專利名稱：無測(cè)試管腳接觸式cpu卡測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明主要應(yīng)用于各種程序存儲(chǔ)器為電可擦寫存儲(chǔ)器的接觸式CPU卡測(cè)試電路中。
背景技術(shù)：
隨著數(shù)字化社會(huì)的到來，生活中越來越多的會(huì)用到各種類型的電子產(chǎn)品，ic卡就是一種
與人們?nèi)粘Ｉ罹o密相關(guān)的電子產(chǎn)品，其應(yīng)用場(chǎng)合也相當(dāng)?shù)亩?，比如公交卡、SIM卡、銀行 卡、身份證卡等等。那么對(duì)于這樣大批量生產(chǎn)的卡類產(chǎn)品在最終交給用戶使用前是需要通過 一系列的測(cè)試來保證產(chǎn)品的功能及性能的正確。而作為芯片的設(shè)計(jì)者首先應(yīng)該保證的是芯片 硬件功能的正確性。那么就需要有一個(gè)這樣的測(cè)試手段從工廠加工的芯片中篩選出符合我們 設(shè)計(jì)要求的產(chǎn)品提供給用戶使用。
而要滿足大規(guī)模生產(chǎn)中對(duì)芯片良品的檢出，就應(yīng)該有一個(gè)對(duì)整個(gè)芯片的功能、性能及可 靠性進(jìn)行測(cè)試的電路來完成這個(gè)檢測(cè)工作。而隨著產(chǎn)業(yè)的逐步發(fā)展目前對(duì)于測(cè)試工作不僅僅 是要求可以準(zhǔn)確的篩選出良品，更重要的是測(cè)試的效率要高、測(cè)試的成本要低、測(cè)試電路的 安全性要高，不能讓非法用戶通過測(cè)試電路來獲取芯片硬件及軟件的信息，防止非法用戶通 過竊取到的這些信息對(duì)芯片進(jìn)行攻擊從而使合法用戶的正當(dāng)權(quán)益收到損害。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為解決上述問題，實(shí)現(xiàn)程序存儲(chǔ)器為電可擦寫存儲(chǔ)器的接觸式CPU卡的功能測(cè)試，
采用如下方案-
將功能測(cè)試程序由io管腳串行的送入到串行輸入寄存器組中，經(jīng)過并行寄存器組之后將
滿足程序存儲(chǔ)器擦寫時(shí)序的相應(yīng)信號(hào)送給程序存儲(chǔ)器，完成將測(cè)試程序下載到程序存儲(chǔ)器中 的功能。
功能測(cè)試程序下載完畢之后，再由CPU運(yùn)行程序存儲(chǔ)器中的測(cè)試程序，測(cè)試程序在運(yùn)行 的過程中自動(dòng)比對(duì)程序運(yùn)行的結(jié)果是否正確，并將測(cè)試結(jié)果通過IO管腳再串行的送出，由測(cè) 試機(jī)來監(jiān)控10的輸出結(jié)果，通過這個(gè)結(jié)果可以判斷芯片功能測(cè)試是否正確。
將測(cè)試電路中關(guān)鍵信號(hào)的一小部分放在了劃片槽，當(dāng)芯片減薄劃片之后會(huì)破壞掉這部分電 路，這樣就可以保證芯片在出廠之后不會(huì)再進(jìn)入到測(cè)試模式了，非法用戶就不可能通過測(cè)試 電路來探測(cè)芯片的硬件結(jié)構(gòu)及軟件內(nèi)容。
本發(fā)明有如下優(yōu)點(diǎn)1、 通過IC的標(biāo)準(zhǔn)管腳完成對(duì)芯片的測(cè)試功能，既節(jié)省的芯片的面積又增加了芯片的安 全性。
2、 將功能測(cè)試程序下載到程序存儲(chǔ)器中運(yùn)行，這樣的測(cè)試方式與芯片正常運(yùn)行COS的情 況是一樣的，這樣的測(cè)試方式更接近芯片的真實(shí)工作狀況。
3、 功能測(cè)試程序在運(yùn)行的過程中自動(dòng)比對(duì)測(cè)試的結(jié)果，并且通過測(cè)試10管腳將測(cè)試結(jié) 果送出由測(cè)試機(jī)比對(duì)測(cè)試結(jié)果的正確性。
