本實(shí)用新型涉及溫度檢測(cè)技術(shù),特別涉及功率放大器的過溫檢測(cè)和保護(hù)。
背景技術(shù):
在通信系統(tǒng)的發(fā)射鏈路中,當(dāng)遇到信道較惡劣的環(huán)境時(shí),為了保證接收機(jī)能接收到良好的信號(hào),需要發(fā)射端的功率放大器輸出較大的輸出功率。當(dāng)連續(xù)輸出功率較大的時(shí)候,功率放大器所產(chǎn)生的熱量無法快速發(fā)散,造成功率放大器的損壞。過溫檢測(cè)和保護(hù)電路可以很好的解決這個(gè)問題。
然而,本實(shí)用新型的發(fā)明人發(fā)現(xiàn),現(xiàn)有的過溫檢測(cè)和保護(hù)電路常常只有一個(gè)過溫指示并且閾值不可調(diào),這樣的過溫檢測(cè)和保護(hù)機(jī)制是不夠靈活的。因此,需要一種能夠解決至少一個(gè)上述問題的過溫檢測(cè)和保護(hù)電路。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本實(shí)用新型的目的在于提供一種溫度檢測(cè)電路,電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,利于集成,容易實(shí)現(xiàn)。
為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型的實(shí)施方式公開了一種溫度檢測(cè)電路,包括帶隙基準(zhǔn)電路、電流產(chǎn)生電路、閾值電壓產(chǎn)生電路、第一遲滯比較器、第二遲滯比較器、控制電路和片外電阻;
帶隙基準(zhǔn)電路的一個(gè)輸出端向電流產(chǎn)生電路的輸入端輸出帶隙基準(zhǔn)電壓,帶隙基準(zhǔn)電路的另一個(gè)輸出端向第一遲滯比較器的一個(gè)輸入端和第二遲滯比較器的一個(gè)輸入端輸出正溫度系數(shù)的電壓;
片外電阻的第一端接電流產(chǎn)生電路的一路輸出電流和閾值電壓產(chǎn)生電路的輸入端,該片外電阻的第二端接地;
閾值電壓產(chǎn)生電路的一個(gè)輸出端向第一遲滯比較器的另一個(gè)輸入端輸出第一閾值電壓,閾值電壓產(chǎn)生電路的另一個(gè)輸出端向第二遲滯比較器的另一個(gè)輸入端輸出第二閾值電壓;
控制電路的兩個(gè)輸入端接第一遲滯比較器和第二遲滯比較器的輸出端,控制電路根據(jù)第一遲滯比較器和第二遲滯比較器的輸出控制電流產(chǎn)生電路輸出給功率放大器的偏置電流;
其中,片外電阻的電阻值可變。
本實(shí)用新型實(shí)施方式與現(xiàn)有技術(shù)相比,主要區(qū)別及其效果在于:
在本申請(qǐng)的溫度檢測(cè)電路中,只額外增加了一個(gè)片外電阻,即可產(chǎn)生兩個(gè)閾值電壓,并且由于片外電阻的電阻值可變,可以對(duì)兩個(gè)閾值電壓進(jìn)行調(diào)節(jié),該電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,利于集成,容易實(shí)現(xiàn);
進(jìn)一步地,同種類型電阻的相對(duì)精度較高,使得第一閾值電壓和第二閾值電壓對(duì)工藝不敏感,精度較高;
進(jìn)一步地,該電流產(chǎn)生電路不僅能夠產(chǎn)生功率放大器的偏置電流,而且能夠產(chǎn)生兩個(gè)遲滯比較器的閾值電壓。
附圖說明
