專利名稱：周邊連接接口的測試系統(tǒng)及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)及方法，特別涉及一種對(duì)測試具有新世代周邊連 接接口的主機(jī)的測試系統(tǒng)及其測試方法。
背景技術(shù)：
為了解決個(gè)人計(jì)算機(jī)中的各項(xiàng)設(shè)備對(duì)于頻寬的需要，近來發(fā)布了 一種新世
代周邊連接接口(Peripheral Component Interconnect Express)總線。這禾中技術(shù)起 初是為實(shí)現(xiàn)高速傳送數(shù)據(jù)所設(shè)計(jì)。其中，新世代周邊連接接口提供給每一個(gè)設(shè) 備它自己專用的總線。數(shù)據(jù)通過被稱為信道(lane)的發(fā)送和接受信號(hào)對(duì)來以封 包(packet)的形式串行傳輸，在第一代的新世代周邊連接界面的每個(gè)通道具有 單方向250 Gigabits/sec的速度。多個(gè)信道可以組合在一起形成XI、 X2、 X4、 X8、 X12、 X16、和X32的通道頻寬從而提高插槽的頻寬。
為因應(yīng)使用者的需求，因此許多主機(jī)板廠商也加入新世代周邊連接接口總 線。目前針對(duì)新世代周邊連接接口的測試方法通常是在新世代周邊連接接口插 槽上插入一張新世代周邊連接適配卡，如果能夠正確操作此卡，則認(rèn)為新世代 周邊連接接口插槽是正常的。這種測試方式是正確的，但是目前生產(chǎn)在線沒有 專門用來測試的新世代周邊連接適配卡，而是采用通用設(shè)備卡，通用設(shè)備卡例 如為PCI-Express網(wǎng)絡(luò)卡。由于通用卡僅僅關(guān)注數(shù)據(jù)的傳輸速度，而不注重接 口的電器特征和輔助信號(hào)測試。因此無法全面的測試新世代周邊連接適配卡的 各項(xiàng)特征，使得測試的過程需要反復(fù)的插拔不同的通用卡進(jìn)行測試。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上的問題，本發(fā)明的主要目的在于提供一種對(duì)新世代周邊連接接口 的測試系統(tǒng)，用于測試具有新世代周邊連接接口的待測主機(jī)。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明所揭露的一種對(duì)新世代周邊連接接口的測試系統(tǒng)
包括有待測主機(jī)與測試工具。待測主機(jī)包括有新世代周邊連接接口的插槽、
4處理單元、儲(chǔ)存單元與測試程序。儲(chǔ)存單元用以儲(chǔ)存對(duì)新世代周邊連接接口的 測試程序，處理單元連接于新世代周邊連接接口與儲(chǔ)存單元，處理單元用以執(zhí) 行測試程序。測試工具連接于新世代周邊連接接口的插槽，測試工具包括有新 世代周邊連接接口控制器，測試程序通過新世代周邊連接接口傳輸多筆測試信 號(hào)至新世代周邊連接接口控制器，測試程序根據(jù)新世代周邊連接接口控制器所 回傳的回復(fù)信號(hào)用以解析新世代周邊連接接口的插槽的運(yùn)作狀態(tài)。
從本發(fā)明的另 一 目的，本發(fā)明提出 一種對(duì)新世代周邊連接接口的測試方 法，用于測試具有新世代周邊連接接口的待測主機(jī)。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明所揭露的對(duì)新世代周邊連接接口的測試方法包括 以下步驟安裝測試工具至待測主機(jī)的新世代周邊連接接口的插槽，并將測試 工具設(shè)定為第--運(yùn)作模式；在待測主機(jī)上執(zhí)行測試程序，用以發(fā)送多筆測試信 號(hào)至測試工具；傳送多筆回復(fù)信號(hào)至測試程序；由測試工具執(zhí)行虛擬熱插拔測 試，使得測試工具被禁能；經(jīng)過第一時(shí)間后，將測試工具致能并將測試工具切 換至第二運(yùn)作模式；重復(fù)執(zhí)行測試程序。
