法包括僅通過對位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的一 個第一組的識別特征的一個磁光讀取來生成一種第一信號,其中該第一組的識別特征包括 多個磁性的或可磁化的顆粒的一種無序安排,這些顆粒被包括在該標(biāo)簽或物品的一個識別 層中。像這樣從讀取該第一組的識別特征所生成的該第一信號被用于導(dǎo)出一個用于識別該 標(biāo)簽或物品的第一簽名。在該方法的一個實施方案中,這些磁性的或者可磁化的顆粒的無序安排包括多個 隨機(jī)分布的磁性的或者可磁化的顆粒。這些磁性顆粒可以包括一種亞鐵磁性材料、一種反 鐵磁性材料、一種鐵磁性材料、或在一種連續(xù)材料中具有變化的磁特性的多個域(包括引 起可變磁特性的多個空隙)、以及它們的多種組合。該鐵磁性材料可以選自下組,其組成為 MnBi、CrTe、EuO、CrO2, MnAs、Fe、Ni、Co、Gd、Dy,F(xiàn)e、Ni、Co、Sm、Gd、Dy 的多種相應(yīng)的合金和 氧化物,以及它們的多種組合。一種示例性的高矯頑性材料是一種釹磁體,它包括釹、鐵和 硼。在另一個實施方案中,該方法進(jìn)一步包括從讀取的第二組的識別特征中生成一種 第二信號。從讀取的第一組的識別特征中所生成的該第一信號以及從讀取的該第二組的識 別特征中所生成的該第二信號被獨立地用于導(dǎo)出用于識別該標(biāo)簽或物品的一個第一簽名和一個第二簽名。該第二組的識別特征包括一個芯片、一個磁條、一個序列號、或一個光學(xué) 標(biāo)識。該芯片是一個射頻識別標(biāo)簽或一個基于接觸的存儲器芯片。該光學(xué)標(biāo)識是一個線性 條形碼、2D條形碼、矩陣條形碼、或一個全息圖。該光學(xué)標(biāo)識可以對裸的人眼是不可見的,但 是在電磁譜的紫外線或紅外線狀態(tài)下是可檢測的。在另一個實施方案中,該第一組的識別特征與該第二組的識別特征位于該標(biāo)簽或 該被適配為有待識別的物品中的一個接合軌道之中。該第一組的識別特征與該第二組的識 別特征可以在同一個平面上。可替代地,該第一組的識別特征與該第二組的識別特征可以 在不同的平面上。在本發(fā)明的一個第七實施方案中,提供了用于識別一個標(biāo)簽或被適配為有待識別 的物品的一種方法。該方法包括通過對位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的一個 第一組的識別特征的磁光讀取生成一種第一信號,通過讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待 識別的物品中的一個第二組的識別特征生成一種第二信號,其中從讀取該第一組的識別特 征所生成的該第一信號與從讀取該第二組的識別特征所生成的該第二信號被獨立地用于 導(dǎo)出用于識別該標(biāo)簽或該物品的一個第一簽名和一個第二簽名。在該方法的一個實施方案中,該第一組的識別特征包括多個磁性的或可磁化的顆 粒的一種無序安排。這些磁性的或者可磁化的顆粒的無序安排可以包括多個隨機(jī)分布的磁 性的或者可磁化的顆粒。這些磁性顆??梢园ㄒ环N亞鐵磁性材料、一種反鐵磁性材料、 一種鐵磁性材料、或在一種連續(xù)材料中具有變化的磁特性的多個域(包括引起可變磁特性 的多個空隙)、以及它們的多種組合。該鐵磁性材料可以選自下組,其組成為MnBi、CrTe、 EuO、CrO2、MnAs、Fe、Ni、Co、Gd、Dy,F(xiàn)e、Ni、Co、Sm、Gd、Dy 的多種相應(yīng)的合金和氧化物,以及 它們的多種組合。一種示例性的高矯頑性材料是一種釹磁體,它包括釹、鐵和硼。在另一個實施方案中,該第二組的識別特征包括一個芯片、一個磁條、一個序列 號、或一個光學(xué)標(biāo)識。該芯片是一個射頻識別標(biāo)簽或一個基于接觸的存儲器芯片。該光學(xué) 標(biāo)識是一個線性條形碼、2D條形碼、矩陣條形碼、或一個全息圖。該光學(xué)標(biāo)識可以是對裸的 人眼是不可見的,但是在電磁譜的紫外線或紅外線狀態(tài)下是可檢測的。在另一個實施方案中,該第一組的識別特征與該第二組的識別特征位于該標(biāo)簽或 該被適配為有待識別的物品中的一個接合軌道之中。該第一組的識別特征與該第二組的識 別特征可以在同一個平面上??商娲?,該第一組的識別特征與該第二組的識別特征可以 在不同的平面上。在本發(fā)明的一個第八實施方案中,提供了一種分發(fā)標(biāo)簽的方法。該方法包括在該 標(biāo)簽上定位一個對齊標(biāo)記;臨時地將該標(biāo)簽實體上與一個讀取裝置相接合;讀取位于該標(biāo) 簽內(nèi)的一個第一組的識別特征,其中該第一組的識別特征包括多個磁性的或可磁化的顆粒 的一種無序安排;將該標(biāo)簽粘附裝在一個基片上;并且將該標(biāo)簽從該讀取裝置中釋放。在該方法的一個實施方案中,該方法進(jìn)一步包括確定該讀取裝置的一個掃描區(qū) 域。該方法還可以進(jìn)一步包括讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的一個第二 組的識別特征。在另一個實施方案中,該基片形成了該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品的一部 分。在本發(fā)明的一個第九實施方案中,提供了一種生產(chǎn)標(biāo)簽的方法。該方法包括提供具有一個粘合層的一種材料的薄膜;優(yōu)選地在該材料的薄膜上形成至少一個對齊標(biāo)記, 該對齊標(biāo)記表明了該標(biāo)簽應(yīng)當(dāng)被讀取的方向;在該材料的薄膜上形成一個第一組的識別特 征,其中該第一組的識別特征包括多個磁性的或可磁化的顆粒的一種無序安排;確定該磁 性的或可磁化的顆粒的無序安排的磁場強(qiáng)度;評估該確定的磁強(qiáng)度是否在一個可接受值的 范圍內(nèi);在該磁性的或可磁化的顆粒的無序安排上涂鍍一個覆蓋層;在該覆蓋層上形成一 個第二組的識別特征并且形成一個期望的形狀。該覆蓋層可以是被疊壓在該第二組的識別 特征上的一種薄膜的形式,或者它可以是一種液體或蒸汽涂敷層,如一種墨、漆、蒸汽沉積 金屬、或陶瓷涂敷層。在該方法的一個實施方案中,這些磁性的或者可磁化的顆粒的無序安排包括多個 隨機(jī)分布的磁性的或者可磁化的顆粒。這些磁性顆??梢园ㄒ环N亞鐵磁性材料、一種反 鐵磁性材料、一種鐵磁性材料、或在一種連續(xù)材料中具有變化的磁特性的多個域(包括引 起可變磁特性的多個空隙)、以及它們的多種組合。該鐵磁性材料可以是MnBi、CrTe、EuO、 Cr02、MnAs、Fe、Ni、Co、Gd、Dy,F(xiàn)e、Ni、Co、Sm、Gd、Dy的多種相應(yīng)的合金和氧化物,以及它們 的多種組合。一種示例性的高矯頑性材料是一種釹磁體,它包括釹、鐵和硼。在另一個實施方案中,該第二組的識別特征包括一個芯片、一個磁條、一個序列 號、或一個光學(xué)標(biāo)識。該芯片是一個射頻識別標(biāo)簽或一個基于接觸的存儲器芯片。該光學(xué) 標(biāo)識是一個線性條形碼、2D條形碼、矩陣條形碼、或一個全息圖。該光學(xué)標(biāo)識可以是對裸的 人眼是不可見的,但是在電磁譜的紫外線或紅外線狀態(tài)下是可檢測的。在另一個實施方案中,該第一組的識別特征被定位在該第二組的識別特征附近。 可替代地,該第二組的識別特征與該第一組的識別特征相重疊。在另一個實施方案中,該對齊標(biāo)記包括多個光學(xué)標(biāo)記或多個磁性標(biāo)記。這些對齊 標(biāo)記包括箭頭或字母數(shù)字符。在本發(fā)明的一個第十實施方案中,披露了用于識別一個標(biāo)簽或被適配為有待識別 的物品的一種識別系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括用于識別一個物品的一種標(biāo)簽,該標(biāo)簽可以被附裝在 該物品上;以及用于讀取位于該標(biāo)簽或被適配為有待識別的物品中的至少一個第一組的識 別特征的一種讀取裝置。在該系統(tǒng)的一個實施方案中,從該第一讀取元件獲得的該第一信號相對沒有一個 實質(zhì)性磁場時從該同一個第一讀取元件獲得的一個信號被歸一化。該歸一化是通過從在與 被讀取區(qū)域相接合時的該第一讀取元件獲得的信號中減去在沒有一個實質(zhì)性磁場時從該 第一讀取元件獲得的信號而實現(xiàn)的。該歸一化進(jìn)一步包括識別正在被讀取的信號中的數(shù)據(jù) 的多個部分,因為在該讀取元件中的損壞或改變,這些數(shù)據(jù)可能比其他數(shù)據(jù)具有較低的可 靠性,所述這些具有較低可靠性的數(shù)據(jù)與其他數(shù)據(jù)具有不同的處理方式。在另一個實施方案中,從該第一讀取元件獲得的該第一信號通過以下方式進(jìn)行處 理,即將該信號中低于一個預(yù)定閾值的所有數(shù)據(jù)設(shè)置為一個預(yù)定的值,或者忽略這些數(shù) 據(jù),并且僅存儲在該預(yù)定閾值之上的數(shù)據(jù)(包括這些數(shù)據(jù)的實體定位)。在另一個實施方案中,該識別系統(tǒng)進(jìn)一步包括一個數(shù)據(jù)存儲媒質(zhì),其中存儲了從 對該識別標(biāo)簽的一個參考讀取中獲得的一個參考簽名。用于該預(yù)先存儲的參考簽名的數(shù)據(jù) 存儲媒質(zhì)是相對該讀取裝置在遠(yuǎn)處的一個數(shù)據(jù)存儲媒質(zhì)。用于該預(yù)先存儲的參考簽名的該 數(shù)據(jù)存儲媒質(zhì)可以位于附裝在該物品上的標(biāo)簽之中??商娲兀糜谠擃A(yù)先存儲的參考簽名的該數(shù)據(jù)存儲媒質(zhì)可以位于該物品之中。該數(shù)據(jù)存儲媒質(zhì)是磁條、存儲器芯片、媒體盤、 硬盤、智能卡、RAM模塊、磁帶、或常規(guī)的光學(xué)裝置,如2D條形碼或位圖。在另一個實施方案中,該識別系統(tǒng)進(jìn)一步包括相對該讀取裝置在遠(yuǎn)處的一個數(shù)據(jù) 處理裝置,其中該數(shù)據(jù)處理裝置被適配為執(zhí)行該數(shù)據(jù)處理,以使該讀取的簽名與該預(yù)先存 儲的參考簽名相匹配。在本發(fā)明的一個第十一實施方案中,考慮了用于標(biāo)簽的多種結(jié)構(gòu)。示例性的此類 結(jié)構(gòu)優(yōu)選地包括一個保護(hù)層,該保護(hù)層覆蓋了包含該第一組的識別特征的這些磁性特征, 其中該第二組的識別特征被定位在該第一組的識別特征的附近(通常直接在該保護(hù)層的 上面)。此外,此類結(jié)構(gòu)可以被形成為在其中具有一個柔順性,以便該標(biāo)簽本身可以在一定 程度上與該讀取元件的表面相符。這樣即使在該讀取元件的表面是堅硬并且平坦的,而該 標(biāo)簽被附裝在粗糙的(例如起伏的)表面上或另外可能有一片灰塵在相當(dāng)大的區(qū)域上將該 讀取元件與該標(biāo)簽相分隔的情況下,也有助于該讀取元件與該標(biāo)簽之間的良好的接觸。


在這些附圖中,貫穿不同視圖相似的參考字符通常指代的相同的部分。這些附圖 不一定是按比例的,相反通常將重點放在闡明本發(fā)明的原理。在下述說明中,對本發(fā)明的不 同實施方案參照以下附圖予以說明,在這些附圖中圖1示出一種防偽系統(tǒng),該系統(tǒng)利用了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的讀取裝置;圖2示出說明一種驗證過程的流程圖,該驗證過程使用了根據(jù)本發(fā)明的一個實施 方案的讀取裝置;圖3示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的讀取裝置;圖4示出基于現(xiàn)有技術(shù)的一種適當(dāng)?shù)淖x取元件的截面視圖;圖5示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的讀取元件的截面視圖;圖6示出根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案的讀取元件的截面視圖;圖7示出根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案的讀取元件的截面視圖;圖8A與圖8B分別示出在根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的標(biāo)簽中使用的磁性顆粒的 俯視圖和透視圖;圖9A與圖9B示出在根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的標(biāo)簽中使用的磁性顆粒的不同 密度;圖IOA至圖IOD示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的具有多種識別特征的多個標(biāo)簽 的實例;圖IlA至圖IlD示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的具有多種識別特征的多個標(biāo)簽 的進(jìn)一步的實例;圖12A至圖12F示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的制作具有多種識別特征的多個 標(biāo)簽的方法;圖13A至圖13D示出根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案的制作具有多種識別特征的多 個標(biāo)簽的方法;圖14A至圖14F示出根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案的制作具有多種識別特征的多 個標(biāo)簽的方法;
圖15A示出被適配為具有同時被讀取的光條形碼和磁性指紋區(qū)的一種標(biāo)簽,而圖 15B示出對應(yīng)的區(qū)域,其中根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案,一個光學(xué)讀取元件和一個磁光讀 取元件可能需要掃描這些區(qū)域,以便讀取對應(yīng)的光條形碼和磁性指紋區(qū);圖16A示出一個標(biāo)簽的所希望的掃描區(qū)域,該標(biāo)簽使用了根據(jù)本發(fā)明的一個實施 方案的讀取裝置;圖16B示出當(dāng)該讀取裝置未對齊時一個標(biāo)簽的掃描區(qū)域;圖16C圖解示 出如何可以將來自于一個初始讀取和一個后來讀取的信號進(jìn)行比較以便驗證該標(biāo)簽的身 份;圖17A示出在被覆蓋層覆蓋的一個基片上的一個單一磁性顆粒的截面視圖,該磁 性顆粒具有平行于該基片平面的磁場;而圖17B示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的具有垂 直于該基片平面的磁場的一個磁性顆粒;圖18A與18B示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的被定位在不同方向上的多個磁性 顆粒;圖19示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的在一個標(biāo)簽平面外使片狀顆粒對齊的方 法;圖20A示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的方法,該方法通過擠出制作一個標(biāo)簽, 并且將該生成的標(biāo)簽貼附到一個被適配為有待識別的物品上;圖20B示出根據(jù)本發(fā)明的一 個實施方案的一個生成的標(biāo)簽;圖21A至21E示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案,其中標(biāo)簽被貼附于一個有待識別 的物品上的多個不同的實施方案;圖22示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案,使用一個磁光讀取元件讀取一個水平表 面上的標(biāo)簽的一種方法;圖23示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的磁光讀取元件及一個標(biāo)簽;圖24示出根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案,使用一個磁光讀取元件讀取一個水平 表面上的標(biāo)簽的一種方法;圖25A至25D示出根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案,使用一個磁光讀取元件讀取一 個粗糙表面上的標(biāo)簽的一種方法;圖26示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案,使用一個磁光讀取元件讀取一個柔順的 標(biāo)牌中包含的一個指紋的一種方法;圖27示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案,當(dāng)一個有價值的物件(其上粘貼了 一個標(biāo) 牌)具有一個粗糙的表面時,該柔順的標(biāo)牌可以怎樣提供幫助;圖28示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的另一個柔順標(biāo)牌的信息;圖29A示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的包含指紋區(qū)的一個標(biāo)簽的截面視圖;圖 29B示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的一個標(biāo)簽和一個指紋區(qū)的俯視圖;圖30A示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案將一個磁光讀取元件與一個厚的標(biāo)牌相 接合之前的情況;圖30B示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案當(dāng)讀取一個標(biāo)簽時一個磁光讀取 元件被壓縮至一個厚的標(biāo)牌;圖31示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案,使用一個磁光讀取元件讀取具有對齊特 征的一個標(biāo)牌的一種方法;圖32示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案讀取一個包含指紋的標(biāo)簽的一種方法;
