一種數(shù)據(jù)振蕩抑制方法及裝置的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種數(shù)據(jù)振蕩抑制方法及裝置，在獲取到實物部件輸出的實際測量量后，可以基于實際測量量的振蕩周期對應的采樣頻率，對實際測量量進行采樣；再基于振蕩周期對應的均值提取參數(shù)，對采樣后的實際測量量進行均值處理，得到振蕩抑制處理后的實際測量量，以將振蕩抑制處理后的實際測量量作為實物部件的輸出結(jié)果，通過上述振蕩抑制處理后的實際測量量可以較好的跟隨期望測量量而變化，從而實現(xiàn)對實際測量量的周期振蕩抑制，降低實際測量量的振蕩幅度，進而提高閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)正常運行的概率。
【專利說明】
一種數(shù)據(jù)振蕩抑制方法及裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本發(fā)明屬于半實物仿真技術(shù)領(lǐng)域，更具體的說，尤其涉及一種數(shù)據(jù)振蕩抑制方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002 ]在閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)中包括實物部件(如傳感器)和模擬系統(tǒng)(如控制器模擬系統(tǒng)、執(zhí)行機構(gòu)模擬系統(tǒng)、被控對象以及目標運動模擬系統(tǒng))，這些模擬系統(tǒng)通過對應的仿真模型運行于實時仿真系統(tǒng)或通過對應的物理效應模擬系統(tǒng)來實現(xiàn)。其中閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)為一個大閉環(huán)系統(tǒng)，而其組成中的實物部件(例如目標信息測量系統(tǒng)，用于實現(xiàn)對目標運動的穩(wěn)定測量)，其本身也是一個閉環(huán)控制系統(tǒng)。
[0003]為了實現(xiàn)對目標運動的穩(wěn)定測量，需要對上述目標信息測量系統(tǒng)事先進行數(shù)字仿真試驗，并且在數(shù)字仿真試驗中以閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)中被控對象與目標之間的位置差信息q(稱為期望測量量)作為目標信息測量系統(tǒng)的輸入，目標信息測量系統(tǒng)的輸出以實際測量量qmeas表示，對整個目標信息測量系統(tǒng)進行閉環(huán)仿真試驗。從目標信息測量系統(tǒng)的數(shù)字仿真試驗結(jié)果來分析，實際測量量qmeas和期望測量量q的取值相等，即實際測量量qmeas精確地跟隨期望測量量q變化，因此閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)的目標跟蹤結(jié)果是滿足系統(tǒng)要求的。
[0004]然而在實際應用中，閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)中的目標信息測量系統(tǒng)以實物部件代替，在采用實物部件開展試驗過程中，實物部件輸出的實際測量量qmeas不能很好地跟隨期望測量量q發(fā)生變化，如圖1所不，實物部件輸出的實際測量量qmeas在前160秒存在一個周期振蕩過程。當實物部件的輸出存在周期振蕩時，上述閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)中控制器模擬系統(tǒng)的輸入信號將存在周期振蕩，從而使得被控對象模擬系統(tǒng)的輸出信號也存在周期振蕩，而被控對象模擬系統(tǒng)的輸出信號又作為目標信息測量系統(tǒng)的輸入，使得整個閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)一直處在一個振蕩調(diào)整過程中。
[0005]綜上所述可知，在現(xiàn)有閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)中，任意一個實物部件性能存在周期振蕩過程，這會導致整個閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)一直處于一個振蕩調(diào)整過程中，因此亟需一種數(shù)據(jù)振蕩抑制方法及裝置，對實物部件輸出的實際測量量qmeas進行振蕩抑制處理，以使處理后的實際測量量qmeas較好的跟隨期望測量量q而變化，提高閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)正常運行的概率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種數(shù)據(jù)振蕩抑制方法及裝置，以對實際測量量的周期振蕩進行抑制，提高閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)正常運行的概率。技術(shù)方案如下:
