專(zhuān)利名稱(chēng)：一種自動(dòng)生成集成電路檢測(cè)數(shù)據(jù)的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及自動(dòng)化技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種自動(dòng)生成集成電路檢測(cè)數(shù)據(jù)的方法及裝置。
背景技術(shù)：
在設(shè)計(jì)集成電路時(shí)，首先需要確定集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格(MAS，ModuleArchitecture Spec)，然后根據(jù)MAS編寫(xiě)硬件的描述語(yǔ)言代碼(verilog)，并且在集成電路設(shè)計(jì)的過(guò)程中，還會(huì)不斷更改MAS以及verilog，每更改一部分verilog，都要改變MAS，如圖1所示，為寄存器的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)示意圖，所述集成電路的MAS包括寄存器的偏移量、名稱(chēng)、描述、默認(rèn)值及存取方式。
驗(yàn)證工程師、驅(qū)動(dòng)程序工程師或者硬件工程師在工作中會(huì)經(jīng)常用到MAS，然而在集成電路設(shè)計(jì)過(guò)程中由于MAS會(huì)經(jīng)常改變，同樣集成電路的設(shè)計(jì)也會(huì)根據(jù)MAS，做出相應(yīng)的改變，以保證集成電路符合MAS的要求，在集成電路的設(shè)計(jì)根據(jù)MAS做出相應(yīng)的改變后，工作人員需要根據(jù)MAS測(cè)試集成電路的設(shè)計(jì)是否與MAS相符，并記錄下集成電路的設(shè)計(jì)與MAS不相符的檢測(cè)數(shù)據(jù)，進(jìn)行相應(yīng)的處理。
目前，現(xiàn)有技術(shù)根據(jù)MAS測(cè)試集成電路的設(shè)計(jì)是否與MAS相符，以及記錄下集成電路的設(shè)計(jì)與MAS不相符的檢測(cè)數(shù)據(jù)的工作是人工完成的，因此，工作效率低，而且所獲得的檢測(cè)數(shù)據(jù)不夠準(zhǔn)確。
綜上，現(xiàn)有技術(shù)無(wú)法根據(jù)MAS自動(dòng)生成集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種自動(dòng)生成集成電路檢測(cè)數(shù)據(jù)的方法及裝置，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的無(wú)法根據(jù)MAS自動(dòng)生成集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)的問(wèn)題。
本發(fā)明方法，設(shè)置一測(cè)試單元，該測(cè)試單元存儲(chǔ)有集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)，該方法包括步驟所述測(cè)試單元讀取集成電路中寄存器的值，并將該值和所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)包括集成電路中每個(gè)寄存器的地址、默認(rèn)值及存取方式。
所述的存取方式為可讀的存取方式，或可讀可寫(xiě)的存取方式。
當(dāng)所述寄存器的存取方式為可讀可寫(xiě)的存取方式時(shí)，且當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值相同時(shí)，該方法進(jìn)一步包括測(cè)試該寄存器的可讀可寫(xiě)的存取方式的步驟，該步驟包括所述測(cè)試單元將不同于所述寄存器的默認(rèn)值的值寫(xiě)入該寄存器，然后讀取該寄存器的值，當(dāng)所述寫(xiě)入的值與所述讀取的值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
本發(fā)明裝置包括測(cè)試單元，用于存儲(chǔ)集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)，并讀取集成電路中寄存器的值，將該值和所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
所述測(cè)試單元包括存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)；比較單元，用于從所述存儲(chǔ)單元中獲得集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中寄存器的默認(rèn)值，并讀取集成電路中該寄存器的值，將該值和所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)發(fā)送給測(cè)試數(shù)據(jù)單元；測(cè)試數(shù)據(jù)單元，用于將所述寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
所述的存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中寄存器的地址、默認(rèn)值及存取方式；所述的比較單元，還用于當(dāng)寄存器的存取方式為可讀可寫(xiě)的存取方式時(shí)，并且當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值相同時(shí)，將不同于所述寄存器的默認(rèn)值的值寫(xiě)入該寄存器，然后讀取該寄存器的值，當(dāng)所述寫(xiě)入的值與所述讀取的值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)發(fā)送給測(cè)試數(shù)據(jù)單元。
