專利名稱：測(cè)試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種測(cè)試系統(tǒng)及方法，且特別是有關(guān)于一種將測(cè)試案例標(biāo)準(zhǔn)化及格式化并儲(chǔ)存于知識(shí)庫(kù)中的測(cè)試系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
在科技發(fā)展日新月異的現(xiàn)今時(shí)代中，計(jì)算機(jī)已經(jīng)成為現(xiàn)代人日常生活當(dāng)中不可或缺的工具。尤其是筆記本型計(jì)算機(jī)，其輕薄短小及攜帶性高的特性，更可讓現(xiàn)代人隨時(shí)隨地處理工作，以提供工作效率。
在筆記本型計(jì)算機(jī)出廠前，測(cè)試人員會(huì)根據(jù)客戶所需要的測(cè)試需求來(lái)進(jìn)行筆記本型計(jì)算機(jī)的軟硬件元件的測(cè)試。例如，客戶希望筆記本型計(jì)算機(jī)的VGA的廠牌及驅(qū)動(dòng)程序分別為X及Y，則測(cè)試人員就要檢測(cè)筆記本型計(jì)算機(jī)的VGA廠牌及版本是否為X及Y。然而，目前計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的軟硬件品質(zhì)測(cè)試均需要大量的人力在于模擬終端測(cè)試人員(end user)的操作，并期望找出計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中有缺失的軟硬件元件。而可能會(huì)發(fā)生的缺失，如軟硬件元件應(yīng)安裝但未安裝、軟硬件元件安裝不完全、軟硬件元件本身于運(yùn)作過(guò)程中所發(fā)生的錯(cuò)誤，都會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。
在人工測(cè)試的環(huán)境下，測(cè)試人員依據(jù)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)規(guī)格所產(chǎn)生的測(cè)試案例(test case)逐項(xiàng)檢驗(yàn)每一軟硬件元件，每一軟硬件元件在不同的環(huán)境下有可能產(chǎn)生不同的測(cè)試項(xiàng)目，例如在不同的操作系統(tǒng)語(yǔ)言與版本下，所產(chǎn)生出來(lái)的測(cè)試項(xiàng)目就會(huì)不同。對(duì)應(yīng)于測(cè)試案例的測(cè)試項(xiàng)目可以包括軟硬件元件應(yīng)安裝但未安裝、軟硬件元件安裝不完全、軟硬件元件本身于工作中發(fā)生的錯(cuò)誤及軟硬件元件版本不正確等等。此外，測(cè)試人員必須從待測(cè)機(jī)臺(tái)的系統(tǒng)信息檢查是否有客戶所需求的VGA廠牌及驅(qū)動(dòng)程序。若有，測(cè)試人員判定此測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試(pass)。若沒(méi)有，測(cè)試人員判定此測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試(fail)。
然而，以人工的檢測(cè)方式對(duì)測(cè)試案例進(jìn)行測(cè)試時(shí)，經(jīng)常會(huì)發(fā)生測(cè)試人員對(duì)元件功能及安裝方式的不了解、測(cè)試人員的疏忽、元件在不同的系統(tǒng)環(huán)境下會(huì)產(chǎn)生不同的行為、測(cè)試人員不了解計(jì)算機(jī)系統(tǒng)語(yǔ)言及不同測(cè)試人員對(duì)相同現(xiàn)象有不同的判斷等缺失。另外，過(guò)長(zhǎng)的人工測(cè)試時(shí)程也是一項(xiàng)亟需被改善的缺點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的目的就是在提供一種測(cè)試系統(tǒng)及方法。其將測(cè)試案例與目標(biāo)系統(tǒng)信息格式化，并利用知識(shí)庫(kù)中所記錄的測(cè)試方式進(jìn)行測(cè)試案例所對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試程序。此外，利用知識(shí)庫(kù)中測(cè)試方式的更新，保存與重復(fù)利用，以達(dá)到高效率與高品質(zhì)的測(cè)試程序。
根據(jù)本發(fā)明的目的，提出一種測(cè)試系統(tǒng)，包括測(cè)試案例產(chǎn)生單元、測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)、待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元及測(cè)試判定單元。測(cè)試案例產(chǎn)生單元用以根據(jù)測(cè)試需求而產(chǎn)生測(cè)試案例。測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)與測(cè)試案例產(chǎn)生單元連接，用以根據(jù)測(cè)試案例而提供相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方式，待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元用以采集待測(cè)機(jī)臺(tái)上的系統(tǒng)信息。測(cè)試判定單元與測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)及待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元連接，用以根據(jù)測(cè)試方式檢查系統(tǒng)信息中是否有測(cè)試項(xiàng)目，而判定測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試或未通過(guò)測(cè)試。
