專利名稱：分析電子電路的分析方法/裝置、計(jì)算機(jī)可讀程序記錄介質(zhì)以及程序提供方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及分析諸如開關(guān)整流器電路的電子電路的特性的電子電路分析方法和分析裝置，還涉及計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)，用于在其上存儲(chǔ)可由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的電子電路分析方法，本發(fā)明還涉及提供使計(jì)算機(jī)能執(zhí)行電子電路分析方法的程序的方法。
總體上講，電子電路的特性隨著這些電子電路中所用的集成電路(IC)和電子元(器)件、電子電路的整體結(jié)構(gòu)、所工作的頻率范圍等變化很大。
例如，開關(guān)整流器電路是由開關(guān)整流器和外部電子元件構(gòu)成。開關(guān)整流器(SW整流器)構(gòu)成了開關(guān)整流電路(SW整流器電路)，并且對(duì)應(yīng)于一個(gè)用來控制SW整流器電路輸出電壓的控制IC。正象此種控制IC，存在有不含開關(guān)電路的IC和含開關(guān)電路的另一種IC(以下稱“SW整流器控制IC”)。外部電子元件還提供外部SW整流器控制IC。SW整流器控制IC的特性根據(jù)用戶的使用狀態(tài)和外部電子元件的特性，特別是輸入電壓、輸出電壓和輸出電流的不同而大不相同。結(jié)果，設(shè)計(jì)產(chǎn)品的一個(gè)主要任務(wù)就是找出對(duì)用戶所用的條件下呈最佳狀態(tài)的SW整流控制IC和外部電子元件。
以下是一種傳統(tǒng)的分析含有SW整流器控制IC及其外部電子元件的SW整流器電路的方法，以找出最佳SW整流器控制IC和最佳外部電子元件。也就是說，在實(shí)際產(chǎn)品中(即實(shí)際SW整流控制IC)，諸如線圈和電容器的實(shí)際電子元件被替換以構(gòu)成SW整流器電路。然后，通過使用評(píng)估裝置來評(píng)估此SW整流器電路的實(shí)際特性。
換言之，為了分析SW整流器電路，就要實(shí)際購買產(chǎn)品及電子元件，并制造用于評(píng)估此SW整流器電路特性的印刷電路板。隨后，用焊接工具替換在印刷板上的產(chǎn)品及電子元件，并由評(píng)估裝置評(píng)估其實(shí)際特性。
但在上述常規(guī)的SW整流器電路的分析方法中，為了評(píng)估SW整流器，必須購買產(chǎn)品(即SW整流器)和各種電子元件。還必須制造用于實(shí)際評(píng)估產(chǎn)品特性的印刷電路板。此外，此常規(guī)分析方法還有以下問題。即用焊接工具替換電子元件非常麻煩且制備評(píng)估裝置以及實(shí)際上評(píng)估產(chǎn)品的特性耗時(shí)很多。
另外，在買到一個(gè)實(shí)際產(chǎn)品后，所購產(chǎn)品的特性也只是該產(chǎn)品的一種正常的特性。而無法評(píng)估此購買的產(chǎn)品在其較差的情況下的特性。
如上所述，分析SW整流電路特別困難，因?yàn)殡娐费b置復(fù)雜且此SW整流電路的特性也復(fù)雜。在其它情況下還存在類似的問題，即分析不是SW整流電路時(shí)的電子電路時(shí)的問題。
本發(fā)明是用于解決傳統(tǒng)電子電路分析裝置的上述問題的，因此，其一個(gè)目的在于提供一種分析方法和一種分析裝置，它能夠分析電子電路，并且還提供一種計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)，用于在其上記錄由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的電子電路分析方法的程序，本發(fā)明還提供一種方法，以提供能使計(jì)算機(jī)執(zhí)行電子電路分析方法的程序，以輕易而有效的地分析電子電路。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種分析方法和分析裝置，能分析開關(guān)整流器電路的特性，還提供一種計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)，用于在其上記錄用于由計(jì)算機(jī)所執(zhí)行的SW整流器電路的程序，本發(fā)明還提供一種方法，用于提供能由計(jì)算機(jī)執(zhí)行SW整流器電路分析方法的程序，以穩(wěn)定有效地分析開關(guān)整流器電路。
根據(jù)本發(fā)明，提供一種電子電路分析裝置，其特征在于包括電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，用于在其中存儲(chǔ)與多個(gè)電子電路有關(guān)的數(shù)據(jù)；電子電路選擇裝置，用于從與所述電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子電路中選擇所要的電子電路；元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，用于在其中存儲(chǔ)用在電子電路中的諸如線圈和電容的多個(gè)電子元件有關(guān)的數(shù)據(jù)；元件選擇裝置，用于從與所述元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子元件中選擇用在電子電路中的一個(gè)或多個(gè)電子元件；工作分析模式指定裝置，用于指定電子電路的工作的分析模式；特性分析裝置，用于根據(jù)由所述工作分析模式指定裝置所指定的工作分析模式，在由所述元件選擇裝置選擇的電子元件的基礎(chǔ)上，分析由所述電子電路選擇裝置選擇的電子電路的特性；以及分析結(jié)果顯示裝置，用于顯示由所述特性分析裝置所給出的分析結(jié)果。
電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，用于在其中存儲(chǔ)與多個(gè)電子電路有關(guān)的數(shù)據(jù)；電子電路選擇裝置，用于從與電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子電路中選擇所要的電子電路；元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，用于在其中存儲(chǔ)用在電子電路中的諸如線圈和電容的多個(gè)電子元件有關(guān)的數(shù)據(jù)；元件選擇裝置，用于從與元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子元件中選擇用在電子電路中的一個(gè)或多個(gè)電子元件；工作分析模式指定裝置，用于指定電子電路的工作的分析模式；特性分析裝置，用于根據(jù)由工作分析模式指定裝置所指定的工作分析模式，在由元件選擇裝置選擇的電子元件的基礎(chǔ)上，分析由所述電子電路選擇裝置選擇的電子電路的特性；以及分析結(jié)果顯示裝置，用于顯示由特性分析裝置所給出的分析結(jié)果。以此電路結(jié)構(gòu)，通過選擇電子電路、選擇電子元件并指定分析模式，來分析電子電路的特性。
上述電子電路分析裝置還可包括負(fù)載設(shè)定裝置，用于設(shè)定在電子電路中所含的負(fù)載；特性分析裝置根據(jù)由工作分析模式指定裝置所指定的工作分析模式，在由元件選擇裝置選定的電子元件和由負(fù)載設(shè)定裝置設(shè)定的負(fù)載的基礎(chǔ)上，分析由電子電路選擇裝置選擇的電子電路的特性；以此電路結(jié)構(gòu)，可輕易地分析諸如SW整流器的電子電路的工作。
上述電子電路分析裝置還可包括電子電路顯示裝置，用于顯示與由電子電路選擇裝置所選的電子電路的電路結(jié)構(gòu)有關(guān)的內(nèi)容，并顯示一列電子元件，它可通過指定一個(gè)顯示的電子元件而選作指定電子元件，且元件選擇裝置不是從元件列中選一個(gè)所要元件而是從由電子電路顯示裝置顯示的元件列中選擇一個(gè)所要的電子元件，或者設(shè)定一個(gè)指定的電子元件的所要的特性。以此電路結(jié)構(gòu)，可以觀看電子電路的電路結(jié)構(gòu)，使它可以輕易地選擇電子元件。