圖33示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的在一個有待識別的物品的凹槽中的一個 標(biāo)簽;圖34示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案將一個標(biāo)簽施加在一個標(biāo)牌上的一種方 法;圖35A示出根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案將具有磁性指紋區(qū)的多個標(biāo)簽分發(fā)到 被適配為有待識別的有價值物件上的一種方法;圖35B和圖35C示出根據(jù)本發(fā)明的另一個 實施方案在分發(fā)標(biāo)簽之前及之后的該有價值物件;圖36A示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的標(biāo)簽的截面視圖;圖36B示出圖36A所 示的標(biāo)簽的等距視圖;圖37A示出根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案將一個標(biāo)簽貼附于一個有價值物件上 的一個過程;圖37B示出根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案的被貼附于一個有價值物件上的一 個標(biāo)簽;圖38A示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的被蓋子密封并且被防篡改標(biāo)牌跨在兩 邊的一個瓶子;圖38B示出包括標(biāo)簽和可被人讀的編號的一個標(biāo)牌的俯視圖;圖38C示出 根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的一個標(biāo)牌的截面視圖;圖39A與圖39B示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的對掃描器與標(biāo)簽的指紋區(qū)之間 的未對齊進(jìn)行處理的一種方法;圖40A與圖40B示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案讀取一個標(biāo)牌的指紋區(qū)的過程, 其中該標(biāo)牌的表面是不平的,并且根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案,其中該標(biāo)牌不是充分的柔 順以保證與磁光讀取元件的平表面有一個良好的接觸的;圖41A示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案被適配為有待被一個讀取裝置讀取的一 個標(biāo)簽;圖41B與圖41C示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的掃描裝置;圖42A至圖42E示出一個標(biāo)簽的截面視圖,其中磁信息和光信息被置于該標(biāo)簽內(nèi) 的同一個地方;圖43示出根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案的讀取元件的截面視圖;圖44A示出具有人工疊加的光學(xué)特征和磁性特征的一個標(biāo)簽的俯視圖;圖44B示 出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的利用一個讀取元件獲得的一個標(biāo)簽的成像區(qū)域的一種配 置;圖44C示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的來自于利用該讀取元件獲得的該標(biāo)簽的一個 成像中的光標(biāo)簽信息;圖44D示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的來自于利用該讀取元件獲 得的該標(biāo)簽的一個成像中的磁標(biāo)簽信息;圖45A示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的一個被生產(chǎn)的標(biāo)簽的光俯視圖;圖45B 示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的一個被生產(chǎn)的標(biāo)簽的磁俯視圖;圖45C示出根據(jù)本發(fā)明 的一個實施方案的可以被用于讀取該標(biāo)簽上的光信息和磁信息的一種讀取元件的配置;圖 45D示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的利用圖45C中的讀取元件獲得的該標(biāo)簽的一個圖 像;圖46A示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的一個網(wǎng)格圖形;圖46B示出根據(jù)本發(fā)明 的一個實施方案的一個數(shù)據(jù)矩陣碼;圖46C示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的來自圖46A 的網(wǎng)格圖形與來自圖46B的數(shù)據(jù)矩陣碼的一個疊加;圖47A示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的一個被生產(chǎn)的標(biāo)簽的光俯視圖;圖47B示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的一個被生產(chǎn)的標(biāo)簽的磁俯視圖;圖47C示出根據(jù)本發(fā)明 的一個實施方案的可以被用于讀取該標(biāo)簽上的光信息和磁信息的一種讀取元件的配置;圖 47D示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的利用圖47C中的讀取元件獲得的該標(biāo)簽的一個圖 像;圖48示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的對一個標(biāo)簽的光學(xué)讀取和磁讀取;圖49A示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的讀取元件的截面視圖;圖49B示出根據(jù) 本發(fā)明的一個實施方案的光在該讀取元件內(nèi)部穿行的方向;圖49C示出根據(jù)本發(fā)明的一個 實施方案光從該磁光基片的不同區(qū)域被反射。
具體實施例方式盡管已經(jīng)參考特定的實施方案示出以及說明了本發(fā)明的實施方案,那些本領(lǐng)域的 熟練技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解的是可以在此做出形式和細(xì)節(jié)上的不同改變,而不背離由所附權(quán)利 要求所定義的本發(fā)明的精神和范圍。本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求所表明,并且因此旨在 包括落入權(quán)利要求的等效物的意義和范圍內(nèi)的所有改變。在本發(fā)明的一個實施方案中,提供了一種讀取裝置,該讀取裝置能夠讀取單個的 磁性顆粒,并且在一個固定的區(qū)域內(nèi)考慮它們的隨機(jī)位置,這樣該區(qū)域擁有一個具有良好 分辨率的非重復(fù)圖。圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案利用讀取裝置104的一種防偽系統(tǒng)100。 注意,盡管在此示出的系統(tǒng)100示出通過移動裝置106 (如移動電話)或計算機(jī)110與數(shù)據(jù) 服務(wù)器108通信的基本讀取裝置104,還在此想到,讀取裝置104其自身可以是更精巧的并 且可以(例如)通過很多方法(如使用數(shù)據(jù)纜線、局域網(wǎng)、藍(lán)牙、微波存取全球互通(WiMAX) 技術(shù)、或甚至包括使用內(nèi)置的通用分組無線電服務(wù)(GPRS)芯片或3G/通用移動電信系統(tǒng) (UMTS)芯片其自身作為與數(shù)據(jù)服務(wù)器108通信的一種移動電話裝置)與數(shù)據(jù)庫或數(shù)據(jù)服務(wù) 器108通信。讀取裝置104還可以包括用于同用戶直接通信的方法,例如,可以允許用戶在 讀取裝置104自身上讀取和鍵入信息的屏幕以及鍵盤。防偽系統(tǒng)100可以包括至少一個標(biāo) 簽102、一個讀取裝置104、一個移動裝置106或一臺計算機(jī)110 (如果讀取裝置104與數(shù)據(jù) 服務(wù)器108之間不存在直接的通信裝置)、以及一臺遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)服務(wù)器108。每個標(biāo)簽102包 括至少一組識別特征。識別特征的一些實例包括磁性顆?;蚩纱呕w粒的無序陣列、磁條、 序列號、光學(xué)標(biāo)識(如條形碼或全息圖)。如圖1所示的識別特征包括形成一個磁性指紋 區(qū)112的磁性顆?;蚩纱呕w粒的一種無序陣列。每個標(biāo)簽102被附裝到有待識別或被適 配為有待識別的一個物品或一個有價值的物件262上。讀取裝置104被用于讀取標(biāo)簽102 上的至少一組識別特征。讀取裝置104有能力將從讀取該組識別特征所生成的一個信號發(fā) 送到移動裝置106或計算機(jī)110上。來自讀取裝置104的加密信號可以或者通過無線連接 或者有線連接被發(fā)送到移動裝置106或計算機(jī)110上。無線連接的一些實例包括藍(lán)牙以及 Wi-Fi,并且有線連接的一些實例包括推薦標(biāo)準(zhǔn)232 (RS232)以及通用串行總線(USB)。計算 機(jī)110可以是個人計算機(jī)、工作站、膝上計算機(jī)或掌上計算機(jī)。例如,移動裝置106可以是 移動(蜂窩)電話或個人數(shù)字助理(PDA)。移動裝置106或計算機(jī)110可以通過互聯(lián)網(wǎng)連 接到遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)服務(wù)器108上。例如,移動裝置106使用通用分組無線電服務(wù)(GPRS)或3G/ UTMS技術(shù)通過一個局域網(wǎng)絡(luò)來連接。
圖2示出了流程圖200,該流程圖示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案使用讀取裝置 104的一個驗證過程。首先,在202中,讀取裝置104被用于掃描一個第一組的識別特征以及 一個第二組的識別特征??梢栽谝粋€單一的步驟或在兩個步驟中執(zhí)行該第一組識別特征以 及該第二組識別特征的掃描。該第一組識別特征可以包括磁性信息(如磁性指紋區(qū)112), 并且該第二組識別特征可以包括光學(xué)信息,如線性條形碼、2D條形碼、或矩陣條形碼(如數(shù) 據(jù)矩陣)(所有這些類型的條形碼在此通指條形碼)。該第一組識別特征以及該第二組識別 特征的掃描考慮了與該第二組識別特征相關(guān)的該第一組識別特征的相對位置。然后在204 中,讀取裝置104檢查所讀取信號以確定是否在這些讀取中可以檢測到任何錯誤。如果讀 取裝置104檢測到錯誤,在210,它為用戶提供一個提示來選擇或者重新掃描第一組識別特 征以及第二組識別特征、或者(在錯誤不致命的情況下)帶著錯誤標(biāo)志繼續(xù)傳輸數(shù)據(jù)。如果 用戶選擇繼續(xù)數(shù)據(jù)傳輸,例如,還可以提示用戶使用移動裝置或計算機(jī)鍵盤手動鍵入一些 數(shù)據(jù)(例如,如果誤讀了一個條形碼,用戶可以選擇鍵入條形碼編號而不是重新掃描)。其 后,在206中,至少對從讀取的第一組識別特征(如磁性指紋區(qū)112)中生成的信號或數(shù)據(jù) 進(jìn)行加密??扇芜x地,對從讀取的第二組識別特征中生成的信號或數(shù)據(jù)同樣進(jìn)行加密。在 208中,該至少部分加密的數(shù)據(jù)通過有線或無線連接被發(fā)送到移動裝置106或計算機(jī)110 上。在212中,移動裝置106使用(例如)GPRS通過互聯(lián)網(wǎng)連接到遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)服務(wù)器108上 或者計算機(jī)110通過一種互聯(lián)網(wǎng)連接連接到遠(yuǎn)程服務(wù)器108上。在214中,遠(yuǎn)程服務(wù)器108 將數(shù)據(jù)庫上的存儲信號(來自該磁性指紋區(qū)的一次先前掃描和/或光學(xué)信息)與來自該磁 性指紋區(qū)的已掃描信號進(jìn)行比較。在216中,服務(wù)器確定存儲信號與掃描的信號是否可以 匹配(在此使用了一個匹配閾值來確定數(shù)據(jù)是否匹配到確定性一個適當(dāng)?shù)某潭?。如果對 應(yīng)的信號不匹配,在218中,將一個失敗的驗證通知發(fā)送到移動裝置106或計算機(jī)110上。 如果信息匹配,在220中,移動裝置106或計算機(jī)110接收一個成功匹配的通知。這個通知 還可以伴隨著關(guān)于該標(biāo)簽或物品的額外信息,這可能對用戶是有用的。注意,在圖1中,在 此想到,讀取裝置104可以是更精巧的,并且其自身能夠在沒有外圍移動裝置或計算機(jī)的 情況下與遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)服務(wù)器108進(jìn)行通信。這個更加精巧的讀取裝置104可以包括用于和用 戶直接通信的鍵盤以及顯示屏。進(jìn)一步注意,術(shù)語“信號”或“多種信號”是指從識別特征 中讀取的數(shù)據(jù),因此信號可以(例如)是代表指紋區(qū)的磁性特征的一個圖像。圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的讀取裝置104。讀取裝置104包括一個第 一讀取元件114、一個第二讀取元件116、一個開關(guān)118、兩個發(fā)光二極管(LED)指示器120、 兩個微控制器芯片122、一個便攜式電源124以及通信電子設(shè)備與軟件(例如一個藍(lán)牙模 塊、Wi-Fi模塊、USB模塊或RS232模塊)。第一讀取元件114被用于讀取標(biāo)簽102上的一 個第一組的識別特征。第一讀取元件114可以是一個磁光讀取元件。第二讀取元件116被 用于讀取標(biāo)簽102上的一個第二組的識別特征。第二讀取元件116可是條形碼掃描儀、射 頻識別(RFID)標(biāo)簽讀取器、字符辨認(rèn)讀取器、光學(xué)圖像捕獲系統(tǒng)、高斯計、磁強(qiáng)計、熒光計、 剩磁計、或發(fā)送接收器。開關(guān)118被用于驅(qū)動或者解除驅(qū)動讀取裝置104并且可以被定位 在讀取裝置104上的任何適當(dāng)?shù)奈恢谩ED指示器120提供讀取裝置104的狀態(tài)的一種指 示,例如,如果它接通,則讀取數(shù)據(jù)或傳輸數(shù)據(jù)。每個微控制器芯片122是一個單一的集成 電路,包括(例如)處理單元、輸入和輸出接口、串行通信接口、存儲裝置。所要求的微控制 器芯片122或LED指示器120的數(shù)目取決于讀取裝置104的要求。便攜式電源124典型地是(例如)一種標(biāo)準(zhǔn)電池或一種可充電的電池(但是如果使用了如USB的通信裝置,則可 以通過USB纜線對讀取裝置104供電)。圖4示出了基于現(xiàn)有技術(shù)的合適的讀取元件134的截面視圖。注意,這個讀取元件 134或在圖4至7中示出的任何讀取元件可以適合被用作圖3中示出的第一讀取元件114。 圖4中的讀取元件134包括一個光學(xué)處理單元136以及一個磁光基片138。光學(xué)處理單元 136包括多個部件,這些部件包括一個光源140、兩個偏光器142和148、(例如,如果該光源 不發(fā)出偏振光,那么所示出的兩個偏光器的每一個都是必要的,或有可能使用與一個偏振 分束器相結(jié)合的偏光器)一個分束器144、一個透鏡系統(tǒng)146 (盡管在圖4中只示出了一個 透鏡,對任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言清楚的是,總體上,可能需要一系列的透鏡元件來實現(xiàn) 一個高質(zhì)量的圖像)以及至少一個成像單元如光學(xué)探測器150 (例如電荷耦合器件(CXD)、 或能夠采集圖像的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)芯片)。注意,與圖4至7相關(guān)而示出并 說明的配置僅僅用于解說并且精確的配置可能變化,例如偏光器148和透鏡系統(tǒng)146的位 置可以互換或者偏光器148可以被定位在透鏡系統(tǒng)146之間。此外,透鏡系統(tǒng)146中的一 些透鏡可以被定位在分束器144前面或者分束器144可以在透鏡系統(tǒng)146的一系列透鏡之 中。磁光基片138包括一個光學(xué)透明(基底)基片154以及多個磁光涂敷層(如一個 第一涂敷層156、一個第二涂敷層158以及一個保護(hù)層160)。不同的合適的安排是可能的。 例如,如美國專利號5,920,538所披露的,光學(xué)透明基片154可以是單晶石榴石(如可以進(jìn) 一步包括如鈧等其他成分的釓鎵石榴石),第一涂敷層或磁光膜156可以是一個法拉第旋 轉(zhuǎn)器(例如包括鐵氧體膜),第二涂敷層或反射層158可以是一個克爾旋轉(zhuǎn)器(例如包括 多重鉬或鈷或鉬鎳層以及具有小的矯頑磁力或GdFe或GdFeCo單層的鈷),其中第二涂敷 層158可以進(jìn)一步被保護(hù)層160包覆。可以使用磁光層的其他配置,例如第一涂敷層156 可以包括一個磁光膜或(Yji)3(FhG^Al)5O1膜,例如,同時反射層158可以是任何反射涂 料(如鉻)。取決于鏡像層的力度,還可以存在一個保護(hù)層160。T. Aichele等人在Cryst. Res. Technol. 38,No. 7_8,575-587 (2003)中提供了合適的磁光膜的說明性實例。光源140可以是一個偏振光源或非偏振光源。光源的一些實例包括激光器、白熾 燈、弧光燈、金屬鹵化物燈、以及發(fā)光二極管(LED)。此外,光源140可以是單色的,盡管如白 色光源等其他選項也可以是合適的。來自光源140的光穿過第一偏光器142并且然后在分 束器144上入射。光的很大一部分被分束器144反射到磁光基片138。這個光被一個或多 個涂敷層156、158以及160反射并且傳播返回到分束器144。光的相當(dāng)大的一部分穿過分 束器144,在它到達(dá)光學(xué)探測器150之前在透鏡系統(tǒng)146以及第二偏光器148中傳播,光學(xué) 探測器捕獲代表在涂敷層156、158、160處存在的磁場的圖像。注意,盡管在圖4至7中光 路徑總體上由一個單一的箭頭表示,這無意暗示光只沿該單一路徑傳播,總體上光可以覆 蓋一個足夠?qū)挼膮^(qū)域以使磁光基片138的所希望的區(qū)域成像。進(jìn)一步注意,第二偏光器148 相對于入射光線的偏振被旋轉(zhuǎn)(在圖4中“入射光線的偏振”指光剛剛穿過第一偏光器142 后的偏振)。第二偏光器148可以相對于入射光線的偏振被調(diào)諧(或反之亦然)以確保測 量到取決于磁場的最大圖像對比度。注意,當(dāng)使用了一種偏振源時,只需要一個偏光器。保護(hù)層160用于保護(hù)第一涂敷層或磁光膜156以及第二涂敷層或反射層158免于 任何損壞。保護(hù)層160可以類似金剛石的碳(DLC)或四面體的非晶態(tài)碳(ta-C),但并不局限于此。保護(hù)層160的厚度在幾納米到幾微米范圍內(nèi),取決于所選擇的材料及其內(nèi)部應(yīng)力, 但并不局限于此。光學(xué)處理單元136和磁光基片138(或磁光基片138中的層安排)的部件可以彼 此相對具有一種固定的空間關(guān)系。如在本發(fā)明的背景中所使用的“固定的空間關(guān)系”是指優(yōu) 選的是,至少主要光學(xué)部件如光學(xué)探測器、透鏡系統(tǒng)、一個或多個偏光器以及磁光基片(圖 4中展示的光學(xué)探測器150、透鏡系統(tǒng)146、偏光器142、148、以及磁光基片138)彼此相對 都是固定的,這樣它們被認(rèn)為形成一個固體單元或模塊,即,讀取元件134。注意,讀取元件 134利用標(biāo)簽102的磁光讀取,其中光在讀取元件134內(nèi)部被反射。這意味著被用于分析磁 場的光不是從標(biāo)簽102的表面上反射的。圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的讀取元件162的截面視圖。這個讀取元 件162被適配為讀取磁性信息和光信息兩者。讀取元件162包括一個成像單元/光學(xué)探測 器150,如CXD芯片或CMOS芯片。讀取元件162進(jìn)一步包括在磁光基片138的兩側(cè)的多個 開口 164,這些開口用于標(biāo)簽102或被適配為有待識別的物品262上的識別特征的一種直接 光學(xué)讀取。優(yōu)選的是,保護(hù)層160在讀取元件162的基底上延伸,但是磁光膜156以及反射 層158只覆蓋讀取元件162的中間部分。為了捕獲被定位與磁性指紋區(qū)112附近的任何光 學(xué)圖像,開口 164允許光線逃離。如上所述,指示光路徑的這些箭頭僅用于說明的目的并且 總體上光將實際上泛光照射在有待讀取(有待磁性讀取的區(qū)域以及有待光學(xué)讀取的區(qū)域 兩者)的整個區(qū)域上。在一個實施方案中,保護(hù)層160可以是透明的。圖6示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案的讀取元件166的截面視圖。這個讀取 元件166被適配為讀取磁性信息和光信息兩者。讀取元件166具有兩個分離的柱168、169。 第一柱168被用于磁光成像,而第二柱169被用于光學(xué)成像。在這個不對稱安排中,第一柱 168具有與圖4中所示出的相似的安排。第二柱169包括一個透明窗口或其他的此類光學(xué) 透明開口 170而不是磁光基片138。因此,窗口 170形成在與磁光基片138相鄰的讀取元件 的一部分內(nèi)。在圖6中,光源140在所示的讀取元件166的后面。由大的空圓環(huán)包圍的小 的實心環(huán)表明來自光源140的光初始地從頁面的平面中照向觀察者。第一柱168和第二柱 169各自具有其自己的分束器144,并且每個分束器144在此視圖中被示為一個空盒。磁光 成像柱168被示出為具有偏光器142和148,但是總體上對于光學(xué)成像柱169而言偏光器也 許不是必需的,并且這樣它們對于光學(xué)成像柱169未示出。成像單元/光學(xué)探測器150在 圖6中被描繪為一個單一的(共享的)探測器。然而,在讀取元件中還可能具有分離的多 于兩個的光學(xué)探測器。柱168和169可以共享一個單一光源140或者令人希望的是具有用 于每個柱的分離的光源。類似地,柱168和169可以具有所示的分離的透鏡系統(tǒng)146或者 可替代地它們可以共享一個共同的透鏡系統(tǒng)。