本發(fā)明是關(guān)于一種監(jiān)控系統(tǒng),且特別是關(guān)于一種用來監(jiān)控機(jī)臺(tái)的監(jiān)控系統(tǒng)。
背景技術(shù):
在目前各種制造工廠中,電腦數(shù)字控制(computernumericalcontrol,cnc)機(jī)臺(tái)為不可或缺的工具之一,舉凡切削或鉆孔等各種加工作業(yè),均可由cnc機(jī)臺(tái)來實(shí)現(xiàn)。
在一個(gè)廠房中,通常容納了數(shù)十臺(tái),甚至數(shù)百臺(tái)的cnc機(jī)臺(tái),為了監(jiān)控每一cnc機(jī)臺(tái)的工作狀態(tài),亦即監(jiān)控cnc機(jī)臺(tái)的運(yùn)作與否,每一cnc機(jī)臺(tái)均可安裝一監(jiān)控程式,其是用以產(chǎn)生可反映機(jī)臺(tái)工作狀態(tài)的資料。cnc機(jī)臺(tái)可透過連接介面連接伺服器,以將上述資料提供給廠房的管理者知悉。
然而,在不同廠商所生產(chǎn)的cnc機(jī)臺(tái)中,其所相容的監(jiān)控程式并不相同,故若一廠房中同時(shí)容納多種不同廠商的機(jī)臺(tái)(例如:10種),則制造者必須購入多種監(jiān)控程式(例如:10種),無疑地會(huì)提升成本上的負(fù)擔(dān)。此外,由于機(jī)臺(tái)數(shù)量眾多,故當(dāng)機(jī)臺(tái)的工具受損時(shí),亦難以有效地判斷并及時(shí)地發(fā)現(xiàn)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的一目的在于有效地判斷機(jī)臺(tái)的工具是否有缺損,并及時(shí)地供管理者知悉。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種監(jiān)控系統(tǒng),其可利用光感測(cè)的方式來監(jiān)控各種不同機(jī)臺(tái)的工作狀態(tài),而無須針對(duì)不同廠商的機(jī)臺(tái)分別購入監(jiān)控程式,從而大幅降低成本。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,一種監(jiān)控系統(tǒng)可用以監(jiān)控至少一機(jī)臺(tái)。機(jī)臺(tái)具有一工作燈。監(jiān)控系統(tǒng)包含一測(cè)距裝置、一缺陷判斷單元以及一燈控制器。測(cè)距裝置是用以根據(jù)測(cè)距裝置與機(jī)臺(tái)的一工具之間的距離產(chǎn)生一訊號(hào)。缺陷判斷單元電性連接測(cè)距裝置,用以根據(jù)此訊號(hào)判斷此工具的一缺陷。燈 控制器電性連接缺陷判斷單元,用以根據(jù)缺陷判斷單元所判斷的缺陷,改變工作燈的一放射光的光學(xué)特性。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,監(jiān)控系統(tǒng)還可包含一工具支架,用以支撐工具。工具支架與測(cè)距裝置的其中一者相對(duì)于工具支架與測(cè)距裝置的其中另一者是可移動(dòng)的。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,監(jiān)控系統(tǒng)還可包含一靜止物。靜止物圍繞工具支架或被工具支架所圍繞。測(cè)距裝置相對(duì)于靜止物是靜止的。工具支架相對(duì)于靜止物是可移動(dòng)的。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,測(cè)距裝置實(shí)質(zhì)上沿著靜止物的一徑向方向或一軸向方向放射一光束。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,監(jiān)控系統(tǒng)還包含一旋轉(zhuǎn)控制器,電性連接工具支架,用以旋轉(zhuǎn)工具支架使得數(shù)個(gè)工具依序地移動(dòng)至測(cè)距裝置所放射的一光束的一行進(jìn)路徑上的一位置。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,監(jiān)控系統(tǒng)還可包含一旋轉(zhuǎn)物,圍繞工具支架或被工具支架所圍繞。測(cè)距裝置相對(duì)于旋轉(zhuǎn)物是靜止的,且旋轉(zhuǎn)物相對(duì)于工具支架是可旋轉(zhuǎn)的。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,測(cè)距裝置實(shí)質(zhì)上沿著旋轉(zhuǎn)物的一徑向方向或一軸向方向放射一光束。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,監(jiān)控系統(tǒng)還可包含一旋轉(zhuǎn)控制器,電性連接旋轉(zhuǎn)物,用以旋轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)物使得測(cè)距裝置所放射的一光束的一行進(jìn)路徑依序改變至數(shù)個(gè)工具。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,監(jiān)控系統(tǒng)還可包含一抬升裝置,用以相對(duì)于工具支架抬升測(cè)距裝置。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,測(cè)距裝置是用以根據(jù)測(cè)距裝置所放射的一光束是否被遮擋而輸出一數(shù)字訊號(hào),且缺陷判斷單元是用以根據(jù)數(shù)字訊號(hào)判斷工具的缺陷。