上述電子電路分析裝置還可包括一個(gè)電子電路顯示裝置，用于顯示所顯示的電子元件的值，以此電路結(jié)構(gòu)，用戶可以看到構(gòu)成電子電路的電子元件的值。
上述電子電路分析裝置可使工作分析模式指定裝置指定當(dāng)接通電源時(shí)與響應(yīng)特性有關(guān)的分析模式的工作分析模式，或電源改變時(shí)與瞬態(tài)響應(yīng)有關(guān)的分析模式的工作分析模式和負(fù)載改變時(shí)的瞬態(tài)響應(yīng)特性的工作分析模式；且分析結(jié)果顯示裝置顯示由特性分析裝置所給出的作為響應(yīng)波形輸出的分析結(jié)果，橫軸為時(shí)問軸。以此電路結(jié)構(gòu)，可輕易地分析瞬態(tài)響應(yīng)。
上述電子電路的分析裝置可使工作分析指定裝置，指定在用負(fù)載作為參數(shù)時(shí)與輸出電壓特性和效率特性有關(guān)的分析模式的工作分析模式，且分析結(jié)果顯示裝置顯示由特性分析裝置所給出的分析結(jié)果，其橫軸作為輸出電流或負(fù)載電阻值。以此電路結(jié)構(gòu)，可在用負(fù)載作參數(shù)的同時(shí)輕易地分析與諸如SW整流器電路的輸出電壓特性和電子電路的效率特性有關(guān)的數(shù)據(jù)。
上述電子電路的分析裝置還可使分析結(jié)果顯示裝置在分析電子電路工作的同時(shí)顯示在電子電路中流過的電流超過電子電路中所用的電子元件的額定電流值時(shí)的警告信息。以此電路結(jié)構(gòu)，可避免出現(xiàn)過流的危險(xiǎn)。
上述電子電路的分析裝置還可使特性分析裝置分析在電子電路選擇裝置所選的電子電路的特性中由電子電路制造的不同引起的改變使電子電路在正常特性和最壞特性下的情況。以此電路結(jié)構(gòu)，不僅可以考慮正常狀態(tài)，而且還可以考慮最壞的狀態(tài)。
上述電子電路分析裝置還可包括溫度指定裝置，用于在進(jìn)行分析操作時(shí)指定溫度，且特性分析裝置在由溫度指定裝置指定的溫度基礎(chǔ)上分析電子電路的特性。以此電路結(jié)構(gòu)，可以在考慮了電子電路工作溫度的情況下分析特性。
上述電子電路分析裝置可使元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置包括元件數(shù)據(jù)增加裝置，用于增加與新電子元件有關(guān)的數(shù)據(jù)。以此電路結(jié)構(gòu)，可以增加與電子元件有關(guān)的新數(shù)據(jù)。
上述電子電路分析裝置還可使電子電路為一開關(guān)整流器電路，或由控制開關(guān)整流器電路的集成電路和外部元件組成的電子電路。以此電路結(jié)構(gòu)，其工作分析有麻煩的開關(guān)整流器電路的工作可輕易地得到分析。
上述電子電路分析裝置使與開關(guān)整流器電路控制集成電路的結(jié)構(gòu)有關(guān)的數(shù)據(jù)和與元件值有關(guān)的數(shù)據(jù)以能防止未授權(quán)者解密的格式存儲(chǔ)在電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中。以此電路結(jié)構(gòu)，可防止未經(jīng)授權(quán)對(duì)數(shù)據(jù)的訪問。
上述電子電路分析裝置可使電子電路選擇裝置選擇由與電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子電路中的多個(gè)電子電路組合而成的組合電路。該組合電路是由多個(gè)電子電路構(gòu)成的串聯(lián)電路，并聯(lián)電路或串/并聯(lián)電路。組合電路可以是多個(gè)開關(guān)整流器電路的組合。該組合電路可以是裝有開關(guān)整流器電路和電壓整流器電路的組合電路，或裝有開關(guān)整流器電路和電壓檢測(cè)器電路的另一組合電路。以此電路結(jié)構(gòu)，可以分析復(fù)雜的組合電路的工作。
上述電子電路分析裝置還可包括寄生器件特性設(shè)定裝置，用于設(shè)定在電子電路中所存在的寄生器件的特性。以此電路結(jié)構(gòu)，可在考慮印刷電路板等寄生器件的情況下進(jìn)行工作分析。
根據(jù)本發(fā)明，提供了一種電子電路的分析方法，其特征在于包括電子電路選擇步驟，用于從先前存儲(chǔ)的與多個(gè)電子電路有關(guān)的電子電路中選擇一個(gè)所要的電子電路；元件選擇步驟，用從先前存儲(chǔ)的與諸如線圈和電容的多個(gè)電子元件有關(guān)的電子元件中選出用在電子電路中的一個(gè)或多個(gè)電子元件；負(fù)載設(shè)定步驟，用于設(shè)定在所述電子電路中所含的負(fù)載；工作分析模式指定步驟，用于指定電子電路的工作分析模式；特性分析步驟，用于根據(jù)在工作分析模式指定步驟所指定的工作分析模式，在元件選擇步驟所選的電子元件和在所述負(fù)載設(shè)定步驟所設(shè)定的負(fù)載的基礎(chǔ)上，分析由電子電路選擇步驟所選的電子電路的分析特性；以及分析結(jié)果顯示步驟，用于顯示在特性分析步驟中所獲的分析結(jié)果。以此電路結(jié)構(gòu)，選擇電子元件、設(shè)定負(fù)載并指定分析模式，來分析電子電路的特性。
根據(jù)本發(fā)明，提供了一種計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)，其特征在于其中記錄有可由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的分析方法的程序。
根據(jù)本發(fā)明，提供一種用于由計(jì)算機(jī)執(zhí)行電子電路分析方法的程序，其特征在于通過通信路徑提供用于由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的分析方法的程序。本發(fā)明還提供一種用于由計(jì)算機(jī)執(zhí)行電子電路分析方法的程序，其特征在于用于由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的分析方法的程序是由用戶從互聯(lián)網(wǎng)的主頁上下載的。以此電路結(jié)構(gòu)，用戶可通過通信線路或互聯(lián)網(wǎng)穩(wěn)定地獲得程序。
為了更好地理解本發(fā)明，下面參照附圖加以詳細(xì)描述，其中


圖1是示意性方框圖，示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的開關(guān)整流電路的分析裝置的硬件電路結(jié)構(gòu)；圖2是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的初始屏的實(shí)例；圖3是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的方框的實(shí)例；圖4是示例性示意圖，表示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的電路連接圖的實(shí)例；圖5是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的開關(guān)整流器的分析裝置的顯示單元上顯示的羅列菜單；圖6是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的方框的實(shí)例；圖7是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的開關(guān)整流器的分析裝置的顯示單元上顯示的羅列菜單；圖8是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的分析結(jié)果的實(shí)例；圖9是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的分析結(jié)果的實(shí)例；圖10是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的分析結(jié)果的實(shí)例；圖11是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的分析結(jié)果的實(shí)例；圖12是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的分析結(jié)果的實(shí)例；圖13是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的分析結(jié)果的實(shí)例；圖14是流程圖，示出根據(jù)本發(fā)明的開關(guān)整流器電路的分析裝置的分析順序；圖15是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的方框的實(shí)例；圖16是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的圖15所示實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的方框的實(shí)例；