圖7示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案的讀取元件172的截面視圖。這個讀取 元件172被適配為讀取磁性信息和光信息兩者。讀取元件172具有光源140以及一個第一 偏光器142。讀取元件172具有如圖5所示的類似的安排,但在磁光成像柱168的另一側(cè) 包括一個額外的光源140以及一個額外的光學(xué)探測器150。光源140以及光學(xué)探測器150 可以包括其自身內(nèi)置的透鏡系統(tǒng)(如所示出的)或者可以要求外部的透鏡系統(tǒng)。讀取元件 172并不僅僅限于兩個額外的光源140以及光學(xué)探測器150,而是可以視要求而定包括僅一 個或多個光源140以及光學(xué)探測器150。磁光基片138具有對應(yīng)于光源140以及光學(xué)探測器150的數(shù)目的兩個開口 164,每個開口 164允許光穿過磁光基片138用于標(biāo)簽102或被適 配為有待識別的物品262上的識別特征的一種直接光學(xué)讀取。如圖6中的讀取元件166,圖 7中至少用于磁光成像柱168的光源140被示出為在讀取元件172的后面。由大的空環(huán)包 圍的小的實心環(huán)表明來自光源140的光初始地從頁面的平面中照向觀察者。圖8A和圖8B分別示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案用在標(biāo)簽102中的磁性顆粒 176 (優(yōu)選地具有高磁性矯頑性)的俯視圖以及透視圖。為了獲取清晰的磁光信號,應(yīng)當(dāng)使 用具有高矯頑性的磁性材料的顆粒176來形成磁性指紋區(qū)112。圖8B示出了在這個實施方 案中,磁性顆粒176形成了夾在基底層192與覆蓋層194之間的一個層。基底層192和覆 蓋層194總體上由膜材料形成,基底層192為磁性顆粒176提供一個支持件并且覆蓋層194 提供免于環(huán)境以及磨損的保護(hù)。可以使用的保護(hù)層194的最大厚度取決于由磁性顆粒176 生成的磁場強(qiáng)度(磁場強(qiáng)度其自身是例如磁性顆粒176的剩磁、它們的大小、磁性顆粒176 的定向以及磁化方向的函數(shù)),用于讀取磁場的讀取元件的敏感性以及整個系統(tǒng)的預(yù)期分 辨率。磁性顆粒176可以包括一種高矯頑性材料。一種示例性高矯頑性材料是包括Nd、 Fe以及B的釹磁體。磁性顆粒176可以包括亞鐵磁性材料、反鐵磁性材料、鐵磁性材料、或 一種連續(xù)材料(包括導(dǎo)致不同磁性的空隙)中的不同磁性的多個域、以及它們的多種組合。 鐵磁性材料是選自下組,其組成為 MnBi, CrTe, EuO, Cr02、MnAs, Fe、Ni、Co、Gd、Dy,F(xiàn)e、Ni、 Co、Sm、Gd、Dy的對應(yīng)的合金以及氧化物,以及它們的多種組合。為了合適,標(biāo)簽102上有待讀取元件讀取的區(qū)域可以包含一個適當(dāng)?shù)念w粒密度。 圖9A和圖9B示出了在根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案有待讀取的兩個標(biāo)簽102的區(qū)域內(nèi)包含 的不同的磁性顆粒密度。圖9A示出了非常低的磁性顆粒密度176而圖9B示出了非常高的 磁性顆粒密度176。如果有待讀取的平均標(biāo)簽102的區(qū)域包括太少的磁性顆粒176,如圖9A 中的情況,它可能難以實現(xiàn)具有唯一可識別性的指紋的大量標(biāo)簽102。類似地,如果有待讀 取的平均標(biāo)簽102的區(qū)域包括太多磁性顆粒176,如圖9B中的情況,它同樣可能難以實現(xiàn)具 有唯一可識別性的指紋的大量標(biāo)簽102。結(jié)果,總體上令人希望的是確保所使用的標(biāo)簽102 具有適當(dāng)?shù)拇判灶w粒密度176,例如可能設(shè)置一個閾值,使得所使用的全部標(biāo)簽102都必須 具有20到50個至少具備特定大小的磁性顆粒176。具有太多或太少磁性顆粒176的標(biāo)簽 102可在生產(chǎn)線上被拒絕。由于大多數(shù)成像芯片(例如CMOS芯片)實際上是圖像的數(shù)字表示(即它們是像 素化的),在某些情況下,如以下所說明的,將接受標(biāo)準(zhǔn)直接基于圖像的像素是更簡單的。例 如,假設(shè)磁光讀取元件被配置為使得一個更強(qiáng)的磁場帶來更亮的圖像并且成像感應(yīng)器在0 到255(255表示最亮)的范圍內(nèi)記錄這個亮度。然后另一種確保存在一個適當(dāng)?shù)拇判灾讣y 的方法是對記錄一定閾值(例如在0到255范圍內(nèi)的128閾值以上)以上的亮度值的像素 數(shù)目進(jìn)行計數(shù)。如果足夠數(shù)目的像素是在閾值以上,那么可以假設(shè)標(biāo)簽102具有足夠數(shù)目 的磁性顆粒176 (或者至少存在的那些磁性顆粒176是特別大的)。另一方面,為了核查標(biāo) 簽102不包含太多的磁性顆粒176,核查在閾值以上像素不超過一個最大數(shù)目就足夠了。圖IOA至圖IOD示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的具有識別特征的標(biāo)簽102的 多個實例。不同的識別特征可被結(jié)合在一個標(biāo)簽102上。為了用于防偽領(lǐng)域,一個標(biāo)簽102 實質(zhì)上包括至少一個磁性指紋區(qū)112。唯一的磁性指紋區(qū)112可以是可見的或者是隱藏在覆蓋層之下的。圖IOA示出了只包含一個指紋區(qū)112而沒有其他識別特征的一個標(biāo)簽102。 然而,標(biāo)簽102確實包括一個第一基準(zhǔn)標(biāo)識178和一個第二基準(zhǔn)標(biāo)識180。第一基準(zhǔn)標(biāo)識 178和第二基準(zhǔn)標(biāo)識180可以是(例如)磁性地可讀(如磁性墨)或光可讀的。在圖IOA 所示的配置中,第二基準(zhǔn)標(biāo)識180用于描繪指紋區(qū)112的輪廓而第一基準(zhǔn)標(biāo)識178用于識 別標(biāo)簽102的定向(即哪一面朝上)。圖IOB示出了除磁性指紋區(qū)112(第一組的識別特征)以及一個第三基準(zhǔn)標(biāo)識190 之外帶有序列號或字母數(shù)字符182 (第二組的識別特征)的一個標(biāo)簽102。字母數(shù)字符182 可以是光或磁可讀取的。第三基準(zhǔn)標(biāo)識190是向用戶指示當(dāng)讀取標(biāo)簽102時用哪種方法將 讀取裝置104定向的一個光學(xué)標(biāo)識。序列號182是用磁性墨印制的并且它是使用磁光讀取 元件在對指紋區(qū)112進(jìn)行成像的同時成像。然后,用圖案辨識軟件來辨識寫在標(biāo)簽102上 的序列號182。圖IOC和圖IOD示出了除磁性指紋區(qū)112(第一組識別特征)之外具有一個第一光 學(xué)可讀條形碼184和一個第二光學(xué)可讀條形碼186 (第二組識別特征)的對應(yīng)的標(biāo)簽102。 如果第二讀取元件116是一個條形碼讀取器,圖3中示出的讀取裝置104被適配為讀取此 類標(biāo)簽102。這樣的讀取裝置104可以被配置為同時讀取兩組識別特征(例如第一條形碼 184或條形碼186以及磁性指紋區(qū)112),或這兩者可順序地讀取。在本發(fā)明的一個實施方 案中,包含一個條形碼讀取器作為第二讀取元件116的讀取裝置104被配置為使得當(dāng)讀取 裝置104被驅(qū)動時,它已準(zhǔn)備就緒讀取第一條形碼184或第二條形碼186,一旦第一條形碼 184或第二條形碼186被正確地讀取,讀取裝置104為用戶提供一個提示(如可聽到的鳴 音)以指示第一條形碼184或第二條形碼186已經(jīng)被讀取并且讀取裝置104已準(zhǔn)備好讀 取磁性指紋區(qū)112。讀取裝置104被重新定位來讀取磁性指紋區(qū)112,并且當(dāng)用戶按下按鈕 118指示讀取裝置104應(yīng)當(dāng)讀取磁性指紋區(qū)112時,第一讀取元件114開始采集磁性指紋區(qū) 112的圖像。圖IlA至IlD示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的具有識別特征的標(biāo)簽102的 多個進(jìn)一步的實例。因為額外的識別特征提供額外的安全性或信息,可以采用多重識別特 征。這些額外的識別特征的某些包括磁性條形碼、磁性邊界、磁性字母數(shù)字符、磁性基準(zhǔn)標(biāo) 識、光學(xué)條形碼(線性的和2維的,包括不同的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)如數(shù)據(jù)矩陣)、光學(xué)基準(zhǔn)標(biāo)識、光學(xué) 字母數(shù)字符、可見標(biāo)記,但不限于此,例如標(biāo)簽102可以包括射頻識別(RFID)芯片、安全墨 或全息圖。第一條形碼184或第二條形碼186可以使用隱形墨如紫外線或紅外線“光學(xué)” 墨,這種墨無法被人的裸眼檢測到但是可以通過使用適當(dāng)?shù)剡m配的讀取裝置104或用電磁 波譜的一個或多個特定的波長照亮標(biāo)簽102來檢測和讀取。磁性和光學(xué)識別特征可以通過 使用多個層相對于掃描區(qū)域定位在同一個位置。圖IlA示出了具有磁性指紋區(qū)112的一個標(biāo)簽102。一個第二兩維條形碼186被定 位在磁性指紋區(qū)112的上面并且多個磁性字母數(shù)字符182被定位在該第二兩維條形碼186 的四個角落。注意,盡管在圖IlA至圖IlD中示出了磁性指紋區(qū)112,實際上,指紋區(qū)112可 以優(yōu)先地被定位在一個不透明覆蓋層(其上打印了第二條形碼186)的后面,因此用戶實際 上可能看不到指紋區(qū)112。圖IlB示出了具有磁性指紋區(qū)112的一個標(biāo)簽102。磁性指紋區(qū)112被第二基準(zhǔn) 標(biāo)識180所包圍,并且一個二維條形碼186定位在磁性指紋區(qū)112附近。第二基準(zhǔn)標(biāo)識180可以幫助用戶正確地定位磁光讀取元件,另外如果使用了能夠同時讀取磁光數(shù)據(jù)以及光學(xué) 數(shù)據(jù)的磁光讀取元件(如圖5至圖7中示出的讀取元件適合于此),這可以被用作用于分析 指紋數(shù)據(jù)112的參考標(biāo)記。第二基準(zhǔn)標(biāo)識180可以被用于在磁光讀取元件未對齊時允許指 紋識別軟件用于讀取,或者,如果磁光讀取元件配備了某種形式的內(nèi)部驅(qū)動系統(tǒng),此類標(biāo)記 可以被用于允許磁光讀取元件在讀取之前被準(zhǔn)確地定位。圖IlC示出了具有磁性指紋區(qū)112的一個標(biāo)簽102。一個第二兩維條形碼186定 位在磁性指紋區(qū)112附近。磁性指紋區(qū)112以及該第二兩維條形碼186均被一個第二基準(zhǔn) 標(biāo)識180所包圍。一個第一基準(zhǔn)標(biāo)識178被定位在第二基準(zhǔn)標(biāo)識180的左上角。磁性字母 數(shù)字符182定位在第二基準(zhǔn)標(biāo)識180附近。圖IlD示出了具有磁性指紋區(qū)112的一個標(biāo)簽102。一個第二兩維條形碼186被 定位在磁性指紋區(qū)112的頂面上。第二兩維條形碼186被一個第二基準(zhǔn)標(biāo)識180所包圍, 并且一個第一基準(zhǔn)標(biāo)識178被定位在磁性邊界180的右上角。一個第三基準(zhǔn)標(biāo)識被定位在 左上角,與第二基準(zhǔn)標(biāo)識180相鄰。磁性字母數(shù)字符182定位在第二基準(zhǔn)標(biāo)識180附近。如圖12至圖14所示,有很多制作具有識別特征的標(biāo)簽102的方法。當(dāng)在其他方 面可以是傳統(tǒng)標(biāo)牌上形成磁性指紋區(qū)112時,這些方法通常是適用的。圖12A至12F示出 了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案制作具有識別特征的標(biāo)簽102的一種方法。在圖12A中,過 程光學(xué)標(biāo)記190以一個預(yù)定的間隔被打印在一個第一可打印黏層192 (基底層)上。注意, 在這個過程中,光學(xué)標(biāo)記190僅被用作用于該生產(chǎn)過程(如打印和模切步驟)的對齊標(biāo)記 并且不形成最終標(biāo)簽102的一部分。隨后在圖12B中,磁性指紋材料被沉積在形成磁性指 紋區(qū)112的光學(xué)標(biāo)記190附近。磁性指紋區(qū)112由類似的限定的間距分隔開。在圖12C 中,一個第二可打印黏層194 (覆蓋層)進(jìn)一步被沉積在第一可打印黏層192上,覆蓋磁性 指紋區(qū)112但不覆蓋光學(xué)標(biāo)記190。第二可打印黏層194作為用于磁性指紋區(qū)112的一個 覆蓋和保護(hù)層。在圖12D中,其他識別特征(例如二維條形碼186以及對應(yīng)的光學(xué)字母數(shù) 字符182或序列號)可以被打印在第二可打印層194上,在光學(xué)標(biāo)記190附近。在這一方 面,每個磁性指紋區(qū)112被直接定位在每個二維條形碼186下面。隨后在圖12E中,在獲取 所希望的標(biāo)簽102的形狀處執(zhí)行模切196。這涉及通過將一個定型的刀沿(切模)壓入對 應(yīng)的可打印層192、194中從對應(yīng)的可打印層192、194切割形狀。光學(xué)標(biāo)識190可以被用于 確保模切被正確地對齊。模切后,在圖12F中,為了獲得最終標(biāo)簽102,移除了包含光學(xué)標(biāo) 記190的多余層192、194。注意,重要的是要選擇足夠薄的第二可打印層194,這樣這些顆 粒的磁場可以被讀取元件適當(dāng)?shù)胤直娉?。典型地,聚合物的可打印?例如聚對苯二甲酸 乙二醇酯“PET”)是適當(dāng)?shù)貓皂g并且厚度在10-50微米左右。例如,聚苯乙烯(PS)和聚乙 烯醇(PVA)都是適當(dāng)?shù)木酆衔飳印H绻枰Wo(hù)層,但是它必須很薄,可能令人希望的是使 用薄膜沉積方法而不是將膜疊壓在基片上。例如,墨可以被打印在指紋區(qū)的上面或者(例 如)可以通過浸漬涂敷、旋轉(zhuǎn)涂敷或絲網(wǎng)印刷來施加一個聚合物涂層??商娲?,例如,可 以蒸汽沉積一個金屬層。如果標(biāo)簽102將要經(jīng)受嚴(yán)重的磨蝕,那么(例如)用硬膜(如類 金剛石(DLC))涂敷指紋區(qū)112甚至可以是令人希望的。圖13A至圖13D示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案制作具有識別特征的標(biāo)簽 102的一種方法。制作標(biāo)簽102的方法對應(yīng)于圖12A至圖12F中所披露的方法,但是涉及在 基底層的分離區(qū)域上打印條形碼和磁性材料以及用一個第二黏性可打印層194只覆蓋指紋區(qū)112。在圖13A中,首先打印光學(xué)標(biāo)記190、二維條形碼186以及光學(xué)字母數(shù)字符182, 并且其后對齊磁性指紋區(qū)112并且施加在一個第一可打印黏層192上的光學(xué)標(biāo)記190附 近。隨后在圖13B中,用一個第二黏層194覆蓋磁性指紋區(qū)112以保護(hù)它們的磁性。第二 黏層194不必是一個可打印層,因為圖13A中將二維條形碼186和光學(xué)字母數(shù)字符182或 序列號打印在第一黏性可打印層192上。在圖13C中,執(zhí)行模切196以實現(xiàn)標(biāo)簽102所希 望的形狀。模切區(qū)域可以包括光學(xué)標(biāo)識190、二維條形碼186、光學(xué)字母數(shù)字符182或序列 號以及磁性指紋區(qū)112。在圖13D中,可以通過移除多余的黏層192、194顯示出最終標(biāo)簽 102。圖14A至圖14F示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案制作具有識別特征的標(biāo)簽 102的一種方法。首先在圖14A中,可以用磁性墨將磁性標(biāo)識打印在一個第一黏性可打印層 192上。磁性標(biāo)識可以是符號178或磁性字母數(shù)字符182的形式,這可以給出磁性指紋區(qū) 112定向的指示。在指紋信息的掃描或匹配過程中磁性標(biāo)識可以作為基準(zhǔn)標(biāo)記或?qū)R引導(dǎo) 物。隨后在圖14B中,磁性材料沿第一黏性可打印層192沉積在兩個磁性標(biāo)識178、182之 間,沉積的磁性材料形成磁性指紋區(qū)112。然后在圖14C中,將一個第二黏性可打印層194 沉積在第一黏性可打印層192的上面。如前所述,第二可打印黏層194作為用于磁性指紋 區(qū)112的一個覆蓋保護(hù)層。在圖14C的右側(cè)示出了一個半透明視圖。在圖14D中,二維條 形碼186、光學(xué)字母數(shù)字符182或序列號以及過程光學(xué)標(biāo)識190被打印在第二黏性可打印層 194上。光學(xué)標(biāo)識190被用于模切對齊的目的。在圖14E中,隨后執(zhí)行模切196以獲得標(biāo)簽 102所希望的形狀。在此執(zhí)行模切196,這樣所生成的標(biāo)簽102被示出為在每個標(biāo)簽102的 底部具有一個突出103。如果標(biāo)簽102被制作的足夠厚(例如至少50微米,但是更優(yōu)選地 至少100-200微米厚),整個標(biāo)簽102并且特別是突出103可以被用作一個實體性對齊特征 以確保讀取裝置相對于該標(biāo)簽(并且更具體地相對于磁性指紋區(qū)112)被正確地機(jī)械對齊。 隨后在本發(fā)明的說明書中更加詳細(xì)地說明了這種實體性對齊機(jī)制。注意,如果突出103沒 有被用作一種實體對齊方法,作為指示用戶在讀取過程中相對于標(biāo)簽應(yīng)當(dāng)如何對齊讀取裝 置的一種視覺提示而言仍然是有用的。在圖14F中,多余的黏層192、194被移除以顯示最 終標(biāo)簽102,該最終標(biāo)簽保持附裝在一個不黏的襯墊上直至其被施加到一個有待加標(biāo)簽的 物品上。標(biāo)簽讀取一般涉及兩個步驟光學(xué)掃描和磁光掃描。典型地,首先執(zhí)行光學(xué)掃描, 隨后執(zhí)行磁光掃描。然而,通過彼此相對以及相對于讀取裝置的配置準(zhǔn)確地對齊光學(xué)標(biāo)識 和磁性指紋區(qū),這有可能(并且甚至是有利的)并行地讀取磁性指紋區(qū)和光學(xué)標(biāo)識兩者。 圖15A示出了被適配為使其光學(xué)條形碼186以及磁性指紋區(qū)112同時讀取的一個標(biāo)簽102。 圖15B示出了為了讀取條形碼186光學(xué)讀取元件需要掃描的大致區(qū)域224以及為了讀取磁 性指紋區(qū)112磁光讀取元件需要掃描的大致區(qū)域226。圖3中示出的讀取裝置104能夠并 行地讀取標(biāo)簽102的條形碼186和磁性指紋區(qū)112,條件是讀取元件116和讀取元件114被 安排為對應(yīng)于標(biāo)簽102的條形碼186和磁性指紋區(qū)112的空間安排(并且當(dāng)然條件是讀取 裝置116是一個條形碼讀取器)。注意,讀取元件116不需要與標(biāo)簽102存在實體性接觸, 而是僅需要確保在讀取元件114讀取區(qū)域226的同時它已對齊用于至少讀取區(qū)域224。然 而,某些讀取元件(如圖5至圖7中示出的那些)可以被適配為同時讀取光學(xué)標(biāo)識和磁性 信息兩者,并且這些元件可以被用于讀取標(biāo)簽102。注意,圖15中示出的標(biāo)簽102沒有必要使其光學(xué)條形碼186和磁性指紋區(qū)112被同時讀取,并且在某些應(yīng)用中順續(xù)讀取是適當(dāng)?shù)摹H珀P(guān)于圖2所說明的,根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的系統(tǒng)將從標(biāo)簽(或物品的) 磁性指紋區(qū)的掃描所獲得的信號與先前從同一個磁性指紋區(qū)所獲得的信號進(jìn)行比較。為了 使標(biāo)簽或物品的指紋得到驗證,這兩個信號必須在一個預(yù)定義的閾值內(nèi)相匹配。圖16A示 出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案使用讀取裝置的標(biāo)簽的所希望的掃描區(qū)域。圖16B示出了 當(dāng)讀取裝置未對齊時標(biāo)簽的掃描區(qū)域。