[0007]本發(fā)明提供一種數(shù)據(jù)振蕩抑制方法，所述方法包括:
[0008]獲取實物部件輸出的實際測量量；
[0009]基于所述實際測量量的振蕩周期對應的采樣頻率，對所述實際測量量進行采樣，其中所述采樣頻率高于所述振蕩周期的振蕩頻率；
[0010]基于所述振蕩周期對應的均值提取參數(shù)，對采樣后的所述實際測量量進行均值處理，得到振蕩抑制處理后的實際測量量，以將所述振蕩抑制處理后的實際測量量作為所述實物部件的輸出結(jié)果。
[0011]優(yōu)選的，所述方法還包括:基于所述振蕩頻率設置所述采樣頻率，其中設置的所述采樣頻率與所述振蕩頻率的關(guān)系為:
[0012]采樣頻率=振蕩頻率XM，M為大于I的自然數(shù)。
[0013]優(yōu)選的，所述方法還包括:判斷所述振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象；
[0014]當判斷出所述振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，對所述采樣頻率進行重新設置，且重新設置后的所述采樣頻率與所述振蕩頻率的關(guān)系為:
[0015]重新設置后的采樣頻率=振蕩頻率XM，M為大于I的自然數(shù)。
[0016]優(yōu)選的，所述方法還包括:基于所述振蕩周期和所述采樣頻率設置所述均值提取參數(shù)，其中設置的所述均值提取參數(shù)與所述振蕩周期和所述采樣頻率的關(guān)系為:
[0017]均值提取參數(shù)=振蕩周期X采樣頻率。
[0018]優(yōu)選的，所述方法還包括:判斷所述振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象；
[0019]當判斷出所述振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，基于振蕩周期和重新設置后的采樣頻率，對所述均值提取參數(shù)進行重新設置，其中重新設置后的所述均值提取參數(shù)與所述振蕩周期和重新設置后的所述采樣頻率的關(guān)系為:
[0020]重新設置后的均值提取參數(shù)=振蕩周期X重新設置后的采樣頻率。
[0021 ]本發(fā)明還提供一種數(shù)據(jù)振蕩抑制裝置，所述裝置包括:
[0022]獲取單元，用于獲取實物部件輸出的實際測量量；
[0023]采樣單元，用于基于所述實際測量量的振蕩周期對應的采樣頻率，對所述實際測量量進行采樣，其中所述采樣頻率高于所述振蕩周期的振蕩頻率；
[0024]處理單元，用于基于所述振蕩周期對應的均值提取參數(shù)，對采樣后的所述實際測量量進行均值處理，得到振蕩抑制處理后的實際測量量，以將所述振蕩抑制處理后的實際測量量作為所述實物部件的輸出結(jié)果。
[0025]優(yōu)選的，所述裝置還包括:第一設置單元，用于基于所述振蕩頻率設置所述采樣頻率，其中設置的所述采樣頻率與所述振蕩頻率的關(guān)系為:
[0026]采樣頻率=振蕩頻率XM，M為大于I的自然數(shù)。
[0027]優(yōu)選的，所述裝置還包括:第一判斷單元，用于判斷所述振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象，并當判斷出所述振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，觸發(fā)所述第一設置單元對所述采樣頻率進行重新設置，且重新設置后的所述采樣頻率與所述振蕩頻率的關(guān)系為:
[0028]重新設置后的采樣頻率=振蕩頻率XM，M為大于I的自然數(shù)。
[0029]優(yōu)選的，所述裝置還包括:第二設置單元，用于基于所述振蕩周期和所述采樣頻率設置所述均值提取參數(shù)，其中設置的所述均值提取參數(shù)與所述振蕩周期和所述采樣頻率的關(guān)系為:
[0030]均值提取參數(shù)=振蕩周期X采樣頻率。
[0031]優(yōu)選的，所述裝置還包括:第二判斷單元，用于判斷所述振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象，并當判斷出所述振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，觸發(fā)所述第二設置單元基于振蕩周期和重新設置后的采樣頻率，對所述均值提取參數(shù)進行重新設置，其中重新設置后的所述均值提取參數(shù)與所述振蕩周期和重新設置后的所述采樣頻率的關(guān)系為:
[0032]重新設置后的均值提取參數(shù)=振蕩周期X重新設置后的采樣頻率。