圖17是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的再另一實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的方框的實(shí)例；圖18是示例性示意圖，表示根據(jù)本發(fā)明圖17所示實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的電路連接圖的實(shí)例；圖19是示例性示意圖，表示根據(jù)本發(fā)明圖17所示實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的電路連接圖的實(shí)例；圖20是示例性示意圖，表示根據(jù)本發(fā)明圖17所示實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的電路連接圖的實(shí)例；圖21是示例性示意圖，表示根據(jù)本發(fā)明圖17所示實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的電路連接圖的實(shí)例；圖22是示例性示意圖，表示根據(jù)本發(fā)明再另一實(shí)施例的用于在開關(guān)整流電路的分析裝置的顯示單元上顯示的電路連接圖的實(shí)例；圖23是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明圖22的實(shí)施例的用于開關(guān)整流器電路的分析裝置的顯示單元上顯示的等價(jià)電路的方框的實(shí)例；圖24是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例的用于開關(guān)整流器電路的分析裝置的顯示單元上顯示的設(shè)定等價(jià)電路用的方框的實(shí)例；圖25是結(jié)構(gòu)示意圖，表示用在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的提供分析方法的程序中的系統(tǒng)。
下面參考附圖詳細(xì)描述電子電路分析裝置、電子電路分析方法、用于記錄由計(jì)算機(jī)進(jìn)行的電子電路分析程序的計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)，以及根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例提供能使計(jì)算機(jī)執(zhí)行的電子電路分析方法的程序的方法。
開關(guān)整流電路分析裝置的電路結(jié)構(gòu)圖1表示根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的電子電路的分析裝置的硬件結(jié)構(gòu)圖，具體講，是一個(gè)示意方框圖，以表示能分析開關(guān)(SW)整流器電路的特性分析裝置的結(jié)構(gòu)實(shí)例。在圖1中，SW整流器電路的分析裝置100(以下將稱作“分析裝置”)是由已知的計(jì)算機(jī)構(gòu)成的，它具有CPU101、輸入單元102、存儲(chǔ)單元103以及顯示單元104。CPU101控制整個(gè)裝置并進(jìn)行SW整流器電路特性的分析處理。輸入單元102由諸如鼠標(biāo)和鍵盤類的點(diǎn)選(Pointing)裝置構(gòu)成的。存儲(chǔ)裝置103由硬盤等構(gòu)成。顯示單元104由CRT等構(gòu)成。存儲(chǔ)單元103存儲(chǔ)與多個(gè)SW整流控制IC有關(guān)的數(shù)據(jù)(產(chǎn)品數(shù)據(jù))，以及與諸如線圈和電容有關(guān)的多個(gè)電子元件有關(guān)的數(shù)據(jù)(元件數(shù)據(jù))，它與SW整流器控制集成電路在外部相連接起來以構(gòu)成SW整流器電路。該存儲(chǔ)單元103還存儲(chǔ)用于由計(jì)算機(jī)去分析SW整流器電路的計(jì)算機(jī)程序。上述CPU101執(zhí)行此程序以進(jìn)行各種處理操作(隨后將討論)，該程序存在計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)105中，并在裝入存儲(chǔ)單元103時(shí)來執(zhí)行。
應(yīng)當(dāng)注意，與多個(gè)SW整流器控制IC有關(guān)的產(chǎn)品數(shù)據(jù)先前已與由SW整流器控制IC和外部電子元(器)件組成的SW整流電路有關(guān)。如將要討論的，通過選擇產(chǎn)品數(shù)據(jù)，可選出與此產(chǎn)品數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)的SW整流電路。另外，在數(shù)據(jù)格式被轉(zhuǎn)換成能避免未受權(quán)的解密訪問的數(shù)據(jù)格式之后，在存儲(chǔ)單元103中存儲(chǔ)與SW整流器控制IC結(jié)構(gòu)有關(guān)的數(shù)據(jù)和這些器件的值。
在此實(shí)施例中，存儲(chǔ)單元103構(gòu)成一個(gè)電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置和元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置。電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置存儲(chǔ)與多個(gè)電子元件有關(guān)的數(shù)據(jù)，而存儲(chǔ)裝置則存儲(chǔ)與用在上述電子電路中的諸如線圈和電容器的多個(gè)電子元件有關(guān)的數(shù)據(jù)。
另外，輸入單元102構(gòu)造了一個(gè)電子電路選擇裝置、元件選擇裝置、負(fù)載設(shè)定裝置、溫度指定裝置、工作分析模式指定裝置、元件數(shù)據(jù)加裝置以及寄生器件特性設(shè)定裝置。電子電路選擇裝置從與電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子電路中選出所要的電子電路元件選擇裝置從與元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子元件中選出一個(gè)或多個(gè)用在所述電子電路中的電子元件。負(fù)載設(shè)定裝置設(shè)定電子電路中所含的負(fù)載。溫度指定裝置在分析電子電路時(shí)指定一個(gè)溫度。工作分析模式指定裝置指定一個(gè)電子電路的工作分析模式。元件數(shù)據(jù)加裝置將與最新采用的電子元件有關(guān)的數(shù)據(jù)相加。然后，寄生器件特性設(shè)定裝置設(shè)定電子電路中寄生器件的特性。
此外，CPU101構(gòu)成一個(gè)特性分析裝置。根據(jù)元件選擇裝置所選的電子元件和負(fù)載設(shè)定裝置設(shè)定的負(fù)載，特性分析裝置根據(jù)由工作分析模式指定裝置指定的工作分析模式，分析由電子電路選擇裝置選出的電子電路的特性。
另外，顯示裝置104構(gòu)成一個(gè)用于顯示特性分析裝置所給出的分析結(jié)果的分析結(jié)果顯示裝置和電子電路顯示裝置。電子電路顯示裝置顯示與電子電路選擇裝置所選的電子電路的電路結(jié)構(gòu)有關(guān)的內(nèi)容，并在當(dāng)指定了所顯示的電子元件后，顯示一列可選的元件作為指定的電子元件。