圖16C以圖解示出了為了驗證標(biāo)簽的身份來自初始 讀取和后續(xù)讀取的信號如何進(jìn)行比較。在此標(biāo)簽102包含一個磁性區(qū)域112和磁性基準(zhǔn)標(biāo) 識178。如圖16A所示,標(biāo)簽102的磁性特征的一個第一讀取覆蓋了由225所示的讀取區(qū) 域。磁性特征的這次讀取是在標(biāo)簽生產(chǎn)線上或者在其他受控制的條件下完成的,這樣讀取 區(qū)域被很好地對齊以捕獲標(biāo)簽的所有磁性特征(例如整個指紋區(qū)以及所有的磁性基準(zhǔn)標(biāo) 識)。來自此次初始讀取的信號(或數(shù)據(jù))被存儲在一臺遠(yuǎn)程服務(wù)器內(nèi),并且允許隨后讀 取信號與初始的讀取信號進(jìn)行比較以便驗證標(biāo)簽102(如結(jié)合圖2所說明的)。然而,由于 標(biāo)簽102的后續(xù)讀取經(jīng)常由用戶們在受控制環(huán)境以外進(jìn)行的,他們并未正確地相對于標(biāo)簽 102對齊讀取裝置,標(biāo)簽102的后續(xù)讀取嚴(yán)重地未對齊是有可能的。這種情況在圖16B中示 出,其中讀取裝置是未對齊的,這樣磁性讀取區(qū)域232僅覆蓋部分指紋區(qū)112以及某些磁性 基準(zhǔn)標(biāo)識178。圖16C以圖解示出為了驗證標(biāo)簽的身份來自初始讀取和后續(xù)讀取的信號如 何進(jìn)行比較。在此,將來自初始讀取的信號1610與來自后續(xù)讀取的信號1620進(jìn)行比較。讀 取區(qū)域1610和1620的重疊部分被示出為1630。當(dāng)比較來自1610和1620的信號時,將比 較限制在對重疊區(qū)域1630內(nèi)的特征進(jìn)行比較是可行的。在這個圖示中,信號可以被假設(shè)是 標(biāo)簽102的磁性特征的圖像。磁性基準(zhǔn)標(biāo)識178的形狀和空間已經(jīng)被安排的方式為使得僅 存在一種可能的方式將這些圖像彼此相對地進(jìn)行安排(如圖16C所示)。這允許將容易地 將這些信號彼此相比較以確定磁性指紋區(qū)內(nèi)的識別特征是否適當(dāng)?shù)仄ヅ?。如果匹配在某個 預(yù)定的閾值之上,那么標(biāo)簽得到驗證了。閾值還確定信號之間的重疊區(qū)域1630的最小量, 例如,如果未對齊很嚴(yán)重以致重疊區(qū)域1630內(nèi)的磁性指紋區(qū)112不包含足夠的識別特征來 允許讀取被適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行比較,那么標(biāo)簽102將不會由那次讀取而得到驗證。盡管圖16A至 圖16C示出了磁性基準(zhǔn)標(biāo)識178,如果讀取元件允許磁光和光學(xué)兩者(如圖5至圖7中示出 的那些讀取元件),那么光學(xué)基準(zhǔn)標(biāo)識或光學(xué)的與磁性的基準(zhǔn)標(biāo)識的組合可以被用于關(guān)于 圖16A至圖16C所說明的目的。結(jié)合圖39說明了示出如何處理未對齊情況的另一個實施 方案。還考慮到的另一種方法是使用于光學(xué)以及磁光數(shù)據(jù)之一或兩者的初始掃描具有的掃 描區(qū)域大于用于后續(xù)讀取的掃描區(qū)域。在形成磁性指紋區(qū)112中使用的磁性顆粒176通常具有高矯頑性。此類高矯頑性 磁性顆粒176的一種形式是薄片式的幾何體。圖17A示出了根據(jù)本發(fā)明的實施方案在由一個覆蓋層194覆蓋的基片236上的一 個單一磁性顆粒176的截面視圖。根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案,圖17A示出的磁性顆粒176 具有與標(biāo)簽基片236的平面平行的一個磁場,并且圖17B示出的磁性顆粒176具有與標(biāo)簽 基片236的平面垂直的一個磁場。因為用讀取元件易于讀取的強(qiáng)磁場是令人希望的,如圖 17B所示的垂直磁化通常對此是有利的。因此,優(yōu)選具有與標(biāo)簽基片236的平面垂直而非平 行的磁場。因此,同樣重要的是將磁性顆粒176選擇為使得磁性顆粒176有助于同標(biāo)簽基 片236的平面垂直的強(qiáng)磁場。某些磁性顆粒176是各向異性的,并且允許一個方向上超過另一個方向的更強(qiáng)的磁化。對如圖17A和圖17B中所示的薄片式的顆粒而言,常見的是磁 性顆粒176的晶體定向允許與磁性顆粒176的平面平行而非與磁性顆粒176的平面垂直的 更強(qiáng)的磁化。在此類情況下,如圖17B所要求的一個強(qiáng)的平面外的磁化可能難于實現(xiàn)。因 此,如果標(biāo)簽102的幾何形狀是使得磁性顆粒176可能位于標(biāo)簽102的平面中,那么重要的 是選擇磁力地各向同性(即能夠在任何方向上被平等地磁化)或接近各向同性的磁性顆粒 176,或者,如果它們是各向異性的,那么它們的主要磁方向是平面外的。如果所使用的磁性顆粒176顯示出一種對于平面內(nèi)磁性的強(qiáng)傾向,那么令人希望 的是嘗試確保至少某些磁性顆粒176與標(biāo)簽102的平面是垂直對齊的。圖18A和18B示出 了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案被定位在不同定向的磁性顆粒176。圖18A示出了被定位與 標(biāo)簽基片236的平面平行的一個磁性顆粒176,并且圖18B示出了被定位與標(biāo)簽基片236的 平面垂直的一個磁性顆粒176。清楚的是,圖18B中示出的配置意味著該層磁性材料必須厚 于圖18A中示出的配置所必需的情況。用于實現(xiàn)磁性顆粒176對齊到平面外的一種方法是 將磁性材料放入某種形式的腔內(nèi)或凹陷之中,并且然后用一個薄的保護(hù)層覆蓋此凹陷。圖19示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案用于使薄片式顆粒176對齊到標(biāo)簽102 的平面外的一種方法。在此基片236具有一個穿過它切出的腔238。覆蓋層194疊壓在腔 238的一個開口上。磁性顆粒176已經(jīng)被混合入一種非磁性基體材料240中?;w材料240 是一種黏性液體,該黏性液體在加熱時(暴露于紫外線下或在某些其他觸發(fā)劑上)可以凝 固(即固化);例如,環(huán)氧樹脂作為該基體材料240可以很好地工作。磁性顆粒176和基體 材料240被沉積在腔238內(nèi)(這種沉積可以通過(例如)絲網(wǎng)印刷、橡皮刷或涂布來進(jìn)行)。 一旦該混合物是在腔238內(nèi),使標(biāo)簽102經(jīng)受一個強(qiáng)磁場。為了說明的目的,磁場由條形磁 體1910以及其相關(guān)聯(lián)的場線1920所描繪(盡管磁體1910的北極被示出為離標(biāo)簽102最 近,還可以是在所使用的配置中南極是更近的)。這個磁場將磁性顆粒176拉向覆蓋層194 并且基體材料240的黏性加上磁場相結(jié)合來幫助垂直定向磁性顆粒176,即使它們的最長 軸指向垂直于標(biāo)簽102的平面。此后,基體材料240被固體化或凝固(在環(huán)氧樹脂的情形 中,這種凝固或固化可以通過使樹脂凝結(jié)、使環(huán)氧化物交聯(lián)以形成一個固體來實現(xiàn))。這個 磁場可能足以確保磁性顆粒176被適當(dāng)?shù)卮呕?;然而,還考慮到可以在基體材料240的固化 之后施加一個更強(qiáng)的磁場,由此將這些磁性顆粒176磁化到一個足夠的程度。注意,在圖19 中,標(biāo)簽102已經(jīng)被反轉(zhuǎn)(與其他圖相比較),盡管如此與以前一樣它是旨在使讀取通過令 讀取元件與覆蓋層194接觸而發(fā)生。這意味著離覆蓋層194最近的磁性顆粒176 (是在散 列盒內(nèi)的那些)將對標(biāo)簽102的磁性指紋112具有最強(qiáng)的效果。這些磁性顆粒176大部分 對齊到標(biāo)簽102的平面外,并且,如果它們的最強(qiáng)磁軸與它們的最長軸重合,那么它們應(yīng)當(dāng) 提供有待讀取的一個強(qiáng)磁性信號。在以上說明中,高矯頑性顆粒被認(rèn)為是示例性的,因為它們保留其內(nèi)部磁場的時 間大大超過標(biāo)簽102的壽命。然而,還考慮到可以在標(biāo)簽102中使用非常軟磁性的材料(低 矯頑性顆粒)。在此類情況下,每次標(biāo)簽102被讀取之前都將一個磁場施加其上。這可以用 一個永磁體或電磁線圈來實現(xiàn),并且可以形成一個適配的讀取器裝置的一部分。這種方法 具有的優(yōu)點是標(biāo)簽102可以在工作過程中在其居里點之上被使用并且還提供了一種手段 在讀取之前將標(biāo)簽102重置(當(dāng)此種情形有益時)。圖20A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案通過擠出來制造標(biāo)簽102并將所生成的標(biāo)簽102附裝到一個適配為有待識別的物品上的一種方法。在擠出處理的過程中,(例如) 塑膠材料的粒料250在漏斗246中與磁性顆粒176進(jìn)行混合。擠出機(jī)244內(nèi)部的壓力致使 塑膠在磁性顆粒176周圍流動,并且最終包括塑膠(含磁性顆粒176)的一塊固體材料252 被擠出。所生成的材料252可以被用作標(biāo)簽102的一部分,或者如圖20B所示,其自身可以 被嵌入到一個有價值的物件254之中(它還可以被嵌入到然后粘著于一個有價值的物件上 的一個標(biāo)牌之中)。關(guān)于圖20A說明的過程可以在很多方面變化,例如,不是必須使用粒料 250,作為替代磁性顆粒176可以被混合入一種液體或漿料中,擠出過程可以被(例如)涂 布替代,并且基體材料不必是一種聚合物,但是它可以是金屬或陶瓷的/ “生坯”復(fù)合物。圖21A至21E示出了多個不同的實施方案,其中根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案標(biāo)簽 102被附裝到有待識別的一個物品262上。在圖21A中,包含磁性指紋區(qū)112的標(biāo)簽102被 包括在一個打印標(biāo)牌256中。打印標(biāo)牌256被附裝到一個有價值的物件262上。為了易于 附裝到有價值的物件262上,打印標(biāo)牌256可以是自粘式的。打印標(biāo)牌256的一些實例包 括卷標(biāo)牌、模切標(biāo)牌以及自粘式標(biāo)牌。在圖21A中示出的情形中,標(biāo)牌256實質(zhì)上一個薄的 扁平標(biāo)牌,它不幫助實體性地引導(dǎo)掃描儀的定位。這樣一個標(biāo)牌256可以典型地少于250 微米的厚度。標(biāo)牌256可以形成磁性指紋材料112下基片的一部分,或者它可以是覆蓋層 的一部分,或者磁性指紋區(qū)可以被嵌入到標(biāo)牌256之中。在圖21B中,包含磁性指紋區(qū)112的標(biāo)簽102被包括在一個厚標(biāo)牌258中。然后, 厚標(biāo)牌258被附裝到有價值的物件262上。厚標(biāo)牌258的一些實例包括多層材料、金屬的 或陶瓷的基片、塑膠、被擠出的材料或澆注的材料。厚標(biāo)牌258進(jìn)一步包括具有至少50微 米厚的任何其他形式的材料。厚標(biāo)牌258可以被用作一種實體性對齊機(jī)制,從而允許如圖 23所示的與掃描儀一定程度的互鎖??商娲兀蝾~外地,標(biāo)簽102可以至少部分地由一種 柔順材料制成,該柔順材料允許其與磁光讀取元件的形狀相符,為了確保在讀取元件和標(biāo) 簽間實現(xiàn)良好的接觸,這可以幫助確保磁性指紋區(qū)112被準(zhǔn)確地讀取。圖26至28示出了 柔順標(biāo)簽102可以如何幫助確保標(biāo)簽102與讀取元件之間的良好接觸的實例。在圖21C中,包含磁性指紋區(qū)112的標(biāo)簽102可以被包括在具有一個柔順層的標(biāo) 牌260中。具有柔順層的標(biāo)牌260可以被附裝到有價值的物件262的一個彎曲表面上。具 有柔順層的標(biāo)牌260的一些實例包括泡沫(如由Rogers公司銷售的商業(yè)產(chǎn)品“Poron”)、 硅膠、聚氨酯、聚乙烯。注意,如果有價值的物件262自身是柔順的,那么物件262的柔順性 可以被用于實現(xiàn)柔順標(biāo)簽的效果。在圖21D中,包含磁性指紋區(qū)112的標(biāo)簽102被嵌入在一個有價值的物件262中。 可替代地,指紋材料112可以被直接嵌入有價值的物件262中。圖21E,包含磁性指紋區(qū)112的標(biāo)簽102被定位在有價值的物件262上的凹槽或凹 陷264中。圖22示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案使用磁光讀取元件114讀取嵌入一個有 價值的物件的水平面268上的標(biāo)簽102上的指紋區(qū)112。讀取元件114是一種磁光讀取元 件,并且由磁光基片138和光學(xué)處理單元136結(jié)合組成以形成該讀取元件114。讀取元件 114由保護(hù)讀取元件114不受損壞的護(hù)套2210包圍。護(hù)套2210可以由非磁性材料(如非磁 性金屬(如鋁)、非磁性陶瓷或塑膠)制成。在某些情況下,令人希望的是使護(hù)套2210 (或讀 取原件周圍或其自身的其它部件)具有微弱的磁性,因為這可以增強(qiáng)正在被讀取元件114檢測的磁場。例如,如果標(biāo)簽102是已磁化的,這樣在讀取過程中指紋區(qū)112的磁性特征使 其北極朝向讀取元件114,使讀取元件114或讀取元件114附近的某個部件微弱地磁化可以 是有利的,這樣讀取元件114仿佛是一個磁體的南極。這可以增強(qiáng)正在被檢測的磁場,由于 讀取元件114的南極將會吸引這些特征的北極,由此使磁通線變形,這樣使它們進(jìn)一步延 伸出標(biāo)簽102的平面??商娲?,例如,使讀取元件114的左側(cè)作為微弱的北極以及右側(cè)作 為微弱的南極可以是有利的。這可以使磁通線在磁體的平面內(nèi)變形(顯著地)并且可能意 味著讀取可以是取決于讀取器的(即取決于所使用的讀取元件的具體磁化強(qiáng)度)。這可以 被用來確保不同的掃描儀會無法讀取某些標(biāo)簽(由于指紋可能不匹配)。圖22的左側(cè)示出 了與磁性指紋112接觸前的讀取元件114并且圖22的右側(cè)示出了與磁性指紋112相接觸 的讀取元件114。讀取水平面268上的指紋區(qū)112的方法是通過首先使磁光讀取元件114 與磁性指紋區(qū)112相接觸并且然后驅(qū)動讀取裝置104上的一個按鈕來實現(xiàn)的。一旦該按鈕 被驅(qū)動,可以獲得一個圖像信號并且完成讀取過程。圖23示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的磁光讀取元件114和標(biāo)簽102。在圖 23的左側(cè),這些部件已經(jīng)被放大,這樣易于觀看到它們是怎樣裝配在一起的。在一個實施方 案中,護(hù)套2210可以起到一個接合元件的作用,用于將磁光基片138定位在標(biāo)簽102上的 磁性指紋的一個區(qū)域上。同樣,為了使磁光讀取元件114上的潛在損壞最小化,磁光讀取元 件114可以被設(shè)計為處于護(hù)套2210的表面之下。如果標(biāo)簽102或標(biāo)簽102的部分是至少 50微米厚,那么由護(hù)套2210和讀取元件114形成的凹陷可以被用作一種實體性對齊方法 以允許用戶將讀取元件114對齊到標(biāo)簽102上。讀取元件114位于護(hù)套2210的表面之下 (例如)至少大約50微米、至少大約150微米、至少大約200微米或至少250微米。通常, 為此使用的標(biāo)簽102可以被設(shè)計為具有至少50微米的厚度,并且若不是比讀取元件114在 護(hù)套2210的表面之下的距離更厚的話至少可以是一樣厚。注意,在某些情況下,通過僅使 護(hù)套2210的一側(cè)位于讀取元件114的水平面之上可以實現(xiàn)有效的實體性對齊,在這種情況 下,在讀取元件114的水平面之上伸出的由護(hù)套2210形成的邊緣可以被用來將讀取元件的 邊沿引導(dǎo)到標(biāo)簽102的邊沿上或者在標(biāo)簽102、或者標(biāo)牌上、或者有價值的物件上的表面中 所形成的其他實體性臺階上。圖24示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案使用磁光讀取元件114讀取水平面268 上的標(biāo)簽102的方法。磁光讀取元件114能夠通過一個構(gòu)造元件266(示出為一套簡單的 彈簧)在保護(hù)性護(hù)套2210內(nèi)滑動。圖24的左側(cè)示出了與標(biāo)簽102接觸前的讀取元件114 并且圖24的右側(cè)示出了與標(biāo)簽102相接觸的讀取元件114。當(dāng)使讀取裝置104與標(biāo)簽102 進(jìn)行接觸時,將讀取元件114推靠到標(biāo)簽102的表面上。構(gòu)造元件266確保讀取元件114 對標(biāo)簽102施加一定的壓力,但是不要太多的壓力以致?lián)p壞讀取元件114或標(biāo)簽102的關(guān) 鍵指紋區(qū)112。這是因為構(gòu)造元件266的設(shè)計限定了讀取元件114將對標(biāo)簽102施加的最 大壓力,即使非常用力地推動讀取裝置104,讀取元件114將會退回到護(hù)套2210中并且最 終護(hù)套2210的外壁將承受多余的壓力。構(gòu)造元件266可以包括一個彈簧系統(tǒng)、一個海綿系 統(tǒng)、一個抽吸系統(tǒng)、一個液壓系統(tǒng)以及一個氣壓系統(tǒng)。構(gòu)造元件266允許磁光讀取頭114和 標(biāo)簽102在讀取過程中處于持續(xù)的接觸,即使用戶在讀取過程中施加了不均勻的力。圖25A至圖25D示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案使用磁光讀取元件114讀取 不平的平面268上的標(biāo)簽102的方法。圖25A示出了與周圍的保護(hù)性護(hù)套2210有一個小間隙267的磁光讀取元件114。此外,磁光讀取元件頭114通過一個構(gòu)造元件266 (例如一 種彈簧機(jī)制)連接到護(hù)套2210上。當(dāng)讀取位于不平的表面268上的磁性指紋區(qū)112或標(biāo) 簽102時,間隙267和彈簧機(jī)制266均提供一定程度的補(bǔ)償。圖25A示出了與標(biāo)簽102接 合之前的讀取元件114。在圖25B中,如圖25A所示的磁光讀取元件114與不平坦表面268 上的標(biāo)簽102進(jìn)行接觸,磁光讀取元件114能夠在護(hù)套2210內(nèi)移動,以便與不平坦表面268 上的標(biāo)簽102相符。在圖25C和圖25D中,間隙267可以被一個柔順層269替代以補(bǔ)償磁 光讀取頭114的移動(圖25C示出了接觸之前的情形并且圖25D示出了與標(biāo)簽102接觸過 程中的情形)。注意,指紋區(qū)112內(nèi)磁性特征的磁場強(qiáng)度隨距離迅速地衰減。假設(shè)兩個磁 性特征位于標(biāo)簽內(nèi)的相同深度(該深度從標(biāo)簽表面開始測量)并且這兩個特征具有它們的 磁場的完全相同的磁場強(qiáng)度以及定向。如果一個這樣的特征位于標(biāo)簽102上的位置2510 處并且另一個位于2520處,由于(因為表面268的形貌)位置2520處的磁性特征在實體 上比2510處的磁性特征離讀取元件114更近,如圖25D所示的標(biāo)簽的讀取將產(chǎn)生讀取元件 114從位置2520處測量的磁性作用強(qiáng)于從位置2510處的磁性作用。結(jié)果是,這種讀取將實 際上是標(biāo)簽102的磁性特征與標(biāo)簽102或表面268的形貌特征相混繞的一種測量。在某些 情況中,由于如果將標(biāo)簽102從一個表面上移除并且被定位在另一個表面上,那么指紋讀 取將會隨著指紋在其上定位的形貌的改變而改變,這可以被作為一種有力的防篡改或抗篡 改機(jī)制。在其他情況下,特別是在被施加到一個有價值的物件的表面上之前初始地在生產(chǎn) 線上對標(biāo)簽進(jìn)行讀取的情形中,這可能導(dǎo)致問題,因為標(biāo)簽102的初始讀取由于這種形貌 而可能與標(biāo)簽102的后續(xù)讀取不能很好地匹配。在此類情形中,使用如圖21C中所說明的 柔順標(biāo)簽可能是有利的。另一種方法可以是使用標(biāo)簽102,它們可以進(jìn)行模制來使其反面 與它們所施加的表面的輪廓相配合,然而標(biāo)簽的前表面應(yīng)當(dāng)保持是平面的。這樣一個標(biāo)簽 102的實例可以是具有一個硬平面前層和由熱塑材料制成的一個底層(在指紋區(qū)之下)的 一種多層式標(biāo)簽。