本發(fā)明設(shè)置一測(cè)試單元，該測(cè)試單元存儲(chǔ)有集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)，所述測(cè)試單元讀取集成電路中寄存器的值，并將該值和所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)，使工作人員可以根據(jù)所述集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)，直接獲得集成電路不符合模塊設(shè)計(jì)規(guī)格的數(shù)據(jù)，避免了工作人員需要手動(dòng)查找集成電路不符合模塊設(shè)計(jì)規(guī)格的數(shù)據(jù)的繁瑣，從而實(shí)現(xiàn)根據(jù)模塊設(shè)計(jì)規(guī)格生成集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)的自動(dòng)化，提高了工作效率，以及檢測(cè)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度。


圖1為寄存器的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明方法的流程示意圖；圖3為本發(fā)明方法具體實(shí)施方式
的流程示意圖；圖4為本發(fā)明裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的核心思想為為了實(shí)現(xiàn)自動(dòng)生成集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)，設(shè)置一測(cè)試單元，該測(cè)試單元包括存儲(chǔ)單元、比較單元和測(cè)試數(shù)據(jù)單元，所述存儲(chǔ)單元，存儲(chǔ)集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格(MAS)數(shù)據(jù)，所述比較單元，從所述存儲(chǔ)單元中獲得集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中寄存器的默認(rèn)值，并讀取集成電路中該寄存器的值，將該值和所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)發(fā)送給測(cè)試數(shù)據(jù)單元；所述測(cè)試數(shù)據(jù)單元，將所述寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)，那么工作人員只需根據(jù)該檢測(cè)數(shù)據(jù)，進(jìn)行相應(yīng)的處理，避免了獲得集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)的操作由人工實(shí)現(xiàn)所導(dǎo)致的工作效率低，以及檢測(cè)數(shù)據(jù)不夠準(zhǔn)確的問(wèn)題；較佳地，所述的集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)包括集成電路中每個(gè)寄存器的地址、默認(rèn)值及存取方式；其中，所述的存取方式為可讀的存取方式，也可以為可讀可寫(xiě)的存取方式；那么所述的比較單元，還可以用于當(dāng)寄存器的存取方式為可讀可寫(xiě)的存取方式時(shí)，并且當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值相同時(shí)，將不同于所述寄存器的默認(rèn)值的值寫(xiě)入該寄存器，然后讀取該寄存器的值，當(dāng)所述寫(xiě)入的值與所述讀取的值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)發(fā)送給測(cè)試數(shù)據(jù)單元。
參見(jiàn)圖2，本發(fā)明方法包括S201、設(shè)置一測(cè)試單元，該測(cè)試單元存儲(chǔ)有集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)；較佳地，所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)包括集成電路中每個(gè)寄存器的地址、默認(rèn)值及存取方式；其中，所述的存取方式為可讀的存取方式，也可以為可讀可寫(xiě)的存取方式；S202、所述測(cè)試單元讀取集成電路中寄存器的值，并將該值和所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)；