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,測(cè)距裝置是用以當(dāng)測(cè)距裝置所放射的一光束被工具遮擋時(shí),根據(jù)測(cè)距裝置與工具之間的距離輸出一模擬訊號(hào),且缺陷判斷單元是用以根據(jù)模擬訊號(hào)判斷工具的缺陷。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,監(jiān)控系統(tǒng)還可包含至少一光感測(cè)器以及至少一控制器。光感測(cè)器是設(shè)置于工作燈,用以根據(jù)機(jī)臺(tái)的工作燈的亮度 發(fā)出一感測(cè)訊號(hào)。控制器電性連接光感測(cè)器,用以根據(jù)感測(cè)訊號(hào),判斷機(jī)臺(tái)的一工作狀態(tài)。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,監(jiān)控系統(tǒng)還可包含至少一固定件。固定件是設(shè)置于工作燈上。光感測(cè)器是設(shè)置于固定件上。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,固定件包含一遮光體。遮光體具有一容置槽以及一內(nèi)表面。內(nèi)表面是相鄰于工作燈。容置槽是凹設(shè)于內(nèi)表面。光感測(cè)器是容設(shè)于容置槽內(nèi)。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,監(jiān)控系統(tǒng)還可包含至少一撓性結(jié)構(gòu)。撓性結(jié)構(gòu)是設(shè)置于固定件與工作燈之間。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,監(jiān)控系統(tǒng)還可包含至少一發(fā)光二極體。發(fā)光二極體電性連接控制器,其可用以在控制器判斷機(jī)臺(tái)的工作狀態(tài)為運(yùn)作中時(shí)發(fā)光。
于本發(fā)明的一或多個(gè)實(shí)施方式中,光感測(cè)器包含一光敏電阻以及一可變電阻。光敏電阻可用以對(duì)應(yīng)機(jī)臺(tái)的工作燈的亮度改變電阻值。可變電阻是串聯(lián)于光敏電阻。
于上述實(shí)施方式中,由于工具的缺陷可由距離量測(cè)的方式所偵測(cè),而非通過影像擷取、振動(dòng)感測(cè)或溫度感測(cè)的方式所偵測(cè),故可避免由影像擷取、振動(dòng)感測(cè)或溫度感測(cè)等方式所產(chǎn)生的缺點(diǎn)。此外,由于機(jī)臺(tái)的工作燈是在機(jī)臺(tái)的工作狀態(tài)為運(yùn)作中時(shí)發(fā)光,如此,監(jiān)控系統(tǒng)即可利用光感測(cè)器來感測(cè)機(jī)臺(tái)的工作燈的亮度,從而獲知機(jī)臺(tái)的工作狀態(tài)為運(yùn)作中或是非運(yùn)作中。由于上述方式僅需感測(cè)機(jī)臺(tái)的工作燈亮度,故無須針對(duì)不同廠商的機(jī)臺(tái)分別購入監(jiān)控程式,從而大幅降低成本。
以上所述僅是用以闡述本發(fā)明所欲解決的問題、解決問題的技術(shù)手段、及其產(chǎn)生的功效等等,本發(fā)明的具體細(xì)節(jié)將在下文的實(shí)施方式及相關(guān)圖式中詳細(xì)介紹。
附圖說明
為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征、優(yōu)點(diǎn)與實(shí)施例能更明顯易懂,所附圖式的說明如下:
圖1繪示依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的監(jiān)控系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖;
圖2繪示依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的監(jiān)控系統(tǒng)的架構(gòu)圖;
圖3繪示依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的固定件與光感測(cè)器的立體分解圖;
圖4繪示依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施方式的固定件與光感測(cè)器的立體分解圖;
圖5繪示依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的光感測(cè)器與控制器之間的電路圖;
圖6繪示依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施方式的光感測(cè)器與控制器之間的電路圖;
圖7繪示依據(jù)本發(fā)明又一實(shí)施方式的光感測(cè)器與控制器之間的電路圖;
圖8繪示依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施方式的監(jiān)控系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖;
圖9繪示依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式的偵測(cè)機(jī)臺(tái)300工具的系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖;
圖10繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具的缺陷的系統(tǒng)的立體圖;
圖11繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具的缺陷的系統(tǒng)的立體圖;