當(dāng)標(biāo)簽102被施加到有價值的物件上時,將其加熱,這樣使得熱塑層融化 或至少軟化,使得熱塑層可以與有價值的物件的表面相符。圖26示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案使用磁光讀取元件114讀取包含在一個 柔順標(biāo)牌260內(nèi)的指紋112的方法。在此,柔順標(biāo)牌260被示出被附裝到一個具有圓形截 面的有價值的物件262上。因為該有價值的物件262的形狀,柔順標(biāo)牌260的表面在與讀 取元件114接合之前也被彎曲(如圖的左側(cè)所示)。因為其柔順性,當(dāng)其被讀取元件114接 合時(如圖的右側(cè)所示),標(biāo)牌260的表面能夠變形為平表面。這允許標(biāo)牌的指紋區(qū)112與 讀取元件114之間的良好接觸。然而,重要的是標(biāo)牌260不是太厚或太柔順以致使指紋區(qū) 112在讀取過程中在標(biāo)牌260的表面內(nèi)被嚴(yán)重變形,嚴(yán)重變形可能允許指紋區(qū)112內(nèi)的磁 性特征彼此相對被移位,并且這可能減少所存儲的指紋信號與所讀取的指紋信號之間的匹 配。圖27示出了當(dāng)有價值的物件262 (其上固定了標(biāo)牌260)具有一個粗糙的表面時 柔順標(biāo)牌260可以如何幫助。圖27的左側(cè)示出了與讀取元件114接合之前的情形。標(biāo)牌 260與有價值的物件262的表面相符導(dǎo)致標(biāo)牌的表面起伏。總體上,首先在生產(chǎn)線上(其中 標(biāo)牌260是平的)讀取指紋112。如果當(dāng)標(biāo)牌260具有起伏的表面時進(jìn)行后續(xù)的讀取,如果 標(biāo)牌260不是柔順的,指紋區(qū)112的某些磁性特征可能進(jìn)一步地遠(yuǎn)離讀取元件114的表面。 然而,在用柔順標(biāo)牌260讀取的過程中(通過對讀取元件114施加一些壓力與讀取元件114接合),如右側(cè)所示,指紋區(qū)112的表面能夠與讀取元件114相符,由此協(xié)助指紋區(qū)112的準(zhǔn)確讀取。圖28示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的另一種柔順標(biāo)牌的構(gòu)造。在此,標(biāo)牌 260被構(gòu)造成使得指紋區(qū)112的表面相對于包圍指紋區(qū)112的標(biāo)牌260的剩余表面略微升 高。如圖的右側(cè)所示,當(dāng)在與讀取元件114接合之前被附裝到一個平的有價值的物件262上 時,指紋區(qū)112的表面比標(biāo)牌260邊沿處的表面高出距離&。如圖28的左側(cè)所示,在接合 過程中,這個距離被壓縮到X2,即指紋區(qū)112的表面被壓縮到離周圍表面的平面更近。取決 于讀取元件114的形狀和大小以及在讀取過程中對讀取元件114所施加的壓力,X2可能是 零(即位于周圍表面的平面內(nèi))或者甚至是負(fù)的(即指紋區(qū)的表面被推到周圍表面之下)。 由于對讀取元件114施加的所有壓力都集中在使指紋區(qū)112的表面平坦,并且如果標(biāo)牌260 的其他部分略微升高(例如因為在模切過程中形成的毛邊或邊緣、或者因為損壞),或者如 果其他部分上有灰塵,那么他們將不會對指紋區(qū)112的讀取有顯著的作用,這個標(biāo)牌260的 設(shè)計協(xié)助指紋區(qū)112與讀取元件114之間的良好接觸。圖29A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的包含一個指紋區(qū)112的標(biāo)簽102的截 面視圖。根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案,標(biāo)簽102被嵌入有待識別的有價值的物品262內(nèi)以 及磁光讀取元件114之中。包含標(biāo)簽102的環(huán)262的表面已經(jīng)變平以確保標(biāo)簽102的表面 與讀取元件114之間的良好接觸。使磁光讀取元件114與標(biāo)簽102進(jìn)行接觸用于讀取磁性 指紋112。圖29B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的標(biāo)簽102和指紋區(qū)112的一個俯視 圖。在此,標(biāo)簽102是矩形的以便配合在環(huán)形表面上的可用空間。指紋區(qū)112是包含指紋 材料的一個狹長凹槽。為美觀目的(例如與周圍的環(huán)看起來一樣),將一個薄金屬層鍍到標(biāo) 簽102上可能是可行的并且可能是令人希望的,例如如果環(huán)是金色的,那么環(huán)262的鍍層可 以是金色的。這個鍍層(或其他涂敷層)還可以用于保護(hù)標(biāo)簽102和指紋區(qū)112不受環(huán)境 影響(例如刮痕和腐蝕)。在這個實施方案中突出強(qiáng)調(diào)了了本發(fā)明的一個重要特征即具 有一個標(biāo)準(zhǔn)讀取元件的一個單一掃描儀能夠讀取不同形狀和大小以及包含在或附裝到多 種有價值的物件的表面上的指紋區(qū)。如果標(biāo)準(zhǔn)讀取裝置104(以及相關(guān)聯(lián)的磁光讀取元件) 能夠讀取指紋區(qū)112的一個足夠大的比例以便確保一個可接受的閾值之上的指紋匹配,那 么所有的指紋區(qū)112具有相同的形狀和大小就不是必要的。這在商業(yè)上是非常重要的,因 為它允許使用標(biāo)準(zhǔn)讀取裝置104或掃描儀同很多不同的產(chǎn)品一起使用。圖30A和圖30B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案當(dāng)讀取標(biāo)簽102時磁光讀取元 件114的截面視圖。磁光讀取元件114由一個保護(hù)性護(hù)套2210所包圍。磁光讀取頭114 通過一種彈簧機(jī)制266連接到護(hù)套2210上。護(hù)套2210的內(nèi)壁實質(zhì)上在形狀上與厚標(biāo)牌 258 (其中定位了具有一組識別特征的標(biāo)簽102)的周長互補(bǔ)。圖30A示出了在使磁光讀取元件114與厚標(biāo)牌258接合之前的情形。彈簧266處 于一種未壓縮狀態(tài)。圖30B示出了當(dāng)讀取標(biāo)簽102時在厚標(biāo)牌258上被壓縮的磁光讀取元 件114。保護(hù)性護(hù)套2210實質(zhì)上包圍著厚標(biāo)牌258。當(dāng)在厚標(biāo)牌258上壓縮磁光讀取頭 114時,彈簧266被壓縮并且磁光讀取元件114被推入護(hù)套2210中。護(hù)套2210的內(nèi)壁包圍 著標(biāo)牌258并且提供給用戶一種實體接合機(jī)制以確保讀取裝置與標(biāo)牌258正確地對齊(并 且因此與標(biāo)簽102及其指紋區(qū)112對齊)。標(biāo)牌258和護(hù)套2210可以具有任何適當(dāng)?shù)男?狀(例如正方形、長方形、三角形或多邊形),然而,優(yōu)選的是這個形狀不是完全對稱的,即形狀唯一地限定了讀取裝置104或掃描儀相對于標(biāo)牌258的定向。在以下說明的圖31中 示出這樣的一個標(biāo)牌258和護(hù)套2210的配置。圖31示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案使用磁光讀取元件114讀取具有對齊特 征222的標(biāo)牌284的方法。標(biāo)牌284包含由一個薄覆蓋層覆蓋的嵌入的指紋區(qū)112(指紋 區(qū)112由于被覆蓋層隱藏而未示出)。數(shù)據(jù)矩陣條形碼186以及人可讀的序列號182被打 印在覆蓋層的表面上。為了實現(xiàn)用于讀取標(biāo)牌284上的指紋的所希望的對齊,可以使用在 磁光讀取元件114周圍或與其相鄰的外殼282上的缺口 280以及標(biāo)牌284上的插頭222的 組合來提供一種互鎖裝置。當(dāng)磁光讀取元件114被置于在標(biāo)牌284上時,磁光讀取元件114 的外殼282上的缺口 280提供了一種機(jī)械性導(dǎo)向以確保相對于標(biāo)簽的掃描儀的準(zhǔn)確對齊和 定向。這種互鎖提示用戶以一種優(yōu)選的對齊方式將磁光讀取元件114調(diào)整到標(biāo)牌284上。 注意,外殼282可以是如參考之前的圖所說明的一個保護(hù)性護(hù)套。圖32示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案讀取包含一個指紋112的標(biāo)簽102的方 法。標(biāo)簽102被嵌入一個有價值的物件262的表面中。有價值的物件262具有與標(biāo)簽102 相鄰的一個或多個突起3210。這些突起3210被設(shè)計為引導(dǎo)或與磁光讀取元件114的外殼 282互鎖。圖32A示出了讀取元件114與標(biāo)簽102間的接合之前的情形。圖32B示出了接 合過程中的情形。在此,磁光讀取元件114被向下移動,這樣使得磁性讀取元件114接觸到 (或者至少很接近)標(biāo)簽102的表面。突起3210相對于標(biāo)簽102引導(dǎo)讀取元件114的位 置。注意,突起3210可以完全包圍標(biāo)簽102或外殼282,并且突起3210還可以形成在標(biāo)簽 102本身上或形成在標(biāo)牌上以幫助引導(dǎo)這種對齊。圖33示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案包含在有待識別的物品262的凹槽264 中的磁性指紋112的標(biāo)簽102。用于標(biāo)簽102的凹槽264的內(nèi)壁可以被用來幫助對齊讀取 裝置104或掃描儀以及結(jié)合圖32說明的標(biāo)簽102。如果有待識別的物品262沒有適當(dāng)?shù)钠?表面來附裝標(biāo)簽102,那么這樣一個凹槽264也可以是有利的。此類物品包括柱形物品但并 不限于此。這樣的凹槽264還具有的優(yōu)點是它幫助保護(hù)標(biāo)簽102不受機(jī)械摩擦以及與物品 的不經(jīng)意的接觸。注意,凹槽264不需要是如圖33所示的末端開口的槽,任何凹穴(如四 壁方形截面凹穴)都可以是適當(dāng)?shù)?。圖34示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案將標(biāo)簽102施用到標(biāo)牌284上的方法。在 圖34中,施用器頭3430配備了磁光讀取元件114。施用器頭3430還包含一個條形碼掃描 儀(未示出),并且在將其施用到標(biāo)牌284之前讀取包括二維條形碼186的標(biāo)簽身份3410和 磁性指紋區(qū)112兩者。指紋區(qū)112沒有示出,因為指紋區(qū)112位于覆蓋層的下面,覆蓋層上 打印了二維條形碼186,因此是不可見的。施用器頭3430還包含一個打印機(jī)(未示出),該 打印機(jī)直接在將標(biāo)簽102施用到標(biāo)牌284之前在標(biāo)牌284上打印序列號3420和型號3440。 施用器頭3430將已經(jīng)打印在標(biāo)牌284上的信息(即序列號3420和型號3440)與標(biāo)簽102 上的二維條形碼號186以及指紋區(qū)112的讀取連接起來。這個已連接的信息(即標(biāo)牌的序 列號3420和型號3440以及對應(yīng)的標(biāo)簽102的條形碼和指紋信息)被發(fā)送到一臺數(shù)據(jù)服務(wù) 器上,該數(shù)據(jù)服務(wù)器可以是結(jié)合圖1和圖2所說明的遠(yuǎn)程服務(wù)器108 (或者可以連接到遠(yuǎn)程 服務(wù)器)。信息的這種連接確保如果標(biāo)簽102如結(jié)合圖2所說明被掃描并且發(fā)生了成功的 匹配,被發(fā)送到終端用戶的移動裝置或計算機(jī)上的額外的信息可以包括標(biāo)牌的序列號3420 和型號3440,這樣用戶可以視覺地核實打印在標(biāo)牌上的數(shù)字與數(shù)據(jù)服務(wù)器中的存儲相匹配。標(biāo)簽102和標(biāo)牌284數(shù)據(jù)的這種連接還允許系統(tǒng)與一個品牌擁有者的數(shù)據(jù)庫無縫地相 互聯(lián)結(jié),例如,由于品牌擁有者將會使用打印在標(biāo)牌284上的他們的信息維護(hù)他們的數(shù)據(jù) 庫,并且很有可能使其信息與標(biāo)簽102上的二維條形碼號碼186和指紋112相關(guān)聯(lián)。在這樣 一條組裝線上,標(biāo)簽102通過空氣抽吸和活塞運(yùn)動來進(jìn)行分配。磁光讀取元件114被安裝 在讀取元件活塞288的底部以便當(dāng)標(biāo)簽102正在被分配時能夠進(jìn)行標(biāo)簽的指紋區(qū)的讀取。 通過一個包括挾滾輪和平表面的系統(tǒng)248來移動這些標(biāo)牌284,對于分配臂286、活塞288、 吸氣柱290和磁光讀取元件114可以繼續(xù)本地或遠(yuǎn)程控制。標(biāo)牌284、標(biāo)簽102以及施用器 頭3430可以有很大變化。在這方面,施加和數(shù)據(jù)連接的過程可以改變,并且數(shù)據(jù)類型也可 以改變(不限于序列號或型號,但可以包括生產(chǎn)日期和時間、有效期、擔(dān)保信息、校準(zhǔn)信息、 批號等等)。注意,所給出的實例是一個品牌擁有者對一個有價值的品牌物件加標(biāo)簽,但是 一個實例還可以是數(shù)據(jù)擁有者可以是一個組織或政府機(jī)構(gòu),并且正在被加標(biāo)簽或標(biāo)牌的物 件或物品可以是一個識別文件、執(zhí)照、金融票據(jù)等等。例如,另一種連接數(shù)據(jù)的方法是首先 讀取標(biāo)簽信息,然后將這些標(biāo)簽102附裝到標(biāo)牌284上,并且最終將信息打印到標(biāo)牌284上 以及將標(biāo)牌284施加到有價值的物件上。在這種情形中,直接在將信息打印到標(biāo)牌284上 之前或直接在其后讀取標(biāo)簽102的條形碼號碼186,由于控制打印機(jī)的計算機(jī)還可以使已 讀取的標(biāo)簽102的條形碼號碼位于標(biāo)牌284上,這可以允許對標(biāo)簽102和標(biāo)牌信息進(jìn)行連 接。然而另一種方法可以是在標(biāo)牌284上具有機(jī)器可讀標(biāo)牌信息(例如對應(yīng)于序列號和型 號的條形碼)以及在標(biāo)簽102上具有機(jī)器可讀信息。當(dāng)標(biāo)簽102被施加到標(biāo)牌284上時,兩 組信息(即標(biāo)牌284的信息和標(biāo)簽102的信息)均可以被讀取和進(jìn)行連接。如果標(biāo)牌284 隨后被附裝到有價值的物件上,于是可以再次讀取標(biāo)牌284或標(biāo)簽102并且更新數(shù)據(jù)庫,這 樣使得標(biāo)簽102或標(biāo)牌284現(xiàn)在是有效的(即在一個有價值的物件上)并且施用的時間和 日期(加上所要求的其他信息)被存儲在數(shù)據(jù)庫中。清楚的是,標(biāo)簽信息可以與已經(jīng)被直 接打印在有價值的物件本身上的信息進(jìn)行連接,以下結(jié)合圖35說明了這個概念?;蛘哂袃r 值的物件可以只使用該標(biāo)簽作為其身份,并且關(guān)于該有價值的物件的所有相關(guān)的信息都可 以被存儲在數(shù)據(jù)庫中并且沒有在標(biāo)牌上或有價值的物件本身上示出。圖35A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案將具有磁性指紋區(qū)112的標(biāo)簽102分配 到被適配為有待識別的有價值的物件3510上;圖35B和圖35C示出了在標(biāo)簽102被分配之 前和之后的有價值的物件3510。有價值的物件3510被示出為標(biāo)記有包括該物件的序列號 3420和型號3440的一個機(jī)器可讀標(biāo)記3520以及人可讀信息。有價值的物件3510上的標(biāo) 記可以通過(例如)直接部件打標(biāo)來完成。除其他方法之外,直接部件打標(biāo)包括如點噴丸 打標(biāo)、激光打標(biāo)以及噴墨打標(biāo)等方法??商娲?,有價值的物件3510可以使用(例如)射 頻識別(RFID)標(biāo)簽來進(jìn)行標(biāo)記。在圖35所示出的實例中,直接在將標(biāo)簽102分配到有價 值的物件3510上之前或之后讀取這種機(jī)器可讀標(biāo)記3520。還讀取了標(biāo)簽102的至少一個 識別特征并且這允許標(biāo)牌或標(biāo)簽102在數(shù)據(jù)庫與有價值的物件3510和打印在有價值的物 件3510上的信息進(jìn)行連接。圖36A示出了根據(jù)本發(fā)明的標(biāo)簽102的截面視圖。圖36B示出了同一標(biāo)簽102的 等距視圖。標(biāo)簽102包括由混合在黏性聚合材料(例如聚氨酯或環(huán)氧樹脂)內(nèi)的磁性顆粒 組成的指紋區(qū)112,該混合物已經(jīng)被分配或被絲網(wǎng)打印到覆蓋層3610的背面并且已經(jīng)被固 化,這樣使得磁性顆粒被固定彼此相對的位置。覆蓋層3610的厚度在1微米到200微米之間,但是優(yōu)選地該厚度在25到50微米之間,并且由一種非磁性材料制成,如一種聚對苯二 甲酸乙二醇酯“PET”膜。覆蓋層3610在其表面上還具有機(jī)器可讀標(biāo)記3640 (如條形碼)和 人可讀標(biāo)記3650 (如對應(yīng)于在條形碼內(nèi)編碼的數(shù)字的一個數(shù)字)兩者。此類標(biāo)記總體上通 過打印(例如噴墨打印或熱色帶轉(zhuǎn)印打印)來施加,但是可以通過其他方式(比如(如果適 當(dāng))激光打標(biāo))來施加。標(biāo)簽102進(jìn)一步包括至少10微米厚(但是更優(yōu)選地100到750微 米厚)的柔順基底層3630。適合于某些應(yīng)用的柔順基底層的實例包括由Rogers公司銷售 的"Poron"以及由圣Gobain功能塑料公司制作的"Norton"范圍泡沫?;讓?630材 料在其上下表面上均有一個薄黏層(未示出)。在指紋材料已經(jīng)被分配到覆蓋層3610的背 面后,覆蓋層3610被疊壓到基底層3630上。基底層3630的頂部表面的粘合劑允許覆蓋層 3610被牢固地粘附到基底層3630上。疊壓之后,疊壓膜被模切,這樣使得獨立的標(biāo)簽102 留在襯墊3620上。這個襯墊3620是一個一次性的載體,這樣可以容易地處理獨立的標(biāo)簽 (例如被卷成卷并填入到標(biāo)簽施用器內(nèi))。襯墊3620還用于確保底部表面的粘合劑處于良 好的狀態(tài),這樣當(dāng)標(biāo)簽102被施加到必須粘附到其上的表面上時,所形成的粘附的結(jié)實的。 典型地,襯墊3620在其上表面(即其與基底層3630粘合劑接觸的地方)具有一個非黏性 涂敷層,這樣標(biāo)簽102能夠被容易地從襯墊3620移除。 圖37A示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案正在被附裝到有價值的物件3510上 的標(biāo)簽102的過程,并且圖37B示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案附裝到一個有價值的 物件3510上的標(biāo)簽102。圖37A示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案正在被附裝到有價 值的物件3510上的標(biāo)簽102。在該實施方案中,標(biāo)簽102和附裝機(jī)制被適配為防止篡改標(biāo) 簽102,例如,如果標(biāo)簽102從有價值的物件3510移除并且被置于另一個物件上,它將不再 起作用,因此而“防篡改”。在圖37A的左側(cè),施用頭3730拾取一個標(biāo)簽102。注意,在此示 出的施用頭3730沒有用任何磁光讀取元件,以此強(qiáng)調(diào)在這個和其他的實施方案中并非必 須要求施用頭3730 —定包括磁光讀取元件并且施用頭3730或分配器不需要具有任何標(biāo)簽 或指紋讀取功能。在圖37所示出的實例中,該標(biāo)簽102具有打印在薄覆蓋層194的下側(cè)上 指紋區(qū)112。有目的地將指紋區(qū)112和覆蓋層194之間的粘附強(qiáng)度選擇為適中的強(qiáng)度,例 如不要過強(qiáng)。圖37A的左側(cè)還示出了,一滴粘合劑3710 (如環(huán)氧樹脂)直接在施加標(biāo)簽之 前被施用到有價值的物件3510的表面上。在此,分配噴嘴3720被用來分配粘合劑3710的 液滴。粘合劑3710的液滴實質(zhì)上仍然是液體,施用頭3730將標(biāo)簽102推入到粘合劑3710 中。在施用頭3730仍然與標(biāo)簽102接觸的同時或在施用頭3730被收回之后,粘合劑3710 的液滴被固化(或被冷卻(如果使用了熱塑))。由于接觸標(biāo)簽102的施用頭3730的表面 實質(zhì)上是平的,這確保標(biāo)簽102在施用頭3730被移除之后仍保持平。對這個過程進(jìn)行調(diào)諧 以確保標(biāo)簽102甚至在粘合劑3710被固化之后仍保持平。如果粘合劑3710和指紋材料之 間的粘附比指紋區(qū)112和覆蓋層194之間的粘附更強(qiáng),那么如果嘗試移除標(biāo)簽102,覆蓋層 194將會脫落,同時指紋區(qū)112將保持牢固地嵌入在已固化的粘合劑3710中,從而提供一種 良好的防篡改或抗篡改機(jī)制。將標(biāo)簽102附裝到有價值的物件3510上的方法的另一個優(yōu) 點是即使有價值的物件的表面是不平的(如圖37A所示),粘合劑3710用于有效地使表面 變平,這樣使得可幫助確保磁光讀取元件114與標(biāo)簽表面有良好接觸的標(biāo)簽102的表面有 效地讀取指紋區(qū)112。這種標(biāo)簽附裝方法特別有用的實例是如果將標(biāo)簽102粘附在一個瓶 子和其蓋子之間的接合處上。使用這個方法,標(biāo)簽102能夠被被粘附在瓶子和蓋子之間的