在圖1中，由輸入單元102輸入與要分析的狀態(tài)有關(guān)的數(shù)據(jù)。在此情況下，待分析的狀態(tài)與待分析的產(chǎn)品(即SW整流器控制IC)的選擇、此產(chǎn)品外部電子元件的選擇以及分析模式的選擇相對(duì)應(yīng)。這些分析狀態(tài)由輸入單元102輸入。另外，至于輸入電壓和負(fù)載電阻(輸出電流)，實(shí)際使用這些參數(shù)的用戶可輸入這些狀態(tài)，借助設(shè)定這些參數(shù)。
顯示內(nèi)容圖2示意性地示出一個(gè)初始屏，它是執(zhí)行由CPU101存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元103中的分析程序而在顯示單元104上首次顯示的。在此屏上部顯示的菜單光標(biāo)上，顯示一個(gè)用于選擇SW整流器電路的菜單項(xiàng)“文件”；用于選擇分析模式的菜單項(xiàng)“分析”；以及用于選擇波動(dòng)時(shí)電子電路特性的菜單項(xiàng)“參數(shù)”。當(dāng)顯示其它顯示屏?xí)r(隨后將討論)，菜單光標(biāo)總顯示在顯示屏的上部。
在圖2中，當(dāng)由輸入單元102的點(diǎn)選裝置選擇菜單“文件”時(shí)，待由根據(jù)實(shí)施例的電子電路分析裝置分析的產(chǎn)品清單按圖3所示的方式顯示在顯示單元104上。在此清單中，由5位數(shù)表示的文件名是與SW整流器控制IC的產(chǎn)品名對(duì)應(yīng)的名稱。供指定裝置選此文件名，來選定待分析的產(chǎn)品。如要分析的產(chǎn)品，在諸如A-0001，A-0002，A-0003，…，A000N的N類產(chǎn)品名(N為整數(shù))作為SW整流器控制IC時(shí)，用戶就可選擇應(yīng)當(dāng)分析哪個(gè)產(chǎn)品。應(yīng)當(dāng)注意，如圖1所示，與此產(chǎn)品有關(guān)的數(shù)據(jù)被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元103中。為了獲得適當(dāng)?shù)姆治鼋Y(jié)果，上述產(chǎn)品的數(shù)據(jù)與各產(chǎn)品的特性相配合，從而提前形成各種模式。
此情況應(yīng)當(dāng)注意，輸入單元102構(gòu)成上述電子電路選擇裝置，以從與電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置(存儲(chǔ)單元103)中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子電路中選擇一個(gè)希望的電子電路。
SW整流器電路的電路連接圖如上所述，當(dāng)由SW整流器控制IC選擇SW整流器電路時(shí)，諸如圖4的電路連接圖與圖2所示的菜單光標(biāo)一起顯示在顯示單元104的顯示屏上。也就是說，圖4為一示意圖，示出在根據(jù)本發(fā)明的分析裝置的顯示單元104上顯示的電路連接圖的實(shí)例。圖4所示為升壓型SW整流電路的電路圖。
在圖4中，標(biāo)號(hào)201代表SW整流器控制IC，標(biāo)號(hào)202代表線圈(L)，標(biāo)號(hào)203代表肖特基勢(shì)壘三極管(以下稱“SBD)”)，標(biāo)號(hào)204代表電容器(Cout)，標(biāo)號(hào)205代表電源，標(biāo)號(hào)206代表負(fù)載電阻。
應(yīng)當(dāng)注意，線圈(L)202，SBD203，電容(Cout)204與同SW整流器控制IC一起構(gòu)成SW整流器電路的外部電子元件相對(duì)應(yīng)。確定各電子元件的特性的值存起來作為圖1所示存儲(chǔ)單元103中元件數(shù)據(jù)。
例如，在線圈202中，與其電感值相關(guān)的數(shù)據(jù)、與其直流電阻值有關(guān)的數(shù)據(jù)以及額定電流值都存入存儲(chǔ)單元103中。在SBD203中，針對(duì)各元件，將與正向?qū)妷?、電阻值和漏電流有關(guān)的數(shù)據(jù)存起來。另外，在電容204中，針對(duì)各電子元件，與其電容值、其等效串聯(lián)電阻值、其允許的波動(dòng)電流及其漏電流有關(guān)的數(shù)據(jù)被存起來。
應(yīng)當(dāng)注意，在圖4的實(shí)例中，已列出了針對(duì)各電子元件的值。在圖4中，列出了以下各電子元件的值。即線圈202的電感值等于10μH，電容204的電容值為47μF，負(fù)載電阻206的電阻值Rout等于1KΩ。結(jié)果，SW整流器電路的整個(gè)電路結(jié)構(gòu)可穩(wěn)定地掌握。
這樣選各電子元件，即用輸入單元102的點(diǎn)選裝置來選圖4所示電路連接圖中各電子元件的數(shù)據(jù)。此時(shí)，輸入單元102構(gòu)成一個(gè)元件選擇裝置，用于從與存儲(chǔ)單元103中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子元件中選擇一個(gè)或多個(gè)用在電子電路中的電子元件。
菜單顯示當(dāng)點(diǎn)選裝置用作元件選擇裝置來選中圖4所示的各電子元件時(shí)，且顯示圖5所示的羅列菜單400。圖5為示意圖，示出在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的分析裝置的顯示單元104上顯示的羅列菜單的實(shí)例，即在選定電子元(器)件后顯示此羅列菜單。例如當(dāng)用點(diǎn)選裝置102選圖4的線圈202時(shí)，諸如ABC至HIJ的元件名401則作為線圈202的元件名顯示出來(即給具有不同特性的線圈指定的名稱)。
通過用點(diǎn)選裝置從羅列菜單中點(diǎn)選所要的元件名401，可穩(wěn)定地選出所要的電子元件。當(dāng)在此顯示的羅列菜單400中沒發(fā)現(xiàn)所要的產(chǎn)品時(shí)，則點(diǎn)選羅列菜單400中的項(xiàng)“其它”402，這樣，就顯示圖6所示的方框300，隨后，在此方框300中設(shè)定電子元件的特性值。
圖6為示意圖，示出在分析裝置的顯示單元104上顯示的方框300的實(shí)例，它與待選的電子元件是線圈的實(shí)例相關(guān)聯(lián)。例如，為了設(shè)定線圈202的特性，諸如電感值301、直流電阻值302和額定電流值303的各種特性從構(gòu)成元件選擇裝置的輸入單元102的鍵盤上輸入進(jìn)來。
輸入電壓“Vin”的值如下設(shè)定點(diǎn)選圖4所示電路連接圖的電源205的圖，顯示一個(gè)用于設(shè)定電源的特性值的方框(未示出)。然后，在此顯示方框中設(shè)定特性值。與輸入電壓Vin類似，SW整流器電路中所含的負(fù)載電阻206的值“Rout”如下設(shè)定點(diǎn)選圖4所示電路連接圖的負(fù)載電阻206的圖，顯示一個(gè)用于設(shè)定此負(fù)載電阻206的特性值的方框(未示出)。然后，在此顯示的方框中設(shè)定特性值。此時(shí)，輸入單元102構(gòu)成負(fù)載設(shè)定裝置。
接著，選分析模式。關(guān)于選擇模式分類有打開電源時(shí)響應(yīng)的分析模式；電源改變時(shí)瞬變響應(yīng)的分析模式；除了在正常狀態(tài)的分析模式之外，當(dāng)負(fù)載改變后，瞬變響應(yīng)的分析模式。選擇所要的分析模式進(jìn)行如下利用輸入單元102的點(diǎn)選裝置點(diǎn)選圖2所示的菜單頃“分析”，顯示圖7所示的羅列菜單500，用戶從此羅列菜單500中選出所要的分析模式的種類。此時(shí)，輸入單元102構(gòu)成操作分析模式指定裝置，用于指定電子電路的工作分析模式。
圖7為示意圖，示意性地示出用于選擇分析模式，顯示在根據(jù)此實(shí)施例模式的分析裝置的顯示單元104上的羅列菜單500的實(shí)例。當(dāng)分析模式為待選的情況下，顯示此圖7的羅列菜單。