圖12繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具的缺陷的系統(tǒng)的立體圖;
圖13繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具的缺陷的系統(tǒng)的立體圖;
圖14繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具的缺陷的系統(tǒng)的立體圖;
圖15繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具的缺陷的系統(tǒng)的立體圖;以及
圖16繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具的缺陷的系統(tǒng)的立體圖。
具體實(shí)施方式
以下將以圖式揭露本發(fā)明的數(shù)個(gè)實(shí)施方式,為明確說明起見,許多實(shí)務(wù)上的細(xì)節(jié)將在以下敘述中一并說明。然而,熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)了解到,在本發(fā)明部分實(shí)施方式中,這些實(shí)務(wù)上的細(xì)節(jié)并非必要的,因此不應(yīng)用以限制本發(fā)明。此外,為簡(jiǎn)化圖式起見,一些習(xí)知慣用的結(jié)構(gòu)與元件在圖式中將以簡(jiǎn)單示意的方式繪示之。
圖1繪示依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的監(jiān)控系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖。如圖1所示,本實(shí)施方式的監(jiān)控系統(tǒng)可包含至少一光感測(cè)器100、至少一控制器200、至少一中繼站(例如:
圖2繪示依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的監(jiān)控系統(tǒng)的架構(gòu)圖。如圖2所示,每一機(jī)臺(tái)300均具有一工作燈310。工作燈310是用以在機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)為運(yùn)作中時(shí)發(fā)光。具體來說,當(dāng)機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)為運(yùn)作中時(shí),工作燈310是發(fā)光的,而當(dāng)機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)為非運(yùn)作中時(shí),工作燈310是不發(fā)光的。也就是說,工作燈310的發(fā)光與否與機(jī)臺(tái)300的運(yùn)作同步。光感測(cè)器100是設(shè)置于工作燈310。光感測(cè)器100可根據(jù)機(jī)臺(tái)300的工作燈310的亮度發(fā)出感測(cè)訊號(hào)。亦即,光感測(cè)器100可于機(jī)臺(tái)300的工作燈310在運(yùn)作中發(fā)光時(shí)而發(fā)出感測(cè)訊號(hào)??刂破?00是電性連接光感測(cè)器100,用以根據(jù)光感測(cè)器100所發(fā)出的感測(cè)訊號(hào),判斷機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)。
由于工作燈310的發(fā)光與否是與機(jī)臺(tái)300的運(yùn)作同步,以避免工安問題。基于如此特性,監(jiān)控系統(tǒng)可利用光感測(cè)器100感測(cè)機(jī)臺(tái)300的工作燈310的亮度,從而獲知機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)為運(yùn)作中或是非運(yùn)作中。由于上述實(shí)施方式僅需感測(cè)機(jī)臺(tái)300的工作燈310的亮度,故可無須針對(duì)不同廠商的機(jī)臺(tái)300分別購入監(jiān)控程式,從而大幅降低成本。
于部分實(shí)施方式中,如圖2所示,控制器200可包含數(shù)個(gè)連接端口202。多個(gè)光感測(cè)器100可分別電性連接控制器200的多個(gè)連接端口202,并分別傳遞感測(cè)訊號(hào)給控制器200,以利控制器200判斷各個(gè)機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)。換句話說,于本發(fā)明的實(shí)施方式中,單一控制器200可通過多個(gè)光感測(cè)器100來監(jiān)控多個(gè)機(jī)臺(tái)300,從而克服傳統(tǒng)監(jiān)控系統(tǒng)中,由于每個(gè)機(jī)臺(tái)300所相容的監(jiān)控程式不同,導(dǎo)致單一控制器200只能監(jiān)控單一機(jī)臺(tái)300的問題。于部分實(shí)施方式中,機(jī)臺(tái)300可為cnc機(jī)臺(tái),但本發(fā)明并不以此為限。
于部分實(shí)施方式中,如圖2所示,監(jiān)控系統(tǒng)可選擇性地包含至少一固定件400。固定件400是設(shè)置于工作燈310上,且光感測(cè)器100是設(shè)置于固定件400上。如此一來,光感測(cè)器100可通過固定件400固定在工作燈310上,而不致于脫離工作燈310。于部分實(shí)施方式中,固定件400可為一環(huán)狀結(jié)構(gòu),其可緊捆在工作燈310上,而幫助固定光感測(cè)器100。于部分實(shí)施方式中,工作燈310的形狀為一柱狀體,以利固定件400能夠緊捆在其上。舉例來說,工作燈310的形狀可為一圓柱體、橢圓柱體或角柱體等等,而固定件400的結(jié)構(gòu)可隨著工作燈310的形狀作不同變化,但本發(fā)明不以此為限。