本發(fā)明提供一種測試新世代周邊連接接口的系統(tǒng)，利用待測主機(jī)上的測試 程序用以對(duì)測試工具進(jìn)行各種項(xiàng)目的測試。待測程序解析測試工具所傳回來的 回復(fù)信號(hào)，待測程序用以判斷待測主機(jī)上的新世代周邊連接接口插槽及其總線 是否運(yùn)作正常。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對(duì)本發(fā)明的 限定。


圖1為本發(fā)明的系統(tǒng)架構(gòu)示意圖； 圖2為本發(fā)明的運(yùn)作流程示意圖。 其中，附圖標(biāo)記
110 待測主機(jī)
111 新世代周邊連接接口的插槽
112 處理單元
113 儲(chǔ)存單元
114 虛擬熱插拔程序
5115 測試程序
120 測試工具
121 新世代周邊連接接口控制器
122 服務(wù)信息阻擋控制器
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參考圖1所示，其為本發(fā)明的系統(tǒng)架構(gòu)示意圖。對(duì)新世代周邊連接接口 (Peripheral Component Interface Express)的測試系統(tǒng)包括有.-待測主機(jī) 110與測試工具120。待測主機(jī)110包括有新世代周邊連接接口的插槽111、 處理單元112、儲(chǔ)存單元113、虛擬熱插拔程序114與測試程序115。
儲(chǔ)存單元113用以儲(chǔ)存對(duì)新世代周邊連接接口的虛擬熱插拔(hot plugging)程序114與測試程序115。處理單元112連接于新世代周邊連接接 口與儲(chǔ)存單元113，處理單元112用以執(zhí)行虛擬熱插拔程序114與測試程序 115。測試工具120連接于新世代周邊連接接口的插槽111。測試工具120中 還包括有新世代周邊連接接口控制器121與服務(wù)信息阻擋控制器122。
測試程序115通過新世代周邊連接接口傳輸多筆測試信號(hào)至測試工具120 的新世代周邊連接接口控制器121。測試程序115根據(jù)新世代周邊連接接口控 制器121所回傳的回復(fù)信號(hào)用以解析新世代周邊連接接口的插槽1U的運(yùn)作狀 態(tài)。其中，測試程序115中還包括多筆測試項(xiàng)目，該些測試項(xiàng)目為接口版本測 試、電力測試、系統(tǒng)管理總線(System Management Bus) 、 JTAG(Joint Test Action Group)測試、喚醒測試、預(yù)先重設(shè)(PRREST)測試、差分頻率及數(shù)據(jù) (Difference Clk and Data)測試與/或頻寬(lane)測試。其中，新世代周邊連 結(jié)接口至少包括有"X1"、 "X4"、 "X8"、 "X16"的通道頻寬。
測試程序115中的服務(wù)信息阻擋測試用以寫入及讀取該服務(wù)信息阻擋控 制器122的緩存器數(shù)據(jù)，使得測試程序115用以判斷服務(wù)信息阻擋控制器122 的運(yùn)作是否正確。
請(qǐng)參考圖2所示，其為本發(fā)明的運(yùn)作示意圖。本發(fā)明對(duì)新世代周邊連接接 口的測試方法包括以下步驟安裝測試工具至待測主機(jī)的新世代周邊連接接口 的插槽，并將測試工具設(shè)定為第一運(yùn)作模式(歩驟S210)。在本發(fā)明中所指的 運(yùn)作模式為新世代周邊連接接口的版本與頻寬。舉例來說，在新世代周邊連接接口第一版的"xr頻寬傳輸可以視為一種運(yùn)作模式；在新世代周邊連接接口第
-版的"X2"頻寬傳輸視為另-- 種運(yùn)作模式；在新世代周邊連接接口第二版 的"X1"頻寬傳輸視為相異于上述的另一種運(yùn)作模式。