在圖7中，例如，在選正常模式的分析模式(即“STEADY”501)時(shí)，在正常狀態(tài)下的分析是在選定的狀態(tài)下執(zhí)行的，隨后，顯示諸如圖8的分析結(jié)果600。圖8為示意圖，示意性地表示根據(jù)本發(fā)明的分析裝置的顯示單元104所顯示的消息的實(shí)例。當(dāng)在本發(fā)明的分析裝置中完成正常分析時(shí)，顯示此消息。在圖8中，在顯示單元104上顯示諸如效率、波動(dòng)電壓、占空比及線圈峰值電流的分析結(jié)果。
與圖8所示的分析結(jié)果不同，還可顯示諸如波形，而橫軸代表時(shí)間而縱軸代表線圈的輸出電壓或電流。圖9表示此波形的實(shí)例。圖9為示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的分析裝置的顯示單元104上顯示的顯示屏的實(shí)例。當(dāng)正常狀態(tài)的分析結(jié)束后，顯示圖9的顯示屏。圖9示出波動(dòng)電壓的波形和線圈電流的波形，縱軸為線圈電流，橫軸為時(shí)間。
另外，當(dāng)進(jìn)行瞬變響應(yīng)分析時(shí)，諸如“開始啟動(dòng)”502的菜單項(xiàng)被選作圖7所示的羅列菜單500中的分析模式。在菜單項(xiàng)“開始啟動(dòng)”502的分析中，分析電源接通時(shí)的響應(yīng)。作為此分析的結(jié)果，如圖10所示顯示波形，其中橫軸為時(shí)間、縱軸表示輸出電壓和線圈電流。圖10的示意圖表示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的分析裝置的顯示單元104上顯示的另一顯示屏的實(shí)例。在與“開始啟動(dòng)”502的菜單項(xiàng)有關(guān)的分析完成之后，顯示圖10的顯示屏。
另外，在分析工作中當(dāng)負(fù)載被選作參數(shù)時(shí)，隨此分析模式，在圖7所示的羅列菜單500中選出菜單項(xiàng)“Rout SWEEP”505。在與菜單項(xiàng)“RoutSWEEP”505有關(guān)的分析中，在為了改變此負(fù)載的阻值指定了一個(gè)范圍之后，隨著在此范圍限度內(nèi)改變負(fù)載的阻值來進(jìn)行分析。
作為此分析操作的結(jié)果，顯示圖11所示的波形，其中橫軸表示輸出電流值，其縱軸表示輸出電壓和效率。圖11為示意圖，示出在本發(fā)明的分析裝置的顯示單元104上顯示的另一顯示屏的實(shí)例。在完成了與“Rout SWEEP”505的菜單項(xiàng)有關(guān)的分析之后，顯示圖11的顯示屏。
另外，在分析工作中當(dāng)輸入電壓“Vin”被設(shè)定為參數(shù)時(shí)，隨此分析模式，在圖7所示的羅列菜單500中選出菜單項(xiàng)“Vin STEP”503。在與菜單項(xiàng)“Vin STEP”503有關(guān)的分析中，在逐步地改變輸入電壓Vin的情況下分析響應(yīng)特性。
作為此分析操作的結(jié)果，顯示圖12所示的波形，其中橫軸表示時(shí)間而縱軸表示輸入電壓Vin和輸出電壓。圖12為示意圖，示出在本發(fā)明實(shí)施例的分析裝置的顯示單元104上顯示的另一顯示屏的實(shí)例。在完成與菜單項(xiàng)“Vin STEP”503有關(guān)的分析之后，顯示圖12的顯示屏。
另外，在另一分析操作中當(dāng)負(fù)載被設(shè)定為參數(shù)時(shí)，隨此分析模式，在圖7的羅列菜單500中選出菜單項(xiàng)“Rout STEP”504。在與菜單項(xiàng)“Rout STEP”504有關(guān)的分析中，當(dāng)逐步改變負(fù)載電阻206的電阻值Rout時(shí)，進(jìn)行響應(yīng)特性的分析。
作為此分析操作的結(jié)果，顯示圖13所示的波形，其中橫軸表示時(shí)間，縱軸表示輸出電流Iout和輸出電壓。圖13為示意圖，示出在本發(fā)明的分析裝置的顯示單元104上顯示的另一顯示屏的實(shí)例。在完成了與菜單項(xiàng)“Rout STEP”504有關(guān)的分析之后，顯示圖13的顯示屏。
在分析進(jìn)行時(shí)，當(dāng)線圈的電流超過此線圈的最大額定電流時(shí)，則在如圖1所示的顯示單元104上顯示警告信息，如“警告！線圈電流超過額定電流”。結(jié)果，此警告信息可使用戶注意對(duì)電子元件的選擇。
另外，隨此分析參數(shù)的設(shè)定操作，可同時(shí)為正常狀態(tài)(TYP)和最壞狀態(tài)(WORST)設(shè)定SW整流器電路的特性。此參數(shù)設(shè)定操作可如下進(jìn)行點(diǎn)中圖2所示菜單光標(biāo)的菜單項(xiàng)“參數(shù)”，以顯示一個(gè)羅列菜單(未示出)，然后選中此羅列菜單中所表示的“TYP”或“WORST”。此時(shí)，輸入單元102構(gòu)成了波動(dòng)設(shè)定裝置，用于設(shè)定電子電路的波動(dòng)。結(jié)果，當(dāng)產(chǎn)品的特性值落入正常值范圍內(nèi)時(shí)可相對(duì)于正常值進(jìn)行分析操作，當(dāng)由于制造的波動(dòng)，產(chǎn)品的特性值按最壞的方式波動(dòng)時(shí)，分析最壞值。應(yīng)當(dāng)注意，在正常狀態(tài)下產(chǎn)品的模式和在最壞的狀態(tài)下的產(chǎn)品模式都已產(chǎn)品數(shù)據(jù)和元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在圖1所示的存儲(chǔ)單元103中。
在正常分析操作中，獲得以下的分析結(jié)果也就是說，盡管在正常產(chǎn)品中可達(dá)90％的效率，但在最壞的情況下僅可獲得85％的效率。對(duì)于這種正常產(chǎn)品和這些最壞產(chǎn)品，諸如在SW整流器控制IC中所用的開關(guān)元件的不同的導(dǎo)通電阻值的不同特性值按模式類型而列出。此分析結(jié)果則顯示在顯示單元104上。
另外，在溫度隨待設(shè)定的此分析操作的參數(shù)改變時(shí)，可進(jìn)行分析操作。根據(jù)溫度而改變的參數(shù)被存在圖1的存儲(chǔ)單元103中所存的產(chǎn)品數(shù)據(jù)和元件數(shù)據(jù)中。正常情況下，當(dāng)未指定與溫度有關(guān)的參數(shù)時(shí)，則在25℃下進(jìn)行分析操作。當(dāng)由用作溫度指定裝置的輸入單元102指定溫度時(shí)，則在指定溫度下進(jìn)行分析操作。
在高溫(85℃)下，由于SW整流器的開關(guān)元件的導(dǎo)通電阻的溫度依賴性，僅能達(dá)至85％的效率，在25℃正常分析時(shí)卻可達(dá)90％的效率。此分析結(jié)果顯示在顯示單元104上。
第一分析裝置的分析處理操作下面描述由分析裝置進(jìn)行的分析處理操作的內(nèi)容。圖14為一流程圖，示出本發(fā)明的分析裝置所執(zhí)行的分析操作的處理順序。首先，用輸入單元102的點(diǎn)選裝置選擇一產(chǎn)品(即SW整流器控制IC)，從而選出一個(gè)SW整流器電路(步驟S1001)。接著設(shè)定并改變此產(chǎn)品的輸出電壓(步驟S1002)。
接著，選擇一個(gè)外部電子元件和/或外部電子元件被改變，進(jìn)而設(shè)定輸入電壓并設(shè)定負(fù)載(步驟S1003)。接著選擇分析模式(步驟S1004)。在選定了分析模式后，在此條件下自動(dòng)開始分析操作，該條件為設(shè)定外部電子元件、輸入電壓、輸出電壓和輸出電流，并使用正常產(chǎn)品(TYP)且溫度為25℃。顯示此分析操作的結(jié)果(步驟S1006)。
隨后，CPU101判定輸出電壓是否改變(步驟S1007)。如果輸出電壓已改變(步驟S1007為“是”)，分析處理操作將進(jìn)到步驟S1002。在S1002，設(shè)定并改變產(chǎn)品的輸出電壓。另一方面，如果在S1007輸出電壓不改變(在S1007為“否”)，CPU101則判定外部電子元件、輸入電壓和負(fù)載的條件是否改變(步驟S1008)。
