專利名稱：射頻識別裝置測試器和方法
技術領域：
本發(fā)明涉及射頻識別(radio frequency identification，RFID)標簽和標記檢測系統(tǒng)，以及檢測和測試射頻識別標簽和標記。
背景技術：
射頻識別標簽和標記(在此總稱為“裝置”)被廣泛用來關聯(lián)物體和識別碼。射頻識別裝置一般具有天線及模擬和/或數(shù)字電子器件的組合，電子器件可包括，例如通信電子器件、數(shù)據(jù)存儲器和控制邏輯。例如，射頻識別標簽與汽車的安全鎖結合使用，射頻識別標簽用于建筑物的進入控制和跟蹤庫存與包裹。射頻識別標簽和標記的一些示例出現(xiàn)在美國專利號6107920、6206292和6262292中，在此以引用方式并入這些專利的全部內容。
如上所述，射頻識別裝置一般被分類為標記或標簽。射頻識別標記是粘貼到物體上或者具有直接附著到物體的表面的射頻識別裝置。相反，射頻識別標簽通過其他方法被固定到物體上，例如通過使用塑料緊固件、細繩或其他固定裝置。
射頻識別裝置包括有源標簽和標記，其包括電源，及不包括電源的無源標簽和標記。就無源標簽來說，為了從芯片取回信息，“基站”或“閱讀器”向射頻識別標簽或標記發(fā)送一個激勵信號。激勵信號激發(fā)標簽或標記，射頻識別電路將存儲的信息發(fā)回閱讀器?！伴喿x器”接收和解碼來自射頻識別標簽的信息。通常，射頻識別標簽能夠保留和傳送足夠的信息以唯一地識別個體、包裹、庫存等等。射頻識別標簽和標記也能夠被特征化為那些只被寫一次信息(雖然信息可被重復讀取)的標簽和標記，和那些可在使用過程中被寫信息的簽和標記。例如，射頻識別標簽可存儲環(huán)境數(shù)據(jù)(其可被關聯(lián)的傳感器檢測)、邏輯歷史、狀態(tài)數(shù)據(jù)等等。
一個與射頻識別裝置有關的困難是作為制造過程的一部分需要測試這種裝置的操作。在制造射頻識別裝置時，這些裝置可形成在單片或成卷材料上，緊密地間隔開。在激活、讀取和/或檢測射頻識別裝置的傳統(tǒng)方法中，要有天線在相對長的距離內發(fā)送射頻(RF)場，也就是要在經(jīng)過干擾的自由空間中發(fā)送射頻(RF)場。當這種方法被用于測試緊密間隔的射頻識別裝置時，就難以測試單個的射頻識別裝置，因為射頻場和幾個裝置同時交互，并且各種射頻識別裝置可彼此交互。
此外應該意識到的是，需要讀取射頻識別裝置的廉價方法。
根據(jù)前文所述，應該意識到的是，需要改進射頻識別裝置的測試和讀取。

發(fā)明內容
根據(jù)本發(fā)明的一個方面，射頻識別裝置測試器被電容地耦合到射頻識別裝置，以便從所述測試器到所述裝置提供功率，以及接收從所述裝置到所述測試器的信號。
根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，通過發(fā)送頻率不同于射頻識別裝置的天線的諧振頻率的輸出功率信號，射頻識別裝置測試器給待測試的射頻識別裝置提供電源。
根據(jù)本發(fā)明的又一個方面，射頻識別裝置測試器具有導電的耦合元件，用于電容地耦合到射頻識別裝置的天線元件。
根據(jù)本發(fā)明的又一個方面，射頻識別裝置測試器具有環(huán)狀的導電耦合元件。
根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，射頻識別裝置測試系統(tǒng)具有多個可操作地耦合在一起的測試器，用于測試具有多行所述裝置的裝置網(wǎng)，每行有多個所述裝置。根據(jù)本發(fā)明的實施例，多個測試器可處于交錯的配置，而不是在行方向的一條線中。
根據(jù)本發(fā)明的一個其他方面，一種測試射頻識別裝置的方法包括以下步驟1)將射頻識別裝置測試器電容地耦合到射頻識別裝置的天線；2)從所述射頻識別裝置測試器產(chǎn)生輸出信號；3)使用輸出信號給所述射頻識別裝置供電；4)在所述射頻識別裝置中產(chǎn)生返回的信號；及通過閱讀器檢測返回的信號，閱讀器是所述測試器的一部分。
根據(jù)本發(fā)明的又一其他方面，一種射頻識別裝置測試器包括一個閱讀器；一對導電的耦合元件；一對傳輸線，其將各自的所述耦合元件電連接到所述閱讀器；及連接到兩條傳輸線的電阻，其位于所述閱讀器和所述耦合元件之間。
根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，在射頻識別裝置和射頻識別裝置測試器的一種組合中，射頻識別裝置包括具有一對天線元件的天線，和可操作地耦合到所述天線的芯片。射頻識別裝置測試器包括一個閱讀器，和一對電連接到所述閱讀器的導電的耦合元件。每個所述天線元件與各自的耦合元件電容地耦合，因此形成一對電容器。
根據(jù)本發(fā)明的又一個方面，一種測試射頻識別裝置的方法包括以下步驟將所述裝置的最佳工作頻率從固有諧振頻率轉移(shift)到變動后的諧振頻率；并且在不同于所述固有諧振頻率的頻率讀取所述裝置。
根據(jù)本發(fā)明的又一個方面，一種測試射頻識別帶的方法包括以下步驟將射頻識別裝置測試器電容地耦合到射頻識別帶的導電引線；從所述射頻識別裝置測試器產(chǎn)生輸出信號；使用輸出信號給所述射頻識別帶供電；在所述射頻識別帶中產(chǎn)生返回的信號；及通過閱讀器檢測返回的信號，閱讀器是所述測試器的一部分。
根據(jù)本發(fā)明的一個其他方面，一種測試系統(tǒng)，用于測試包含多行的網(wǎng)絡，每行具有多個射頻識別裝置，其包括一個檢測射頻識別裝置行的近程傳感器；多個測試器，其被排列以測試每行的多個射頻識別裝置；和一臺計算機，其可操作地連接到所述近程傳感器和多個測試器。所述計算機接收來自所述近程傳感器的信號和控制測試器的操作。
根據(jù)本發(fā)明的又一個其他方面，一種測試射頻識別裝置的網(wǎng)的方法，所述射頻識別裝置的網(wǎng)包括多個行，每行具有多個射頻識別裝置，所述方法包括以下步驟通過近程傳感器檢測所述裝置網(wǎng)的一行；及通過使用可操作地耦合到所述近程傳感器的各自的測試器來測試所述行的射頻識別裝置。