[0033]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的上述技術(shù)方案具有如下優(yōu)點:
[0034]本發(fā)明提供的上述技術(shù)方案，在獲取到實物部件輸出的實際測量量后，可以基于實際測量量的振蕩周期對應的采樣頻率，對實際測量量進行采樣;再基于振蕩周期對應的均值提取參數(shù)，對采樣后的實際測量量進行均值處理，得到振蕩抑制處理后的實際測量量，以將振蕩抑制處理后的實際測量量作為實物部件的輸出結(jié)果，通過上述振蕩抑制處理后的實際測量量可以較好的跟隨期望測量量而變化，從而實現(xiàn)對實際測量量的周期振蕩抑制，降低實際測量量的振蕩幅度，進而提高閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)正常運行的概率。
【附圖說明】
[0035]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0036]圖1是實物部件輸出的實際測量量qmeas與期望測量量q的比較示意圖；
[0037]圖2是本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制方法的一種流程圖；
[0038]圖3是本發(fā)明實施例提供的采樣示意圖；
[0039]圖4是本發(fā)明實施例提供的原始的實際測量量的振蕩部分與期望測量量q的比較示意圖；
[0040]圖5是本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制方法的另一種流程圖；
[0041]圖6是本發(fā)明實施例提供的振蕩抑制處理后的實際測量量qmeasfilter與期望測量量q的比較示意圖；
[0042]圖7是基于圖6所示的振蕩抑制處理后的實際測量量qmeasfilter，得到的閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)的目標跟蹤結(jié)果的示意圖；
[0043]圖8是現(xiàn)有閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)的目標跟蹤結(jié)果的示意圖；
[0044]圖9是本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制方法的再一種流程圖；
[0045]圖10是本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制裝置的一種結(jié)構(gòu)示意圖；
[0046]圖11是本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制裝置的另一種結(jié)構(gòu)示意圖；
[0047]圖12是本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制裝置的再一種結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0048]為使本發(fā)明實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0049]請參閱圖2，其示出了本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制方法的流程圖，用來對實物部件輸出的實際測量量進行周期振蕩抑制，具體可以包括以下步驟:
[0050]300:獲取實物部件輸出的實際測量量。
[0051]400:基于實際測量量的振蕩周期對應的采樣頻率，對實際測量量進行采樣。在本發(fā)明實施例中，采樣頻率高于振蕩周期的振蕩頻率，之所以如此設置兩個頻率的關(guān)系是為了:確保采樣后的實際測量量可以保留原始的實際測量量的主要信息，且確保采樣后的實際測量量不失真。下面以圖3所示的實際測量量為例進行說明。
[0052]在圖3中，實際測量量的振蕩周期為2秒，對應的振蕩頻率為1/2= 0.5Hz。黑色離散點為采樣點，其采樣周期設定為0.5秒，BP0.5秒采樣一個點，由眾多的采樣點基本能夠勾劃出原始的實際測量量的輪廓，即保持了原始的實際測量量的主要信息，確保采樣后的實際測量量不失真，因此在采樣頻率高于振蕩頻率的情況下，采樣后的實際測量量具有:保存原始的實際測量量的主要信息且不失真的優(yōu)點。
[0053]如果采樣周期設定為2秒或3秒，對應的采樣頻率為1/2= 0.5Hz或1/3 = 0.3Hz，此時采樣頻率等于或低于振蕩頻率，這樣在一個振蕩周期內(nèi)無法采樣到較多的信息，導致采樣后的實際測量量嚴重失真，就無法使用采樣后的實際測量量進行下一步工作。
[0054]在這里需要說明的一點是:在實際設置采樣頻率過程中，原理上是采樣頻率越高越好，采樣頻率越高，越能保留原始的實際測量量的所有信息，但由于原始的實際測量量的振蕩部分是一個無用信號，所述振蕩部分疊加到期望測量量q之上，如圖4所示。其中虛線曲線代表的振蕩部分是無用信號，即需要抑制的信號，而中間實線曲線代表的信號是有用信號，是需要保留部分，因此在設定采樣頻率時，需要綜合考慮這兩種信號的實際頻率來折中取值。