如果外部電子元件的條件，即輸入電壓和負(fù)載在S1008步得到改變(在S1008步為“是”)，則分析處理操作將進(jìn)到S1003步。在S1003，選定并改變外部電子元件，進(jìn)而設(shè)定輸入電壓和負(fù)載。與之相反，當(dāng)外部電子元件、輸入電壓和負(fù)載的條件在S1008未改變時(shí)(在S1008為“否”)，CPU101則檢查分析模式是否已改變(步驟S1009)。如果分析模式已改變(在S1009為“是”)，分析處理操作將進(jìn)到S1004。
另一方面，在上述S1009步，在分析模式未改變時(shí)(在S1009為“否”)，則全部分析處理操作將結(jié)束。另外，在某產(chǎn)品分析完成后，則進(jìn)行另一分析操作。通過設(shè)定溫度或在可能時(shí)選擇產(chǎn)品的正常特性或最壞特性來進(jìn)行分析操作。
第二分析裝置的電路結(jié)構(gòu)圖15是一示范性示意圖，用于解釋根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的電子電路的分析裝置。在此實(shí)施例中，分析裝置的安置可使與SW整流器電路中所用的多個(gè)外部電子元件有關(guān)的內(nèi)容(元件數(shù)據(jù))可被用戶自由地增加、刪除和改變。
換言之，在圖4中，當(dāng)用用作元件選擇裝置的點(diǎn)選裝置點(diǎn)選圖4所示的各電子元件時(shí)，則顯示圖15的方框1501。圖15為示意圖，示出在根據(jù)此實(shí)施例的分析裝置的顯示單元104上顯示的方框的實(shí)例。當(dāng)選電子元件時(shí)顯示方框1501。例如，在圖15中，顯示BCD和EFG-LMN，作為先前登記下來的線圈202的多個(gè)元件。通過點(diǎn)選在上述方框1501中所列的所要元件，來選中所要的電子元件。
還有，在所要元件未被登記的情況下，當(dāng)“ADD(增加)”鍵按下時(shí)，重新顯示圖16的方框1601。隨后，用戶操作用作增加與新電子元件有關(guān)的數(shù)據(jù)的元件數(shù)據(jù)增加裝置的輸入單元102的鍵盤，輸入電子元件名和電子元件的特性值(在此情況下為特性值1-3)。當(dāng)用戶按OK鍵時(shí)，設(shè)定電子元件和設(shè)定特性值的名稱都登記在元件文件中作為元件數(shù)據(jù)。上述元件文件存在存儲(chǔ)單元103中作為元件數(shù)據(jù)。待設(shè)定的特性值隨電子元件而改變。例如，當(dāng)電子元件是一個(gè)線圈時(shí)，設(shè)定此線圈的電感值、直流電阻值和其額定電流值。另外，可由用戶自己確定電子元件的名稱。在圖15和圖16中，當(dāng)未登記新電子元件時(shí)，點(diǎn)選“cancel(取消)”鍵以結(jié)束工作。另一方面，當(dāng)要?jiǎng)h除已登記的元件數(shù)據(jù)時(shí)，在圖15中，選擇了要?jiǎng)h除的元件名之后，點(diǎn)選“Delete(刪除)”鍵以刪除此元件數(shù)據(jù)。
上述元件數(shù)據(jù)以文本格式文件出現(xiàn)在有程序出現(xiàn)的目錄中，作為具有特定名字的單個(gè)文件。該程序讀此作為元件數(shù)據(jù)的文件，并在當(dāng)用戶以上述的方式增加新元件數(shù)據(jù)時(shí)，才將此新元件數(shù)據(jù)增加到此文件中。
第三分析裝置的電路結(jié)構(gòu)/操作圖17-圖21是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明再另一實(shí)施例的分析裝置的電路結(jié)構(gòu)/操作，該實(shí)例是由多個(gè)電子電路組合成的分析電路的分析裝置。
當(dāng)由圖2的輸入裝置的點(diǎn)選裝置選中菜單名“文件”時(shí)，以圖17所示的方式示出待分析的產(chǎn)品目錄。即在圖17中，可同時(shí)選中與直流電源“Vin”相連的產(chǎn)品“A”和與產(chǎn)品“A”的輸出相連的產(chǎn)品“B”。顯示多個(gè)可選作產(chǎn)品“A”的文件名(CDEFG.000至HIJK.000)和多個(gè)可選作產(chǎn)品“B”的文件名(MNOPQ.000至STUVW.000)。如圖1所示，各產(chǎn)品A和B的數(shù)據(jù)被存在存儲(chǔ)單元103中。
利用用作電子電路選擇裝置的輸入單元102的點(diǎn)選裝置，選擇與輸入直流電源Vin相連的產(chǎn)品A，然后點(diǎn)“ADD(增加)”鍵。接著，選與產(chǎn)品A的輸出單元相連的產(chǎn)品B。在選定產(chǎn)品A和B后，點(diǎn)“OK”鍵。在出現(xiàn)誤選不需要的產(chǎn)品時(shí)，選中此不需要的元件然后點(diǎn)“DELETE(刪除)”鍵。另外，還可將多組產(chǎn)品A和B刪除。
例如，當(dāng)升壓型開關(guān)整流器的產(chǎn)品(A-001)被選作與輸入直流電源Vin相連的產(chǎn)品“A”時(shí)，如圖18所示，在顯示單元104上顯示SW整流器電路1801。此SW整流器電路1801是由升壓開關(guān)整流器的產(chǎn)品(A-001)和外部電子元件構(gòu)成的。接著，在點(diǎn)中“ADD”鍵后，當(dāng)如圖18所示，另一種降壓型開關(guān)整流器的產(chǎn)品(B-003)被選作與產(chǎn)品“A”的輸出單元串聯(lián)的產(chǎn)品“B”時(shí)，以SW整流器電路1802與上述電路1801串聯(lián)的方式，在顯示單元104上顯示SW整流器電路1802。此電路1802是由降壓開關(guān)整流器的產(chǎn)品(B-003)和外部電子元件構(gòu)成的。此后，點(diǎn)“OK”鍵，以完成對(duì)所有產(chǎn)品的選擇，這樣，可選擇和分析由多個(gè)彼此串聯(lián)的SW整流器電路組合而成的組合電路。
圖19示出以類似方式制成的組合電路，其中選擇了開關(guān)整流器電路1902，隨后與SW整流器電路1901的輸出單元串聯(lián)。借助此組合電路進(jìn)行分析操作。為了制成另一組合電路，使至少一個(gè)SW整流器電路與至少一個(gè)電壓整流器電路相組合。
圖20示出以類似方式制成的組合電路，其中選擇了電壓檢測(cè)電路2002，并與SW整流器電路2001的輸出單元相串聯(lián)。借助此組合電路進(jìn)行分析操作。另外，為了制造再一個(gè)組合電路，可使至少一個(gè)SW整流器電路與至少一個(gè)電壓檢測(cè)電路相組合。
圖21是一方框圖，示意性地示出這樣一種組合電路的實(shí)例，這種電路是使與直流電源Vin串聯(lián)的SW整流器電路2101和2102與同直流電源Vin串聯(lián)的SW整流器電路2103和2104相并聯(lián)。在選擇了圖21的串/并聯(lián)電路后，在圖17中，將SW整流器電路2101的產(chǎn)品選作產(chǎn)品A之后，點(diǎn)“ADD”鍵。隨后，SW整流器電路2102的產(chǎn)品被選作產(chǎn)品B。接著，取消SW整流器電路2101和2102的產(chǎn)品的選擇。另外，在SW整流器電路2103的產(chǎn)品被選作產(chǎn)品A之后，點(diǎn)“ADD”鍵。隨后，將SW整流器電路2104的產(chǎn)品選作產(chǎn)品B。接著點(diǎn)“OK”鍵。結(jié)果，如圖21所示，選中由彼此串/并聯(lián)的電子電路組成的組合電路，使得對(duì)此組合電路的分析操作成為可能。
第四分析裝置的電路結(jié)構(gòu)/操作圖22和圖23是示意圖，示出根據(jù)本發(fā)明再另一實(shí)施例的電子電路分析裝置的電路結(jié)構(gòu)，該實(shí)例是電子電路的分析裝置，能將導(dǎo)線的分布元件(分布電容)和印刷電路板的寄生電容考慮進(jìn)去的。
待分析的產(chǎn)品選擇如下在圖2中，用輸入單元102的點(diǎn)選裝置選擇菜單項(xiàng)“文件”，在圖3所示顯示待分析的產(chǎn)品目錄的同時(shí)，利用點(diǎn)選裝置選擇一文件名。結(jié)果，圖22的電路圖則顯示在顯示單元104上。
在圖22中，符號(hào)“A-001”表示SW整流器控制IC。線圈“L1”，二極管“D1”，電容“Cout1”和負(fù)載電阻“Rout1”對(duì)應(yīng)于外部電子元件。符號(hào)“Z1”至“Z12”(表示導(dǎo)線和印刷電路板的寄生器件。應(yīng)當(dāng)注意，Z1-Z12的預(yù)設(shè)值為0歐姆的電阻等同于理想的連接狀態(tài)。