為了實現(xiàn)上述和相關的目標，本發(fā)明包括以下全面描述的特征及特別是在權利要求中指出的特征。下面的描述和附圖詳細闡述了本發(fā)明的某些示例性實施例。這些實施例是指示性的，但是其中以各種方法應用了本發(fā)明的原理。結合附圖，本發(fā)明的其他目標、優(yōu)點和新穎特征從以下的詳細描述將變得明顯。


在并未完全按比例繪制的附圖中圖1是根據(jù)本發(fā)明的、電容地耦合到射頻識別裝置的射頻識別裝置測試器的示意性側視圖；圖2是圖1的射頻識別裝置測試器和射頻識別裝置的頂視圖；圖3是電路圖，說明了圖1中射頻識別裝置測試器和射頻識別裝置的電容耦合；圖4是一個頂視圖，說明了圖1的射頻識別裝置測試器的實施例的部件，其轉移了所述測試器轉移射頻識別裝置的最佳工作頻率；圖5是一個頂視圖，舉例說明了圖1的射頻識別裝置測試器的另一個實施例的部件，其轉移了所述測試器轉移射頻識別裝置的最佳工作頻率；圖6說明了根據(jù)本發(fā)明的射頻識別裝置測試器的替代實施例，所述測試器電容地耦合到射頻識別裝置；圖7說明了根據(jù)本發(fā)明的、在卷到卷(roll-to-roll)處理中測試一卷射頻識別裝置的射頻識別裝置測試器；圖8說明了根據(jù)本發(fā)明的射頻識別裝置測試器另一個實施例；圖9說明了根據(jù)本發(fā)明的射頻識別裝置測試器又一個實施例的視圖；圖10說明了圖9的射頻識別裝置測試器作為卷到卷處理的一部分；圖11是根據(jù)本發(fā)明的射頻識別裝置測試系統(tǒng)的頂視圖；圖12是根據(jù)本發(fā)明的另一個射頻識別裝置測試系統(tǒng)的頂視圖；圖13是根據(jù)本發(fā)明的射頻識別裝置測試系統(tǒng)的斜視圖；圖14是圖13的系統(tǒng)的平面圖；圖15是射頻識別測試系統(tǒng)的一個實施例的方塊圖；圖16是射頻識別測試系統(tǒng)的另一個實施例的方塊圖；圖17是射頻識別測試系統(tǒng)的又一個實施例的方塊圖；
圖18是根據(jù)本發(fā)明的射頻識別裝置測試系統(tǒng)的部分操作的時序圖。
具體實施例方式
射頻識別裝置測試器包括將閱讀器電容地耦合到待測試的射頻識別裝置的耦合元件。所述閱讀器通過發(fā)送輸出信號(例如輸出的AC功率信號)來向射頻識別裝置供電，如果射頻識別裝置工作正常，那么所述信號可被射頻識別裝置整流和/或反射。所述輸出信號的頻率可以不同于射頻識別裝置的天線的諧振頻率。射頻識別裝置測試器中的閱讀器檢測被反射和/或被傳輸?shù)男盘?，以確認射頻識別裝置的正常工作。射頻識別裝置測試器可被用作卷到卷處理的一部分，以在成卷材料上單個測試射頻識別裝置。通過利用近程電容耦合，可減少或避免由同時激活多個射頻識別裝置所導致的困難。
首先參考圖1和圖2，圖1和圖2說明了用于測試或讀取射頻識別裝置12的射頻識別裝置測試器10。所述測試器包括閱讀器14，和電耦合到閱讀器14的一對耦合元件或耦合器16和18。耦合元件16和18是各種合適配置中任意的導電元件。耦合元件16和18可被放置在介電襯底層20上。此外，測試器10可包括端接電阻器或負載24，其在耦合元件16和18之間連接。如下文將詳細描述的，端接電阻器24的作用是限制從耦合元件16和18到閱讀器14的信號強度?？墒褂煤线m的電源26向閱讀器14供電。
射頻識別裝置12可以是標記或標簽，或者一部分標簽或標記，其具有天線30和耦合到天線30的芯片32。芯片32可包括任何合適的電子組件，例如上述用于調節(jié)射頻識別裝置12的阻抗的電路。天線30可以是偶極天線，其在芯片32的相對面上具有一對天線元件36和38?；蛘?，天線可具有另一種設計。天線元件36和38可安裝在射頻識別裝置12的介電襯底40上。介電襯底40可以是一片介電材料(例如一卷介電材料)的一部分，在其上形成其他的射頻識別裝置。其他的射頻識別裝置可基本與射頻識別裝置12相同或者不同于射頻識別裝置12。更具體地，非介電性襯底可具有多個緊密間隔的射頻識別裝置。
現(xiàn)在參考圖3，射頻識別裝置測試器10和射頻識別裝置12是電容地耦合在一起的，以在射頻識別裝置測試器10和射頻識別裝置12之間傳輸功率和/或信號。耦合元件16和18可操作地(operatively)分別耦合到天線元件36和38。通過定位射頻識別裝置測試器10和射頻識別裝置12，使得射頻識別裝置測試器的耦合元件16和18基本與射頻識別裝置12的天線元件36和38相對，如圖1-圖3所示，從而產(chǎn)生這種可操作的耦合。在這種相對定位下，介電襯底層20的一部分46位于耦合元件16和天線元件36之間，介電襯底層20的另一部分48位于耦合元件18和天線元件38之間。因此耦合元件16、天線元件36和介電部分46起到第一電容器50的作用，耦合元件16和天線元件36是電容器50的板極。類似地，耦合元件18、天線元件38和介電部分48起到第二電容器52的作用。
一旦射頻識別裝置測試器10和射頻識別裝置12被電容地耦合到一起，電功率和/或信號就可在兩者之間傳輸。閱讀器可沿著連接閱讀器14與耦合元件16和18的傳輸線56和58發(fā)送輸出的信號(例如輸出的AC信號)。電容器50和52使得輸出的AC信號能夠從耦合元件16和18傳輸?shù)教炀€元件36和38。被天線元件36和38接收的AC電源可被芯片32整流，例如被晶體管和/或二極管(它們是芯片32的一部分)整流，以產(chǎn)生DC電源來使芯片32運行。
芯片32使用所述功率來經(jīng)由天線元件36和38發(fā)送返回信號。應該意識到，返回信號的發(fā)送可以是被動過程，而不是由射頻識別裝置12主動傳輸返回信號。作為一個示例，芯片32中的電路可被用于調節(jié)射頻識別裝置12的阻抗。作為另一個例子，射頻識別裝置12可將入射信號反射回測試器10。
可理解的是，射頻識別裝置12或者是自動響應入射信號的被動(passive)裝置，或者是只響應符合某些協(xié)議的入射信號的主動(passive)裝置。射頻識別裝置12也可具有其他的組件，例如其自己的電源。
可進一步理解的是，射頻識別裝置12的功能可基本相同，就好象入射的能量是由遠程射頻場提供，而不是由電容耦合提供?；蛘撸漕l識別裝置12的功能可以不同，這取決于入射的能量被如何提供給它。