39不平的界面上,并且如果正確選擇了粘合劑,如果蓋子被打開則標(biāo)簽102將切斷(因此提供防篡改或抗篡改)。在以下說明的圖38中示出了被適配為一個瓶子提供防篡改封口的標(biāo)簽 102的另一個實例。圖38A示出了由蓋子3810密封的一個瓶子3820,它被根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案 的防篡改標(biāo)牌3830跨接。圖38B示出了標(biāo)牌3830的俯視圖,該標(biāo)牌包括一個標(biāo)簽102并 且具有人可讀數(shù)字3840。標(biāo)牌3830由模制塑料制成并且標(biāo)簽整體被嵌入到標(biāo)牌3830的表 面之中。圖38C示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案的標(biāo)牌3830的截面視圖。標(biāo)牌3830可 以包括打印在一個薄覆蓋層3850上的標(biāo)簽102 (條形碼)。一個指紋區(qū)3860附裝到覆蓋層 3850的下側(cè)。標(biāo)牌3830進(jìn)一步包括直接位于標(biāo)簽102的指紋區(qū)3860下的一個缺口 3870。 標(biāo)牌3830的底表面3880之一被牢固地粘附到蓋子3810上,同時一個第二底部表面3890 被牢固地粘附到瓶子3820上。如果蓋子3810被移除,標(biāo)牌3830在缺口 3870剪切,由此而 破壞了指紋112。這為瓶子3820提供了防篡改或抗篡改。圖39A和圖39B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案處理讀取裝置104與標(biāo)簽102 的指紋區(qū)112之間未對齊情況的一種方法。如圖39A所示,標(biāo)簽102的磁性特征的一個第 一讀取覆蓋了由225所示的讀取區(qū)域。指紋區(qū)112被限制為比讀取區(qū)域225小的一個區(qū) 域。圖39B示出了當(dāng)讀取裝置104未對齊時標(biāo)簽102的后續(xù)讀取區(qū)域3910和3920。在這 個實例中,后續(xù)讀取區(qū)域3910和3920均具有與第一讀取區(qū)域225相同的尺寸,然而,示出 為它們都未對齊,即3910與3920兩者都沒有像第一讀取區(qū)域225那樣對齊。然而,由于指 紋區(qū)112比讀取區(qū)域225、3910以及3920小,在每種情況下,即使有未對齊情況,讀取裝置 104仍然能夠捕獲指紋區(qū)112的所有磁性特征。這協(xié)助了所取得的指紋讀取的匹配??赡?適合于這種方法的尺寸的一個實例是如果磁性指紋區(qū)112實質(zhì)上是具有大約3mm的直徑 的圓形區(qū)域,然后如果磁性讀取區(qū)域是5mm乘5mm的正方形尺寸,在磁性讀取區(qū)域不捕獲 指紋區(qū)112的某些特征之前,它可以允許任何方向上的Imm的未對齊情況。同樣有利的是 在這種方法中在標(biāo)簽102上使用某種形式的對齊標(biāo)記或方法以確保讀取區(qū)域總是至少在 相同方向上粗略地對齊,換言之,以防止后續(xù)讀取區(qū)域從第一讀取定向上旋轉(zhuǎn)偏離90度或 180度。此種對齊使匹配算法更簡單并且在匹配中提供更高的信任度。圖40A和圖40B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案讀取標(biāo)牌260的指紋區(qū)112的 過程,其中標(biāo)牌260的表面是不平的并且標(biāo)牌260不是足夠柔順的以確保與磁光讀取元件 114的平表面的良好接觸。在這種情況下,標(biāo)牌260的表面是不平的,因為標(biāo)牌260附裝到 一個彎曲的有價值的物件262上。圖40A突出強(qiáng)調(diào)了當(dāng)可以在圖40A中看到的標(biāo)牌260的 表面不平時在標(biāo)牌260的指紋區(qū)112的掃描中的問題。如果讀取元件114與標(biāo)牌260的表 面接觸,那么它不接觸整個標(biāo)牌260表面而是讀取元件114與標(biāo)牌260表面之間存在間隙。 由于小顆粒的磁場迅速地隨著距離衰減,此類間隙能夠降低指紋讀取的準(zhǔn)確性。圖40B示 出了處理該問題的一種方法。在此,掃描裝置在指紋區(qū)112的讀取過程中被配備為“搖動” 讀取元件114。在圖40B的左側(cè),讀取元件114在其向左傾斜的位置上被示出,并且在圖40B 的右側(cè),它被示出為被搖動到右側(cè)。在此,指紋讀取在搖動過程中受到連續(xù)捕獲磁光信號的 影響。例如,如果一個CMOS成像芯片(如結(jié)合圖4到7所說明的)被用來捕獲圖像,然后 它在搖動過程中可以繼續(xù)捕獲以形成一個最終圖像??梢栽诨A(chǔ)攝影術(shù)中發(fā)現(xiàn)這種連續(xù)捕 獲方法的一種類似情況,其中攝影師選擇使相機(jī)快門打開持續(xù)一段延長的時間,這樣使得最終圖像實質(zhì)上是在快門時開著的時間內(nèi)已經(jīng)到達(dá)相機(jī)的成像板的所有光的集成。重要的 是在此種搖動成像方法中確保讀取元件114與標(biāo)牌260之間的側(cè)向運(yùn)動(即滑動)在搖動 過程中被保持在一個最小值,否則圖像可能變模糊。盡管在圖40B中以兩種維度示出了這 種方法,它可以被用作三維的搖動(即搖動還可以是進(jìn)入或離開頁面的平面。)此外,考慮 到了其他方案,如在搖動過程中采集連續(xù)的視頻以處理如讀取元件114與標(biāo)牌260表面之 間的滑動等問題。圖41A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案被適配有待由讀取裝置4120讀取的一 個標(biāo)簽102。圖41A示出了標(biāo)簽102以及其表面上的標(biāo)記。標(biāo)簽102具有一個掛鎖形狀的 印記或圖標(biāo)4110,它包含一個數(shù)據(jù)矩陣條形碼。標(biāo)簽102具有位于條形碼區(qū)域下面的一個 指紋區(qū)(未示出)。圖41B和圖41C示出了一個讀取裝置4120,它包括一個磁光讀取元 件4130、作為條形碼讀取器的一個第二讀取元件4140、一個按鈕4150、底部具有一個開口 4170的一個透明護(hù)套4160。開口 4170被設(shè)計為嚴(yán)密地對應(yīng)于印記4110的形狀和大小,并 且當(dāng)讀取指紋區(qū)時這允許用戶相對于標(biāo)簽102正確地對齊讀取裝置4120。為使用讀取裝置 4120,用戶定位讀取裝置4120,這樣使得開口 4170包圍印記4110。然后按鈕4150被略微 按下驅(qū)動條形碼讀取器4140讀取標(biāo)簽102上的條形碼。一旦這被成功地完成,進(jìn)一步按下 按鈕4150,并且磁光讀取元件4130向下移動到圖41C所示的護(hù)套4160之中。一旦磁光讀 取元件4130與標(biāo)簽102的表面有良好接觸,讀取指紋區(qū)。圖5至7披露了用于同時讀取來自標(biāo)簽102的磁性和光學(xué)信息的對應(yīng)的讀取元件 162、166、172。為了使用這些對應(yīng)的讀取元件162、166、172,正在被讀取的標(biāo)簽102上的磁 性和光學(xué)信息通常被定位與彼此相鄰??赡苡欣氖悄軌蚓哂幸粋€讀取元件,這樣使得讀 取元件允許同時讀取來自同一個地方的磁性和光學(xué)信息(即疊加或在彼此之上)。如以下 所示可以提供這樣一種方法。圖42A至42E示出了標(biāo)簽102的截面視圖,其中磁性信息和光學(xué)信息被定位在同 一個地方(即在彼此之上)。在圖42A中,標(biāo)簽102可以包括一個覆蓋層194,該覆蓋層具 有打印在其底部表面上的光學(xué)條形碼(未示出)(在此,“條形碼”包括數(shù)據(jù)矩陣碼和其他 機(jī)器可讀光學(xué)信息)、可以是位于覆蓋層194下面的層的形式的磁性指紋區(qū)112以及位于磁 性指紋區(qū)112下面的粘合劑層4210。注意,條形碼被示出為僅僅用于說明性目的的光學(xué)標(biāo) 識。隨后的用于本圖和其他圖的說明應(yīng)當(dāng)被認(rèn)為是通用的并且不限于條形碼。圖42B示出了標(biāo)簽102的頂部光學(xué)視圖。可以從標(biāo)簽102的俯視圖看到已經(jīng)被打 印在標(biāo)簽102的表面上的條形碼184形式的光學(xué)信息。圖42C示出了標(biāo)簽102的頂部磁性視圖。如果用戶能夠采集標(biāo)簽102的磁性圖像, 那么用戶也許能夠有效地“看穿”覆蓋層194和光學(xué)信息184并且“看到”包含在磁性指紋 區(qū)112內(nèi)的磁性特征4220。注意,這些磁性特征可以(例如)是單獨的磁性顆粒。注意,磁 性特征4220在此被示出為具有一種特定的“顏色”。磁性特征4220的“顏色”正在使用的 光源140時的一種想象物,磁光基片138和對應(yīng)的讀取元件162、166、172的光學(xué)裝置的特 性如先前的圖5至7所示。此外,作為磁性特征4220的結(jié)果被檢測的光的“顏色”或亮度 還取決于在層156、158和160區(qū)域內(nèi)因為磁性特征4220而造成的磁場。例如,北磁場可能 導(dǎo)致亮(光)區(qū)域,同時南磁場可能導(dǎo)致暗(或沒那么亮)區(qū)域。磁場的強(qiáng)度(除其他因 素外)將會決定光的亮度。因此,當(dāng)磁場的強(qiáng)度改變時光的亮度將橫貫一個磁性特征4220而改變。這意味著在圖42C所示的情況中,即其中所有的磁性特征4220被示出為具有相同 的均勻光顏色或亮度可能是一種理想的情況,并且真實情況可能是橫貫每個磁性特征4220 的一種改變的光亮度或顏色。圖42D示出了合成圖像的俯視圖(即光學(xué)特征和磁性特征彼此疊加)。清楚的是, 當(dāng)從頂部觀看,條形碼184和磁性特征/顆粒4220彼此重疊。在如圖5至7所示的讀取元 件162、166、172中,可以清楚的是讀取如圖42D所示的標(biāo)簽102可能是困難的,因為讀取元 件162、166、172被設(shè)計為同時讀取位于標(biāo)簽102的不同區(qū)域(例如相鄰)的磁性和光學(xué)特 征。例如,假設(shè)標(biāo)簽102可以由圖6中示出的讀取元件166進(jìn)行掃描(使一半掃描區(qū) 域?qū)S糜趻呙璐判孕畔⒉⑶伊硪话雽S糜趻呙韫鈱W(xué)信息)。這可能生成圖42E中示出的那 種掃描,其中掃描了磁性指紋區(qū)的一半112并且掃描了光學(xué)條形碼的另一半184。在所示 出的光學(xué)條形碼184是數(shù)據(jù)矩陣碼的情況中,僅掃描一半?yún)^(qū)域可能不一定足以用于解釋該 數(shù)字(或數(shù)據(jù)矩陣信息)。因此,也許不可能使用圖5至7中示出的對應(yīng)的讀取元件162、 166、172如所要求的那樣準(zhǔn)確地解釋這種光學(xué)信息。然而,因為并非所有的數(shù)據(jù)矩陣都必 需被成像以便能夠被有效地用作對齊特征,如果這種數(shù)據(jù)矩陣碼還被用作對這些磁性特征 的位置進(jìn)行參照的對齊標(biāo)記,則這種格式盡管如此仍是有用的。然而,如果標(biāo)簽被安排為使 得有待讀取的數(shù)據(jù)矩陣碼和磁性特征是彼此相鄰安排的,并且讀取元件可以被對齊以便使 得磁光基片覆蓋至少一部分磁性特征,同時光學(xué)透明開口覆蓋大部分?jǐn)?shù)據(jù)矩陣碼,于是圖5 至7中示出的以及參考圖43的讀取元件就能夠同時解譯光學(xué)數(shù)據(jù)矩陣并且讀取磁性特征, 同時還能夠使用光學(xué)(數(shù)據(jù)矩陣或其他)特征作為用于同參考簽名一起定位和匹配的磁性 特征的對齊標(biāo)記。圖43示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案的讀取元件167的截面視圖。讀取元件 167被適配為同時讀取磁性信息和光學(xué)信息兩者。不像圖6所示的具有兩個柱的讀取元件 166,讀取元件167只有一個單一的柱。因此,讀取元件167只包括一個單一的偏光器142、 148、一個共用透鏡系統(tǒng)146、一個分束器144以及一個單一的光源140。此外,因為存在與 磁光基片相鄰的一個光學(xué)透明開口 170,磁光基片138不覆蓋光學(xué)裝置的整個觀看區(qū)域。因 此,光學(xué)探測器150能夠同時捕獲磁光和磁性信息。例如,如果光學(xué)探測器150是一個互補(bǔ) 金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)或電荷耦合器件(CCD)成像芯片,如圖42E所示它可能采集的圖 像可以具有上半圖像作為單純的光學(xué)信息以及下半作為磁性信息(由磁光基片138轉(zhuǎn)化為 光學(xué)格式)。注意,可能有利的是能夠同時掃描來自標(biāo)簽102的相同區(qū)域的光學(xué)和磁性信息, 因為它允許使用一個較小的標(biāo)簽102而仍然同時由讀取元件讀進(jìn)行取時。此外,它可能潛 在地允許磁性和光學(xué)特征之間用于匹配的更準(zhǔn)確的關(guān)聯(lián),因為對于磁性特征的指紋匹配被 用作一種參照物的光學(xué)特征在實體上更接近磁性特征,并且因此它應(yīng)當(dāng)更準(zhǔn)確。以下示出了修改如圖4至7以及圖43所示的讀取元件的一種方法,這樣使得對應(yīng) 的讀取元件134、162、166、172、167允許同時從同一個地方(例如在彼此的頂部)讀取磁性 和光學(xué)信息。在一個實施方案中,可以將第一涂敷層156和/或第二涂敷層158做成圖案。第 二涂敷層158 (并且如果有必要第一涂敷層156)被做成圖案,這樣使得磁光基片138的表面的某些區(qū)域是反射性的,并且同時相鄰區(qū)域形成磁光基片內(nèi)的光學(xué)透明開口。圖44A示 出了標(biāo)簽102的俯視圖,標(biāo)簽102示出為具有其人工重疊的光學(xué)184和磁性4220特征。將 用讀取元件來讀取標(biāo)簽102,該讀取元件具有一個磁光基片138,磁光基片138具有在其表 面上作為一個或多個有圖案的鏡面層的第一涂敷層156和/或第二涂敷層。圖44B示出了 使用讀取元件采集的標(biāo)簽的成像區(qū)域的配置。圖像的大部分是一個單純的光學(xué)圖像區(qū)域 5210。磁光基片138被分為小正方形區(qū)域,它們中一些專用于光學(xué)成像5220并且另一些 5230專用于磁性特征成像。磁性4220和光學(xué)184成像正方形遍布在磁光基片138的區(qū)域 上以陣列形式安排。圖44C只示出了來自使用圖44A中示出的讀取元件采集的該標(biāo)簽的圖 像的光學(xué)標(biāo)簽信息。磁光基片138的輪廓被示出為圖44C中的細(xì)線,這樣使得觀看者能夠容 易地看到相對于剩余圖像的磁光基片138的位置。在此,光學(xué)信息是從整個區(qū)域5210以及 還從磁光基片138的光學(xué)部分5220 (在圖44C中磁光基片的磁性部分5230僅被示出為純白 色區(qū)域)獲得的。由光學(xué)探測器(可以是一個CMOS感應(yīng)器)捕獲的同一圖像進(jìn)一步包括 這些磁性特征4220,它們對應(yīng)于磁光基片138的這些磁性成像正方形5230。在圖44D中示 出了這個部分的圖像。圖像的光學(xué)部分僅留作純白色并且只示出了從屬于磁性信息的部分 圖像(再一次磁光基片138的輪廓被示出為一個細(xì)線,這樣使得觀看者能夠容易地看到磁 光基片138相對于剩余圖像的位置)。注意,由CMOS成像芯片采集的實際圖像是圖44C和 圖44D中示出的兩個圖像的總和。然而,分開了這些圖像的部分以強(qiáng)調(diào)從圖像的這些部分 獲得的數(shù)據(jù)可以分別進(jìn)行處理。由于磁光基片相對于CMOS成像芯片的相對位置是固定的, 因此這很容易做到。因此校準(zhǔn)那些圖像部分與標(biāo)簽102中的磁性特征4220有關(guān)以及那些 圖像部分與標(biāo)簽的光學(xué)信息184有關(guān)是很簡單的。注意,通過正確地選擇磁光基片138的 磁性5230或光學(xué)5220區(qū)域,即使由于磁性成像區(qū)域使其一些部分是不可見的,仍然有可能 的解譯標(biāo)簽102的數(shù)據(jù)矩陣碼。在圖44B和圖44C中,磁光基片138的光學(xué)和磁性部分已 經(jīng)被選擇為大約是數(shù)據(jù)矩陣元件的四分之一面積。這意味著對每個數(shù)據(jù)矩陣元件的一部分 進(jìn)行采樣并且這足以辨別這個具體的數(shù)據(jù)矩陣元件是黑色還是白色(除非對數(shù)據(jù)矩陣有 實質(zhì)性的損壞)。這個配置提供了一種簡單的方法來實現(xiàn)標(biāo)簽102的磁性4220和光學(xué)184 特征的同時讀取,并且提供了足夠的信息以解譯數(shù)據(jù)矩陣碼并且在標(biāo)簽102上相對于光學(xué) 標(biāo)識184準(zhǔn)確地映射至少某些磁性特征4220的位置。在圖44示出的情況中,這些光學(xué)基 準(zhǔn)標(biāo)識184事實上至少是數(shù)據(jù)矩陣本身的某一部分。在這種情況中,光學(xué)數(shù)據(jù)矩陣作為第 二組識別特征并且同時作為用來協(xié)助從第一組識別特征獲得的信號的匹配的光學(xué)對齊標(biāo) 記而起到雙重的作用。顯而易見,這種方法可以提供更少區(qū)域用于對磁性特征4220進(jìn)行采 樣。因此,該系統(tǒng)被設(shè)計為使得標(biāo)簽102包含足夠密集封包的磁性特征4220。因此,用戶 將具有非常好的可能性對磁性特征4220有足夠的采樣以允許發(fā)生準(zhǔn)確和可靠的匹配。類 似地,在多個部分中光學(xué)信息184被磁性成像區(qū)域5230阻礙。因此,標(biāo)簽102的光學(xué)特征 184被選擇為使得它們能夠容易地進(jìn)行解譯并且圖像具有足夠的光學(xué)特征184的采樣以確 保磁性特征4220的相對于標(biāo)簽102的光學(xué)標(biāo)識的準(zhǔn)確的映射。注意,在這個方法中,磁光 基片138的第一涂敷層156和/或磁光基片138的第二涂敷層158和/或保護(hù)層160可以 被做成圖案以允許在光學(xué)成像區(qū)域中發(fā)生最佳的光學(xué)成像。這些區(qū)域不應(yīng)當(dāng)過小以致衍射 造成讀取問題??梢酝ㄟ^多種的標(biāo)準(zhǔn)平版印刷技術(shù)(如使用光刻圖案技術(shù))結(jié)合(例如) 剝離圖案法、濕式化學(xué)蝕刻、或干蝕刻(如反應(yīng)性離子蝕刻)中的一種或多種來形成這些區(qū)域的圖案。注意,對于人們穿過第一涂敷層156看到來自標(biāo)簽102的光學(xué)特征184的所有 配置,如果光學(xué)透明開口是在磁光基片內(nèi)并且一個保護(hù)層覆蓋了該開口,保護(hù)層160必需 至少部分是透明的。存在很多方法使用以上說明的讀取元件基于標(biāo)簽上的光學(xué)信息來使標(biāo)簽102上 的磁性信息歸一化。通過這一點,我們的意思是打印在標(biāo)簽102上的光學(xué)信息可以被用來 相對于標(biāo)簽102的某些參考讀取準(zhǔn)確地定位磁性特征。