例如，在寄生器件位于印刷板的位置Z12時(shí)，用構(gòu)成寄生器件特性設(shè)定裝置的輸入單元102點(diǎn)選“□”標(biāo)志之一，此標(biāo)志是由多組RLC組合中得到的符號(hào)。隨后，通過點(diǎn)選“□”標(biāo)志顯示此選中(√)標(biāo)志。隨后，如圖24所示，當(dāng)輸入了電感(L)值，電阻(R)值和電容(C)值后，點(diǎn)“OK”鍵。此阻抗被插入到Z12的位置。
結(jié)果，在考慮了印刷電路板上的寄生器件的反影響的情況下，進(jìn)行開關(guān)整流器電路的分析。
分析程序提供方法圖25為示意圖，示出通過網(wǎng)絡(luò)提供上述分析程序的方法。在圖25 中，存有分析程序的服務(wù)器2501通過用作通信通路的互聯(lián)網(wǎng)2502與用戶的計(jì)算機(jī)2503a-2503n相連。各用戶用其計(jì)算機(jī)2503a-2503n通過互聯(lián)網(wǎng)2502訪問服務(wù)器2501，然后，從服務(wù)器2501的主頁上下載分析程序。結(jié)果，這些用戶可方便地獲取分析程序，從而執(zhí)行所獲的程序以分析電子電路的操作。
如前文詳細(xì)描述的，根據(jù)此實(shí)施例，通過選擇SW整流器電路，選電子元件、設(shè)定負(fù)載和指定分析模式，來分析SW整流器電路的特性。結(jié)果，可輕易有效地分析SW整流器電路。
另外，根據(jù)此實(shí)施例，SW整流器電路的電路結(jié)構(gòu)可當(dāng)作一幅圖來看，因此可方便地選擇電子元件。根據(jù)此實(shí)施例，可方便地進(jìn)行與瞬態(tài)響應(yīng)有關(guān)的分析。根據(jù)本實(shí)施例，在用負(fù)載作參數(shù)時(shí)，可方便地進(jìn)行與SW整流器電路的輸出電壓特性和效率特性有關(guān)的分析。
另外，根據(jù)此實(shí)施例，可預(yù)先避免設(shè)計(jì)出發(fā)生過電流的SW整流器電路。此過電流超過此SW整流器電路中所用的電子元件的額定電流。根據(jù)此實(shí)施例，在考慮了SW整流器電路正常工作特性及最壞的特性的情況下可分析SW整流器電路的操作。根據(jù)此實(shí)施例，可在考慮SW整流器電路工作溫度的情況下分析SW整流器電路的操作。
根據(jù)本實(shí)施例，可以輕易地分析串聯(lián)電路、并聯(lián)電路、諸如SW整流器電路的串/并聯(lián)電路、電壓整流器和電壓檢測(cè)電路的操作。
另外，還可在考慮了寄生器件的情況下，分析電子電路的操作。
還應(yīng)當(dāng)理解，上述實(shí)施例中的分析方法可由諸如PC機(jī)和工作站的計(jì)算機(jī)的程序來執(zhí)行。此程序可錄在諸如硬盤、軟盤、CD-ROM、MO和DVD上。隨后讀出此記錄的程序以用于執(zhí)行。另外，此程序可以上述記錄介質(zhì)的形式傳播出去，或以諸如互聯(lián)網(wǎng)的傳輸介質(zhì)傳播出去。
在此實(shí)施例，已描述了各種SW整流器的實(shí)例。但本發(fā)明的分析方法/裝置可用于分析各種數(shù)字/模擬電子電路，例如，振蕩電路、運(yùn)放電路、采用了運(yùn)放的信號(hào)處理電路和能傳感溫度/光/濕/磁場(chǎng)的傳感器電路。在這些電子電路中，當(dāng)沒有負(fù)載時(shí)，就不需要設(shè)定負(fù)載。
正如上文描述的，根據(jù)本發(fā)明，選擇諸如開關(guān)整流器電路的電子電路、電子元件、分析模式，這樣，可由分析裝置分析電子電路的特性。結(jié)果，可獲得使分析裝置輕易有效地分析電子電路的操作的優(yōu)點(diǎn)。
根據(jù)本發(fā)明，分析裝置具有一個(gè)用于設(shè)定電子電路中所含的負(fù)載的負(fù)載設(shè)定裝置，且上述分析裝置根據(jù)工作分析模式指定裝置指定的工作分析模式，分析由元件選擇裝置選擇的電子元件和負(fù)載設(shè)定裝置設(shè)定的負(fù)載基礎(chǔ)上由電子電路選擇裝置所選的電子電路的特性。結(jié)果，可以輕易地分析諸如SW整流器電路的電子電路的操作。
另外，由于根據(jù)本發(fā)明的分析裝置具有電子電路顯示裝置，故電子電路的電路結(jié)構(gòu)可以一圖的形式觀看，因而可輕易地選擇電子元件。如果電子電路顯示裝置可顯示在電子電路顯示裝置上顯示的電子元件的值，則用戶可以看到構(gòu)成電子電路的電子元件值。
另外，本發(fā)明的分析裝置可使分析模式指定裝置從工作分析模式中指定在接通電源時(shí)與響應(yīng)特性有關(guān)的分析模式，或在電源改變時(shí)瞬態(tài)響應(yīng)特性的分析模式和負(fù)載變化時(shí)瞬態(tài)響應(yīng)特性的分析模式，且分析結(jié)果顯示裝置顯示由特性分析裝置分析的作為響應(yīng)波形輸出的特性分析結(jié)果，其中橫軸用作時(shí)間軸。結(jié)果，此分析裝置可輕易地分析瞬態(tài)響應(yīng)。
本發(fā)明的分析裝置還可在用負(fù)載作參數(shù)的同時(shí)從多個(gè)工作分析模式中指定一個(gè)與輸出電壓特性和效率特性有關(guān)的分析模式，并以橫軸為輸出電流或負(fù)載電阻值來顯示特性分析裝置的分析結(jié)果。結(jié)果在用負(fù)載為參數(shù)的同時(shí)，輕易地分析與諸如SW整流器電路的電子電路的輸出電壓特性和效率特性有關(guān)的數(shù)據(jù)。
本發(fā)明的分析裝置還可在出現(xiàn)過電流且超過電子元件的額定電流值時(shí)顯示警告信息。這樣可避免設(shè)計(jì)出的電路中的電流超過額定電流值。
由于本發(fā)明的分析裝置可分析正常特性和由于電子電路在制造時(shí)的不同而引發(fā)的最壞特性，分析操作的進(jìn)行不僅考慮了電子電路的正常特性，也考慮了其最壞時(shí)的特性。
另外，由于本發(fā)明的分析裝置可在指定的溫度下分析電子電路的特性，由此在分析特性中可考慮電子電路所工作的溫度。
由于本發(fā)明的分析裝置可增加與新電子元件有關(guān)的數(shù)據(jù)，從而可改進(jìn)此分析裝置的方便性和實(shí)用性。
在與控制集成電路的結(jié)構(gòu)和其結(jié)構(gòu)元件值有關(guān)的數(shù)據(jù)在未授權(quán)時(shí)不可訪問的情況下存起來，從而可使這些數(shù)據(jù)在未經(jīng)授權(quán)的情況下不能被訪問。
另外，由于可選擇多個(gè)電子電路的組合電路，則可輕易地分析各種形式的電子電路。
由于本發(fā)明的分析裝置可將電子電路中存在的寄生器件考慮進(jìn)去，因此可改善分析操作的精度。
本發(fā)明可提供輕易且有效的對(duì)諸如SW整流器電路的電子電路的分析方法。
此外，根據(jù)本發(fā)明的記錄介質(zhì)在其上記錄了用于執(zhí)行由計(jì)算機(jī)進(jìn)行的電子電路分析方法。結(jié)果，此計(jì)算機(jī)程序可被機(jī)械地讀出，這樣可由計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)此分析方法的分析操作。
再有，根據(jù)本發(fā)明，由于由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的電子電路分析方法是經(jīng)諸如互聯(lián)網(wǎng)的通信路徑提供的，因此用戶可輕易地獲取上述程序。
權(quán)利要求
1．一種電子電路分析裝置，包括電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，用于在其中存儲(chǔ)與多個(gè)電子電路有關(guān)的數(shù)據(jù)；電子電路選擇裝置，用于從與所述電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子電路中選擇所要的電子電路；元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置，用于在其中存儲(chǔ)用在電子電路中的諸如線圈和電容的多個(gè)電子元件有關(guān)的數(shù)據(jù)；元件選擇裝置，用于從與所述元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子元件中選擇用在電子電路中的一個(gè)或多個(gè)電子元件；工作分析模式指定裝置，用于指定電子電路的工作的分析模式；特性分析裝置，用于根據(jù)由所述工作分析模式指定裝置所指定的工作分析模式，在由所述元件選擇裝置選擇的電子元件的基礎(chǔ)上，分析由所述電子電路選擇裝置選擇的電子電路的特性；以及分析結(jié)果顯示裝置，用于顯示由所述特性分析裝置所給出的分析結(jié)果。