由射頻識別裝置12傳輸?shù)姆祷匦盘柦?jīng)由電容器50和52，被從天線元件36和38傳到耦合元件16和18。返回的信號然后沿著傳輸線56和58被傳給閱讀器14。端接電阻器24可防止異常強大的信號到達閱讀器14，從而防止對閱讀器14的可能損害。
閱讀器14能夠解釋從射頻識別裝置12接收的返回信號，以確認射頻識別裝置12的整體或部分的功能正常，例如天線30和/或芯片32的校正功能。確認功能正常可包括僅僅檢測射頻識別裝置12的出現(xiàn)，使得如果射頻識別裝置12是完全可檢測的，那么射頻識別裝置12的功能是可接受的，并且射頻識別裝置12通過測試。或者，測試可包括評估從射頻識別裝置12接收的返回信號，例如以確定返回的信號是否與一個或多個參數(shù)或參數(shù)范圍一致。將理解的是射頻識別裝置12的操作的其他測試可被用于，例如診斷射頻識別裝置12的故障，或者定性評估射頻識別裝置12的性能。
為了清楚，上面已經(jīng)將由閱讀器14發(fā)出的輸出AC功率信號和由射頻識別裝置12生成的返回信號作為分開的信號描述，一個是由閱讀器14發(fā)出的，另一個是由閱讀器14接收的。實際上，應理解的是信號其實是彼此重疊的，因為閱讀器14察覺輸出信號和返回信號的重疊。因此由閱讀器進行的返回信號的解釋可包括輸出信號與被閱讀器14察覺的信號之間的比較，輸出信號與返回信號的重疊。
電容地耦合到射頻識別裝置12的射頻識別裝置測試器10有利地允許測試器10和射頻識別裝置12之間的近程耦合。射頻識別裝置12可以是其上具有許多射頻識別裝置的單片或卷的一部分，并且通過使用射頻識別裝置測試器10和射頻識別裝置12之間的近程電容耦合，可實現(xiàn)更好地測試射頻識別裝置12，相比于經(jīng)由通過自由空間發(fā)送的射頻場，耦合到射頻識別裝置的測試器。電容地耦合的射頻識別裝置測試器10具有優(yōu)勢的一個原因是近程電容耦合較不易于給同一卷或同一片上的其他射頻識別裝置提供能量。通過減少或限制給除了待測試的射頻識別裝置12以外的射頻識別裝置提供能量，在測試中就更好區(qū)別，并且因此改進射頻識別裝置12的測試。
適當選擇來自測試器10的輸出信號的頻率可允許進一步減少到除了正在被測試的射頻識別裝置12以外的射頻識別裝置的不希望的耦合。在進一步說明前，將天線30的固有諧振頻率定義為當沒有位于緊緊鄰近射頻識別裝置測試器10時，天線30從外部的射頻場最佳地接收能量及最佳地發(fā)送能量的頻率。這個固有諧振頻率是天線30的天線阻抗是芯片32的芯片阻抗的復共軛時的頻率，這個諧振頻率在此也被稱為射頻識別裝置12的最佳工作點或者最佳工作頻率。將理解的是天線30的諧振頻率高度依賴于天線30的配置。
射頻識別裝置測試器10電容地耦合到射頻識別裝置12，它的一個優(yōu)點是來自射頻識別裝置測試器10的閱讀器14的輸出功率信號的頻率可不同于射頻識別裝置12的天線30的固有諧振頻率(不同于射頻識別裝置12的固有的最佳工作點)。通過具有頻率不同于射頻識別裝置12的天線30的固有諧振頻率的輸出功率信號，輸出信號到除了待測試的射頻識別裝置12以外的射頻識別裝置的遠程耦合可被最小化。這是因為射頻識別裝置的天線在不同于天線30的固有諧振頻率的頻率處并不會接收到大量的能量。而且，具有頻率不同于天線30的固有諧振頻率的輸出功率信號可減少同一卷或片上的各種射頻識別裝置的各種天線之間的交叉耦合。
射頻識別裝置測試器10與射頻識別裝置12之間的耦合本身將改變天線30的諧振頻率(最佳工作頻率)。這是因為將測試器10帶進相對于射頻識別裝置12的極接近區(qū)域改變了射頻識別裝置12周圍的環(huán)境。因此射頻識別裝置測試器10的一個或多個介電元件60(圖1)及一個或多個導電元件62(圖1)可被測試器10引入被正在被測試的射頻識別裝置12察覺的環(huán)境，并且與其交互。介電元件60和導電元件62可被稱為“轉移元件”，因為它們的功能是轉移或改變射頻識別裝置12的最佳工作頻率。如圖1所示，介電元件60可包括介電襯底層20，且導體元件62可包括耦合元件16和18?；蛘撸梢杂衅渌慕殡娫?0和/或導體元件62，后者可包括金屬導體。介電元件60和/或導體元件62的位置、尺寸和/或配置可以選擇，從而在天線30的諧振頻率中產(chǎn)生所需的轉移。
圖4和圖5示出了射頻識別裝置測試器10的部件的示例性例子，測試器10具有額外的介電元件60和/或導體元件62用于轉移或改變射頻識別裝置12的天線30的諧振頻率。在圖4和圖5中，為了示例說明，顯示的射頻識別裝置12的部件稍微偏離射頻識別裝置測試器10的對應部件。
圖4顯示了射頻識別裝置測試器10的部件實施例，測試器10包括額外的鄰接耦合元件16和18的介電元件60a和60b。介電元件60a和60b被放置在射頻識別裝置12的天線30的天線元件36和38的對應部分36a和38b之上，或者與之相對。如所示的，介電元件60a和60b還來自射頻識別裝置12的芯片32，雖然可理解的是可以利用其他合適的配置。
介電元件60a和60b的功能是載入天線30和增加天線30的天線元件36和38的有效長度。通過有效長度的增加，其意味著射頻識別裝置12的諧振頻率或最佳工作頻率的降低。
介電元件60a和60b可由高K介電材料例如合適的陶瓷材料制成。合適材料的例子有四鈦酸鋇和氧化鈦。
轉到圖5，顯示了射頻識別裝置測試器10實施例的部件，測試器10具有額外的導電元件62a和62b，其與耦合元件16和18分開，極接近射頻識別裝置12的天線30的天線元件36和38。導電元件62a和62b被電容地耦合到天線元件36和38，增加了天線元件的有效長度。因此射頻識別裝置12的諧振頻率或最佳工作頻率降低了。
雖然圖5中的導電元件62a和62b的配置導致射頻識別裝置12的諧振頻率或最佳工作點降低了，應該理解的是相對于射頻識別裝置12不同地配置元件62a和62b可導致射頻識別裝置12的諧振頻率或最佳工作點升高。
由介電元件60或導電元件62導致的諧振頻率或最佳工作點的轉移被局部化，因為介電元件60a和60b和/或導電元件62a和62b可被配置以轉移僅僅單個射頻識別裝置12的頻率，而不大影響鄰接的射頻識別裝置的最佳工作點。
可理解的是介電元件60a和60b和導電元件62a和62b的數(shù)量與配置可以變化，并且可為，例如選定的天線配置和/或所需的測試頻率最優(yōu)化。