在待測主機(jī)上執(zhí)行測試程序，用以發(fā)送多筆測試信號(hào)至測試工具(步驟 S220)。在測試程序U5中至少包括以下的測試項(xiàng)目接口版本測試、電力測
試、系統(tǒng)管理總線、JTAG測試、喚醒測試、預(yù)先重設(shè)測試、差分頻率及數(shù)據(jù)
的測試與/或頻寬測試。舉例來說，在測試服務(wù)信息阻擋的測試中，測試程序
115會(huì)將數(shù)據(jù)寫入/讀取服務(wù)信息阻擋控制器122的緩存器數(shù)據(jù)，使得測試程 序115用以判斷服務(wù)信息阻擋控制器122的運(yùn)作是否正確。
測試工具根據(jù)所接收到的測試信號(hào)進(jìn)行相應(yīng)處理后，傳送多筆回復(fù)信號(hào)至 測試程序(步驟S230)。接下來，由測試工具執(zhí)行虛擬熱插拔測試，使得測試 工具被禁能(步驟S240)。首先，測試程序115會(huì)發(fā)送熱插拔測試信號(hào)至測試 工具120，用以將測試工具120禁能(disable)。這樣一來傳輸連結(jié)會(huì)處于無 效狀態(tài)(Inactive)。
測試程序在經(jīng)過第一時(shí)間后，會(huì)將測試工具致能并將測試工具切換至第二 運(yùn)作模式(步驟S250)。再將測試工具120致能步驟中還包括下列的步驟致 能(enable)測試工具120，使得參考頻率(REFCLK)信號(hào)開起。接著，令傳輸連 結(jié)(Link)處于動(dòng)態(tài)或是經(jīng)由主動(dòng)式電源管理(Active State Power Management, ASPM)進(jìn)入省電模式(可以是電源狀態(tài)LOs或電源狀態(tài)LI)。最 后重復(fù)執(zhí)行步驟S220(步驟S260)，直至所有的運(yùn)作模式中的每一測試項(xiàng)目都 被完成為止。特別需要注意的是，本發(fā)明利用虛擬熱插拔測試時(shí)，將測試工具 120再重新致能測試工具120時(shí)將其第一運(yùn)作模式切換為另一種運(yùn)作模式。一 方面可以測試熱插拔功能是否正常，減少插拔所浪費(fèi)的時(shí)間。
本發(fā)明提供一種測試新世代周邊連接接口的系統(tǒng)，利用待測主機(jī)110上的 測試程序115用以對(duì)測試工具120進(jìn)行測試。待測程序解析測試工具120所傳 回來的回復(fù)信號(hào)，待測程序用以判斷待測主機(jī)110上的新世代周邊連接接口的 插槽111及其總線是否運(yùn)作正常。
當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情 況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但 這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1、一種周邊連接接口的測試系統(tǒng)，用于測試具有新世代周邊連接接口的待測主機(jī)，其特征在于，該測試系統(tǒng)包括有一待測主機(jī)，該待測主機(jī)還包括有一處理單元、一新世代周邊連接接口的插槽與一儲(chǔ)存單元，該儲(chǔ)存單元用以儲(chǔ)存對(duì)新世代周邊連接接口的一虛擬熱插拔程序與一測試程序，該處理單元電性連接于該新世代周邊連接接口與該儲(chǔ)存單元，該處理單元分別執(zhí)行該虛擬熱插拔程序與該測試程序；以及一測試工具，電性連接于該新世代周邊連接接口的插槽，該測試工具包括有一新世代周邊連接接口控制器，該測試程序通過新世代周邊連接接口傳輸多筆測試信號(hào)至該新世代周邊連接接口控制器，該測試程序根據(jù)該新世代周邊連接接口控制器所回傳的一回復(fù)信號(hào)用以解析該新世代周邊連接接口的插槽的運(yùn)作狀態(tài)。