2．如權(quán)利要求1的電子電路分析裝置，還包括負(fù)載設(shè)定裝置，用于設(shè)定在所述電子電路中所含的負(fù)載；其中所述特性分析裝置根據(jù)由所述工作分析模式指定裝置所指定的工作分析模式，在由所述元件選擇裝置選定的電子元件和由所述負(fù)載設(shè)定裝置設(shè)定的負(fù)載的基礎(chǔ)上，分析由所述電子電路選擇裝置選擇的電子電路的特性。
3．如權(quán)利要求1或2的電子電路的分析裝置，還包括電子電路顯示裝置，用于顯示與由所述電子電路選擇裝置所選的電子電路的電路結(jié)構(gòu)有關(guān)的內(nèi)容，并顯示一列電子元件，它可通過指定一個(gè)顯示的電子元件而選作指定電子元件，其中所述元件選擇裝置不是從元件列中選一個(gè)所要的元件而是從由所述電子電路顯示裝置顯示的元件列中選擇一個(gè)所要的電子元件，或者設(shè)定一個(gè)指定的電子元件的所要的特性。
4．如權(quán)利要求3的電子電路分析裝置，其中所述電子電路顯示裝置顯示所顯示的電子元件的值。
5．如權(quán)利要求1-4任何一個(gè)的電子電路分析裝置，其中所述工作分析模式指定裝置指定當(dāng)接通電源時(shí)與響應(yīng)特性有關(guān)的分析模式的工作分析模式，或電源改變時(shí)與瞬態(tài)響應(yīng)有關(guān)的分析模式的工作分析模式和負(fù)載改變時(shí)的瞬態(tài)響應(yīng)特性的工作分析模式；以及所述分析結(jié)果顯示裝置顯示由所述特性分析裝置所給出的作為響應(yīng)波形輸出的分析結(jié)果，橫軸為時(shí)間軸。
6．如權(quán)利要求1-4之一的電子電路分析裝置，其中所述工作分析指定裝置，指定在用負(fù)載作為參數(shù)時(shí)與輸出電壓特性和效率特性有關(guān)的分析模式的工作分析模式；以及所述分析結(jié)果顯示裝置顯示由所述特性分析裝置所給出的分析結(jié)果，其橫軸作為輸出電流或負(fù)載電阻值。
7．如權(quán)利要求1-6之一的電子電路分析裝置，其中所述分析結(jié)果顯示裝置在分析電子電路工作的同時(shí)顯示在電子電路中流過的電流超過電子電路中所用的電子元件的額定電流值時(shí)的警告信息。
8．如權(quán)利要求1-7之一的電子電路分析裝置，其中所述特性分析裝置分析在所述電子電路選擇裝置所選的電于電路的特性中由電子電路制造的不同引起的改變使電子電路在正常特性和最壞特性下的情況。
9．如權(quán)利要求1-8之一的電子電路分析裝置，其中溫度指定裝置用于在進(jìn)行分析操作時(shí)指定溫度，其中所述特性分析裝置在由所述溫度指定裝置指定的溫度基礎(chǔ)上分析電子電路的特性。
10．如權(quán)利要求1-9之一的電子電路分析裝置，其中其中所述元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置包括元件數(shù)據(jù)增加裝置，用于增加與新電子元件有關(guān)的數(shù)據(jù)。
11．如權(quán)利要求1-10之一的電子電路分析裝置，其中電子電路是開關(guān)整流器電路。
12．如權(quán)利要求11的電子電路分析裝置，其中電子電路是由用于控制開關(guān)整流器電路的集成電路和外部元件構(gòu)成。
13．如權(quán)利要求12的電子電路分析裝置，其中與所述開關(guān)整流器電路控制集成電路的結(jié)構(gòu)有關(guān)的數(shù)據(jù)和與元件值有關(guān)的數(shù)據(jù)以能防止未授權(quán)者解密的格式存儲(chǔ)在所述電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中。
14．如權(quán)利要求1-10之一的電子電路分析裝置，其中所述電子電路選擇裝置選擇由與所述電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置中所存的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子電路中的多個(gè)電子電路組合而成的組合電路。
15．如權(quán)利要求14的電子電路分析裝置，其中，組合電路是由多個(gè)電子電路構(gòu)成的串聯(lián)電路，并聯(lián)電路或串/并聯(lián)電路。
16．如權(quán)利要求14或15的電子電路分析裝置，其中組合電路是多個(gè)開關(guān)整流器電路的組合。
17．如權(quán)利要求14或15的電子電路分析裝置，其中組合電路對(duì)應(yīng)于裝有開關(guān)整流器電路和電壓整流器電路的組合電路，或裝有開關(guān)整流器電路和電壓檢測(cè)器電路的另一組合電路。
18．如權(quán)利要求1-17之一的電子電路分析裝置，還包括寄生器件特性設(shè)定裝置，用于設(shè)定在電子電路中所存在的寄生器件的特性。
19．一種分析電子電路的方法，包括電子電路選擇步驟，用于從先前存儲(chǔ)的與多個(gè)電子電路有關(guān)的電子電路中選擇一個(gè)所要的電子電路；元件選擇步驟，用從先前存儲(chǔ)的與諸如線圈和電容的多個(gè)電子元件有關(guān)的電子元件中選出用在電子電路中的一個(gè)或多個(gè)電子元件；負(fù)載設(shè)定步驟，用于設(shè)定在所述電子電路中所含的負(fù)載；工作分析模式指定步驟，用于指定電子電路的工作分析模式；特性分析步驟，用于根據(jù)在所述工作分析模式指定步驟所指定的工作分析模式，在所述元件選擇步驟所選的電子元件和在所述負(fù)載設(shè)定步驟所設(shè)定的負(fù)載的基礎(chǔ)上，分析由電子電路選擇步驟所選的電子電路的分析特性；以及分析結(jié)果顯示步驟，用于顯示在所述特性分析步驟中所獲的分析結(jié)果。
20．一種計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)，其中記錄了程序，用于由計(jì)算機(jī)執(zhí)行如權(quán)利要求19所述的分析方法。
21．一種提供用戶由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的電子電路分析方法的程序的方法，其中通過通信路徑提供用于由計(jì)算機(jī)執(zhí)行如權(quán)利要求19的分析方法的程序。
22．一種用于提供由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的電子電路分析方法的方法，其中用于由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的如權(quán)利要求19的分析方法的程序是由用戶從互聯(lián)網(wǎng)的主頁上下載的。
全文摘要
在電子電路分析裝置中,可高效地分析開關(guān)整流器電路等。分析裝置包括:電子電路數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置;電子電路選擇單元;元件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元;元件選擇單元;用于從與元件存儲(chǔ)單元中所存在的數(shù)據(jù)有關(guān)的電子元件中選擇用在電子電路中的一個(gè)或多個(gè)電子元件;工作分析模式指定單元,用于指定電子電路工作的分析模式;特性分析單元,根據(jù)分析模式并在元件選擇單元所選元件基礎(chǔ)上分析所選電子電路特性;以及顯示分析結(jié)果的分析結(jié)果顯示單元。
文檔編號(hào)G06F17/00GK1289095SQ0012887
公開日2001年3月28日 申請(qǐng)日期2000年9月22日 優(yōu)先權(quán)日1999年9月22日
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