由集合射頻識別裝置12和射頻識別裝置測試器10造成的天線30的諧振頻率的轉移可幫助將射頻識別裝置12可操作地與可能鄰接的其他射頻識別裝置隔離。通過可操作地隔離射頻識別裝置12，可以更容易地測試射頻識別裝置12而不會遇到不希望的結果，不希望的結果是由來自目前沒有被測試的其他射頻識別裝置的激活或干擾導致的。因為待測試的射頻識別裝置12比其他射頻識別裝置更靠近介電元件60和導電元件62，所以與待測試的射頻識別裝置12的諧振頻率轉移相比，其他射頻識別裝置的諧振頻率轉移可在量級上極大減小或者完全避免。另一方面，由介電元件60和/或導電元件62引起的諧振頻率的轉移可基本或者主要地限于單個的射頻識別裝置，即待測試的射頻識別裝置12。
作為一個例子，介電元件60和/或導電元件62可以被合適地配置，從而將具有915MHz的最佳工作頻率的天線轉移到2450MHz的最佳工作頻率。
可理解的是以上描述的轉移射頻識別裝置12的最佳工作頻率的概念只是一個更寬泛的概念的例子。更寬泛地，測試可通過轉移一個或多個射頻識別裝置的最佳工作頻率，然后測試射頻識別裝置來完成。所述被測試的裝置可以是(如上所述)使它們的最佳工作頻率轉移的一個或多個射頻識別裝置。或者，可以在一個或多個具有未轉移的頻率(正常的、典型的或普通的頻率)的裝置上進行測試，而其他未測試的射頻識別裝置轉移了頻率。
還可理解的是不同的最佳工作頻率轉移可被提供給待測試的不同射頻識別裝置。為不同的射頻識別裝置變化頻率轉移可便于同時測試多個射頻識別裝置。
此外，可理解的是射頻識別裝置測試器10可具有多個部件，且例如介電元件60和/或導電元件62與測試器10的其他部件分開。
射頻識別裝置測試器10的測試器工作頻率可被選擇，以便提供足夠能量來激活正在被測試的射頻識別裝置12，并避免提供大量的能量給可能產(chǎn)生干擾測試結果的信號的其他射頻識別裝置。如上面的討論提到的，測試器工作頻率可不同于天線30的固有諧振頻率，和/或基本與天線30新的諧振頻率(由于鄰近射頻識別裝置測試器10而轉移的天線30的諧振頻率)相同。
或者，可從適合可操作地耦合測試器10到射頻識別裝置12的廣泛的RF頻率范圍選擇測試器工作頻率。利用的RF頻率可能大于或小于天線固有諧振頻率和/或新的天線諧振頻率(由于測試器10鄰近射頻識別裝置12而轉移的)。但是可以理解的是，偏離新的天線諧振頻率(轉移后的最佳工作頻率)太多的RF頻率可能是不適合的。例如，隨著頻率降低，對于指定的耦合區(qū)域由于電容路徑的阻抗的增加，可能存在適合的RF頻率的較低限制。阻抗的增加可能使得更難以發(fā)送能量到芯片中。作為較低的頻率限制的另一個原因，在芯片32中的內部整流器在它們之后可具有一個積分濾波器，以幫助產(chǎn)生DC電源來運轉芯片32。如果從測試器10接收的入射RF能量的頻率太低，那么該濾波器可能不能夠充分平滑來自整流器的整流后的波形輸出。結果可能是芯片32不可接受的DC電源。
可能也存在測試器的工作頻率的合適RF頻率的上限。隨著頻率增加，芯片32內的整流器效率降低，減少了被轉換成DC能量以運轉芯片32的部分輸入能量。對于合適的工作頻率上限的另一個原因是芯片32可具有大的輸入電容，該輸入電容連同耦合電容器50和52作為分壓器。由于輸入信號的頻率被增加，因此變得更難以耦合能量到射頻識別裝置12中。
根據(jù)特定的示例，耦合元件16和18可以是3mm×20mm的板極。耦合元件16和18與天線元件36和38之間分開的距離可以是大約0.2mm。假設中間的介電材料的相對介電常數(shù)是3，各個電容器50和52的電容是7.97pF。
圖1所示的耦合元件16和18與對應的天線元件36和38的尺寸大致相同。但是可理解的是耦合元件16和18可以大于或小于天線元件36和38(例如如圖2所示)。
可理解的是除了上述顯示和描述那些組件之外，射頻識別裝置測試器10可具有其他的組件。例如，輸出的AC功率信號可包括沿著傳輸線56和58發(fā)送彼此相位相差180度的信號。平衡變換器可被用來產(chǎn)生相位差的RF信號。
作為另一個例子，射頻識別裝置測試器10可具有一個匹配網(wǎng)絡在閱讀器14與傳輸線56和58之間。所述匹配網(wǎng)絡可被用來改變從閱讀器14傳輸?shù)絺鬏斁€56和58的信號的阻抗。例如，閱讀器14的特性阻抗可以是在50歐姆的量級上，而由傳輸線56和58所設定的場的所需阻抗可以是200歐姆。所述匹配網(wǎng)絡可被用于將來自閱讀器14的信號的阻抗變換到傳輸線56和58的所需阻抗。
圖6顯示了射頻識別裝置測試器10與射頻識別裝置12之間的替代的相對方位，其中與圖1和2所示及上述的方位相比，射頻識別裝置12被倒置。在圖6顯示的配置中，射頻識別裝置12的介電襯底40的部分充當電容器50和52的絕緣體。射頻識別裝置測試器10的介電層20(圖1)因此可以省略。
作為另一種的替代，可理解的是氣隙可被用作電容器50和52的絕緣體。射頻識別裝置測試器10和/或射頻識別裝置12可具有結構或其他元件，以在射頻識別裝置測試器10的耦合元件16和18與射頻識別裝置12的天線元件36和38之間保持可重復的氣隙。
現(xiàn)在轉向圖7，射頻識別裝置測試器10可以在卷到卷處理中被用來測試多個射頻識別裝置12，這些射頻識別裝置是成卷材料70的部件或者在材料70上。測試器10可固定位置，隨著各種射頻識別裝置12移動通過測試器10，每次測試一個射頻識別裝置12。成卷材料70可被適當驅動以移動射頻識別裝置12通過測試器10。射頻識別裝置12可連續(xù)移動通過測試器10，或者當每個射頻識別裝置12通過位于射頻識別裝置測試器10之下時，其可停頓以被測試。射頻識別裝置測試器10可被連接到計算機或其他裝置，用于記錄測試各種射頻識別裝置的結果，及使得所述裝置與它們的測試結果匹配。
圖7所示的卷到卷處理可以是制造射頻識別裝置的更大型的卷到卷處理的一部分或可操作地與之相連?？衫斫獾氖巧a(chǎn)射頻識別裝置的卷到卷制造過程可包括許多公知的步驟，例如沉積各種層(例如粘附層、金屬層和/或可印刷層)，改變所述層(例如選擇性地除去金屬層的部件以產(chǎn)生天線)，和/或沉積各種組件(例如芯片)。關于射頻識別裝置的卷到卷制造過程的更多細節(jié)可在美國專利號6451154中找到，在此通過引用該專利并入其全部內容。