圖3繪示依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的固定件400與光感測(cè)器100的立體分 解圖。如圖3所示,固定件400包含一遮光體410以及一環(huán)狀部420。環(huán)狀部420可用以捆住工作燈310(可參閱圖2)。遮光體410是位于環(huán)狀部420的局部區(qū)域上。遮光體410具有一內(nèi)表面412以及一容置槽414。遮光體410的內(nèi)表面412是相鄰于工作燈310(可參閱圖2)。也就是說,當(dāng)固定件400套設(shè)于工作燈310上時(shí),固定件400的內(nèi)表面412是被遮蔽,而不會(huì)暴露在外。容置槽414是凹設(shè)于遮光體410的內(nèi)表面412。光感測(cè)器100可容設(shè)于容置槽414內(nèi)。
由于在固定件400套設(shè)于工作燈310上時(shí),固定件400的內(nèi)表面412不會(huì)暴露在外,故容置槽414以及容設(shè)于其中的光感測(cè)器100亦不會(huì)暴露在外。因此,遮光體410外的環(huán)境光可被遮光體410所遮蔽,使得光感測(cè)器100能夠大量地接收到工作燈310(可參閱圖2)所發(fā)出的光,而不會(huì)被環(huán)境光所影響。于部分實(shí)施方式中,光感測(cè)器100的形狀及尺寸與容置槽414相同,如此光感測(cè)器100便能夠密合于容置槽414中。
于部分實(shí)施方式中,光感測(cè)器100具有一第一表面102以及背對(duì)第一表面102的一第二表面104。當(dāng)固定件400套設(shè)于工作燈310(可參閱圖2)上時(shí),第一表面102可緊鄰工作燈310,而接收來自工作燈310的光。背對(duì)第一表面102的第二表面104可埋入遮光體410的容置槽414中,而不會(huì)被環(huán)境光所影響。
圖4繪示依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施方式的固定件400與光感測(cè)器100的立體分解圖。本實(shí)施方式與圖3之間的主要差異是在于:本實(shí)施方式還包含一撓性結(jié)構(gòu)430。撓性結(jié)構(gòu)430是設(shè)置于固定件400與工作燈310(可參閱圖2)之間。具體來說,撓性結(jié)構(gòu)430是位于環(huán)狀部420的內(nèi)側(cè),當(dāng)環(huán)狀部420捆住工作燈310(可參閱圖2)時(shí),撓性結(jié)構(gòu)430可夾在環(huán)狀部420與工作燈310之間,以利用其本身的可撓曲特性提供緩沖效果,而幫助環(huán)狀部420緊捆住工作燈310。于部分實(shí)施方式中,撓性結(jié)構(gòu)430與環(huán)狀部420的形狀與尺寸相同。
圖5繪示依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施方式的光感測(cè)器100與控制器200之間的電路圖。如圖5所示,控制器200是電性連接光感測(cè)器100的電路中的節(jié)點(diǎn)p,故節(jié)點(diǎn)p的電壓值可輸出給控制器200以做為感測(cè)訊號(hào)。光感測(cè)器100可包含一光敏電阻110。光敏電阻110可對(duì)應(yīng)機(jī)臺(tái)300的工作燈310(可參閱圖2)的亮度改變本身的電阻值。具體來說,光敏電阻110的電阻值與其所接收到 的光強(qiáng)弱是相關(guān)的。如此一來,只要工作燈310的亮度改變,節(jié)點(diǎn)p的電壓值就會(huì)改變,而控制器200即可根據(jù)其所得到的節(jié)點(diǎn)p的電壓值,來判斷機(jī)臺(tái)300(可參閱圖2)的工作狀態(tài)。于其他實(shí)施方式中,光感測(cè)器100亦可采用其他感光裝置來取代光敏電阻110,例如:光遮斷器等等,但本發(fā)明并不以此為限。
于部分實(shí)施方式中,如圖5所示,控制器200可包含一感測(cè)訊號(hào)判斷單元210。感測(cè)訊號(hào)判斷單元210可用以在感測(cè)訊號(hào)(亦即,節(jié)點(diǎn)p的電壓值)為高電平時(shí),判斷機(jī)臺(tái)300(可參閱圖2)的工作狀態(tài)為運(yùn)作中。具體來說,當(dāng)節(jié)點(diǎn)p的電壓值符合控制器200的高電平時(shí),感測(cè)訊號(hào)判斷單元210即可判斷機(jī)臺(tái)300是在運(yùn)作的。
實(shí)務(wù)上,即使機(jī)臺(tái)300(可參閱圖2)在運(yùn)作中,仍可能因?yàn)楣ぷ鳠?10(可參閱圖2)長時(shí)間使用,導(dǎo)致亮度衰退,以致于節(jié)點(diǎn)p的電壓值不足以達(dá)到控制器200的高電平,而導(dǎo)致控制器200無法正確地判斷出機(jī)臺(tái)300是否在運(yùn)作中。對(duì)此,于部分實(shí)施方式中,如圖5所示,光感測(cè)器100可選擇性地包含一可變電阻120??勺冸娮?20可串聯(lián)于光敏電阻110。如此一來,使用者可通過調(diào)整可變電阻120的電阻值,以改變可變電阻120與光敏電阻110間電阻值的比例,從而調(diào)整節(jié)點(diǎn)p的電壓值,以利控制器200判斷。舉例來說,使用者可增加可變電阻120的電阻值,以提升節(jié)點(diǎn)p的電壓值,如此即使工作燈310(可參閱圖2)的亮度衰退,節(jié)點(diǎn)p的電壓值仍可達(dá)控制器200的高電平,從而幫助控制器200正確判斷出機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)。