[0055]至此，本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制方法還可以包括步驟100:基于振蕩頻率設置采樣頻率，如圖5所示。在設置采樣頻率時，需要為其搭建設置仿真模型，其中設置仿真模型可以采用現(xiàn)有技術(shù)來搭建，如設置仿真模型可以用Simulink搭建，也可以用C語言編寫程序?qū)崿F(xiàn)，設置仿真模型的步長需要根據(jù)實物部件的工作周期來確定。并且按照采樣頻率高于振蕩頻率的原則，設置采樣頻率，例如采樣頻率高于振蕩頻率即可，又或者采樣頻率與振蕩頻率滿足的關(guān)系是:采樣頻率=振蕩頻率XM，M為大于I的自然數(shù)，即采樣頻率是振蕩頻率的M倍。
[0056]500:基于振蕩周期對應的均值提取參數(shù)，對采樣后的實際測量量進行均值處理，得到振蕩抑制處理后的實際測量量，以將振蕩抑制處理后的實際測量量作為實物部件的輸出結(jié)果。
[0057]在本發(fā)明實施例中，均值處理過程可以采用常用的求均值方法，如在對實際測量量進行采樣，對采樣得到的N個值進行相加再除以N即可，并且可以以步長為單位，每次均取最近采樣得到的N個值進行均值提取操作。
[0058]其中步長需要根據(jù)實物部件的工作周期來確定，例如實物部件的測量周期為I毫秒，則步長需要設定為I毫秒，如果實物部件的測量周期為10毫秒，則步長需要設定為10毫秒。
[0059]基于本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制方法，對實物部件進行仿真試驗，以qmeasfilter表示振蕩抑制處理后的實際測量量，其與期望測量量q之間的比較示意圖如圖6所示，從圖6可以看出經(jīng)過本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制方法得到的振蕩抑制處理后的實際測量量qmeasfilter可以較好地跟隨期望測量量q而變化，其振蕩幅度明顯降低。進一步基于圖6顯示的振蕩抑制處理后的實際測量量qmeasfilter，閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)的目標跟蹤結(jié)果也得到很好的改善，如圖7所示，與圖8所示現(xiàn)有目標跟蹤結(jié)果來比較，基于圖6顯示的振蕩抑制處理后的實際測量量qmeasfilter的情況下，整個閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)的振蕩調(diào)整過程明顯降低，進而提高閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)正常運行的概率。
[0060]綜上可知，本發(fā)明提供的數(shù)據(jù)振蕩方法在獲取到實物部件輸出的實際測量量后，可以基于實際測量量的振蕩周期對應的采樣頻率，對實際測量量進行采樣;再基于振蕩周期對應的均值提取參數(shù)，對采樣后的實際測量量進行均值處理，得到振蕩抑制處理后的實際測量量，以將振蕩抑制處理后的實際測量量作為實物部件的輸出結(jié)果，通過上述振蕩抑制處理后的實際測量量可以較好的跟隨期望測量量而變化，從而實現(xiàn)對實際測量量的周期振蕩抑制，降低實際測量量的振蕩幅度，進而提高閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)正常運行的概率。
[0061]在本發(fā)明實施例中，均值提取參數(shù)的取值與采樣頻率和振蕩周期相關(guān)，為此本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制方法還包括步驟200:基于振蕩周期和采樣頻率設置均值提取參數(shù)。
[0062]在設置均值提取參數(shù)時，需要為其搭建設置仿真模型，其中設置仿真模型可以采用現(xiàn)有技術(shù)來搭建，如設置仿真模型可以用Simulink搭建，也可以用C語言編寫程序?qū)崿F(xiàn)，設置仿真模型的步長需要根據(jù)實物部件的工作周期來確定。通過設置仿真模型得到的均值提取參數(shù)與采樣頻率和振蕩周期的關(guān)系為:均值提取參數(shù)=振蕩周期X采樣頻率。
[0063]舉例來說，振蕩周期為20秒，對應的振蕩頻率為1/20= 0.05Hz，均值處理過程要求取中間平均值，則可考慮用20秒的數(shù)據(jù)進行求平均。假設采樣頻率為20Hz，S卩I秒采樣20個點，則20秒數(shù)據(jù)為400個點，因此用于求取均值的均值提取參數(shù)可以設定為400。