射頻識別裝置測試器10的另一個替代配置顯示在圖8中，其中耦合元件16和18和覆蓋耦合元件16和18的介電層20a和20b是輪子76和78的部件。因此，耦合元件16和18與介電層20a和20b可以是環(huán)形或圈形。耦合元件16和18可被耦合到閱讀器14，其耦合方式類似上述關于其他的實施例描述的耦合。
圖8所示的射頻識別裝置測試器10可在固定的一片材料或一卷材料上翻轉，該材料上具有多個待測試的射頻識別裝置12。替代地，隨著成片或成卷射頻識別裝置12的移動，射頻識別裝置測試器10可被保持固定，與輪子76和78接觸。裝置測試器10可有利地幫助保持測試器10的耦合元件16和18與射頻識別裝置12的天線元件36和38之間的一致距離。
射頻識別裝置測試器10的另一個替代的配置顯示在圖9和10中。圖9所示的測試器10允許在卷到卷處理中測試射頻識別裝置12，射頻識別裝置12處于與一對耦合元件極靠近的固定關系中一段最短的時間，即使成卷材料70持續(xù)移動。此外，圖9所示的測試器10有利地使得能夠每次測試多個射頻識別裝置12。
如圖9所示，測試器10包括其上或其中具有多對耦合元件16a、18a、16b、18b、和16c、18c的滾筒80，這些元件沿著或者在滾筒80的外部表面82上。滾筒80的外部表面82的移動速度與成卷材料70的速度相同，使得成卷材料70基本不相對于滾筒80滑動?？衫斫獾氖巧漕l識別裝置12因此保持其位置相對對應的耦合元件對16c和18c一段確定的耦合時間段(只要具有射頻識別裝置12的成卷材料70與滾筒80的外部表面82接觸)。射頻識別裝置12因此可被合適地耦合到對應的耦合元件對16c和18c，持續(xù)一段耦合時間。
可選擇滾筒80和成卷材料70的旋轉速度，以便耦合時間足以允許測試射頻識別裝置12。也可理解的是，對于指定的旋轉速度，使用較大直徑的滾筒導致更長的耦合時間。
各種耦合元件16a-c和18a-c經(jīng)由旋轉接頭86被耦合到具有多個輸出的閱讀器14?？衫斫獾氖邱詈显蓢@滾筒80的外表面82均勻間隔開，其間距對應于成卷材料70上的射頻識別裝置12的間距。在滾筒80上具有多對耦合元件可使得能夠同時測試多個射頻識別裝置12，這有利地加快了測試過程。
參考圖10，成卷材料70可從供應卷90移動到拉緊卷(take-up roll)92。滾筒96和98可與滾筒80結合使用，以保持一部分成卷材料70對著滾筒80。通過一個或多個合適的電動機驅動滾筒80、96和98中的一個或多個，和/或卷90和92中的一個或兩個，成卷材料70可從供應卷90被移動到拉緊卷92。
圖10中所示的卷90和92，及滾筒80、96和98的配置是大量各種合適配置的一個示例說明，合適配置可包括其他的滾筒、機構和/或裝置。
可理解的是在圖9中利用的配置中的射頻識別測試器可具有線圈作為其耦合元件16a-c、18a-c的一部分，因此能夠測試不是高頻率裝置的射頻識別裝置。例如，所示測試器可被配置以測試13.56MHz的射頻識別裝置。因此耦合元件對16a-c、18a-c之間的耦合可以是電容性的，或者可以通過另一個合適的機械裝置。
可理解的射頻識別裝置測試器10的各種實施例也可以被用作閱讀器，以檢測射頻識別裝置12的存在或者接收來自射頻識別裝置12的信息。
還可以理解的是電容地耦合的射頻識別裝置測試器/閱讀器例如如上所述的，可具有各種合適的配置。例如，射頻識別裝置測試器/閱讀器可具有合適形狀的插槽或其他開口，用于接收待測試或讀取的射頻識別裝置，或者用于接收有射頻識別裝置附著或者連接的物體。
如上面提到的，射頻識別裝置可以是標簽或標記的一部分。例如，射頻識別裝置可以是具有芯片附著到導電引線的射頻識別帶，導電引線不起傳統(tǒng)天線的作用。例子包括可從Alien Technologies購得的射頻識別帶和以ICONNECT的名稱銷售的射頻識別帶，其可從PhilipsElectronics獲得。因此所述測試器的各種實施例可適合用于測試一卷射頻識別帶，且射頻識別測試器的導電元件被放置在靠近射頻識別帶的導電引線的位置。
在圖11和圖12中顯示了射頻識別裝置測試系統(tǒng)110的實施例。射頻識別裝置測試系統(tǒng)110包括RF測試器120和測試夾具124。測試夾具124包括變換元件126，其用于變換或改變極靠近測試夾具124的射頻識別裝置12的諧振頻率或最佳工作頻率。變換元件126可包括介電元件128a和128b(圖11)，其減少射頻識別裝置12的天線元件36和38的有效長度?；蛘?，變換元件126可包括導電元件130a和130b(圖12)，其增加射頻識別裝置12的天線元件36和38的有效長度。因此測試夾具124可變換射頻識別裝置12的諧振頻率或最佳工作頻率，變換方式類似上述圖4和5中顯示的射頻識別裝置測試器10的變換方式。諧振頻率或最佳工作頻率的變換可被局部化，并且可基本限于射頻識別裝置卷或片134上的單個射頻識別裝置12。因此測試夾具124能夠使射頻識別裝置被單個測試，盡管它們極鄰近其他基本相同的射頻識別裝置。
RF測試器120可以是讀取射頻識別裝置的傳統(tǒng)RF閱讀器，其通過產(chǎn)生相對遠程的射頻場和檢測射頻場中由于在其中出現(xiàn)射頻識別裝置而發(fā)生的變化來讀取射頻識別裝置。關于合適的RF閱讀器的更多信息可在美國專利號5621199和6172609中找到，這兩個專利在此通過引用并入其全部內容。
通過使RF閱讀器120在對應于測試夾具124中射頻識別裝置12的變換后的諧振頻率或最佳工作頻率的頻率發(fā)射能量，可以測試射頻識別裝置12。因為這個頻率不同于卷或片134上的其他射頻識別裝置的固有諧振頻率，所以與RF測試器120的實質耦合被限制在正在被測試的單個射頻識別裝置12。在測試之后，卷或片134可相對于測試夾具124被變換，允許測試其他的射頻識別裝置。因此遠程非電容耦合可被用于耦合到這種裝置的片或卷上的個體射頻識別裝置。
可理解的是，可以改變圖11和12中顯示的射頻識別裝置測試系統(tǒng)110為適合的系統(tǒng)，改變方式類似為射頻識別裝置測試器10描述的各種變化。例如，測試夾具124可以并入滾筒，以便于使射頻識別裝置測試系統(tǒng)110成為卷到卷處理的一部分。