4、 節(jié)省了芯片的面積，提髙了測(cè)試電路的安全性。


圖l總體結(jié)構(gòu)框圖，圖中左方的IO與右方的IO是同一個(gè)管腳，是一個(gè)雙向開漏的管腳，為
IC卡的標(biāo)準(zhǔn)管腳。 圖2放入劃片槽部分的示意圖
具體實(shí)施例方式
圖1是本發(fā)明的總體結(jié)構(gòu)圖，圖中示出了各個(gè)模塊的連接關(guān)系。下面結(jié)合圖1詳細(xì)說明 本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例。
一、 以一個(gè)字節(jié)"F5H"為例介紹它是如何被寫入到程序存儲(chǔ)器中的 在芯片的測(cè)試模式下使用一個(gè)私有傳輸協(xié)議將"F5H"以及"F5H"在測(cè)試程序中對(duì)應(yīng)的
地址通過10管腳按位串行送入并寫到串行輸入寄存器組(1)中，當(dāng)"F5H"寫操作的所有相 關(guān)位都寫到(1)中之后，測(cè)試電路會(huì)產(chǎn)生一個(gè)標(biāo)志信號(hào)，在芯片檢測(cè)到這個(gè)標(biāo)志信號(hào)有效時(shí) 會(huì)將(1)中的所有數(shù)據(jù)再對(duì)應(yīng)的寫入到并行寄存器組(2)中。
此時(shí)再將(2)中關(guān)于"F5H"的擦寫控制信號(hào)以及數(shù)據(jù)和相應(yīng)地址按照程序存儲(chǔ)器的擦 寫控制時(shí)序送入從而完成將"F5H"字節(jié)寫入到程序存儲(chǔ)器(3)中的操作。
二、 測(cè)試程序的運(yùn)行以及比對(duì) 依照上述的寫入過程可以將功能測(cè)試程序依次的寫入到(3)中的對(duì)應(yīng)地址， 當(dāng)所有的測(cè)試程序?qū)懭胪戤呏笞屝酒M(jìn)入到功能測(cè)試模式并使芯片正常運(yùn)行在工作模
式下，CPU從(3)中讀取功能測(cè)試程序執(zhí)行，并且自行比對(duì)運(yùn)行結(jié)果。產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果。
三、 測(cè)試結(jié)果的送出
將上述產(chǎn)生的測(cè)試結(jié)果送入到串行輸出寄存器(4)中，并由雙向管腳10串行的再將測(cè) 試結(jié)果送出。
下面分別介紹各個(gè)模塊-
串行輸入寄存器組(1),主要是由D觸發(fā)器構(gòu)成的移位寄存器組，其作用就是將從10管 腳按位串行輸入的對(duì)程序存儲(chǔ)器(3)寫操作的命令暫時(shí)存儲(chǔ)起來，作為并行寄存器組(2) 的輸入端。
并行寄存器組(2)，主要是由D觸發(fā)器構(gòu)成的寄存器組，與(1)相連接，當(dāng)通過I0管 腳發(fā)送的寫命令完整的寫入到(1)中之后，(2)會(huì)將(1)中所有數(shù)據(jù)復(fù)制過來，并且區(qū)分 出那些是數(shù)據(jù)位，那些是地址位，那些是擦寫控制信號(hào)位，并且將這些對(duì)應(yīng)的信號(hào)送往程序 存儲(chǔ)器的相應(yīng)輸入管腳。
程序存儲(chǔ)器(3)，在接收到(2)的一次輸入后，根據(jù)輸入的信號(hào)完成一次對(duì)程序存儲(chǔ)器 的寫操作。
串行輸出寄存器(4)，主要是由D觸發(fā)器構(gòu)成的移位寄存器組，其作用就是將功能測(cè)試 結(jié)果按位移出，并且通過10管腳將(4)的輸出按位送出。 以上電路結(jié)構(gòu)可以完成芯片功能測(cè)試任務(wù)。
圖2是放入劃片槽部分的電路示意圖，測(cè)試電路要達(dá)到高安全性，就需要有足夠的措施 來保證非法用戶不能通過測(cè)試電路對(duì)芯片的硬件及軟件進(jìn)行攻擊，從而竊取合法用戶資料。