[0064]在設置上述采樣頻率和均值提取參數(shù)后，還可以進一步:判斷振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象;其中，判斷振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象的方法有:一種方法是循環(huán)讀取振蕩抑制處理后的實際測量量，判斷振蕩抑制處理后的實際測量量中是否有重復相同的數(shù)據(jù)，如果有相同重復的數(shù)據(jù)(重復3次以上)，則可判斷振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象;另一種方法是對振蕩抑制處理后的實際測量量取自相關(guān)，例如用MATLAB的autocorrr函數(shù)求取自相關(guān)數(shù)據(jù)，對自相關(guān)數(shù)據(jù)求取峰值(極大值)，如果只有一個明顯的峰值，即最大值只有一個，而且最大值比次大值大很多，例如超過5倍以上，則可判斷振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象。
[0065]當判斷出振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，則需要對上述采樣頻率和均值提取參數(shù)進行重新設置，重新設置后的采樣頻率與振蕩頻率的關(guān)系仍滿足:重新設置后的采樣頻率=振蕩頻率XM，M為大于I的自然數(shù);而均值提取參數(shù)則需要基于振蕩周期和重新設置后的采樣頻率進行設置，且重新設置后的均值提取參數(shù)與振蕩周期和重新設置后的采樣頻率的關(guān)系仍滿足:重新設置后的均值提取參數(shù)=振蕩周期X重新設置后的采樣頻率。
[0066]對于前述的各方法實施例，為了簡單描述，故將其都表述為一系列的動作組合，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應該知悉，本發(fā)明并不受所描述的動作順序的限制，因為依據(jù)本發(fā)明，某些步驟可以采用其他順序或者同時進行。其次，本領(lǐng)域技術(shù)人員也應該知悉，說明書中所描述的實施例均屬于優(yōu)選實施例，所涉及的動作和模塊并不一定是本發(fā)明所必須的。
[0067]與上述方法實施例相對應，本發(fā)明實施例還提供一種數(shù)據(jù)振蕩抑制裝置，其結(jié)構(gòu)示意圖如圖10所示，可以包括:獲取單元11、采樣單元12和處理單元13。
[0068]獲取單元11，用于獲取實物部件輸出的實際測量量。
[0069]采樣單元12，用于基于實際測量量的振蕩周期對應的采樣頻率，對實際測量量進行采樣。在本發(fā)明實施例中，采樣頻率高于振蕩周期的振蕩頻率，之所以如此設置兩個頻率的關(guān)系是為了:確保采樣后的實際測量量可以保留原始的實際測量量的主要信息，且確保采樣后的實際測量量不失真，具體原因可以參閱方法實施例部分的相關(guān)說明，對此本發(fā)明實施例不再闡述。
[0070]處理單元13，用于基于振蕩周期對應的均值提取參數(shù)，對采樣后的實際測量量進行均值處理，得到振蕩抑制處理后的實際測量量，以將振蕩抑制處理后的實際測量量作為實物部件的輸出結(jié)果。
[0071]在本發(fā)明實施例中，均值處理過程可以采用常用的求均值方法，如在對實際測量量進行采樣，對采樣得到的N個值進行相加再除以N即可，并且可以以步長為單位，每次均取最近采樣得到的N個值進行均值提取操作。
[0072]其中步長需要根據(jù)實物部件的工作周期來確定，例如實物部件的測量周期為I毫秒，則步長需要設定為I毫秒，如果實物部件的測量周期為10毫秒，則步長需要設定為10毫秒。
[0073]基于本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制裝置，對實物部件進行仿真試驗，以qmeasfilter表示振蕩抑制處理后的實際測量量，其與期望測量量q之間的比較示意圖如圖6所示，從圖6可以看出經(jīng)過本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制方法得到的振蕩抑制處理后的實際測量量qmeasfilter可以較好地跟隨期望測量量q而變化，其振蕩幅度明顯降低。
[0074]綜上可知，本發(fā)明提供的數(shù)據(jù)振蕩裝置在獲取到實物部件輸出的實際測量量后，可以基于實際測量量的振蕩周期對應的采樣頻率，對實際測量量進行采樣;再基于振蕩周期對應的均值提取參數(shù)，對采樣后的實際測量量進行均值處理，得到振蕩抑制處理后的實際測量量，以將振蕩抑制處理后的實際測量量作為實物部件的輸出結(jié)果，通過上述振蕩抑制處理后的實際測量量可以較好的跟隨期望測量量而變化，從而實現(xiàn)對實際測量量的周期振蕩抑制，降低實際測量量的振蕩幅度，進而提高閉環(huán)控制半實物仿真試驗系統(tǒng)正常運行的概率。