圖13和圖14顯示了用于測試射頻識別裝置的網(wǎng)202或鑲嵌物204的射頻識別裝置測試系統(tǒng)200的一個示例。測試系統(tǒng)200包括一個近程傳感器210，用于檢測當網(wǎng)202通過測試系統(tǒng)200時，射頻識別裝置行204的位置。近程傳感器210可包括一個或多個元件，它們檢測網(wǎng)202上是否存在導電材料，由此檢測射頻識別裝置204。
測試系統(tǒng)200還包括許多交錯配置的測試器212和許多用于標識進入測試的射頻識別裝置204的標記器214。測試器212在每個射頻識別裝置204上進行測試。測試器212可利用電容耦合，例如上面所描述的。
測試器212的交錯允許足夠的間隔，以使得各個射頻識別裝置204的測試在各種測試器212之間沒有干擾。通過將測試器212放置在交錯的配置中，而不是在行中彼此緊接(例如)，測試器212已經(jīng)增加了彼此之間的距離，便于它們彼此有效的隔離。此外，測試器212的交錯配置可允許各種測試器212進行的測試錯開時間。鄰接的測試器212在不同的時間工作，就減少了鄰接的測試器之間干擾的可能性，進一步增強了測試器212的有效隔離。
近程傳感器210檢測每行射頻識別裝置204的前緣。近程傳感器210在合適的時間被可操作地耦合到測試器212，以觸發(fā)測試器212測試射頻識別裝置204。測試器212進行的測試結果被標記器214用來選擇性地標記某些射頻識別裝置204，例如通過標記測試失敗(例如沒有演示在可接受的參數(shù)內工作)的射頻識別裝置204。測試可包括射頻識別裝置或鑲嵌物204的定性測試。標記器214可包括合適的噴墨標記器。
圖15示出了測試系統(tǒng)200的工作部件的例子。近程傳感器210和測試器212經(jīng)由計算機220(例如合適的個人計算機)通過使用合適的輸入/輸出卡，被可操作地耦合到一起。近程傳感器210包括一對耦合到近程傳感器卡226的個體傳感器222和224，傳感器卡226包括近程傳感器電源和近程傳感器輸入/輸出。近程傳感器222和224可以是Keyence ED-130U近程傳感器，在“與”配置中被連線連在一起。適合的近程傳感器的另一個例子是可從Turck獲得的近程傳感器。近程傳感器卡226可以是適合的RS-232卡。
計算機220可以是各種能夠接收和發(fā)送信號用于控制測試系統(tǒng)200的操作的任何合適的計算系統(tǒng)。除了控制測試器212的操作，計算機220可執(zhí)行其他功能，例如記錄測試結果，例如通過保存連續(xù)的若干一致的射頻識別裝置或鑲嵌物的日志?？山o計算機220提供適合的軟件來實現(xiàn)其目的。
可理解的是計算機可具有各種與其連接的裝置或者部件。例如，計算機220可包括鍵盤、鼠標或者其他允許數(shù)據(jù)輸入和/或允許用戶控制計算機操作的裝置。計算機220可包括顯示器，其顯示例如測試操作的狀態(tài)和/或測試結果。
測試器212包括連接到合適的開關234的測試偶極子230，開關234又連接到計算機220。同軸纜線或其他合適的導體236可被用于連接測試偶極子230到開關234。開關234控制利用各種測試器212的測試時限，例如控制沿著測試偶極子230發(fā)送信號的時限，以將測試偶極子230電容地耦合到射頻識別裝置204。計算機使用來自近程傳感器210的信息控制測試的時限，以便確保射頻識別裝置204在測試過程中相對于測試偶極子230適當定位，并且控制到射頻識別裝置閱讀器238的輸入。
圖15顯示的配置允許多個測試偶極子230到閱讀器238的耦合，允許用單個閱讀器測試多列中的多個射頻識別裝置204。在圖16中，顯示了測試系統(tǒng)200的另一個可能配置。在圖16所示的配置中，裝置閱讀器238具有多個輸入，所以它能夠被直接耦合到多個偶極子230。
測試系統(tǒng)200能夠每秒讀取大約200個射頻識別裝置，每5ms讀取一個射頻識別標簽。
圖17顯示了測試系統(tǒng)200的又一個配置。系統(tǒng)200包括一對計算機240和242，每臺計算機連接到各自的PCI卡244和246。卡244和246各自連接到多個測試器212。可從Feig Electronic公司獲得合適的測試器212。計算機240和242也被連接到各自的近程傳感器250和252。
圖18顯示了系統(tǒng)200的時間安排的一種可能性的時限圖300。近程傳感器210注冊輸入304，輸入304指示網(wǎng)202上的鑲嵌物的檢測。傳感器輸入304定義測試窗口308。在測試窗口308期間，測試器200執(zhí)行各種操作從計算機220到閱讀器238的命令310；從閱讀器238到偶極子230之一的傳輸314，來自射頻識別裝置204的鑲嵌物的響應，從閱讀器238到計算機的響應的傳輸322，以及，如果適用的話，從計算機220發(fā)送信號到標記器214，用于標記已經(jīng)測試失敗的射頻識別裝置。
雖然已經(jīng)就某些實施例顯示和描述了本發(fā)明，但是明顯的是本領域的技術人員在閱讀和理解了本說明書和附圖后可進行相當?shù)淖兓托薷?。特別是關于由上述元件(組件、部件、裝置、構成等等)執(zhí)行的各種功能，用于描述這種元件的術語(包括對“裝置”的參考)是打算對應于，除非另外指出，執(zhí)行上述元件的指定功能的任何元件(也就是功能相當)，即使結構上不相當于所公開的結構，所公開的結構在在此示例的本發(fā)明的實施例中執(zhí)行功能。此外，雖然上面已經(jīng)就僅僅一個或多個示例的實施例描述了本發(fā)明的特殊特征，但這個特征可與其他實施例的一個或多個特征組合，這對于任何指定的或特殊的應用可能是所希望的和有利的。
權利要求
1.一種測試射頻識別裝置的方法，其包括將一個射頻識別裝置測試器電容地耦合到所述射頻識別裝置的天線；從所述射頻識別裝置測試器產(chǎn)生輸出信號；使用所述輸出信號給所述射頻識別裝置供電；在所述射頻識別裝置中產(chǎn)生返回信號；和通過閱讀器檢測返回信號，該閱讀器是所述測試器的一部分。
2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中產(chǎn)生所述輸出信號包括在一個信號頻率處產(chǎn)生所述輸出信號，所述信號頻率不同于所述天線的固有諧振頻率。