以下說明了使用數(shù)據(jù)矩陣標(biāo)記作為 光學(xué)參考的一種方法。圖45A示出了正在生產(chǎn)的標(biāo)簽102的光學(xué)俯視圖。在標(biāo)簽102的表面打印有數(shù)據(jù) 矩陣184,并且在數(shù)據(jù)矩陣184周圍有四個向外放射的光學(xué)基準(zhǔn)標(biāo)識4710。圖45B示出了 正在生產(chǎn)的同一個標(biāo)簽102的磁性俯視圖。在標(biāo)簽102的表面下面有包括磁性特征4220 的磁性指紋區(qū)112。圖45C示出了可以被用來讀取標(biāo)簽102上的數(shù)據(jù)矩陣184和磁性特征4220讀取 元件173的配置。在生產(chǎn)線上,存在至少一個讀取元件173,并且這個讀取元件173可以被 用來獲得標(biāo)簽102的參考讀取,從而允許標(biāo)簽102的參考簽名被存儲到數(shù)據(jù)庫中。這個讀 取元件173具有比被用來讀取場中標(biāo)簽的讀取元件更大的磁光掃描區(qū)域,并且此外它可以 被不同地配置。大部分掃描區(qū)域?qū)S糜趻呙璐判詤^(qū)域(掃描區(qū)域4730),而只有外圍區(qū)域 4720專用于掃描光學(xué)信息。當(dāng)這個讀取元件173被定位在正在生產(chǎn)的標(biāo)簽102上時,獲得 了如圖45D所示的圖像。這個圖像可以被用來得出被存儲在數(shù)據(jù)庫中的標(biāo)簽102的參考 簽名。在此,基準(zhǔn)標(biāo)識4710的一部分穿過外圍光學(xué)觀看區(qū)域是可見的,同時圖像的大部分 示出了標(biāo)簽102的磁性特征4220。假設(shè)基準(zhǔn)標(biāo)識4710和數(shù)據(jù)矩陣184是在同一個打印步 驟中打印的、并且因此彼此相對是準(zhǔn)確地對齊的(即人們能夠可靠地推斷出位置以及包括 數(shù)據(jù)矩陣184的光學(xué)特征),圖45D中示出的圖像可以被用來相對于光學(xué)數(shù)據(jù)矩陣特征184 的位置準(zhǔn)確地映射每個磁性特征4220的位置。如果基準(zhǔn)標(biāo)識4710和數(shù)據(jù)矩陣特征184的 相對位置彼此相對是不準(zhǔn)確或不可靠的,那么可以用一個高分辨率光學(xué)相機(jī)測量這些相對 距離,并且這可以被用來相對于數(shù)據(jù)矩陣特征184映射每個磁性特征4220的位置和定向。 注意,結(jié)合上面圖45A至45D說明的獲得參考圖像的方法只是實現(xiàn)這一點的一種方法。其 他的方法包括將分離的圖像縫接在一起,總體上這些分離的圖像可以至少在某些區(qū)域上重 疊,但這并不是嚴(yán)格必需的。圖46A至46C展示了一個數(shù)據(jù)矩陣碼實際上很適合于既作為第二組識別特征也 作為可以用來使磁性信號與參考磁性信號進(jìn)行匹配的參考光學(xué)標(biāo)識,因為這種數(shù)據(jù)矩陣是 基于規(guī)則的柵格格式。圖46A示出了一個14乘14元素的柵格圖案4910。圖46B示出了 一個標(biāo)準(zhǔn)的14乘14元素的ECC 200數(shù)據(jù)矩陣碼4920。在這種情況下,碼4920表示16位 數(shù)“ 1234567890123456”。圖46C示出了來自圖46A的柵格圖案4910和圖46B中示出的數(shù) 據(jù)矩陣碼4920的重疊??梢匀菀讖膱D46C中看出數(shù)據(jù)矩陣碼4920是一個簡單的柵格圖 案,其中某些元素已經(jīng)被填入黑色并且其他的保留為白色。這意味著這樣一個數(shù)據(jù)矩陣碼 4920可以被用作映射磁性特征的柵格圖案。選擇這個實例是因為它非常容易理解,然而, 對于本領(lǐng)域的熟練技術(shù)人員清楚的是很多不同的光學(xué)標(biāo)識可以用作參考標(biāo)記而將其用于 映射這些磁性特征。可以使用內(nèi)插(通常用于光學(xué)標(biāo)識區(qū)域內(nèi)的磁性特征)和外插(通常 用于區(qū)域外的特征)兩者。這種二維的內(nèi)插或外插映射可以(例如)使用國際專利申請W02007/133163 Al中的說明用于一維內(nèi)插和外插映射的方法論來執(zhí)行。圖47A示出了如在圖45A至45D中示出的在其制造過程中的標(biāo)簽102的光學(xué)俯視 圖。在此,標(biāo)簽102已經(jīng)被模切,這樣使得在圖45A中示出的基準(zhǔn)標(biāo)識4710不再存在并且 唯一留在標(biāo)簽102的表面上的光學(xué)標(biāo)識是數(shù)據(jù)矩陣碼4920。以下的討論假設(shè)結(jié)合圖45A至 45D說明的標(biāo)簽102的參考讀取已經(jīng)發(fā)生,這樣使得最終標(biāo)簽102(在圖47B中示出)內(nèi)的 所有磁性特征4220在參考讀取中已經(jīng)被掃描。參考簽名是從標(biāo)簽的這次參考讀取中獲得 的。圖47B示出了同一標(biāo)簽102的磁性俯視圖。磁性指紋區(qū)112被示出為實質(zhì)上覆蓋 標(biāo)簽102的整個區(qū)域。磁性指紋區(qū)112內(nèi)有很多磁性顆粒4220,并且標(biāo)記了一個這樣的磁 性顆粒4220。圖47B還示出了來自數(shù)據(jù)矩陣碼4920的柵格圖案4910如何人工地重疊在磁 性顆粒4220上允許它們的位置相對于光學(xué)數(shù)據(jù)矩陣碼4920被準(zhǔn)確地映射。圖47C示出了由將在場中使用的讀取元件的CMOS (或其他的光學(xué)檢測元件)采集 的圖像的配置布局171。在此,光學(xué)掃描區(qū)域4930實質(zhì)上大于磁性掃描區(qū)域4940。光學(xué)掃 描區(qū)域4930的外周長以及磁性掃描區(qū)域4940的外周長被標(biāo)記出。使用例如圖43A和圖 43B中示出的格式的讀取元件可以實現(xiàn)具有與光學(xué)掃描區(qū)域4930相比更小的磁性掃描區(qū) 域4940 (除了在此示出的磁光基片相對于讀取元件被定位在中心的情況)。圖47D示出了當(dāng)讀取元件被定位在圖47A和47B中示出的標(biāo)簽102的中心時標(biāo)簽 102的圖像。讀取元件能夠同時掃描來自標(biāo)簽102的磁性顆粒4220和數(shù)據(jù)矩陣碼4920 二 者。再一次,光學(xué)掃描區(qū)域4930的外周長以及磁性掃描區(qū)域4940的外周長被標(biāo)記出。如 在圖47B中,來自數(shù)據(jù)矩陣碼4920的柵格圖案4910被人工地重疊在磁性掃描區(qū)域4940內(nèi) 的磁性特征4220上。通過人工地重疊柵格圖案4910,人們能夠以圖解方式來展示在標(biāo)簽 102的讀取中成像的磁性特征4220的位置如何可以與來自標(biāo)簽102的參考讀取的磁性特征 4220的位置相關(guān)聯(lián),即從這次讀取中獲得的簽名如何可以與已經(jīng)存儲在數(shù)據(jù)庫中的參考簽 名(結(jié)合圖45A至45D說明了參考讀取)進(jìn)行比較。在圖48中示出了標(biāo)簽102的另一次讀取。在此,讀取元件相對于結(jié)合圖45所說 明的標(biāo)簽102的參考讀取對齊不良。讀取元件不是在中心,并且它相對于標(biāo)簽102的參考 讀取被旋轉(zhuǎn)。再一次,光學(xué)掃描區(qū)域4930的外周長以及磁性掃描區(qū)域4940的外周長被標(biāo) 記出。如在圖47D中,來自數(shù)據(jù)矩陣碼4920的柵格圖案4910被人工地重疊在磁性掃描區(qū) 域4940內(nèi)的磁性特征4220上。通過人工地重疊柵格圖案4910,人們能夠以圖解方式來展 示在標(biāo)簽102的讀取中成像的磁性特征4220的位置如何可以與來自標(biāo)簽102的參考讀取 的磁性特征4220的位置相關(guān)聯(lián),即從這次讀取中獲得的簽名如何可以與已經(jīng)存儲在數(shù)據(jù) 庫中的參考簽名(結(jié)合圖45A至45D說明了參考讀取)進(jìn)行比較。這示出了即使是對于非 常對齊很差的讀取結(jié)果,使用對齊標(biāo)記系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確地相對于參考讀取映射正在被讀取的 磁性特征4220的位置。進(jìn)一步注意,在讀取中正在被掃描的磁性特征4220與圖47D中示 出的讀取中正在被掃描的那些不同,但是在兩種情況下,正在被掃描的磁性特征4220在參 考讀取(結(jié)合圖45A至45D說明了)中已經(jīng)掃描了,其中使用了一個更大的磁性掃描區(qū)域。 因此,場中的讀取可以是足夠用于匹配,條件是a)掃描了足夠的光學(xué)信息以準(zhǔn)確地確定對齊標(biāo)記,這樣使得掃描中的磁性特征 4220的位置可以被準(zhǔn)確地映射,以及
b)正在讀取中掃描的足夠量的磁性特征4220在標(biāo)簽102的參考讀取中已經(jīng)掃描 了,這樣使得可以實現(xiàn)足夠準(zhǔn)確的匹配。在前一句中“足夠量”和“足夠準(zhǔn)確”是主觀性術(shù)語并且僅被用來表示可以設(shè)置的 閾值水平,例如,“足夠量”可以通過出現(xiàn)在掃描區(qū)域中的累積磁性強(qiáng)度或磁性顆粒4220的 數(shù)目來確定,并且“足夠準(zhǔn)確”可以是匹配結(jié)果中的統(tǒng)計置信度的一個閾值。本領(lǐng)域的熟練 技術(shù)人員清楚的是可以使用多個參考簽名而不是一個單一的參考簽名。關(guān)于從磁場中的讀取對比參考讀取的磁性特征4220的映射,應(yīng)當(dāng)注意的是光學(xué) 特征4920可以被用作在兩個讀取中映射磁性特征4220的位置的一個第一步驟,并且對于 非常準(zhǔn)確的映射可能需要一個第二映射步驟。在此解釋了這種兩步映射的一個實例在使 用光學(xué)信息4920完成定位或歸一化以后,然后可以完成一個第二步驟,其中磁性特征4220 被用來實現(xiàn)相對于從識別標(biāo)簽102的參考讀取中獲得的已存儲參考簽名的一個更準(zhǔn)確的 定位。這可以通過從光學(xué)定位步驟中獲得的匹配進(jìn)行一個關(guān)聯(lián)來完成,其后將所獲得的磁 性特征4220的圖像可以在特定的容許范圍內(nèi)左右上下移位,并且在每步移位后,數(shù)據(jù)可以 被再次進(jìn)行關(guān)聯(lián)以獲得最佳匹配。這將允許使磁性特征4220相對于參考簽名而準(zhǔn)確定位; 然而,為了防止數(shù)據(jù)被移動到如此程度以致丟失與光學(xué)標(biāo)識4920的相關(guān)性并且可能導(dǎo)致 錯誤的陽性匹配,必須設(shè)置在每個方向上移動量的限制。圖49A至49C示出了讀取元件134的截面視圖。在圖49A中,讀取元件134可以 包括多個部件或光學(xué)元件,例如,一個磁光基片138、一個光源140、一個第一偏光器142以 及一個第二偏光器148、一個分束器144、以及一個光學(xué)探測器150。例如,在圖4中作為僅 一個元件示出的透鏡系統(tǒng)146現(xiàn)在被示出為多個凸或凹透鏡5111、5112、5113、5114以及 5115。這些部件被容納在保護(hù)管5120之中。兩個透鏡元件5113和5114與一個針孔5140 一起被安排在外殼5130內(nèi),該外殼相對于其他部件(它們相對于保護(hù)管5120是固定的)是 可移動的。這個可移動的外殼5130允許調(diào)整焦距,這樣使得因為組裝或部件的任何不完美 不會導(dǎo)致圖像聚焦不良。這意味著在最終的組裝步驟中,可以調(diào)整焦距并且外殼5130(及 其相關(guān)聯(lián)的部件)可以被設(shè)置到最優(yōu)位置,這樣使得圖像焦距是清晰的。如在一個標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)安排中,針孔5140允許景深得到控制,即一個小針孔5140將會 生成比一個大針孔5140更大的景深。然而,一個小針孔將會擋掉更多的光,并且因此圖像 可能不夠亮。具有更大的景深在多種設(shè)計中可能是重要的,其中光學(xué)和磁性信息兩者同時 在進(jìn)行成像(例如圖44A和圖44B中示出的配置)。示出了一個光學(xué)吸收器5150。這用于 吸收可能穿過分束器144的雜散光。光學(xué)吸收器5150可以由任何光學(xué)吸收材料制成,例如 黑氈??傮w上,保護(hù)管5120的內(nèi)壁和外殼5130可以被制成黑色以吸收雜散光。圖49B示出了從光源140的中心傳播到分束器144的中心的光路徑5170。至少一 部分光被反射向磁光基片138 (光路徑5171),其后至少一部分光被反射回分束器并且到達(dá)分 束器144的至少一部分光穿過分束器144并且傳播到光學(xué)探測器150 (光路徑5172)上。光 可能不僅僅在圖49B中示出的中心路徑中傳播。圖49C示出了從磁光基片138的不同區(qū)域反 射的光如何可以傳播通過讀取元件134并且在光學(xué)探測器150處被收集。為了獲得清晰圖像 而設(shè)計的光學(xué)元件在文獻(xiàn)中是眾所周知的,并且在此進(jìn)一步詳盡闡述基本的光學(xué)成像概念是 不必要的。這僅僅是用于讀取元件配置的一個實際的設(shè)計,并且很多其他配置(例如它們 中某些不包括兩個偏光器的配置,以及其他不包括分束器的配置)都是可行的。
4權(quán)利要求
1.一種用于識別標(biāo)簽或者被適配為有待識別的物品的讀取裝置,所述讀取裝置包括 第一讀取元件,該第一讀取元件用于讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的第一組的識別特征,其中該第一讀取元件是磁光讀取元件;以及第二讀取元件,該第二讀取元件用于讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中 的第二組的識別特征;其中該讀取裝置被配置為使得從讀取的第一組的識別特征中生成的第一信號以及通 過讀取該第二組的識別特征生成的第二信號被獨立地用于導(dǎo)出用于識別該標(biāo)簽或該物品 的第一簽名和第二簽名。
2.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置,其中被用于該磁光讀取的光是在該磁光讀取元件中 內(nèi)部地反射的。
3.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置,其中該磁光讀取元件包括至少一個光處理單元以及 至少一個磁光基片。
4.如權(quán)利要求3所述的讀取裝置,其中該至少一個光處理單元包括多個部件,這些部 件包括至少一個光學(xué)檢測器、至少一個透鏡、至少一個偏光器、以及至少一個光源。
5.如權(quán)利要求3所述的讀取裝置,其中該磁光基片包括一種層安排,該層安排包括光 學(xué)透明基片、第一涂敷層以及第二涂敷層。
6.如權(quán)利要求5所述的讀取裝置,其中該第一涂敷層是一個磁光薄膜或多個磁光薄膜。
7.如權(quán)利要求5或6所述的讀取裝置,其中該第二涂敷層是反射薄膜。
8.如權(quán)利要求5至7中任何一項所述的讀取裝置,其中該磁光基片進(jìn)一步包括保護(hù)層。
9.如權(quán)利要求4至8中任何一項所述的讀取裝置,其中該光處理單元以及該磁光基片 中的至少一些部件彼此相對具有固定的空間關(guān)系。
10.如權(quán)利要求3所述的讀取裝置,其中該磁光基片包括至少一個開口,該開口用于對 該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品上的多個識別特征和/或多個對齊標(biāo)記的直接的光 學(xué)讀取。
11.如權(quán)利要求1至10中任何一項所述的讀取裝置,其中該第二讀取元件是選自下組, 其組成為條形碼掃描器、射頻識別標(biāo)簽讀取器、字符辨識讀取器、光學(xué)圖像捕獲系統(tǒng)、高斯 計、磁強(qiáng)計、熒光計、剩磁計以及發(fā)送接收器。
12.如權(quán)利要求3至12中任何一項所述的讀取裝置,其中該第一讀取元件包括接合元 件,該接合元件用于將該磁光基片定位于該第一組的識別特征的區(qū)域之上。
13.如權(quán)利要求12所述的讀取裝置,其中該接合元件實質(zhì)上包圍該磁光基片。
14.如權(quán)利要求12或13所述的讀取裝置,其中該接合元件在形狀上是實質(zhì)上與該標(biāo)簽 或物品中的接合軌道互補(bǔ),從而形成互鎖裝置。
15.如權(quán)利要求12至14中任何一項所述的讀取裝置,其中該接合元件被形成為腔或凹陷。
16.如權(quán)利要求15所述的讀取裝置,其中該凹陷具有的高度為至少大約50微米、至少 大約150微米、至少大約200微米、或至少250微米。
17.如權(quán)利要求12至14中任何一項所述的讀取裝置,其中該接合元件被形成為突起。
18.如權(quán)利要求17所述的讀取裝置,其中該突起具有的高度為至少大約50微米、至少大約150微米、至少大約200微米、或至少250微米。
19.如權(quán)利要求12至18中任何一項所述的讀取裝置,其中該接合元件在截面上具有圓 形的形狀或多邊形截面形狀。
20.如權(quán)利要求1至19中任何一項所述的讀取裝置,其中至少該第一讀取元件被適配 為在與該標(biāo)簽或有待識別的物品進(jìn)行接觸時與該標(biāo)簽或有待識別的物品相符合。
21.如權(quán)利要求20所述的讀取裝置,其中該第一讀取元件包括構(gòu)造元件,當(dāng)使該第一 讀取元件與該標(biāo)簽或有待識別的物品進(jìn)行接觸時,該構(gòu)造元件協(xié)助至少該第一讀取元件與 該標(biāo)簽或有待識別的物品相符合。
22.如權(quán)利要求22所述的讀取裝置,其中該構(gòu)造元件包括選自下組的至少一個成員, 該組的組成為彈簧、海綿、抽吸系統(tǒng)、液壓系統(tǒng)、以及氣壓系統(tǒng)。
23.如權(quán)利要求21或22所述的讀取裝置,其中該構(gòu)造元件被適配為在讀取過程中將至 少該第一讀取元件推靠在有待讀取的區(qū)域上。
24.如權(quán)利要求21至23中任何一項所述的讀取裝置,其中該構(gòu)造元件被適配為如果該 讀取裝置被掉落在或者碰到硬的表面上時保護(hù)該第一讀取元件的表面不被損壞。
25.如權(quán)利要求21至24中任何一項所述的讀取裝置,其中該構(gòu)造元件被設(shè)計為如果該 第一讀取元件被推動時允許該第一讀取元件下沉到該接合元件的水平以下。
26.如權(quán)利要求21至25中任何一項所述的讀取裝置,其中該第一讀取元件在不使用時 被容納在該接合元件的水平以下,但是當(dāng)它與該標(biāo)簽或有待讀取的物品相接合時,該接合 元件被定位為將該第一讀取元件推到有待讀取的區(qū)域的表面上。
27.如權(quán)利要求21至26中任何一項所述的讀取裝置,其中至少該第一讀取元件在被置 于同該標(biāo)簽或有待識別的物品相接觸時是與該接合元件有距離的,從而允許該第一讀取元 件與該標(biāo)簽或有待識別的物品相符合。
28.一種用于識別標(biāo)簽或者被適配為有待識別的物品的讀取裝置,所述讀取裝置包括第一讀取元件,該第一讀取元件用于讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中 的第一組的識別特征,其中該第一讀取元件是磁光讀取元件;其中該第一讀取元件被適配為當(dāng)接觸到該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品時與該 標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品相符合。
29.如權(quán)利要求28所述的讀取裝置,進(jìn)一步包括第二讀取元件,該第二讀取元件用于 讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的第二組的識別特征。
30.如權(quán)利要求29所述的讀取裝置,其中該讀取裝置被配置為使得從讀取的第一組的 識別特征中生成的第一信號以及通過讀取該第二組的識別特征生成的第二信號被獨立地 用于導(dǎo)出用于識別該標(biāo)簽或該物品的第一簽名和第二簽名。
31.如權(quán)利要求28至30中的任何一項所述的讀取裝置,其中被用于該磁光讀取的光是 在該磁光讀取元件中內(nèi)部地反射的。
32.如權(quán)利要求28至31中的任何一項所述的讀取裝置,其中該磁光讀取元件包括至少 一個光處理單元以及至少一個磁光基片。
33.如權(quán)利要求32所述的讀取裝置,其中該至少一個光處理單元包括多個部件,這些 部件包括至少一個光學(xué)探測器、至少一個透鏡、至少一個偏光器、以及至少一個光源。