當(dāng)測(cè)試判定單元根據(jù)測(cè)試方式檢查出系統(tǒng)信息中有測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，測(cè)試判定單元系判定測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試。
當(dāng)測(cè)試判定單元根據(jù)測(cè)試方式檢查出系統(tǒng)信息中沒(méi)有測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，測(cè)試判定單元系判定測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試。
根據(jù)本發(fā)明的目的，提出一種測(cè)試方法。首先，根據(jù)測(cè)試需求而產(chǎn)生測(cè)試案例。接著，根據(jù)測(cè)試案例而提供相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方式。然后，采集一待測(cè)機(jī)臺(tái)上的系統(tǒng)信息。接著，根據(jù)測(cè)試方式檢查系統(tǒng)信息中是否有測(cè)試項(xiàng)目。
當(dāng)系統(tǒng)信息中被檢查出有測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，判定測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試。
當(dāng)系統(tǒng)信息中被檢查出沒(méi)有測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，判定測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試。


第1圖繪示乃依照本發(fā)明的實(shí)施例一的測(cè)試系統(tǒng)的示意圖。
第2圖繪示乃依照本發(fā)明的實(shí)施例二的測(cè)試方法的流程圖。

1測(cè)試案例產(chǎn)生單元2測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)3待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元4測(cè)試判定單元4a比較單元4b測(cè)試報(bào)告產(chǎn)生單元5圖形用戶接口10測(cè)試系統(tǒng)具體實(shí)施方式
為讓本發(fā)明的上述目的、特征、和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉一較佳實(shí)施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說(shuō)明如下實(shí)施例一請(qǐng)參照第1圖，其繪示乃依照本發(fā)明的實(shí)施例一的測(cè)試系統(tǒng)的示意圖。在第1圖中，測(cè)試系統(tǒng)10包括測(cè)試案例產(chǎn)生單元1、測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2、待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元3、測(cè)試判定單元4及圖形用戶接口(graphic userinterface，GUI)5，測(cè)試案例產(chǎn)生單元1用以根據(jù)客戶所提供的測(cè)試需求(test plan)TP而產(chǎn)生至少一個(gè)符合測(cè)試系統(tǒng)10所需要的測(cè)試案例(testcase)TC。測(cè)試需求可以是客戶所提供的口述、文件檔案或網(wǎng)絡(luò)傳真數(shù)據(jù)，其記載客戶希望測(cè)試所生產(chǎn)出來(lái)的待測(cè)機(jī)臺(tái)是否合乎客戶需求。例如，測(cè)試案例TC記載客戶所需求的筆記本型計(jì)算機(jī)的VGA廠牌及版本為X及Y，則測(cè)試系統(tǒng)1可以通過(guò)測(cè)試案例TC檢測(cè)所生產(chǎn)的筆記本型計(jì)算機(jī)的VGA的廠牌及版本是否為X及Y。若符合，表示所生產(chǎn)的筆記本型計(jì)算機(jī)合乎客戶的需求。若不符合，表示所生產(chǎn)的筆記本型計(jì)算機(jī)不合乎客戶的需求。然而，由于每一家客戶的測(cè)試需求的標(biāo)準(zhǔn)及格式不同，測(cè)試人員系可通過(guò)測(cè)試案例產(chǎn)生單元1將每一家客戶的測(cè)試需求輸入或轉(zhuǎn)文件成測(cè)試系統(tǒng)10所能夠使用的測(cè)試案例，以達(dá)到測(cè)試案例標(biāo)準(zhǔn)化及格式化的目的。