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的周邊連接接口的測試系統(tǒng)，其特征在于，該測 試程序中還包括多筆測試項(xiàng)目，該些測試項(xiàng)目為接口版本測試、電力測試、系 統(tǒng)管理總線、JTAG測試、喚醒測試、預(yù)先重設(shè)測試、差分頻率及數(shù)據(jù)的測試 與/或頻寬測試。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的周邊連接接口的測試系統(tǒng)，其特征在于，該測 試工具中還包括一服務(wù)信息阻擋控制器，該測試程序中的服務(wù)信息阻擋測試用 以寫入及讀取該服務(wù)信息阻擋控制器的緩存器數(shù)據(jù)，使得該測試程序用以判斷 該服務(wù)信息阻擋控制器的運(yùn)作是否正確。
4、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的周邊連接接口的測試系統(tǒng)，其特征在于，頻寬 測試包括以下步驟分別切換該新世代周邊連接接口的X1、 X4、 X8、 X16或X32的頻寬。
5、 根據(jù)權(quán)利要求所述的周邊連接接口的測試系統(tǒng)，其特征在于，在該虛 擬熱插拔測試過程中，還包括以下步驟關(guān)閉該測試工具的電力；經(jīng)過一第一時(shí)間后重新致能該測試工具的電力； 由該測試工具發(fā)送一熱插拔回復(fù)信號(hào)至該處理單元；以及 進(jìn)行該測試程序。
6、 一種周邊連接接口的測試方法，用于測試具有新世代周邊連接接口的待測主機(jī)，其特征在于，該測試方法包括以下步驟安裝一測試工具至一待測主機(jī)的一新世代周邊連接接口的插槽，并將該測 試工具設(shè)定為第一運(yùn)作模式；在該待測主機(jī)上執(zhí)行一測試程序，用以發(fā)送多筆測試信號(hào)至該測試工具；傳送多筆回復(fù)信號(hào)至該測試程序；由該測試工具執(zhí)行一虛擬熱插拔測試，使得該測試工具被禁能； 經(jīng)過一第一時(shí)間后，將該測試工具致能并將該測試工具切換至第二運(yùn)作模 式；以及重復(fù)執(zhí)行該測試程序。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的周邊連接接口的測試方法，其特征在于，該測 試程序中包括以下步驟分別切換該新世代周邊連接接口的X1、 X4、 X8、 X16或X32的頻寬。
8、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的周邊連接接口的測試方法，其特征在于，在該 虛擬熱插拔測試過程中，還包括以下步驟關(guān)閉該測試工具的電力；經(jīng)過一第一時(shí)間后重新致能該測試工具的電力； 由該測試工具發(fā)送一熱插拔回復(fù)信號(hào)至該處理單元；以及 進(jìn)行該測試程序。
全文摘要
一種周邊連接接口的測試系統(tǒng)及其方法，用于測試新世代周邊連接接口的待測主機(jī)，包括有新世代周邊連接接口的插槽、處理單元、儲(chǔ)存單元與測試程序。儲(chǔ)存單元儲(chǔ)存對(duì)新世代周邊連接接口的測試程序，處理單元連接于新世代周邊連接接口與儲(chǔ)存單元，處理單元執(zhí)行測試程序。測試工具連接新世代周邊連接接口的插槽，測試工具包括新世代周邊連接接口控制器，測試程序通過新世代周邊連接接口傳輸多筆測試信號(hào)至新世代周邊連接接口控制器，測試程序根據(jù)新世代周邊連接接口控制器所回傳的回復(fù)信號(hào)，解析新世代周邊連接接口的插槽的運(yùn)作狀態(tài)。
文檔編號(hào)G06F11/26GK101645029SQ20081014587
公開日2010年2月10日 申請(qǐng)日期2008年8月7日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月7日
發(fā)明者張?zhí)斐? 陳玄同 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司