于部分實(shí)施方式中,如圖5所示,監(jiān)控系統(tǒng)可選擇性地包含至少一發(fā)光二極體810。發(fā)光二極體810是電性連接控制器200。發(fā)光二極體810可用以在控制器200判斷機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)為運(yùn)作中時(shí)發(fā)光。也就是說,只要控制器200判斷機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)是在運(yùn)作中時(shí),則發(fā)光二極體810會(huì)發(fā)光;相對(duì)地,只要控制器200判斷機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)為非運(yùn)作中時(shí),則發(fā)光二極體810不會(huì)發(fā)光。因此,當(dāng)使用者觀察到工作燈310(可參閱圖2)發(fā)光,但發(fā)光二極體810無發(fā)光時(shí),即可了解工作燈310發(fā)光時(shí)的亮度可能不足,以致于節(jié)點(diǎn)p的電壓值不足以達(dá)到控制器200的高電平,而導(dǎo)致控制器200的誤判。接著,使用者可調(diào)整可變電阻120的電阻值,使得發(fā)光二極體810與工作燈310同步發(fā)光,以利確??刂破?00的判斷是正確的。
于部分實(shí)施方式中,如圖5所示,控制器200還可包含一感測(cè)訊號(hào)收集 單元220。感測(cè)訊號(hào)收集單元220電性連接感測(cè)訊號(hào)判斷單元210。感測(cè)訊號(hào)收集單元220可收集光感測(cè)器100在一段期間內(nèi),多個(gè)時(shí)間點(diǎn)所發(fā)出的多個(gè)感測(cè)訊號(hào),只要至少一感測(cè)訊號(hào)為高電平,即可通知感測(cè)訊號(hào)判斷單元210判斷機(jī)臺(tái)300(可參閱圖2)的工作狀態(tài)為運(yùn)作中。
舉例來說,若光感測(cè)器100在7點(diǎn)00分發(fā)出的感測(cè)訊號(hào)為高電平,在7點(diǎn)01分發(fā)出的感測(cè)訊號(hào)為低電平,在7點(diǎn)02分發(fā)出的感測(cè)訊號(hào)為低電平,在7點(diǎn)03分發(fā)出的感測(cè)訊號(hào)為高電平,則由于在7點(diǎn)00分至7點(diǎn)03分之間有至少一感測(cè)訊號(hào)為高電平,故感測(cè)訊號(hào)判斷單元210可判斷機(jī)臺(tái)300(可參閱圖2)在7點(diǎn)00分至7點(diǎn)03分內(nèi)的工作狀態(tài)為運(yùn)作中。
如此一來,上述監(jiān)控系統(tǒng)可有效應(yīng)用于工作燈310的燈號(hào)為閃爍的機(jī)臺(tái)300。具體來說,于部分實(shí)施方式中,當(dāng)機(jī)臺(tái)300在運(yùn)作時(shí),其工作燈310的燈號(hào)并非恒亮,而是呈閃爍貌,雖然光感測(cè)器100可能在部分時(shí)間點(diǎn)無法提供高電平的感測(cè)訊號(hào),但由于感測(cè)訊號(hào)收集單元220可收集光感測(cè)器100在多個(gè)時(shí)間點(diǎn)所發(fā)出的多個(gè)感測(cè)訊號(hào),故只要有至少一感測(cè)訊號(hào)是高電平,即可通知感測(cè)訊號(hào)判斷單元210判斷機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)為運(yùn)作中。如此便能夠避免閃爍燈號(hào)所可能造成的誤判。
圖6繪示依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施方式的光感測(cè)器100與控制器200之間的電路圖。本實(shí)施方式與圖5之間的主要差異是在于:本實(shí)施方式可選擇性地包含一放大器820。放大器820是電性連接于光感測(cè)器100與控制器200之間。放大器820可用以放大光感測(cè)器100傳送給控制器200的感測(cè)訊號(hào)。如此一來,放大器820便能夠避免光感測(cè)器100與控制器200之間因?yàn)榫嚯x過長所造成的訊號(hào)衰退問題。換句話說,放大器820可幫助拉長光感測(cè)器100與控制器200之間的距離。
圖7繪示依據(jù)本發(fā)明又一實(shí)施方式的光感測(cè)器100與控制器200之間的電路圖。本實(shí)施方式與圖5之間的主要差異是在于:本實(shí)施方式還可包含一電平轉(zhuǎn)換器830。電平轉(zhuǎn)換器830是電性連接于光感測(cè)器100與控制器200之間。電平轉(zhuǎn)換器830可用以增加控制器200的高電平與低電平間的差距。由于電平轉(zhuǎn)換器830可增加控制器200的高、低電平間的差距,故可使得控制器200對(duì)感測(cè)訊號(hào)的判斷較不敏感。因此,即使光感測(cè)器100與控制器200之間因?yàn)榫嚯x過長而造成訊號(hào)衰退,亦不會(huì)導(dǎo)致控制器200誤判。因此,電平轉(zhuǎn)換器830亦可幫助拉長光感測(cè)器100與控制器200之間的距離。