比較所述同一寄存器地址所對(duì)應(yīng)的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值和集成電路中該寄存器的值，當(dāng)這兩個(gè)值不同時(shí)，說(shuō)明集成電路的設(shè)計(jì)不符合模塊設(shè)計(jì)規(guī)格，因此需要將不符合規(guī)格的該寄存器的地址、默認(rèn)值及存取方式作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)供工作人員進(jìn)行相應(yīng)處理；較佳地，根據(jù)模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中寄存器的存取方式，判斷所述寄存器是否為只讀存儲(chǔ)器，如果為只讀存儲(chǔ)器，則讀取該寄存器的值，并將該值和模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中的默認(rèn)值進(jìn)行比較，如果這兩個(gè)值不相同，則將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)；如果為可讀可寫(xiě)存儲(chǔ)器，則讀取該寄存器的值，并將該值和模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)讀取的值和該寄存器的默認(rèn)值不相同，則將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)；如果這兩個(gè)值相同，則將不同于該寄存器的默認(rèn)值的值寫(xiě)入該寄存器，并讀取該寄存器的值，當(dāng)所述寫(xiě)入的值和所述讀取的值不相同時(shí)，說(shuō)明該寄存器的存取方式存在設(shè)計(jì)上的錯(cuò)誤，需要進(jìn)一步處理，所以需要將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)；那么，工作人員根據(jù)檢測(cè)數(shù)據(jù)，即寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)，即可知道哪個(gè)寄存器在設(shè)計(jì)上出現(xiàn)錯(cuò)誤，與預(yù)先設(shè)計(jì)的規(guī)格不符，并因此做出相應(yīng)處理。
參見(jiàn)圖3，本發(fā)明方法預(yù)先存儲(chǔ)了集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)，該方法包括S301、設(shè)置一測(cè)試單元，該測(cè)試單元存儲(chǔ)有集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)；所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)包括每個(gè)寄存器的地址、默認(rèn)值和存取方式；S302、所述測(cè)試單元判斷寄存器的存取方式是否為只讀存取方式，如果是，則進(jìn)行步驟S303，否則，進(jìn)行步驟S304；S303、所述測(cè)試單元讀取集成電路的寄存器的值，并與該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)讀取的值和默認(rèn)值不相同時(shí)，進(jìn)行步驟S307；
S304、所述測(cè)試單元讀取集成電路的寄存器的值；S305、所述測(cè)試單元判斷讀取的值和默認(rèn)值是否相同，如果是，則進(jìn)行步驟S306，否則進(jìn)行步驟S307；S306、所述測(cè)試單元向所述寄存器寫(xiě)入數(shù)據(jù)，并讀取該寄存器的值，當(dāng)讀取的值和寫(xiě)入的值不相同時(shí)，進(jìn)行步驟S307；S307、將模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中寄存器的地址、默認(rèn)值和存取方式作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)；S308、結(jié)束。
參見(jiàn)圖4，本發(fā)明裝置包括集成電路401和測(cè)試單元402；所述集成電路401包括至少一個(gè)寄存器；所述測(cè)試單元402包括存儲(chǔ)單元4021、比較單元4022和測(cè)試數(shù)據(jù)單元4023；所述的存儲(chǔ)單元4021，用于存儲(chǔ)集成電路401的MAS數(shù)據(jù)，包括至少一個(gè)寄存器的地址、默認(rèn)值和存取方式；其中，所述的存取方式為可讀的存取方式或可讀可寫(xiě)的存取方式；所述的比較單元4022，從存儲(chǔ)單元4021中獲得集成電路401的MAS數(shù)據(jù)，對(duì)每個(gè)寄存器，當(dāng)寄存器的存取方式為只讀的存取方式時(shí)，讀取寄存器的值，并將該值和MAS中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)這兩個(gè)值不相同時(shí)，將MAS中該寄存器的地址、默認(rèn)值和存取方式發(fā)送給測(cè)試數(shù)據(jù)單元4023；當(dāng)寄存器的存取方式為可讀可寫(xiě)的存取方式時(shí)，讀取寄存器的值，并將該值和MAS中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)這兩個(gè)值不相同時(shí)，將MAS中該寄存器的地址、默認(rèn)值和存取方式發(fā)送給測(cè)試數(shù)據(jù)單元4023；當(dāng)所述讀取的值和默認(rèn)值相同時(shí)，將某個(gè)不同于所述寄存器的默認(rèn)值的值寫(xiě)入寄存器，并讀取寄存器的值，比較寫(xiě)入的值和讀取的值，當(dāng)這兩個(gè)值不相同時(shí)，將MAS中該寄存器的地址、默認(rèn)值和存取方式發(fā)送給測(cè)試數(shù)據(jù)單元4023；