[0075]請參閱圖11，其示出了本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)振蕩抑制裝置的另一種結(jié)構(gòu)示意圖，在圖10基礎(chǔ)上，還可以包括:第一設置單元14和第一判斷單元15。
[0076]第一設置單元14，用于基于振蕩頻率設置采樣頻率，其中設置的采樣頻率與振蕩頻率的關(guān)系為:采樣頻率=振蕩頻率X M，M為大于I的自然數(shù)。
[0077]第一判斷單元15，用于判斷振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象，并當判斷出振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，觸發(fā)第一設置單元14對采樣頻率進行重新設置，且重新設置后的采樣頻率與振蕩頻率的關(guān)系為:
[0078]重新設置后的采樣頻率=振蕩頻率XM，M為大于I的自然數(shù)。
[0079]相應的，上述數(shù)據(jù)振蕩抑制裝置還可以基于振蕩周期和采樣頻率來設置均值提取參數(shù)，如圖12所示，在圖10基礎(chǔ)上還可以包括:第二設置單元16和第二判斷單元17。
[0080]第二設置單元16，用于基于振蕩周期和采樣頻率設置均值提取參數(shù)，其中設置的均值提取參數(shù)與振蕩周期和采樣頻率的關(guān)系為:均值提取參數(shù)=振蕩周期X采樣頻率。
[0081]第二判斷單元17，用于判斷振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象，并當判斷出振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，觸發(fā)第二設置單元16基于振蕩周期和重新設置后的采樣頻率，對均值提取參數(shù)進行重新設置，其中重新設置后的均值提取參數(shù)與振蕩周期和重新設置后的采樣頻率的關(guān)系為:
[0082]重新設置后的均值提取參數(shù)=振蕩周期X重新設置后的采樣頻率。
[0083]在本發(fā)明實施例中，上述第一判斷單元15和第二判斷單元17判斷振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象的方法有:一種方法是循環(huán)讀取振蕩抑制處理后的實際測量量，判斷振蕩抑制處理后的實際測量量中是否有重復相同的數(shù)據(jù)，如果有相同重復的數(shù)據(jù)(重復3次以上)，則可判斷振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象;另一種方法是對振蕩抑制處理后的實際測量量取自相關(guān)，例如用MATLAB的autocorrr函數(shù)求取自相關(guān)數(shù)據(jù)，對自相關(guān)數(shù)據(jù)求取峰值(極大值)，如果只有一個明顯的峰值，即最大值只有一個，而且最大值比次大值大很多，例如超過5倍以上，則可判斷振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象。
[0084]在這里需要說明的一點是:本發(fā)明實施例中的數(shù)據(jù)振蕩抑制裝置可以集成有采樣頻率和均值提取參數(shù)的設置功能，即同時包括圖11和圖12中第一設置單元14和第二設置單元16，并將第一判斷單元15和第二判斷單元17集成為一個判斷單元來判斷振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象，當判斷出振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，觸發(fā)所述第一設置單元14和第二設置單元16。
[0085]需要說明的是，本說明書中的各個實施例均采用遞進的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可。對于裝置類實施例而言，由于其與方法實施例基本相似，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法實施例的部分說明即可。
[0086]最后，還需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設備中還存在另外的相同要素。
[0087]對所公開的實施例的上述說明，使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對這些實施例的多種修改對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。
[0088]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發(fā)明的保護范圍。
【主權(quán)項】