圖8繪示依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施方式的監(jiān)控系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖。本實(shí)施方式與圖1之間的主要差異是在于:本實(shí)施方式是利用無線基站900取代了圖1的中繼站500。具體來說,控制器200可無線地連接無線基站900。無線基站900可透過交換機(jī)600電性連接伺服器700。無線基站900的傳輸規(guī)格可符合wi-fi、zigbee或由其他射頻訊號(hào)傳輸,但本發(fā)明并不以此為限。
綜上所述,以上實(shí)施方式的監(jiān)控系統(tǒng)可利用光感測(cè)器100來感測(cè)機(jī)臺(tái)300的工作燈310的亮度,從而獲知機(jī)臺(tái)300的工作狀態(tài)為運(yùn)作中或是非運(yùn)作中。由于上述方式僅需感測(cè)機(jī)臺(tái)300的工作燈310亮度,故無須針對(duì)不同廠商的機(jī)臺(tái)300分別購入監(jiān)控程式,從而大幅降低成本。
于部分實(shí)施方式中,機(jī)臺(tái)300的工具的缺陷可由監(jiān)控系統(tǒng)所偵測(cè)。如圖9所示,其為依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式的偵測(cè)機(jī)臺(tái)300工具的系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖。于圖9中,此系統(tǒng)可包含測(cè)距裝置1000、缺陷判斷單元1010、燈控制器1020以及儲(chǔ)存裝置1030。測(cè)距裝置1000可用以利用量測(cè)距離的方式來偵測(cè)機(jī)臺(tái)的工具的缺陷。具體來說,測(cè)距裝置1000可通過光束來量測(cè)工具與測(cè)距裝置1000之間的距離。由于工具的缺陷可由距離量測(cè)的方式所偵測(cè),而非通過影像擷取、振動(dòng)感測(cè)或溫度感測(cè)的方式所偵測(cè),故可避免由影像擷取、振動(dòng)感測(cè)或溫度感測(cè)等方式所產(chǎn)生的缺點(diǎn)。
測(cè)距裝置1000可為激光測(cè)距儀,此激光測(cè)距儀可朝向機(jī)臺(tái)的工具放射激光光束,并接收由工具所反射回來的激光光束。測(cè)距裝置1000可根據(jù)其所放射的激光光束與工具所反射的激光光束之間的差異產(chǎn)生一訊號(hào)。缺陷判斷單元1010電性連接測(cè)距裝置1000,以根據(jù)來自測(cè)距裝置1000的訊號(hào)來判斷工具的缺陷。測(cè)距裝置1000所產(chǎn)生的訊號(hào)可被傳送至缺陷判斷單元1010,此訊號(hào)是對(duì)應(yīng)于距離量測(cè)資料。儲(chǔ)存裝置1030儲(chǔ)存有距離預(yù)定資料,此距離預(yù)定資料是對(duì)應(yīng)于無缺陷的工具與測(cè)距裝置1000之間的距離。儲(chǔ)存裝置1030電性連接缺陷判斷單元1010,使得缺陷判斷單元1010可從儲(chǔ)存裝置1030得到距離預(yù)定資料,而可比較距離量測(cè)資料與距離預(yù)定資料,藉此根據(jù)距離量測(cè)資料與距離預(yù)定資料之間的差異判斷工具的缺陷。
燈控制器1020電性連接缺陷判斷單元1010與工作燈310,使得燈控制器1020可根據(jù)缺陷判斷單元1010所判斷的缺陷改變工作燈310的放射光的光學(xué)特性。舉例來說,燈控制器1020可改變工作燈310的放射光的波長、亮度或偏振態(tài)。光感測(cè)器100可偵測(cè)工作燈310的放射光的變化并可傳送偵 測(cè)訊號(hào)至控制器200,且此偵測(cè)訊號(hào)是對(duì)應(yīng)于放射光的變化。如此一來,管理者可及時(shí)地知悉機(jī)臺(tái)300的工具的缺陷。燈控制器1020與前述實(shí)施方式的控制器200可為兩個(gè)獨(dú)立的控制器或整合于單一控制器中。
圖10繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具t的缺陷的系統(tǒng)的立體圖。如圖10所示,此系統(tǒng)包含測(cè)距裝置1100以及工具支架1300。工具支架1300支撐數(shù)個(gè)工具t于其上。工具支架1300與測(cè)距裝置1100的其中一者相對(duì)于工具支架1300與測(cè)距裝置1100的其中另一者是可移動(dòng)的,使得測(cè)距裝置1100可分別并依序地偵測(cè)此些工具t。當(dāng)其中一工具t具有缺陷,且此缺陷是被測(cè)距裝置1100所偵測(cè)時(shí),燈控制器1020(可參閱圖9)可改變工作燈(可參閱圖2)的放射光的光學(xué)特性。
于部分實(shí)施方式中,此系統(tǒng)還包含靜止物1400以及旋轉(zhuǎn)控制器1500。靜止物1400圍繞工具支架1300。工具支架1300電性連接旋轉(zhuǎn)控制器1500并可在旋轉(zhuǎn)控制器1500的控制下旋轉(zhuǎn),以使工具支架1300相對(duì)于靜止物1400是可旋轉(zhuǎn)的。測(cè)距裝置1100是靜止地位于靜止物1400上。亦即,測(cè)距裝置1100相對(duì)于靜止物1400是靜止的。在這樣的配置下,工具支架1300相對(duì)于測(cè)距裝置1100是可旋轉(zhuǎn)的,因此,當(dāng)工具支架1300旋轉(zhuǎn)時(shí),測(cè)距裝置1100可分別且依序地偵測(cè)此些工具t。更具體地說,當(dāng)工具支架1300旋轉(zhuǎn)使得其中一工具t遮擋測(cè)距裝置1100所放射的激光光束時(shí),測(cè)距裝置1100可根據(jù)測(cè)距裝置1100與工具t之間的距離輸出模擬訊號(hào),且缺陷判斷單元1010(可參閱圖9)可根據(jù)此模擬訊號(hào)判斷缺陷。舉例來說,此模擬訊號(hào)可為類比電壓,其與測(cè)距裝置1100及工具t之間的距離是相關(guān)的,缺陷判斷單元1010可根據(jù)測(cè)距裝置1100所產(chǎn)生的類比電壓與儲(chǔ)存裝置1030(可參閱圖9)所儲(chǔ)存的預(yù)定類比電壓之間的差異,判斷工具t的缺陷。