所述的測(cè)試數(shù)據(jù)單元4023，用于將MAS的寄存器的地址、默認(rèn)值和存取方式作為集成電路401的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種自動(dòng)生成集成電路檢測(cè)數(shù)據(jù)的方法，其特征在于，設(shè)置一測(cè)試單元，該測(cè)試單元存儲(chǔ)有集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)，該方法包括步驟所述測(cè)試單元讀取集成電路中寄存器的值，并將該值和所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)包括集成電路中每個(gè)寄存器的地址、默認(rèn)值及存取方式。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述的存取方式為可讀的存取方式，或可讀可寫(xiě)的存取方式。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，當(dāng)所述寄存器的存取方式為可讀可寫(xiě)的存取方式時(shí)，且當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值相同時(shí)，該方法進(jìn)一步包括測(cè)試該寄存器的可讀可寫(xiě)的存取方式的步驟，該步驟包括所述測(cè)試單元將不同于所述寄存器的默認(rèn)值的值寫(xiě)入該寄存器，然后讀取該寄存器的值，當(dāng)所述寫(xiě)入的值與所述讀取的值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
5.一種自動(dòng)生成集成電路檢測(cè)數(shù)據(jù)的裝置，其特征在于，該裝置包括測(cè)試單元，用于存儲(chǔ)集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)，并讀取集成電路中寄存器的值，將該值和所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
6.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述測(cè)試單元包括存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)；比較單元，用于從所述存儲(chǔ)單元中獲得集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中寄存器的默認(rèn)值，并讀取集成電路中該寄存器的值，將該值和所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)發(fā)送給測(cè)試數(shù)據(jù)單元；測(cè)試數(shù)據(jù)單元，用于將所述寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
7.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述的存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中寄存器的地址、默認(rèn)值及存取方式；所述的比較單元，還用于當(dāng)寄存器的存取方式為可讀可寫(xiě)的存取方式時(shí)，并且當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值相同時(shí)，將不同于所述寄存器的默認(rèn)值的值寫(xiě)入該寄存器，然后讀取該寄存器的值，當(dāng)所述寫(xiě)入的值與所述讀取的值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)發(fā)送給測(cè)試數(shù)據(jù)單元。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種自動(dòng)生成集成電路檢測(cè)數(shù)據(jù)的方法及裝置，用于測(cè)試集成電路是否符合模塊設(shè)計(jì)規(guī)格，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試集成電路是否符合模塊設(shè)計(jì)規(guī)格的操作無(wú)法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的問(wèn)題。本發(fā)明方法，設(shè)置一測(cè)試單元，該測(cè)試單元存儲(chǔ)有集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)，該方法包括步驟所述測(cè)試單元讀取集成電路中寄存器的值，并將該值和所述集成電路的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)中該寄存器的默認(rèn)值進(jìn)行比較，當(dāng)所述寄存器的值與該寄存器的默認(rèn)值不相同時(shí)，將該寄存器的模塊設(shè)計(jì)規(guī)格數(shù)據(jù)作為集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)。本發(fā)明還公開(kāi)了一種自動(dòng)生成集成電路檢測(cè)數(shù)據(jù)的裝置。本發(fā)明用于實(shí)現(xiàn)根據(jù)模塊設(shè)計(jì)規(guī)格獲得集成電路的檢測(cè)數(shù)據(jù)的自動(dòng)化，提高了工作效率，以及檢測(cè)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度。
文檔編號(hào)G06F17/50GK1952944SQ20061011456
公開(kāi)日2007年4月25日 申請(qǐng)日期2006年11月15日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月15日
發(fā)明者陳洪 申請(qǐng)人:北京中星微電子有限公司