圖1是本實(shí)用新型第一實(shí)施方式中一種溫度檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是本實(shí)用新型第一實(shí)施方式中一種溫度檢測(cè)電路中閾值電壓產(chǎn)生電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3是本實(shí)用新型第一實(shí)施方式中一種溫度檢測(cè)電路中電流產(chǎn)生電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4是本實(shí)用新型第一實(shí)施方式中一種溫度檢測(cè)電路中帶隙基準(zhǔn)電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
在以下的敘述中,為了使讀者更好地理解本申請(qǐng)而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解,即使沒有這些技術(shù)細(xì)節(jié)和不基于以下各實(shí)施方式的種種變化和修改,也可以實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)各權(quán)利要求所要求保護(hù)的技術(shù)方案。
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
本實(shí)用新型第一實(shí)施方式涉及一種溫度檢測(cè)電路。圖1是該溫度檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示,該溫度檢測(cè)電路包括帶隙基準(zhǔn)電路、電流產(chǎn)生電路、閾值電壓產(chǎn)生電路、第一遲滯比較器(Hys Comp 1)、第二遲滯比較器(Hys Comp 2)、控制電路(未顯示)和片外電阻(其電阻值由Rot表示)。
帶隙基準(zhǔn)電路的一個(gè)輸出端向電流產(chǎn)生電路的輸入端輸出帶隙基準(zhǔn)電壓Vbg,帶隙基準(zhǔn)電路的另一個(gè)輸出端向第一遲滯比較器的一個(gè)輸入端和第二遲滯比較器的一個(gè)輸入端輸出正溫度系數(shù)的電壓Vptat。
該片外電阻的第一端接電流產(chǎn)生電路的一路輸出電流和閾值電壓產(chǎn)生電路的輸入端,該片外電阻的第二端接地。
閾值電壓產(chǎn)生電路的一個(gè)輸出端向第一遲滯比較器的另一個(gè)輸入端輸出第一閾值電壓Vrh,閾值電壓產(chǎn)生電路的另一個(gè)輸出端向第二遲滯比較器的另一個(gè)輸入端輸出第二閾值電壓Vrl。
控制電路的兩個(gè)輸入端接第一遲滯比較器和第二遲滯比較器的輸出端,控制電路根據(jù)第一遲滯比較器和第二遲滯比較器的輸出OT1和OT2控制電流產(chǎn)生電路輸出給功率放大器的偏置電流Io_pa,例如當(dāng)OT1輸出為高電位的時(shí)候,控制電路減小輸出給功率放大器的偏置電流,當(dāng)OT1和OT2都為高電位的時(shí)候,關(guān)閉功率放大器??梢岳斫猓摽刂齐娐房梢杂捎布娐贰⒑?或軟件程序?qū)崿F(xiàn),鑒于該控制電路的實(shí)現(xiàn)方式對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說是熟知的,在此不再贅述。
其中,片外電阻的電阻值(Rot)是可變的。可以理解,片外電阻可以由任意可變電路來實(shí)現(xiàn),只要電阻值可變即可,從而直接選擇合適的電阻值就可以調(diào)節(jié)遲滯比較器的閾值電壓。
在本實(shí)施方式的溫度檢測(cè)電路中,只額外增加了一個(gè)片外電阻,即可產(chǎn)生兩個(gè)閾值電壓,并且由于片外電阻的電阻值可變,可以對(duì)兩個(gè)閾值電壓進(jìn)行調(diào)節(jié),該電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,利于集成,容易實(shí)現(xiàn)。
具體地,將對(duì)上述帶隙基準(zhǔn)電路、電流產(chǎn)生電路和閾值電壓產(chǎn)生電路的結(jié)構(gòu)詳細(xì)描述。
