專利名稱：一種用于非接觸ic卡的解調(diào)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及非接觸ic卡通訊技術(shù)領(lǐng)域，特別是用于非接觸IC卡 中提高對ASK信號解調(diào)靈敏度的解調(diào)電路。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，非接觸IC卡的內(nèi)部電源是由整流得到的，為了保證 此電源不會高出內(nèi)部電路安全電壓，需要用并聯(lián)鉗位電路對此電源的 電壓值予以限制。但在并聯(lián)鉗位電路開始動作以后，載波上的ASK信 號會被削弱。如果讀卡器發(fā)送的ASK信號的調(diào)制度比較小，則在某些 工作區(qū)域，就可能出現(xiàn)非接觸IC卡不能正確解調(diào)的情況。

發(fā)明內(nèi)容
針對上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，本發(fā)明的目的是提供一種用于 非接觸IC卡的解調(diào)電路。該解調(diào)電路能有效補(bǔ)償并聯(lián)鉗位電路對解 調(diào)的不利影響，保證非接觸IC卡對ASK信號的解調(diào)靈敏度。
為了達(dá)到上述發(fā)明目的，本發(fā)明的技術(shù)方案以如下方式實(shí)現(xiàn)
一種用于非接觸IC卡的解調(diào)電路，包括提取ASK信號包絡(luò)的包絡(luò) 檢波單元，其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是，它還包括
用于增強(qiáng)ASK信號的鉗位控制單元；
用于識別信號的比較器；
將鉗位控制單元輸出信號耦合到比較器同相輸入端PLUS的電容CI;將包絡(luò)檢波單元輸出信號耦合到比較器反相輸入端MINUS的電容C2;基準(zhǔn)電壓源分別通過電阻Rl和電阻R2與比較器的同相輸入端PLUS 和比較器的反相輸入端MINUS連接。在上述解調(diào)電路中，所述鉗位控制單元采用采用PMOS管和電阻串 聯(lián)構(gòu)成采樣支路，采樣信號通過一個CMOS反相器進(jìn)行放大。在上述解調(diào)電路中，所述包絡(luò)檢波單元采用采用一個醒OS管實(shí)現(xiàn) 單向?qū)ǎ⑼ㄟ^并聯(lián)的電阻RO和電容CO進(jìn)行濾波。本發(fā)明由于采用了上述結(jié)構(gòu)，在解調(diào)電路中增加了鉗位控制單元 并將其輸出信號耦合到比較器的同相輸入端PLUS,在整流電源超過 并聯(lián)鉗位電路的啟動電壓，并聯(lián)鉗位電路開始動作以后， 一旦整流電 源升高，則鉗位控制單元輸出降低；而當(dāng)整流電源降低時，則鉗位控 制單元輸出升高。以此來補(bǔ)償并聯(lián)鉗位電路對解調(diào)的不利影響，保證 非接觸IC卡對ASK信號的解調(diào)靈敏度。下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。


圖l為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)原理圖；圖2為本發(fā)明鉗位控制單元的電路連接圖；圖3為本發(fā)明包絡(luò)檢波單元的電路連接圖；圖4為本發(fā)明的應(yīng)用示意圖；圖5為本發(fā)明應(yīng)用中并聯(lián)鉗位電路的結(jié)構(gòu)原理圖。
具體實(shí)施方式
參看圖l一圖3，本發(fā)明包括提取ASK信號包絡(luò)的包絡(luò)檢波單元、 用于增強(qiáng)ASK信號的鉗位控制單元、用于識別信號的比較器、將鉗位 控制單元輸出信號耦合到比較器同相輸入端PLUS的電容Cl和將包絡(luò) 檢波單元輸出信號耦合到比較器反相輸入端MINUS的電容C2。基準(zhǔn) 電壓源分別通過電阻Rl和電阻R2與比較器的同相輸入端PLUS和比 較器的反相輸入端MINUS連接。鉗位控制單元采用PMOS管和電阻串 聯(lián)構(gòu)成采樣支路，采樣信號通過一個CMOS反相器進(jìn)行放大。包絡(luò)檢 波單元采用一個麗OS管實(shí)現(xiàn)單向?qū)?，并通過并聯(lián)的電阻RO和電容 CO進(jìn)行濾波。參看圖4，將本發(fā)明解調(diào)電路與非接觸IC卡的整流電路相接，整 流電路輸出的整流電源又與并聯(lián)鉗位電路相接。