如圖2所示，本發(fā)明采用了可以將測(cè)試電路部分一個(gè)比較重要的控制信號(hào)線連同與這個(gè) 信號(hào)線相關(guān)的一個(gè)D觸發(fā)器放到劃片槽中，當(dāng)芯片測(cè)試完畢減薄劃片之后，這個(gè)放入劃片槽 的D觸發(fā)器就會(huì)被劃掉。很明顯當(dāng)芯片封卡發(fā)放給用戶以后測(cè)試電路就不能再工作了，而且 通過FIB的方式也很難將這個(gè)關(guān)鍵信號(hào)重新連接起來。這樣即時(shí)非法用戶了解芯片的測(cè)試電 路結(jié)構(gòu)也不可能通過測(cè)試電路再對(duì)芯片做任何的非法攻擊了。
權(quán)利要求
1.無測(cè)試管腳接觸式CPU卡測(cè)試方法主要是通過IO管腳將芯片的功能測(cè)試程序串行送入芯片，再通過測(cè)試電路寫入到程序存儲(chǔ)器中，然后CPU執(zhí)行寫入到程序存儲(chǔ)器中的功能測(cè)試程序，其特征在于通過IC卡的雙向IO管腳將功能測(cè)試程序串行送入到串行輸入寄存器組(1)，將串行送入的數(shù)據(jù)暫存到(1)中，緊接著再將其寫入到并行寄存器組(2)，在(2)中區(qū)分出對(duì)程序存儲(chǔ)器的擦寫控制信號(hào)以及地址和數(shù)據(jù)再并行送往程序存儲(chǔ)器(3)從而將功能測(cè)試程序?qū)懭氲匠绦虼鎯?chǔ)器中，運(yùn)行(3)中的測(cè)試程序并將運(yùn)行的結(jié)果寫入到串行輸出寄存器(4)中，再由雙向的IO管腳將(4)中的測(cè)試結(jié)果串行的送出，由測(cè)試機(jī)來監(jiān)控輸出結(jié)果的正確性。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1的測(cè)試電路，其特征在于將串行送入的測(cè)試程序并行的送到并行寄存器組(2)，從而能夠產(chǎn)生滿足程序存儲(chǔ)器(3)的擦寫時(shí)序以完成對(duì)Flash的擦寫操作。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1的測(cè)試電路，其特征在于將測(cè)試程序運(yùn)行的結(jié)果可以再通過串行輸出寄存 器(4)由雙向IO管腳送出。
4. 根據(jù)權(quán)利要求l的測(cè)試電路，其特征在于可以將測(cè)試電路中的一個(gè)關(guān)鍵的控制電路部分放 到劃片槽中，當(dāng)芯片減薄劃片之后就不能再進(jìn)入到芯片的測(cè)試模式了。
全文摘要
本發(fā)明提供一種無測(cè)試管腳接觸式CPU卡測(cè)試方法，主要應(yīng)用于程序存儲(chǔ)器是電可擦寫存儲(chǔ)器的CPU卡。通過IC卡的IO管腳將對(duì)程序存儲(chǔ)器的擦寫控制信號(hào)以及擦寫的地址、數(shù)據(jù)串行的送入，完成對(duì)程序存儲(chǔ)器的擦寫功能。這樣芯片的功能測(cè)試程序就可以通過IO串行送入并寫入程序存儲(chǔ)器中，再運(yùn)行程序存儲(chǔ)器中的功能測(cè)試程序就可以完成對(duì)芯片的功能測(cè)試了。本測(cè)試方式中測(cè)試管腳復(fù)用了IC卡的標(biāo)準(zhǔn)管腳，不會(huì)增加單獨(dú)的芯片測(cè)試管腳，這樣既增加了芯片的安全性又可以減小芯片的面積。
文檔編號(hào)G06F11/267GK101169755SQ20061011409
公開日2008年4月30日 申請(qǐng)日期2006年10月27日 優(yōu)先權(quán)日2006年10月27日
發(fā)明者張海峰 申請(qǐng)人:北京中電華大電子設(shè)計(jì)有限責(zé)任公司