1.一種數(shù)據(jù)振蕩抑制方法，其特征在于，所述方法包括: 獲取實物部件輸出的實際測量量； 基于所述實際測量量的振蕩周期對應的采樣頻率，對所述實際測量量進行采樣，其中所述采樣頻率高于所述振蕩周期的振蕩頻率； 基于所述振蕩周期對應的均值提取參數(shù)，對采樣后的所述實際測量量進行均值處理，得到振蕩抑制處理后的實際測量量，以將所述振蕩抑制處理后的實際測量量作為所述實物部件的輸出結(jié)果。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括:基于所述振蕩頻率設置所述采樣頻率，其中設置的所述采樣頻率與所述振蕩頻率的關(guān)系為: 采樣頻率=振蕩頻率X M，M為大于I的自然數(shù)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括:判斷所述振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象； 當判斷出所述振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，對所述采樣頻率進行重新設置，且重新設置后的所述采樣頻率與所述振蕩頻率的關(guān)系為: 重新設置后的采樣頻率=振蕩頻率XM，M為大于I的自然數(shù)。4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括:基于所述振蕩周期和所述采樣頻率設置所述均值提取參數(shù)，其中設置的所述均值提取參數(shù)與所述振蕩周期和所述采樣頻率的關(guān)系為: 均值提取參數(shù)=振蕩周期X采樣頻率。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括:判斷所述振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象； 當判斷出所述振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，基于振蕩周期和重新設置后的采樣頻率，對所述均值提取參數(shù)進行重新設置，其中重新設置后的所述均值提取參數(shù)與所述振蕩周期和重新設置后的所述采樣頻率的關(guān)系為: 重新設置后的均值提取參數(shù)=振蕩周期X重新設置后的采樣頻率。6.一種數(shù)據(jù)振蕩抑制裝置，其特征在于，所述裝置包括: 獲取單元，用于獲取實物部件輸出的實際測量量； 采樣單元，用于基于所述實際測量量的振蕩周期對應的采樣頻率，對所述實際測量量進行采樣，其中所述采樣頻率高于所述振蕩周期的振蕩頻率； 處理單元，用于基于所述振蕩周期對應的均值提取參數(shù)，對采樣后的所述實際測量量進行均值處理，得到振蕩抑制處理后的實際測量量，以將所述振蕩抑制處理后的實際測量量作為所述實物部件的輸出結(jié)果。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括:第一設置單元，用于基于所述振蕩頻率設置所述采樣頻率，其中設置的所述采樣頻率與所述振蕩頻率的關(guān)系為: 采樣頻率=振蕩頻率X M，M為大于I的自然數(shù)。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括:第一判斷單元，用于判斷所述振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象，并當判斷出所述振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，觸發(fā)所述第一設置單元對所述采樣頻率進行重新設置，且重新設置后的所述采樣頻率與所述振蕩頻率的關(guān)系為: 重新設置后的采樣頻率=振蕩頻率XM，M為大于I的自然數(shù)。9.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括:第二設置單元，用于基于所述振蕩周期和所述采樣頻率設置所述均值提取參數(shù)，其中設置的所述均值提取參數(shù)與所述振蕩周期和所述采樣頻率的關(guān)系為: 均值提取參數(shù)=振蕩周期X采樣頻率。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括:第二判斷單元，用于判斷所述振蕩抑制處理后的實際測量量是否存在周期振蕩現(xiàn)象，并當判斷出所述振蕩抑制處理后的實際測量量存在周期振蕩現(xiàn)象時，觸發(fā)所述第二設置單元基于振蕩周期和重新設置后的采樣頻率，對所述均值提取參數(shù)進行重新設置，其中重新設置后的所述均值提取參數(shù)與所述振蕩周期和重新設置后的所述采樣頻率的關(guān)系為: 重新設置后的均值提取參數(shù)=振蕩周期X重新設置后的采樣頻率。
【文檔編號】G05B17/02GK105892306SQ201610200690
【公開日】2016年8月24日
【申請日】2016年3月31日
【發(fā)明人】羅喜霜
【申請人】北京潤科通用技術(shù)有限公司