3.根據(jù)權利要求2所述的方法，進一步包括，在產(chǎn)生所述輸出信號之前，將所述天線的最佳工作頻率從所述天線的固有諧振頻率轉移到一個轉移后的諧振頻率。
4.根據(jù)權利要求3所述的方法，其中轉移所述最佳工作頻率包括降低所述最佳工作頻率。
5.根據(jù)權利要求4所述的方法，其中降低所述最佳工作頻率包括使介電元件緊緊鄰近所述天線元件。
6.根據(jù)權利要求4所述的方法，其中降低所述最佳工作頻率包括將部分所述天線元件與介電元件重疊。
7.根據(jù)權利要求6所述的方法，其中所述介電元件包括陶瓷材料。
8.根據(jù)權利要求7所述的方法，其中所述陶瓷材料包括一種從四鈦酸鋇和氧化鈦所構成的組中選擇的材料。
9.根據(jù)權利要求4所述的方法，其中降低所述最佳工作頻率包括使導電元件緊緊鄰近所述天線元件。
10.根據(jù)權利要求3所述的方法，其中轉移所述最佳工作頻率包括增加所述最佳工作頻率。
11.根據(jù)權利要求10所述的方法，其中增加所述最佳工作頻率包括使導電元件緊緊鄰近所述天線的天線元件。
12.根據(jù)權利要求3所述的方法，其中所述轉移包括使所述射頻識別裝置和所述測試器的至少一部分緊緊相鄰。
13.根據(jù)權利要求3所述的方法，其中產(chǎn)生所述信號頻率包括產(chǎn)生一個與所述轉移后的諧振頻率基本相同的頻率。
14.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中所述射頻識別裝置測試器包括電連接到所述閱讀器的耦合元件；其中所述射頻識別裝置的所述天線包括天線元件；且其中所述電容地耦合包括對齊所述耦合元件和各自的所述天線元件。
15.根據(jù)權利要求14所述的方法，其中所述耦合元件被附著到一個介電層；且其中所述對齊包括使部分所述介電層在所述耦合元件和所述天線元件之間。
16.根據(jù)權利要求14所述的方法，其中所述耦合元件是一個滾筒的一部分；其中所述射頻識別裝置是一卷材料的一部分；且其中所述對齊包括當所述滾筒旋轉時，將具有所述射頻識別裝置的所述卷材料的所述部分與所述耦合元件對齊。
17.根據(jù)權利要求16所述的方法，其中所述對齊是卷到卷處理的一部分。
18.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中所述射頻識別裝置是其上具有其他射頻識別裝置的一片或一卷材料的一部分。
19.根據(jù)權利要求18的方法，其中所述電容地耦合包括轉移所述射頻識別裝置測試器和所述片或卷的相對位置。
20.根據(jù)權利要求19所述的方法，其中所述轉移包括移動所述片或卷。
21.根據(jù)權利要求20所述的方法，其中所述片或卷是一個卷形物；且其中移動所述卷是卷到卷處理的一部分。
22.根據(jù)權利要求19所述的方法，其中所述轉移包括移動所述射頻識別裝置測試器。
23.根據(jù)權利要求22所述的方法，其中所述射頻識別裝置測試器具有環(huán)狀的耦合元件，且其中移動所述射頻識別裝置測試器包括在所述片或卷之上滾動所述射頻識別裝置測試器。
24.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中檢測所述返回信號包括將所述返回信號從所述天線電容地傳輸?shù)剿錾漕l識別裝置測試器的耦合元件；和將所述返回信號從所述耦合元件轉送到所述閱讀器。
25.根據(jù)權利要求24所述的方法，其中所述轉送包括轉送所述返回信號通過一個耦合到一對傳輸線的電阻，這對傳輸線電連接所述閱讀器和各自的耦合元件。
26.一種測試射頻識別帶的方法，其包括將一個射頻識別裝置測試器電容地耦合到所述射頻識別帶的導電引線；從所述射頻識別裝置測試器產(chǎn)生輸出信號；使用所述輸出信號給所述射頻識別帶供電；在所述射頻識別帶中產(chǎn)生返回信號；和通過閱讀器檢測返回信號，所述閱讀器是所述測試器的一部分。
27.一種射頻識別裝置測試器，其包括一個閱讀器；一對導電的耦合元件；一對傳輸線，其將各自的耦合元件電連接到所述閱讀器；和一個連接到所述兩條傳輸線的電阻，其位于所述閱讀器和所述耦合元件之間。
28.根據(jù)權利要求27所述的裝置測試器，進一步包括在每個所述耦合元件的外部表面上的介電材料。
29.根據(jù)權利要求28所述的裝置測試器，其中所述介電材料是一個介電層的一部分。
30.根據(jù)權利要求27所述的裝置測試器，其中所述耦合元件是基本平的。
31.根據(jù)權利要求27所述的裝置測試器，其中所述耦合元件是環(huán)形的。
32.根據(jù)權利要求27所述的裝置測試器，進一步包括介電元件，其用于轉移緊緊鄰近所述裝置測試器的射頻識別裝置的最佳工作頻率。
33.根據(jù)權利要求32所述的裝置測試器，其中所述介電元件包括陶瓷元件。
34.根據(jù)權利要求27所述的裝置測試器，進一步包括額外的導電元件，其用于轉移緊緊鄰近所述裝置測試器的射頻識別裝置的最佳工作頻率。
35.根據(jù)權利要求27所述的裝置測試器，其與一個射頻識別裝置組合，其中所述射頻識別裝置包括一個電容地耦合到所述耦合元件的天線。
36.根據(jù)權利要求27所述的裝置測試器，其中所述耦合元件是一個滾筒的一部分。
37.根據(jù)權利要求36所述的裝置測試器，其中所述耦合元件在所述滾筒的外部表面上。
38.根據(jù)權利要求37所述的裝置測試器，進一步包括在所述滾筒的外部表面上的額外的多對耦合元件，其中所述額外的多對耦合元件也被耦合到所述閱讀器。
39.根據(jù)權利要求38所述的裝置測試器，其中所述多對耦合元件圍繞所述滾筒的外部表面沿圓周基本均勻地間隔開。
40.根據(jù)權利要求35所述的組合，其中所述天線包括一對天線元件；且其中每個所述天線元件被電容地耦合到各自的所述耦合元件。
41.一種射頻識別裝置和射頻識別裝置測試器的組合，其包括所述射頻識別裝置，其包括具有一對天線元件的天線；和一個可操作地耦合到所述天線的芯片；和所述射頻識別裝置測試器，其包括一個閱讀器；和一對導電的耦合元件，其電連接到所述閱讀器；其中每個所述天線元件都與各自的所述耦合元件電容地耦合，從而形成一對電容器。