本發(fā)明使用時，并聯(lián)鉗位電路采用PMOS管對整流電源放電，其柵 極由控制單元的輸出控制，控制單元采用與本發(fā)明中的鉗位控制單元 相同的模塊，如圖5所示。當(dāng)非接觸IC卡內(nèi)的整流電壓高于并聯(lián)鉗位電路啟動電壓時，并聯(lián) 鉗位電路開始工作。若此時讀卡器發(fā)送的ASK信號由'1，跳變'0，， 由于載波幅度的減小，IC卡端整流電源同時減小，導(dǎo)致并聯(lián)鉗位電 路中的鉗位控制單元輸出升高，并聯(lián)鉗位電路中的PMOS管放電減小，使得載波幅度在ASK信號跳變前后的差值變小。包絡(luò)檢波單元提取 ASK信號的包絡(luò)，通過電容C2交流耦合到比較器MINUS端的ASK信 號幅度也會相應(yīng)變小。但同時，解調(diào)電路中的鉗位控制單元輸出會出現(xiàn)一個由低到高的反相跳變，此反相跳變經(jīng)過電容C1耦合到比較器 的PLUS端，使得比較器的凈輸入增加，比較器對MINUS端和PLUS端的信號差值進(jìn)行比較放大輸出邏輯解調(diào)信號。若讀卡器發(fā)送的ASK信號由'0'跳變<T時，由于載波幅度的 增大，IC卡端整流電源同時升高，導(dǎo)致并聯(lián)鉗位電路中的鉗位控制 單元輸出降低，并聯(lián)鉗位電路中的PMOS管放電增大，使得載波幅度 在ASK信號跳變前后的差值絕對值變小。包絡(luò)檢波單元提取ASK信號 的包絡(luò)，通過電容C2交流耦合到比較器MINUS端的ASK信號幅度也 會相應(yīng)變小。但同時，解調(diào)電路中的鉗位控制單元輸出會出現(xiàn)一個由 高到低的反相跳變，此反相跳變經(jīng)過電容C1耦合到比較器的PLUS端， 使得比較器的凈輸入增加，比較器對MINUS端和PLUS端的信號差值 進(jìn)行比較放大輸出邏輯解調(diào)信號。上述解調(diào)過程都在一定程度上補(bǔ)償了并聯(lián)鉗位電路對ASK信號幅 度的衰減，從而保證了解調(diào)電路的解調(diào)靈敏度。
權(quán)利要求
1、一種用于非接觸IC卡的解調(diào)電路，包括提取ASK信號包絡(luò)的包絡(luò)檢波單元，其特征在于，它還包括用于增強(qiáng)ASK信號的鉗位控制單元；用于識別信號的比較器；將鉗位控制單元輸出信號耦合到比較器同相輸入端PLUS的電容C1；將包絡(luò)檢波單元輸出信號耦合到比較器反相輸入端MINUS的電容C2；基準(zhǔn)電壓源分別通過電阻R1和電阻R2與比較器的同相輸入端PLUS和比較器的反相輸入端MINUS連接。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的解調(diào)電路，其特征在于，所述鉗位控制 單元采用PMOS管和電阻串聯(lián)構(gòu)成采樣支路，采樣信號通過一個CMOS 反相器進(jìn)行放大。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的解調(diào)電路，其特征在于，所述包絡(luò) 檢波單元采用一個麗0S管實(shí)現(xiàn)單向?qū)?，并通過并聯(lián)的電阻R0和電 容CO進(jìn)行濾波。
全文摘要
一種用于非接觸IC卡的解調(diào)電路，涉及非接觸IC卡通訊技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明包括提取ASK信號包絡(luò)的包絡(luò)檢波單元，其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是，它還包括用于增強(qiáng)ASK信號的鉗位控制單元；用于識別信號的比較器；將鉗位控制單元輸出信號耦合到比較器同相輸入端PLUS的電容C1；將包絡(luò)檢波單元輸出信號耦合到比較器反相輸入端MINUS的電容C2?；鶞?zhǔn)電壓源分別通過電阻R1和電阻R2與比較器的同相輸入端PLUS和比較器的反相輸入端MINUS連接。同現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明解調(diào)電路能有效補(bǔ)償并聯(lián)鉗位電路對解調(diào)的不利影響，保證非接觸IC卡對ASK信號的解調(diào)靈敏度。
文檔編號G06K7/00GK101286204SQ20071006540
公開日2008年10月15日 申請日期2007年4月13日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月13日
發(fā)明者磊 徐, 盛敬剛, 邰曉鵬, 霍俊杰 申請人:北京同方微電子有限公司