于部分實(shí)施方式中,靜止物1400包含固定座1410以及環(huán)狀結(jié)構(gòu)1420,固定座1410是固定于環(huán)狀結(jié)構(gòu)1420的環(huán)狀表面上。測(cè)距裝置1100是固定于固定座1410上。如此一來,測(cè)距裝置1100相對(duì)于靜止物1400可為靜止的。換句話說,測(cè)距裝置1100與靜止物1400相對(duì)于工具支架1300均為靜止的。測(cè)距裝置1100具有激光源1110。由于測(cè)距裝置1100相對(duì)于工具支架1300是靜止的,故激光源1110可沿著相對(duì)固定的方向來放射激光光束。進(jìn)一步來說,靜止物1400的環(huán)狀結(jié)構(gòu)1420具有徑向方向r。測(cè)距裝置1100的激光源1110可實(shí)質(zhì)上沿著徑向方向r放射激光光束,工具支架1300可以 靜止物1400的環(huán)狀結(jié)構(gòu)1420之中心軸為軸地旋轉(zhuǎn)。因此,當(dāng)工具支架1300旋轉(zhuǎn)時(shí),所有工具t可依序地移動(dòng)至激光光束的行進(jìn)路徑上的一位置,使得所有工具t均可被偵測(cè)。于部分實(shí)施方式中,靜止物1400的環(huán)狀結(jié)構(gòu)1420具有開口o。開口o可助于更換有缺陷的工具t。舉例來說,當(dāng)工具支架1300旋轉(zhuǎn)時(shí),有缺陷的工具t可通過開口o移出工具支架1300及機(jī)臺(tái)300(可參閱圖2)外。有缺陷的工具t可移動(dòng)至被開口o所暴露的位置,接著,另一工具t可通過開口o置入機(jī)臺(tái)300中并置于工具支架1300上。因此可實(shí)現(xiàn)有缺陷的工具t的更換作業(yè)。
圖11繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具t的缺陷的系統(tǒng)的立體圖。本實(shí)施方式與圖10所示實(shí)施方式之間的主要差異是在于:此系統(tǒng)包含圍繞工具支架1300的旋轉(zhuǎn)物1600。測(cè)距裝置1100是設(shè)置于旋轉(zhuǎn)物1600上。旋轉(zhuǎn)物1600是電性連接于旋轉(zhuǎn)控制器1500a,且可在旋轉(zhuǎn)控制器1500a的控制下旋轉(zhuǎn),以使旋轉(zhuǎn)物1600相對(duì)于工具支架1300是可旋轉(zhuǎn)的。在這樣的配置下,測(cè)距裝置1100相對(duì)于工具支架1300是可旋轉(zhuǎn)的,因此,當(dāng)旋轉(zhuǎn)物1600旋轉(zhuǎn)時(shí),測(cè)距裝置1100可依序偵測(cè)工具支架1300所支撐的多個(gè)工具t。更具體而言,當(dāng)旋轉(zhuǎn)物1600旋轉(zhuǎn)使得測(cè)距裝置1100周向地移動(dòng)時(shí),測(cè)距裝置1100可依序放射激光光束至不同工具t。換句話說,旋轉(zhuǎn)物1600可旋轉(zhuǎn)使得測(cè)距裝置1100所放射的激光光束的行進(jìn)路徑依序改變至不同工具t。當(dāng)激光光束被其中一工具t遮擋時(shí),測(cè)距裝置1100可根據(jù)測(cè)距裝置1100與工具t之間的距離輸出模擬訊號(hào)。
于部分實(shí)施方式中,旋轉(zhuǎn)物1600包含固定座1610以及環(huán)狀結(jié)構(gòu)1620。固定座1610是固定于環(huán)狀結(jié)構(gòu)1620的環(huán)狀表面上。測(cè)距裝置1100是固定于固定座1610上。因此,測(cè)距裝置1100相對(duì)于旋轉(zhuǎn)物1600是靜止的。換句話說,測(cè)距裝置1100與旋轉(zhuǎn)物1600相對(duì)于工具支架1300均是可旋轉(zhuǎn)的,使得當(dāng)旋轉(zhuǎn)物1600旋轉(zhuǎn)時(shí),多個(gè)工具t可依序地被測(cè)距裝置1100所偵測(cè)。
圖12繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具t的缺陷的系統(tǒng)的立體圖。本實(shí)施方式與圖10所示實(shí)施方式之間的主要差異是在于:此系統(tǒng)還包含抬升裝置1700以相對(duì)于工具支架1300抬升測(cè)距裝置1100。換句話說,抬升裝置1700可抬升測(cè)距裝置1100至不同水平高度。再換句話說,靜止物1400具有軸向方向a,抬升裝置1700可沿著靜止物1400的軸向方向a移動(dòng)測(cè)距裝置1100。
抬升裝置1700與測(cè)距裝置1100是設(shè)置于靜止物1400上。測(cè)距裝置1100為激光測(cè)距儀,當(dāng)此測(cè)距裝置1100是位于預(yù)定水平高度時(shí),測(cè)距裝置1100可根據(jù)其所放射的激光光束是否被遮擋,來輸出數(shù)字訊號(hào)。缺陷判斷單元1010可根據(jù)此數(shù)字訊號(hào)判斷工具t的缺陷。舉例來說,當(dāng)激光光束被工具t所遮擋時(shí),測(cè)距裝置1100可輸出高電平電壓,當(dāng)激光光束未被工具t所遮擋時(shí),測(cè)距裝置1100可輸出低電平電壓。因此,當(dāng)測(cè)距裝置1100是位于預(yù)定水平高度時(shí),缺陷判斷單元1010可根據(jù)激光光束是否被工具t所遮擋而判斷工具t的缺陷。