42.根據(jù)權利要求41所述的組合，進一步包括介電材料；其中所述介電材料是所述電容器的部件，在所述耦合元件和所述電容器的各自的所述天線元件之間。
43.根據(jù)權利要求42所述的組合，其中所述介電材料是所述射頻識別裝置的部件。
44.根據(jù)權利要求42所述的組合，其中所述介電材料是所述射頻識別裝置測試器的部件。
45.根據(jù)權利要求42所述的組合，其中所述介電材料是整體式介電層的一部分。
46.根據(jù)權利要求42所述的組合，進一步包括將所述耦合元件電連接到所述閱讀器的各自的傳輸線；和一個在所述傳輸線之間的電阻。
47.根據(jù)權利要求42所述的組合，其中所述射頻識別裝置是射頻識別裝置的網(wǎng)的一部分。
48.根據(jù)權利要求42所述的組合，其中所述射頻識別裝置測試器被可操作地耦合到一個感應導電材料是否存在的近程傳感器。
49.根據(jù)權利要求42所述的組合，其中所述射頻識別裝置測試器被可操作地耦合到一個選擇性地標記射頻識別裝置的標記器。
50.一種測試射頻識別裝置的方法，其包括將所述裝置的最佳工作頻率從固有諧振頻率轉移到一個轉移后的諧振頻率；并且在不同于所述固有諧振頻率的頻率讀取所述裝置。
51.根據(jù)權利要求50所述的方法，其中所述讀取包括在大約所述轉移后的諧振頻率讀取所述裝置。
52.根據(jù)權利要求50所述的方法，其中所述轉移包括將所述裝置放置得緊緊鄰近轉移元件，所述轉移元件轉移所述最佳工作頻率。
53.根據(jù)權利要求52所述的方法，其中所述轉移元件包括介電元件。
54.根據(jù)權利要求53所述的方法，其中所述介電元件包括陶瓷材料。
55.根據(jù)權利要求52所述的方法，其中所述轉移元件包括導電元件。
56.根據(jù)權利要求52所述的方法，其中所述轉移元件是一個射頻識別裝置測試器的部件，該射頻識別裝置測試器也讀取所述裝置。
57.根據(jù)權利要求56所述的方法，其中所述讀取包括電容地耦合所述測試器和所述裝置。
58.根據(jù)權利要求52所述的方法，其中所述轉移元件是測試夾具的一部分，該測試夾具與讀取所述裝置的射頻識別裝置測試器間隔開。
59.根據(jù)權利要求58所述的方法，其中所述讀取包括將閱讀器射頻耦合到所述裝置。
60.根據(jù)權利要求52所述的方法，其中所述射頻識別裝置包括一個具有多個天線元件的天線；且其中所述轉移包括至少部分地將所述天線元件與所述轉移元件重疊。
61.根據(jù)權利要求52所述的方法，其中所述轉移包括將所述轉移元件電容地耦合到所述裝置的天線。
62.根據(jù)權利要求52所述的方法，其中所述裝置一個待測的射頻識別裝置在一個具有其他射頻識別裝置的片或卷上；且其中所述放置包括將所述轉移元件放置得比所述其他射頻識別裝置中的任何一個更靠近所述待測的射頻識別裝置。
63.一種測試系統(tǒng)，其用于測試包含多行的網(wǎng)，每行具有多個射頻識別裝置，所述測試系統(tǒng)包括一個檢測所述射頻識別裝置行的近程傳感器；排列的多個測試器，以測試每個所述行的所述多個射頻識別裝置；和一個計算機，其可操作地耦合到所述近程傳感器和所述多個測試器；其中所述計算機接收來自所述近程傳感器的信號，并控制所述測試器的操作。
64.根據(jù)權利要求63所述的測試系統(tǒng)，其中所述測試器在測試過程中被電容地耦合到所述射頻識別裝置。
65.根據(jù)權利要求63所述的測試系統(tǒng)，其中每個所述測試器包括一對導電元件，其被配置得鄰近所述網(wǎng)。
66.根據(jù)權利要求63所述的測試系統(tǒng)，進一步包括一個或多個可操作地連接到所述計算機的標記器，其用于根據(jù)所述測試器進行的測試來選擇性地標記所述射頻識別裝置。
67.根據(jù)權利要求66所述的測試系統(tǒng)，其中所述標記器包括噴墨標記器。
68.根據(jù)權利要求63所述的測試系統(tǒng)，其中所述測試器是相對于所述網(wǎng)交錯配置的，以便一行中不同的射頻識別裝置在不同的時間接近各自的測試器。
69.根據(jù)權利要求63所述的測試系統(tǒng)，其中所述近程傳感器包括一個傳感器，其被配置成檢測在部分所述網(wǎng)上的導電材料是否存在。
70.一種測試射頻識別裝置的網(wǎng)的方法，所述網(wǎng)包括多個行，每行具有多個射頻識別裝置，所述方法包括通過一個近程傳感器來檢測所述網(wǎng)的一行；和通過使用可操作地耦合到所述近程傳感器的各自的測試器，測試所述行的射頻識別裝置。
71.根據(jù)權利要求70所述的方法，其中所述測試包括將所述測試器電容地耦合到所述行的各自射頻識別裝置。
72.根據(jù)權利要求70所述的方法，其中所述測試器是相對于所述網(wǎng)交錯配置的；和所述測試包括在不同的時間測試不同行的射頻識別裝置。
73.根據(jù)權利要求70所述的方法，進一步包括選擇性地標記測試失敗的射頻識別裝置。
74.根據(jù)權利要求73所述的方法，其中所述標記包括用一個或多個噴墨標記器來標記。
75.根據(jù)權利要求70所述的方法，其中所述近程傳感器和所述測試器被可操作地連接到一臺計算機，該計算機接收來自所述近程傳感器的信號，并發(fā)送控制信號給所述測試器。
全文摘要
射頻識別裝置測試器(10)包括多個耦合元件，其用于將閱讀器(14)電容地耦合到待測試的射頻識別裝置(12)。閱讀器(14)通過發(fā)送輸出信號，例如輸出的AC功率信號，來給射頻識別裝置供電，如果射頻識別裝置工作正常，那么所述信號可被射頻識別裝置整流和/或反射。所述輸出信號的頻率可以不同于射頻識別裝置的天線的諧振頻率。射頻識別裝置測試器中的閱讀器檢測被反射和/或被傳輸?shù)男盘?，以確認射頻識別裝置(14)的正常工作。射頻識別裝置測試器(10)可被用作卷到卷處理(80)的一部分，以在成卷材料(70)上單個測試射頻識別裝置。通過利用近程電容耦合，可減少或避免由同時激活多個射頻識別裝置所導致的困難。
文檔編號G06K7/10GK1751327SQ200480004191
公開日2006年3月22日 申請日期2004年2月13日 優(yōu)先權日2003年2月13日
發(fā)明者I·J·福斯特, T·C·威克利, B·金斯頓 申請人:艾利丹尼森公司