在一實(shí)例中,如圖2所示,閾值電壓產(chǎn)生電路包括第一運(yùn)算放大器opa1、第一金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor,簡(jiǎn)稱“MOSFET”)M1、第一電阻R1和第二電阻R2。
第一運(yùn)算放大器opa1的一個(gè)輸入端作為閾值電壓產(chǎn)生電路的輸入端與片外電阻的第一端連接(接收電壓Vot),第一運(yùn)算放大器opa1的輸出端與第一MOS管M1的柵極連接。
第一MOS管M1的第一極接電源,第一MOS管M1的第二極接第一電阻R1的第一端并作為閾值電壓產(chǎn)生電路的一個(gè)輸出端輸出第一閾值電壓Vrh,第一電阻R1的第二端與第二電阻R2的第一端和第一運(yùn)算放大器opa1的另一個(gè)輸入端連接并作為閾值電壓產(chǎn)生電路的另一個(gè)輸出端輸出第二閾值電壓Vrl,第二電阻R2的第二端接地。
在圖2所示的閾值電壓產(chǎn)生電路中,閾值電壓產(chǎn)生電路的輸入電壓為Rot上的電壓Vot,其輸出兩路參考電壓Vrl和Vrh給各比較器,由以上電路可知:
Vrl=(Rot/Rbias)*Vbg;
Vrh=(Rot/Rbias)*(R1+R2)/R2*Vbg;
其中,R1和R2可以為同種類型的電阻,例如P型多晶電阻、N型多晶電阻、金屬電阻等。用同種電阻類型,在集成電路中的布圖設(shè)計(jì)上方向一致,匹配好,因此相對(duì)精度較高,使得第一閾值電壓和第二閾值電壓對(duì)工藝不敏感,精度較高。在圖2中第一MOS管M1被示為NMOS晶體管,第一MOS管的第一極是漏極,第一MOS管的第二極是源極??梢岳斫?,在本申請(qǐng)的其他實(shí)施方式中,根據(jù)電路結(jié)構(gòu)的設(shè)置不同,第一MOS管也可以是PMOS晶體管。此外,可以理解,只要是根據(jù)Rot產(chǎn)生閾值電壓,上述閾值電壓產(chǎn)生電路也可以根據(jù)實(shí)際需要而具有其他電路結(jié)構(gòu),不限于圖2所示的形式。
在一實(shí)例中,如圖3所示,溫度檢測(cè)電路還包括偏置電阻Rbias,電流產(chǎn)生電路還包括第二運(yùn)算放大器opa2、第二MOS管M2、第三MOS管M3和MOS管陣列。由圖1和圖3可以看到,偏置電阻Rbias也位于片外。
第二運(yùn)算放大器opa2的一個(gè)輸入端作為電流產(chǎn)生電路的輸入端接收帶隙基準(zhǔn)電壓Vbg,第二運(yùn)算放大器opa2的輸出端與第二MOS管M2、第三MOS管M3和MOS管陣列中各MOS管的柵極連接,第二MOS管M2、第三MOS管M3和MOS管陣列中各MOS管的第一極接電源。
第二MOS管M2的第二極與偏置電阻Rbias的第一端和第二運(yùn)算放大器opa2的另一個(gè)輸入端連接,第三MOS管M3的第二極與上述片外電阻的第一端(產(chǎn)生電壓Vot)連接,偏置電阻Rbias的第二端和片外電阻的第二端接地。
MOS管陣列中各MOS管相互串并聯(lián),MOS管陣列中各MOS管的第二極相互連接并輸出偏置電流Io_pa給功率放大器,控制電路根據(jù)第一遲滯比較器和第二遲滯比較器的輸出控制MOS管陣列中各MOS管的導(dǎo)通或關(guān)斷,以控制電流產(chǎn)生電路輸出給功率放大器的偏置電流Io_pa(例如,當(dāng)OT1輸出為高電位、OT2輸出為低電位的時(shí)候,關(guān)閉MOS管陣列中部分MOS管以減小輸出給功率放大器的偏置電流;當(dāng)OT1和OT2輸出都為高電位的時(shí)候,關(guān)閉MOS管陣列中所有MOS管以關(guān)閉輸出給功率放大器的偏置電流,即關(guān)閉功率放大器)。此外,在本實(shí)用新型的其他實(shí)施方式,也可以通過控制其他類型的開關(guān)器件的導(dǎo)通或關(guān)斷、和/或改變電路的電阻值等來控制輸出給功率放大器的偏置電流。