于部分實(shí)施方式中,測(cè)距裝置1100實(shí)質(zhì)上沿著靜止物1400的徑向方向r放射激光光束至工具t,且此測(cè)距裝置1100還可沿著靜止物1400的軸向方向a移動(dòng)。因此,工具t的高度可被偵測(cè)。當(dāng)工具t被偵測(cè)到的高度相較于儲(chǔ)存于儲(chǔ)存裝置1030中的預(yù)定高度是降低時(shí),工具t可被判斷為有缺陷的工具t。舉例來說,當(dāng)測(cè)距裝置1100被提升至一預(yù)定高度,且在此預(yù)定高度,激光光束預(yù)期會(huì)被遮擋,但實(shí)際上激光光束卻未被遮擋時(shí),工具t可被判斷為有缺陷的工具t。于部分實(shí)施方式中,抬升裝置1700與測(cè)距裝置1100可設(shè)置于如圖11所示的旋轉(zhuǎn)物1600上,且當(dāng)此測(cè)距裝置1100被抬升至預(yù)定高度時(shí),測(cè)距裝置1100可根據(jù)激光光束是否被遮擋而輸出數(shù)字訊號(hào)。
圖13繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具t的缺陷的系統(tǒng)的立體圖。本實(shí)施方式與圖10所示實(shí)施方式之間的主要差異是在于:此系統(tǒng)包含被工具支架1300所圍繞的靜止物1400a。更具體來說,工具支架1300為環(huán)狀結(jié)構(gòu),此環(huán)狀結(jié)構(gòu)圍繞靜止物1400a。靜止物1400a可包含固定座1410a與碟盤1420a。固定座1410a是固定于碟盤1420a上。碟盤1420a是被工具支架1300所圍繞。測(cè)距裝置1100是固定于固定座1410a上。如此一來,測(cè)距裝置1100相對(duì)于靜止物1400a是靜止的,且是被工具支架1300所圍繞。當(dāng)工具支架1300旋轉(zhuǎn)時(shí),測(cè)距裝置1100可根據(jù)測(cè)距裝置1100與工具t之間的距離輸出模擬訊號(hào)。于部分實(shí)施方式中,抬升裝置1700與測(cè)距裝置1100可設(shè)置于靜止物1400a的碟盤1420a上,且當(dāng)測(cè)距裝置1100被提升至預(yù)定水平高度時(shí),測(cè)距裝置1100可根據(jù)激光光束是否被遮擋而輸出數(shù)字訊號(hào)。
圖14繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具t的缺陷的系統(tǒng)的立體圖。本實(shí)施方式與圖10所示實(shí)施方式之間的主要差異是在于:此系統(tǒng)包含被工具支架1300所圍繞的旋轉(zhuǎn)物1600a。測(cè)距裝置1100相對(duì)于旋轉(zhuǎn)物1600a 是靜止的。旋轉(zhuǎn)物1600a是電性連接于旋轉(zhuǎn)控制器1500a,且可在旋轉(zhuǎn)控制器1500a的控制下旋轉(zhuǎn),因此,旋轉(zhuǎn)物1600a是可相對(duì)工具支架1300旋轉(zhuǎn)的。固定座1610a是固定于旋轉(zhuǎn)物1600a的碟盤1620a上,且測(cè)距裝置1100是固定于固定座1610a上。當(dāng)工具支架1300旋轉(zhuǎn)時(shí),測(cè)距裝置1100可根據(jù)測(cè)距裝置1100與工具t之間的距離輸出模擬訊號(hào)。于部分實(shí)施方式中,抬升裝置1700與測(cè)距裝置1100可設(shè)置于旋轉(zhuǎn)物1600a的碟盤1620a上,且當(dāng)此測(cè)距裝置1100被抬升至預(yù)定水平高度時(shí),測(cè)距裝置1100可根據(jù)激光光束是否被遮擋而輸出數(shù)字訊號(hào)。
圖15繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具t的缺陷的系統(tǒng)的立體圖。本實(shí)施方式與圖10所示實(shí)施方式之間的主要差異是在于:測(cè)距裝置1100a的激光源1110a實(shí)質(zhì)上沿著靜止物1400的軸向方向a放射激光光束。因此,測(cè)距裝置1100a可量測(cè)工具t與測(cè)距裝置1100a之間在軸向方向a上的距離,以判斷工具t的缺陷。于部分實(shí)施方式中,測(cè)距裝置1100a的一部分是位于工具支架1300上方,藉此激光源1110a可位于工具t上方。舉例來說,測(cè)距裝置1100a可根據(jù)工具t與測(cè)距裝置1100a在軸向方向a上的距離而輸出模擬訊號(hào)。于部分實(shí)施方式中,測(cè)距裝置1100a是設(shè)置于如圖11所示的環(huán)狀旋轉(zhuǎn)物1600。
圖16繪示依據(jù)本發(fā)明部分實(shí)施方式的偵測(cè)工具t的缺陷的系統(tǒng)的立體圖。本實(shí)施方式與圖15所示實(shí)施方式之間的主要差異是在于:此系統(tǒng)包含被工具支架1300所圍繞的靜止物1400a。更進(jìn)一步來說,工具支架1300為環(huán)狀結(jié)構(gòu),此環(huán)狀結(jié)構(gòu)圍繞靜止物1400a。靜止物1400a可包含固定座1410a與碟盤1420a。固定座1410a是固定于碟盤1420a上。碟盤1420a是被工具支架1300所圍繞。測(cè)距裝置1100a是固定于固定座1410a上。如此一來,測(cè)距裝置1100a相對(duì)于靜止物1400a是靜止的,且被工具支架1300所圍繞。測(cè)距裝置1100a的一部分是位于工具支架1300上方,以量測(cè)工具t與測(cè)距裝置1100a之間在軸向方向a上的距離,以判斷工具t的缺陷。
雖然本發(fā)明已以實(shí)施方式揭露如上,然其并非用以限定本發(fā)明,任何熟習(xí)此技藝者,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤飾,因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。