測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2系由測(cè)試人員以長(zhǎng)年累月的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)所建立的知識(shí)庫(kù)，與測(cè)試案例產(chǎn)生單元1相連接，其用以根據(jù)測(cè)試案例TC而至少提供相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目(test item)TI及測(cè)試方式(test method)TM。測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2系可儲(chǔ)存許多相對(duì)于測(cè)試案例TC的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方式，例如相對(duì)應(yīng)的「VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌為X」的測(cè)試項(xiàng)目及「如何從待測(cè)機(jī)臺(tái)中的系統(tǒng)信息中找出VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌」的測(cè)試方式和相對(duì)應(yīng)的「VGA驅(qū)動(dòng)程序的版本為Y」的測(cè)試項(xiàng)目及「如何從待測(cè)機(jī)臺(tái)中的系統(tǒng)信息中找出VGA驅(qū)動(dòng)程序的版本」的測(cè)試方式。
待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元3用以采集一待測(cè)機(jī)臺(tái)上的系統(tǒng)信息SI，系統(tǒng)數(shù)據(jù)SI將列出待機(jī)機(jī)臺(tái)上所有軟件及硬件的初始數(shù)據(jù)(raw data)，其包含待測(cè)機(jī)臺(tái)上的VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌及版本等等。測(cè)試判定單元4用以根據(jù)測(cè)試方式TM檢查系統(tǒng)信息SI中是否有測(cè)試項(xiàng)目TI，而判定測(cè)試項(xiàng)目TI通過(guò)測(cè)試(pass)或未通過(guò)測(cè)試(fail)，其分別與測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2及待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元3相連接。首先，測(cè)試判定單元4根據(jù)「如何從待測(cè)機(jī)臺(tái)中的系統(tǒng)信息中找出VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌」的測(cè)試方式檢查系統(tǒng)信息SI中是否存有為X的VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌的初始數(shù)據(jù)。接著，測(cè)試判定單元4根據(jù)「如何從待測(cè)機(jī)臺(tái)中的系統(tǒng)信息中找出VGA驅(qū)動(dòng)程序的版本」的測(cè)試方式檢查系統(tǒng)信息SI中是否存有為Y的VGA驅(qū)動(dòng)程序的版本的初始數(shù)據(jù)。
當(dāng)測(cè)試判定單元4根據(jù)測(cè)試方式TM檢查出系統(tǒng)信息SI中有測(cè)試項(xiàng)目TI時(shí)，測(cè)試判定單元4系判定測(cè)試項(xiàng)目TI通過(guò)測(cè)試。當(dāng)測(cè)試判定單元4根據(jù)測(cè)試方式TM檢查出系統(tǒng)信息SI中沒(méi)有測(cè)試項(xiàng)目TI時(shí)，測(cè)試判定單元4系判定測(cè)試項(xiàng)目TI未通過(guò)測(cè)試。當(dāng)測(cè)試判定單元4判定測(cè)試項(xiàng)目TI通過(guò)或未通過(guò)測(cè)試時(shí)，測(cè)試判定單元4更據(jù)以產(chǎn)生表示測(cè)試項(xiàng)目TI通過(guò)或未通過(guò)測(cè)試的測(cè)試報(bào)告TR。如此一來(lái)，客戶可以從測(cè)試報(bào)告TR中知道為待測(cè)機(jī)臺(tái)的筆記本型計(jì)算機(jī)是否合乎客戶的需求。
在此舉例說(shuō)明上述的測(cè)試判定單元4的比較過(guò)程。首先，測(cè)試判定單元4根據(jù)「如何從待測(cè)機(jī)臺(tái)中的系統(tǒng)信息中找出VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌」的測(cè)試方式檢查系統(tǒng)信息SI中是否存有為X的VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌的初始數(shù)據(jù)。若測(cè)試判定單元4檢查出系統(tǒng)信息SI中有為X的VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌的初始數(shù)據(jù)時(shí)，測(cè)試判定單元4系判定「VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌為X」的測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試。若測(cè)試判定單元4檢查不出系統(tǒng)信息SI中有為X的VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌的初始數(shù)據(jù)、或測(cè)試判定單元4檢查不到系統(tǒng)信息SI中的VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌的初始數(shù)據(jù)時(shí)，測(cè)試判定單元4系判定「VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌為X」的測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試。