可以看到,上述電流產(chǎn)生電路利用一個(gè)片外電阻Rot可以實(shí)現(xiàn)PTAT電流,此電流的一種重要功能是產(chǎn)生功率放大器的偏置電流,另外一個(gè)功能是產(chǎn)生比較器的低閾值電壓Vrl,此電壓可以通過片外的電阻Rot進(jìn)行調(diào)節(jié)。也就是說,該電流產(chǎn)生電路不僅能夠產(chǎn)生功率放大器的偏置電流,而且能夠產(chǎn)生遲滯比較器的閾值電壓。
在圖3中,第二MOS管M2、第三MOS管M3和MOS管陣列中的各MOS管被示為NMOS管,第二MOS管M2、第三MOS管M3和MOS管陣列中的各MOS管的第一極是漏極,第二極是源極??梢岳斫?,在本申請(qǐng)的其他實(shí)施方式中,根據(jù)電路結(jié)構(gòu)的設(shè)置不同,各MOS管類型也可以相應(yīng)調(diào)整。此外,可以理解,上述片外電阻也可以連接到其他結(jié)構(gòu)的電流產(chǎn)生電路中,不限于圖3所示的電流產(chǎn)生電路結(jié)構(gòu)。
在一個(gè)實(shí)例中,如圖4所示,帶隙基準(zhǔn)電路包括第四至第十五MOS管M4-M15,第一至第三雙極型晶體管B1-B3、第三至第六電阻R3-R6。
第一至第三雙極型晶體管B1-B3的基極和第二極和第六電阻R6的第二端相互連接并接地,第一雙極型晶體管B1的第一極與第四MOS管M4的第二極連接,第二雙極型晶體管B2的第一極與第三電阻R3的第二端連接。
第四MOS管M4的柵極與第五MOS管M5的柵極、第四電阻R4的第二端和第六MOS管M6的第一極連接,第四MOS管M4的第一極與第六MOS管M6的第二極連接,第五MOS管M5的第二極與第三電阻R3的第一端連接,第五MOS管M5的第一極與第七M(jìn)OS管M7的第二極連接。
第六MOS管M6的柵極與第四電阻R4的第一端、第七M(jìn)OS管M7的柵極和第八MOS管M8的第二極連接,第七M(jìn)OS管M7的第一極與第八至第十一MOS管M8-M11的柵極和第九MOS管M9的第二極連接。
第八MOS管M8的第一極與第十二MOS管M12的第二極連接,第九MOS管M9的第一極與第十二至第十五MOS管M12-M15的柵極和第十三MOS管M13的第二極連接。
第十二至第十五MOS管M12-M15的第一極相互連接并與電源連接,第十四MOS管M14的第二極與第十MOS管M10的第一極連接,第十五MOS管M15的第二極與第十一MOS管M11的第一極連接。
第十MOS管M10的第二極與第五電阻R5的第一端連接并輸出帶隙基準(zhǔn)電壓Vbg,第五電阻R5的第二端與第三雙極型晶體管B3的第一極連接,第十一MOS管M11的第二極與第六電阻R6的第一端連接并輸出正溫度系數(shù)的電壓Vpata。
帶隙基準(zhǔn)電路除了產(chǎn)生帶隙基準(zhǔn)電壓Vbg之外,還產(chǎn)生一個(gè)正溫度系數(shù)的電壓Vptat,
Vbg=(R5/R3)*VT*ln(n)+VBE
Vptat=(R6/R3)*VT*ln(n)
其中,VT為溫度的電壓當(dāng)量,VT=K*T/q,K為波爾茲曼常數(shù),T為熱力學(xué)溫度,q為電子電荷,n為帶隙基準(zhǔn)電路中三極管個(gè)數(shù)的比值,VBE是第三雙極型晶體管B3的基極與發(fā)射極之間的電壓。選擇合適的R5和R3,可以使Vbg在100℃和180℃呈現(xiàn)帶隙基準(zhǔn),選擇合適的電阻R6可以使Vptat有較寬的電壓范圍,便于降低對(duì)比較器的分辨率的要求。