34.如權(quán)利要求32或33所述的讀取裝置,其中該磁光基片包括光學(xué)透明基片、第一涂 敷層、以及第二涂敷層。
35.如權(quán)利要求34所述的讀取裝置,其中該第一涂敷層是一個磁光薄膜或多個薄膜。
36.如權(quán)利要求35所述的讀取裝置,其中該第二涂敷層是反射薄膜。
37.如權(quán)利要求34至36中的任何一項所述的讀取裝置,其中該磁光基片進(jìn)一步包括保 護(hù)層。
38.如權(quán)利要求33至37中的任何一項所述的讀取裝置,其中該光處理單元以及該磁光 基片中的多個部件彼此相對具有固定的空間關(guān)系。
39.如權(quán)利要求32至38中的任何一項所述的讀取裝置,其中該磁光基片包括至少一個 開口,該開口用于對標(biāo)簽或被適配為有待識別的物品上的多個識別特征和/或多個對齊標(biāo) 記的直接的光學(xué)讀取。
40.如權(quán)利要求29至39中的任何一項所述的讀取裝置,其中該第二讀取元件是選自下 組,其組成為條形碼掃描器、射頻識別標(biāo)簽讀取器、字符辨識讀取器、光學(xué)圖像捕獲系統(tǒng)、 高斯計、磁強(qiáng)計、熒光計、剩磁計、以及發(fā)送接收器。
41.如權(quán)利要求29至40中的任何一項所述的讀取裝置,其中該第一讀取元件包括接合 元件,該接合元件用于將該磁光基片定位于該第一組的識別特征的區(qū)域上。
42.如權(quán)利要求41所述的讀取裝置,其中該接合元件實質(zhì)上包圍了該磁光基片。
43.如權(quán)利要求41或42所述的讀取裝置,其中該接合元件在形狀上是與該標(biāo)簽或物品 中的接合軌道實質(zhì)上互補(bǔ)的,從而形成互鎖裝置。
44.如權(quán)利要求41至43中的任何一項所述的讀取裝置,其中該接合元件被形成為腔或 凹陷。
45.如權(quán)利要求44所述的讀取裝置,其中該凹陷具有的高度為至少大約50微米、至少 大約150微米、至少大約200微米、或至少250微米。
46.如權(quán)利要求41至43中的任何一項所述的讀取裝置,其中該接合元件被形成為突起。
47.如權(quán)利要求46所述的讀取裝置,其中該突起具有的高度為至少大約50微米、至少 大約150微米、至少大約200微米、或至少250微米。
48.如權(quán)利要求41至49中的任何一項所述的讀取裝置,其中該接合元件在截面上具有 圓形的形狀或多邊形截面形狀。
49.如權(quán)利要求28至48中的任何一項所述的讀取裝置,其中該第一讀取元件包括構(gòu)造 元件,當(dāng)使該第一讀取元件與該標(biāo)簽或有待識別的物品進(jìn)行接觸時,該構(gòu)造元件協(xié)助至少 該第一讀取元件與該標(biāo)簽或有待識別的物品相符合。
50.如權(quán)利要求49所述的讀取裝置,其中該構(gòu)造元件包括選自下組的至少一個成員, 該組的組成為彈簧、海綿、抽吸系統(tǒng)、液壓系統(tǒng)、以及氣壓系統(tǒng)。
51.如權(quán)利要求49或50所述的讀取裝置,其中該構(gòu)造元件被適配為在讀取過程中至少 將該第一讀取元件推靠在有待讀取的區(qū)域上。
52.如權(quán)利要求48至51中的任何一項所述的讀取裝置,其中該構(gòu)造元件被適配為如果 該讀取裝置被掉落在或者碰到硬的表面上時保護(hù)該第一讀取元件的表面不被損壞。
53.如權(quán)利要求48至52中的任何一項所述的讀取裝置,其中該構(gòu)造元件被設(shè)計為如果該第一讀取元件被推動時允許該第一讀取元件下沉到該接合元件的水平以下。
54.如權(quán)利要求41至53中的任何一項所述的讀取裝置,其中該第一讀取元件在不使用 時被容納在該接合元件的水平以下,但是當(dāng)它與該標(biāo)簽或有待讀取的物品相接合時,該接 合元件被定位為將該第一讀取元件推到有待讀取的區(qū)域的表面上。
55.如權(quán)利要求41至54所述的讀取裝置,其中至少該第一讀取元件在被置于同該標(biāo)簽 或有待識別的物品進(jìn)行接觸時是與該接合元件有距離的,從而允許該第一讀取元件與該標(biāo) 簽或有待識別的物品相符合。
56.一種用于識別標(biāo)簽或者被適配為有待識別的物品的讀取裝置,所述讀取裝置包括第一讀取元件,該第一讀取元件用于讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中 的第一組的識別特征,其中該第一讀取元件是磁光讀取元件;該磁光讀取元件包括至少一 個光處理單元以及至少一個磁光基片;該磁光讀取元件包括接合元件,該接合元件用于將該磁光基片定位于該第一組的識別 特征的區(qū)域上,其中該接合元件實質(zhì)上包圍了該磁光基片,并且該接合元件在形狀上是與該標(biāo)簽或被 適配為有待識別的物品中的接合軌道實質(zhì)性互補(bǔ)的,從而形成互鎖裝置。
57.如權(quán)利要求56所述的讀取裝置,其中該接合元件被形成為凹陷或突起。
58.一種用于識別標(biāo)簽或者被適配為有待識別的物品的讀取裝置,所述讀取裝置包括讀取元件,該讀取元件用于讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的多個磁 性特征以及多個光學(xué)特征二者,其中該讀取元件包括至少一個光處理單元和至少一個磁光基片;并且 其中該讀取元件包括至少一個開口,該開口用于對該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物 品上的多個光學(xué)特征和/或多個對齊標(biāo)記的直接的光學(xué)讀取。
59.如權(quán)利要求58所述的讀取裝置,其中該至少一個光處理單元包括多個部件,這些 部件包括至少一個光學(xué)探測器、至少一個透鏡、至少一個偏光器、以及至少一個光源。
60.如權(quán)利要求58或59所述的讀取裝置,其中該磁光基片包括光學(xué)透明基片、第一 涂敷層、以及第二涂敷層。
61.如權(quán)利要求60所述的讀取裝置,其中該第一涂敷層是一個磁光薄膜或多個薄膜。
62.如權(quán)利要求60或61所述的讀取裝置,其中該第二涂敷層是反射層。
63.如權(quán)利要求60至62中的任何一項所述的讀取裝置,其中該磁光基片進(jìn)一步包括保 護(hù)層。
64.如權(quán)利要求59至63所述的讀取裝置,其中該光處理單元以及該磁光基片中的這些 部件彼此相對具有固定的空間關(guān)系。
65.如權(quán)利要求58至64所述的讀取裝置,其中該至少一個開口允許該光學(xué)探測器獲得 同一個圖像內(nèi)的磁信息及光信息二者。
66.如權(quán)利要求59至65所述的讀取裝置,其中該光學(xué)探測器是成像單元。
67.如權(quán)利要求66所述的讀取裝置,其中該成像單元是CMOS芯片或CXD芯片。
68.如權(quán)利要求58至67中的任何一項所述的讀取裝置,其中該至少一個開口是在該磁光基片中形成的。
69.如權(quán)利要求68所述的讀取裝置,其中該開口是通過形成該磁光基片的一個或多個 涂敷層的圖案來形成的。
70.如權(quán)利要求58至69中的任何一項所述的讀取裝置,其中該至少一個開口是由鄰近 該磁光基片的讀取元件的光學(xué)透明部分形成的。
71.一種用于識別標(biāo)簽或被適配為有待識別的物品的方法,該方法包括用讀取元件讀 取多個磁性特征以及多個光學(xué)特征二者,其中該讀取元件包括至少一個光處理單元和至少 一個磁光基片;并且其中該讀取元件包括至少一個開口,該開口用于對該標(biāo)簽或該被適配 為有待識別的物品上的所述多個光學(xué)特征的直接的光學(xué)讀取。
72.如權(quán)利要求71所述的方法,其中這些磁性特征包括位于該標(biāo)簽或該有待識別的物 品中的第一組的識別特征。
73.如權(quán)利要求72所述的方法,包括從位于該標(biāo)簽或該有待識別的物品中的該第一組 的識別特征中生成一種信號。
74.如權(quán)利要求72或63所述的方法,其中該第一組的識別特征包括磁性的或者可磁化 的顆粒的無序安排,這些顆粒被包括在該標(biāo)簽或物品的識別層中。
75.如權(quán)利要求74所述的方法,其中這些磁性的或者可磁化的顆粒的無序安排包括多 個隨機(jī)分布的磁性的或者可磁化的顆粒。
76.如權(quán)利要求75所述的方法,其中這些磁性顆粒包括高矯頑性材料。
77.如權(quán)利要求76所述的方法,其中該高矯頑性材料是釹鐵硼合金。
78.如權(quán)利要求75所述的方法,其中這些磁性顆粒包括亞鐵磁性材料、反鐵磁性材料、 鐵磁性材料、或在連續(xù)材料中具有變化的磁特性的多個域(包括引起可變磁特性的多個空 隙)、以及它們的多種組合。
79.如權(quán)利要求78所述的方法,其中該鐵磁性材料是選自下組,其組成為MnBi、CrTe、 EuO、Cr02、MnAs, Fe、Ni、Co、Gd、Dy,F(xiàn)e、Ni、Co、Sm、Gd、Dy 的多種相應(yīng)的合金和氧化物,以 及它們的多種組合。
80.如權(quán)利要求71至79中的任何一項所述的方法,其中這些光學(xué)特征是多個對齊標(biāo)記 和/或第二組的識別特征。
81.如權(quán)利要求80所述的方法,其中這些對齊標(biāo)記被用于相對于參考讀取確定該第一 組的識別特征的讀取的方向和位置,該參考讀取被用于獲得位于該標(biāo)簽或該有待識別的物 品中的該第一組的識別特征的參考簽名。
82.如權(quán)利要求71至81中的任何一項所述的方法,其中來自這些磁性特征和光學(xué)特征 二者的信息是從由光學(xué)探測器捕獲的同一圖像中獲取的。
83.如權(quán)利要求82所述的方法,其中該光學(xué)探測器是成像單元。
84.如權(quán)利要求83所述的方法,其中該成像單元是CMOS芯片或CXD芯片。
85.一種用于識別標(biāo)簽或者被適配為有待識別的物品的方法,該方法包括僅從位于該標(biāo)簽或被適配為有待識別的物品中的第一組的識別特征的磁光讀取中生 成第一信號,其中第一組的識別特征包括磁性的或可磁化的顆粒的無序安排,這些顆粒被 包括在該標(biāo)簽或物品的識別層中;其中通過如此讀取該第一組的識別特征而生成的該第一信號被用于導(dǎo)出用于識別該標(biāo)簽或物品的第一簽名。
86.如權(quán)利要求85所述的方法,其中這些磁性的或者可磁化的顆粒的無序安排包括多 個隨機(jī)分布的磁性的或者可磁化的顆粒。
87.如權(quán)利要求85或86所述的方法,其中這些磁性顆粒包括高矯頑性材料。
88.如權(quán)利要求87所述的方法,其中該高矯頑性材料是釹鐵硼合金。
89.如權(quán)利要求85或86所述的方法,其中這些磁性顆粒包括亞鐵磁性材料、反鐵磁性 材料、鐵磁性材料、或在連續(xù)材料中具有變化的磁特性的多個域(包括引起可變磁特性的 多個空隙)、以及它們的多種組合。
90.如權(quán)利要求89所述的方法,其中該鐵磁性材料是選自下組,其組成為MnBi、CrTe、 EuO、Cr02、MnAs, Fe、Ni、Co、Gd、Dy,F(xiàn)e、Ni、Co、Sm、Gd、Dy 的多種相應(yīng)的合金和氧化物,以 及它們的多種組合。
91.如權(quán)利要求85至90中的任何一項所述的方法,進(jìn)一步包括從讀取的第二組的識別 特征中生成第二信號。
92.如權(quán)利要求91所述的方法,其中從讀取的該第一組的識別特征中所生成的該第一 信號及從讀取的該第二組的識別特征中所生成的該第二信號被獨立地用于導(dǎo)出用于識別 該標(biāo)簽或物品的第一簽名和第二簽名。
93.如權(quán)利要求91或92所述的方法,其中該第二組的識別特征包括芯片、磁條、序列 號、或光學(xué)標(biāo)識。
94.如權(quán)利要求93所述的方法,其中該芯片是射頻識別標(biāo)簽或基于接觸的芯片。
95.如權(quán)利要求93所述的方法,其中該光學(xué)標(biāo)識是條形碼或全息圖。
96.如權(quán)利要求91至95中的任何一項所述的方法,其中該第一組的識別特征以及該第 二組的識別特征位于該標(biāo)簽或被適配為有待識別的物品中的接合軌道之中。
97.如權(quán)利要求91至96中的任何一項所述的方法,其中該第一組的識別特征以及該第 二組的識別特征是在同一個平面上。
98.如權(quán)利要求91至96中的任何一項所述的方法,其中該第一組的識別特征與該第二 組的識別特征是在不同的平面上。
99.一種用于識別標(biāo)簽或者被適配為有待識別的物品的方法,該方法包括從位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的第一組的識別特征的磁光讀取中生 成第一信號,從位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的第二組的識別特征的讀取中生成第二信號;其中從讀取該第一組的識別特征所生成的第一信號以及從讀取該第二組的識別特征 所生成的第二信號被獨立地用于導(dǎo)出用于識別該標(biāo)簽或該物品的第一簽名和第二簽名。
100.如權(quán)利要求99所述的方法,其中從讀取該第一組的識別特征所生成的第一信號 與從讀取該第二組的識別特征所生成的第二信號是同時生成的。
101.如權(quán)利要求99或100所述的方法,其中該第一組的識別特征被置于第一位置,而 該第二組的識別特征被置于第二位置。
102.如權(quán)利要求101所述的方法,進(jìn)一步包括在導(dǎo)出第一簽名之前將該第一位置與 該第二位置進(jìn)行比較,由此將該第二組的識別特征用作用于識別該標(biāo)簽或該物品的對齊標(biāo)記。
103.如權(quán)利要求99至102中的任何一項所述的方法,其中該第一組的識別特征包括磁 性的或可磁化的顆粒的無序安排。
104.如權(quán)利要求103所述的方法,其中這些磁性的或者可磁化的顆粒的無序安排包括 多個隨機(jī)分布的磁性的或者可磁化的顆粒。
105.如權(quán)利要求104所述的方法,其中這些磁性顆粒包括高矯頑性材料。
106.如權(quán)利要求105所述的方法,其中該高矯頑性材料是釹鐵硼合金。
107.如權(quán)利要求103所述的方法,其中這些磁性顆粒包括亞鐵磁性材料、反鐵磁性材 料、鐵磁性材料、或在連續(xù)材料中具有變化的磁特性的多個域(包括引起可變磁特性的多 個空隙)、以及它們的多種組合。
108.如權(quán)利要求107所述的讀取裝置,其中該鐵磁性材料是選自下組,其組成為 MnBi、CrTe、EuO、Cr02、MnAs、Fe、Ni、Co、Gd、Dy,F(xiàn)e、Ni、Co、Sm、Gd、Dy 的多種相應(yīng)的合金和 氧化物,以及它們的多種組合。
109.如權(quán)利要求99至109中的任何一項所述的方法,其中該第二組的識別特征包括 芯片、磁條、序列號、或光學(xué)標(biāo)識。
110.如權(quán)利要求109所述的方法,其中該芯片是射頻識別標(biāo)簽、或基于接觸的芯片。
111.如權(quán)利要求109所述的方法,其中該光學(xué)標(biāo)識是條形碼或全息圖。
112.如權(quán)利要求99至111中的任何一項所述的方法,其中該第一組的識別特征以及該 第二組的識別特征是位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的接合軌道之中。
113.如權(quán)利要求99至112中的任何一項所述的方法,其中該第一組的識別特征與該第 二組的識別特征在同一個平面上。
114.如權(quán)利要求99至112中的任何一項所述的方法,其中該第一組的識別特征與該第 二組的識別特征在不同的平面上。
115.一種分發(fā)標(biāo)簽的方法,包括在該標(biāo)簽上定位對齊標(biāo)記;臨時地將該標(biāo)簽與讀取裝置相進(jìn)行實體性接合;讀取位于該標(biāo)簽內(nèi)的第一組的識別特征,其中該第一組的識別特征包括磁性的或可磁 化的顆粒的無序安排;將該標(biāo)簽粘附裝在基片上;從該讀取裝置上釋放該標(biāo)簽。
116.如權(quán)利要求115所述的方法,進(jìn)一步包括確定該讀取裝置的掃描區(qū)域。
117.如權(quán)利要求115或116所述的方法,其中該基片形成了該標(biāo)簽或該被適配為有待 識別的物品的一部分。
118.如權(quán)利要求115至117中的任何一項所述的方法,進(jìn)一步包括讀取位于該標(biāo)簽或 該被適配為有待識別的物品中的第二組的識別特征。
119.一種用于識別標(biāo)簽或者被適配為有待識別的物品的識別系統(tǒng),該系統(tǒng)包括標(biāo)簽,該標(biāo)簽用于識別物品,該標(biāo)簽可以被附裝在該物品上;以及如權(quán)利要求1至70中任何一項所引述讀取裝置,該讀取裝置用于讀取位于該標(biāo)簽或該 被適配為有待識別的物品中的至少第一組的識別特征。
120.如權(quán)利要求119所述的識別系統(tǒng),其中將從該第一讀取元件獲得的該第一信號對 照在沒有實質(zhì)性的磁場時從同一個第一讀取元件獲得的信號進(jìn)行歸一化。
121.如權(quán)利要求120所述的識別系統(tǒng),其中該歸一化是通過從在與被讀取區(qū)域相結(jié)合 時從該第一讀取元件獲得的信號中減去在沒有實質(zhì)性磁場時從該第一讀取元件獲得的信 號而實現(xiàn)的。
122.如權(quán)利要求120或121所述的識別系統(tǒng),其中該歸一化包括在正在被讀取的信號 中識別多個數(shù)據(jù)部分,這些數(shù)據(jù)因為在該讀取元件中的損壞或變化可能比其他數(shù)據(jù)具有較 低的可靠性,對所述這些具有較低可靠性的數(shù)據(jù)以不同于其他數(shù)據(jù)的方式進(jìn)行處理。
123.如權(quán)利要求120至122中的任何一項所述的識別系統(tǒng),其中從該第一讀取元件獲 得的該第一信號是通過以下方式進(jìn)行處理的,即將該信號中低于預(yù)定閾值的所有數(shù)據(jù)設(shè) 置為預(yù)定的值,或者忽略這些數(shù)據(jù),并且僅存儲高于該預(yù)定閾值的數(shù)據(jù)(包括這些數(shù)據(jù)的 實體定位)。
124.如權(quán)利要求119至124中的任何一項所述的識別系統(tǒng),進(jìn)一步包括數(shù)據(jù)存儲媒質(zhì), 其中存儲了從對該識別標(biāo)簽的參考讀取中獲得的參考簽名。
125.如權(quán)利要求124所述的識別系統(tǒng),其中用于該預(yù)先存儲的參考簽名的數(shù)據(jù)存儲媒 質(zhì)是相對該讀取裝置的在遠(yuǎn)處的數(shù)據(jù)存儲媒質(zhì)。
126.如權(quán)利要求119至125中的任何一項所述的識別系統(tǒng),進(jìn)一步包括相對該讀取裝 置在遠(yuǎn)處的數(shù)據(jù)處理裝置,其中該數(shù)據(jù)處理裝置被適配為執(zhí)行該數(shù)據(jù)處理,以便使該讀取 的簽名與該預(yù)先存儲的參考簽名相匹配。
127.如權(quán)利要求124至126中的任何一項所述的識別系統(tǒng),其中用于該預(yù)先存儲的參 考簽名的數(shù)據(jù)存儲媒質(zhì)是位于附裝在該物品上的該標(biāo)簽之中。
128.如權(quán)利要求124至126中的任何一項所述的識別系統(tǒng),其中用于該預(yù)先存儲的參 考簽名的數(shù)據(jù)存儲媒質(zhì)是位于該物品之中。
129.如權(quán)利要求124至128中的任何一項所述的識別系統(tǒng),其中該數(shù)據(jù)存儲媒質(zhì)是磁 條、存儲器芯片、媒體盤、硬盤、智能卡、RAM模塊、磁帶、或常規(guī)的光學(xué)裝置,如2D條形碼或 位圖。
全文摘要
在此披露了用于識別標(biāo)簽或者被適配為有待識別的物品的一種讀取裝置。該讀取裝置包括一個第一讀取元件,該第一讀取元件用于讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的一個第一組的識別特征,其中該第一讀取元件是一個磁光讀取元件;以及一個第二讀取元件,該第二讀取元件用于讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識別的物品中的一個第二組的識別特征;其中該讀取裝置被配置為使得從讀取的第一組的識別特征中生成的一種第一信號以及通過讀取該第二組的識別特征生成的一種第二信號被獨立地用于導(dǎo)出用于識別該標(biāo)簽或物品的一個第一簽名和一個第二簽名。
文檔編號G06K7/10GK101999127SQ200980112773
公開日2011年3月30日 申請日期2009年2月19日 優(yōu)先權(quán)日2008年2月19日
發(fā)明者A·P·伯登, P·M·莫蘭 申請人:比爾凱科技新加坡有限公司
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