接著，測(cè)試判定單元4根據(jù)「如何從待測(cè)機(jī)臺(tái)中的系統(tǒng)信息中找出VGA驅(qū)動(dòng)程序的版本」的測(cè)試方式檢查系統(tǒng)信息SI中是否存有為Y的VGA驅(qū)動(dòng)程序的版本的初始數(shù)據(jù)。若有，測(cè)試判定單元4系判定「VGA驅(qū)動(dòng)程序的版本為Y」的測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試。若沒(méi)有，測(cè)試判定單元4系判定「VGA驅(qū)動(dòng)程序的版本為Y」的測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試。之后，當(dāng)測(cè)試判定單元4判定完所有的測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)或未通過(guò)測(cè)試時(shí)，測(cè)試判定單元4更據(jù)以產(chǎn)生表示所有測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)或未通過(guò)測(cè)試的測(cè)試報(bào)告。測(cè)試報(bào)告TR系記載「VGA驅(qū)動(dòng)程序的廠牌為X」的測(cè)試項(xiàng)目及「VGA驅(qū)動(dòng)程序的版本為Y」的測(cè)試項(xiàng)目是否通過(guò)測(cè)試的數(shù)據(jù)，以提供給客戶參考。
在本實(shí)施例中，測(cè)試判定單元4還包括比較單元4a及測(cè)試報(bào)告產(chǎn)生單元4b。比較單元4a用以根據(jù)測(cè)試方式TM檢查系統(tǒng)信息SI中是否存有測(cè)試項(xiàng)目TI，而判定測(cè)試項(xiàng)目TI通過(guò)測(cè)試或未通過(guò)測(cè)試，并輸出表示表示測(cè)試項(xiàng)目TI通過(guò)測(cè)試或未通過(guò)測(cè)試的測(cè)試結(jié)果TS。測(cè)試報(bào)告產(chǎn)生單元4b與比較單元4a相連接，用以于比較單元4a判定測(cè)試項(xiàng)目TI通過(guò)測(cè)試或未通過(guò)測(cè)試時(shí)，根據(jù)測(cè)試結(jié)果TS產(chǎn)生表示測(cè)試項(xiàng)目TI通過(guò)測(cè)試或未通過(guò)測(cè)試的測(cè)試報(bào)告TR。
測(cè)試判定單元4更具有測(cè)試項(xiàng)目解析功能及知識(shí)庫(kù)控制功能。一方面，通過(guò)測(cè)試項(xiàng)目解析功能，測(cè)試判定單元4可以將測(cè)試項(xiàng)目TI轉(zhuǎn)文件成更適合與待測(cè)機(jī)臺(tái)的系統(tǒng)信息SI比對(duì)之?dāng)?shù)據(jù)，使得測(cè)試判定單元4更容易判定測(cè)試項(xiàng)目TI是否通過(guò)測(cè)試。另一方面，通過(guò)知識(shí)庫(kù)控制功能，測(cè)試判定單元4可以從測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2中取得相對(duì)于測(cè)試項(xiàng)目TI的測(cè)試方式TM。
此外，當(dāng)測(cè)試判定單元4判定測(cè)試項(xiàng)目TI未通過(guò)測(cè)試時(shí)，有可能是真正的測(cè)試未通過(guò)的結(jié)果，也有可能是測(cè)試判定單元4不知道怎樣檢查出系統(tǒng)信息SI中是否有測(cè)試項(xiàng)目之結(jié)果。此時(shí)，若是測(cè)試判定單元4不知道怎樣檢查出系統(tǒng)信息SI中是否有測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，測(cè)試人員可以從測(cè)試結(jié)果TS或測(cè)試報(bào)告得知。為了讓測(cè)試判定單元4根據(jù)合適的測(cè)試方式檢測(cè)出系統(tǒng)信息中是否有測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試人員可以通過(guò)圖形用戶接口5輸入相對(duì)于測(cè)試項(xiàng)目TI的新的測(cè)試方式TM1，測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2將新增及儲(chǔ)存測(cè)試方式TM1?；蛘呤?，為了新增測(cè)試案例所對(duì)應(yīng)的新的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方式，測(cè)試人員可以通過(guò)圖形用戶接口5輸入新的相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目TI2及測(cè)試方式TM2，測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2將新增及儲(chǔ)存測(cè)試項(xiàng)目TI2及測(cè)試方式TM2。如此一來(lái)，可以達(dá)到更新測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2中的對(duì)應(yīng)于測(cè)試案例的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方式的目的。其中，圖形用戶接口5系與測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2相連接。