在圖4中,第一至第三雙極型晶體管B1-B3被示為NPN管,第一至第三雙極型晶體管B1-B3的第一極是集電極,第二極是發(fā)射極。第四至第七M(jìn)OS管M4-M7是NMOS管,第四至第七M(jìn)OS管M4-M7的第一極是漏極,第二極是源極。第八至第十五MOS管M8-M15是PMOS管,第八至第十五MOS管M8-M1的第一極是源極,第二極是漏極??梢岳斫?,在本實(shí)用新型的其他實(shí)施方式中,各MOS管類型并不限于上述形式,可以根據(jù)具體電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整,由于各半導(dǎo)體類型MOS管的分配與連接為本領(lǐng)域技術(shù)人員的公知常識(shí),在此不再贅述。
此外,可以理解,可以使用其他產(chǎn)生帶隙基準(zhǔn)電壓和正溫度系數(shù)的電壓的帶隙基準(zhǔn)電路,不限于圖4所示的帶隙基準(zhǔn)電路結(jié)構(gòu)。
返回參見圖1,基于圖1的溫度檢測(cè)電路介紹應(yīng)用于功率放大器的過溫度檢測(cè)和保護(hù)方法。圖1中Io_pa為輸出給功率放大器的偏置電流,該電流受控于C1與C0。本申請(qǐng)除了產(chǎn)生bias(偏置電流)所用的電阻外,只額外增加了一個(gè)片外的調(diào)節(jié)管腳Rot即可實(shí)現(xiàn)兩個(gè)對(duì)工藝不敏感的閾值電壓Vrh和Vrl,以輸出兩個(gè)溫度預(yù)警信號(hào)。當(dāng)溫度超過T1時(shí)OT1拉高,給微控制單元(MicroController Unit,簡(jiǎn)稱“MCU”)指示,其可以調(diào)節(jié)C1與C0控制輸出給PA(功率放大器)的偏置電流Io_pa;當(dāng)溫度超過T2時(shí),OT2拉高,MCU控制C1與C0關(guān)閉PA。也就是說,當(dāng)溫度超過閾值T1(例如145℃)時(shí),采取減小電流的方式降低溫度,當(dāng)溫度進(jìn)一步升高到T2(例如165℃)時(shí),將暫時(shí)關(guān)閉功率放大器,待溫度降低時(shí)再開啟。可以理解,上述控制過程也可以通過硬件電路(例如上述控制電路)來實(shí)現(xiàn)。
由于應(yīng)用場(chǎng)合的不同,通常需要T1和T2設(shè)置成方便可調(diào)的模式,本申請(qǐng)采用一個(gè)與產(chǎn)生帶隙偏置電流的電阻同等類型的電阻并實(shí)現(xiàn)了T1和T2閾值的可調(diào),而且該閾值對(duì)工藝不敏感。
需要說明的是,在本專利的權(quán)利要求和說明書中,諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語(yǔ)僅僅用來將一個(gè)實(shí)體或者操作與另一個(gè)實(shí)體或操作區(qū)分開來,而不一定要求或者暗示這些實(shí)體或操作之間存在任何這種實(shí)際的關(guān)系或者順序。而且,術(shù)語(yǔ)“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含,從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素,而且還包括沒有明確列出的其他要素,或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下,由語(yǔ)句“包括一個(gè)”限定的要素,并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。
雖然通過參照本實(shí)用新型的某些優(yōu)選實(shí)施方式,已經(jīng)對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了圖示和描述,但本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)該明白,可以在形式上和細(xì)節(jié)上對(duì)其作各種改變,而不偏離本實(shí)用新型的精神和范圍。