本實(shí)施例的知識(shí)庫(kù)的建立，可以根據(jù)不同的測(cè)試案例而提供相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方式，可以避免產(chǎn)生傳統(tǒng)上因利用測(cè)試人員的人工測(cè)試而產(chǎn)生的缺失，如測(cè)試人員對(duì)元件功能及安裝方式的不了解、測(cè)試人員的疏忽、元件在不同的系統(tǒng)環(huán)境下會(huì)產(chǎn)生不同的行為、測(cè)試人員不了解計(jì)算機(jī)系統(tǒng)語(yǔ)言及不同測(cè)試人員對(duì)相同現(xiàn)象有不同的判斷等缺失。另外，通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試的設(shè)計(jì)，更可以節(jié)省測(cè)試時(shí)程。所以，本實(shí)施例將測(cè)試案例與目標(biāo)系統(tǒng)信息格式化，并利用知識(shí)庫(kù)中所記錄的測(cè)試方式進(jìn)行測(cè)試案例所對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試程序。此外，本實(shí)施例利用知識(shí)庫(kù)中測(cè)試方式的更新，保存與重復(fù)利用，以達(dá)到高效率與高品質(zhì)的測(cè)試程序。
實(shí)施例二請(qǐng)參照第2圖，其繪示乃依照本發(fā)明的實(shí)施例二的測(cè)試方法的流程圖。并請(qǐng)參考第1圖，在第2圖中，首先，在步驟11中，測(cè)試案例產(chǎn)生單元1根據(jù)客戶所提供的測(cè)試需求TP而產(chǎn)生適合測(cè)試系統(tǒng)10測(cè)試的測(cè)試案例TC。接著，進(jìn)入步驟12中，測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2根據(jù)測(cè)試案例TC而提供相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目TI及測(cè)試方式TM。然后，進(jìn)入步驟13中，待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元3用以采集待測(cè)機(jī)臺(tái)上的系統(tǒng)信息SI。接著，進(jìn)入步驟14中，測(cè)試判定單元4根據(jù)測(cè)試方式TM檢查系統(tǒng)信息SI中是否有測(cè)試項(xiàng)目TI。
當(dāng)系統(tǒng)信息SI中被檢查出有測(cè)試項(xiàng)目TI時(shí)，進(jìn)入步驟15a中，判定測(cè)試項(xiàng)目TI通過(guò)測(cè)試。接著，進(jìn)入步驟16a中，產(chǎn)生表示測(cè)試項(xiàng)目TI通過(guò)測(cè)試的測(cè)試報(bào)告TR。
當(dāng)系統(tǒng)信息SI中被檢查出沒(méi)有測(cè)試項(xiàng)目TI時(shí)，進(jìn)入步驟15b中，判定測(cè)試項(xiàng)目TI未通過(guò)測(cè)試。接著，進(jìn)入步驟16b中，產(chǎn)生表示測(cè)試項(xiàng)目TI未通過(guò)測(cè)試的測(cè)試報(bào)告TR。
在本實(shí)施例中，于測(cè)試項(xiàng)目TI被判定未通過(guò)測(cè)試時(shí)，通過(guò)圖形用戶接口5輸入相對(duì)于測(cè)試項(xiàng)目TI的測(cè)試方式TM1，并儲(chǔ)存測(cè)試方式TM1于測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2中?；蛘呤牵S時(shí)地通過(guò)圖形用戶接口5輸入相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目TI2及測(cè)試方式TM2，并儲(chǔ)存測(cè)試項(xiàng)目TI2及測(cè)試方式TM2于測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)2中。另外，客戶根據(jù)測(cè)試報(bào)告TR可以知道待測(cè)機(jī)臺(tái)是否合乎客戶的需求。
本發(fā)明上述實(shí)施例所揭露的測(cè)試系統(tǒng)及方法，其將測(cè)試案例標(biāo)準(zhǔn)化及格式化，并儲(chǔ)存于知識(shí)庫(kù)中。并且，知識(shí)庫(kù)中的測(cè)試案例將隨著測(cè)試次數(shù)的增加而增加與修正。利用標(biāo)準(zhǔn)化后的測(cè)試案例產(chǎn)生的知識(shí)庫(kù)使用軟件自動(dòng)化的方法對(duì)待測(cè)機(jī)臺(tái)中的元件進(jìn)行測(cè)試，可以有效的提升測(cè)試效率，并且去除測(cè)試人員判斷錯(cuò)誤的機(jī)會(huì)，更可累積測(cè)試人員對(duì)于元件測(cè)試知識(shí)。如此一來(lái)，可以達(dá)到高效率與高品質(zhì)的測(cè)試程序。
綜上所述，雖然本發(fā)明已以一較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視所附的權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試系統(tǒng)，包括測(cè)試案例產(chǎn)生單元，用以根據(jù)測(cè)試需求而產(chǎn)生測(cè)試案例；測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)，與該測(cè)試案例產(chǎn)生單元連接，用以根據(jù)該測(cè)試案例而提供相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方式；待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元，用以采集待測(cè)機(jī)臺(tái)上的系統(tǒng)信息；以及測(cè)試判定單元，與該測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)及該待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元連接，用以根據(jù)該測(cè)試方式檢查該系統(tǒng)信息中是否有該測(cè)試項(xiàng)目，而判定該測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試或未通過(guò)測(cè)試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中當(dāng)該測(cè)試判定單元根據(jù)該測(cè)試方式檢查出該系統(tǒng)信息中有該測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，該測(cè)試判定單元系判定該測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試；當(dāng)該測(cè)試判定單元根據(jù)該測(cè)試方式檢查出該系統(tǒng)信息中沒(méi)有該測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，該測(cè)試判定單元系判定該測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中當(dāng)該測(cè)試判定單元判定該測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試時(shí)，該測(cè)試判定單元還產(chǎn)生表示該測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試的測(cè)試報(bào)告。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中當(dāng)該測(cè)試判定單元判定該測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試時(shí)，該測(cè)試判定單元還產(chǎn)生表示該測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試的測(cè)試報(bào)告。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng)，還包括圖形用戶接口，與該測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)連接，用以于該測(cè)試判定單元判定該測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試時(shí)，供測(cè)試人員輸入相對(duì)于該測(cè)試項(xiàng)目的第一測(cè)試方式，該測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)將儲(chǔ)存該第一測(cè)試方式。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng)，還包括圖形用戶接口，與該測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)連接，用以供測(cè)試人員輸入相對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試項(xiàng)目及第一測(cè)試方式，該測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)將儲(chǔ)存該第一測(cè)試項(xiàng)目及該第一測(cè)試方式。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中該測(cè)試判定單元還包括比較單元，用以根據(jù)該測(cè)試方式檢查該系統(tǒng)信息中是否存有該測(cè)試項(xiàng)目，而判定該測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試或未通過(guò)測(cè)試；以及測(cè)試報(bào)告產(chǎn)生單元，與該比較單元連接，用以于該比較單元判定該測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試或未通過(guò)測(cè)試時(shí)產(chǎn)生表示該測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試或未通過(guò)測(cè)試的測(cè)試報(bào)告。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試系統(tǒng)，其中當(dāng)該比較單元根據(jù)該測(cè)試方式檢查出該系統(tǒng)信息中存有該測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，該比較單元系判定該測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試；當(dāng)該比較單元根據(jù)該測(cè)試方式檢查出該系統(tǒng)信息中沒(méi)有該測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，該比較單元系判定該測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)試系統(tǒng)，還包括圖形用戶接口，與該測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)連接，用以于該測(cè)試判定單元判定該測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試時(shí)，供測(cè)試人員輸入相對(duì)于該測(cè)試項(xiàng)目的第一測(cè)試方式，該測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)將儲(chǔ)存該第一測(cè)試方式。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)試系統(tǒng)，還包括圖形用戶接口，與該測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)連接，用以供測(cè)試人員輸入相對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試項(xiàng)目及第一測(cè)試方式，該測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)將儲(chǔ)存該第一測(cè)試項(xiàng)目及該第一測(cè)試方式。
11.一種測(cè)試方法，包括根據(jù)測(cè)試需求而產(chǎn)生測(cè)試案例；根據(jù)該測(cè)試案例而提供相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方式；采集待測(cè)機(jī)臺(tái)上的系統(tǒng)信息；以及根據(jù)該測(cè)試方式檢查該系統(tǒng)信息中是否有該測(cè)試項(xiàng)目。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測(cè)試方法，還包括當(dāng)該系統(tǒng)信息中被檢查出有該測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，判定該測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試；以及當(dāng)該系統(tǒng)信息中被檢查出沒(méi)有該測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，判定該測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的測(cè)試方法，還包括當(dāng)該測(cè)試項(xiàng)目被判定通過(guò)測(cè)試時(shí)，產(chǎn)生表示該測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試的測(cè)試報(bào)告。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測(cè)試方法，還包括當(dāng)該測(cè)試項(xiàng)目被判定未通過(guò)測(cè)試時(shí)，產(chǎn)生表示該測(cè)試項(xiàng)目未通過(guò)測(cè)試的測(cè)試報(bào)告。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測(cè)試方法，還包括于該測(cè)試項(xiàng)目被判定未通過(guò)測(cè)試時(shí)，輸入相對(duì)于該測(cè)試項(xiàng)目的第一測(cè)試方式，并儲(chǔ)存該第一測(cè)試方式。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測(cè)試方法，還包括輸入相對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試項(xiàng)目及第一測(cè)試方式，并儲(chǔ)存該第一測(cè)試項(xiàng)目及該第一測(cè)試方式。
全文摘要
一種測(cè)試系統(tǒng)，包括測(cè)試案例產(chǎn)生單元、測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)、待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元及測(cè)試判定單元。測(cè)試案例產(chǎn)生單元用以根據(jù)測(cè)試需求而產(chǎn)生測(cè)試案例。測(cè)試項(xiàng)目暨方式知識(shí)庫(kù)用以根據(jù)測(cè)試案例而提供相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方式，待測(cè)機(jī)臺(tái)信息采集單元用以采集待測(cè)機(jī)臺(tái)上的系統(tǒng)信息。測(cè)試判定單元用以根據(jù)測(cè)試方式檢查系統(tǒng)信息中是否有測(cè)試項(xiàng)目，而判定測(cè)試項(xiàng)目通過(guò)測(cè)試或未通過(guò)測(cè)試。
文檔編號(hào)G06F11/22GK1801133SQ20041008177
公開日2006年7月12日 申請(qǐng)日期2004年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月31日
發(fā)明者徐志仁, 陳達(dá)倫 申請(qǐng)人:廣達(dá)電腦股份有限公司