本發(fā)明涉及在工業(yè)環(huán)境(例如航空工業(yè))中對統(tǒng)計指標的使用，特別是為了便于監(jiān)控和控制部件的制造。

背景技術：

在工業(yè)環(huán)境中，部件(特別是機械部件)的制造遇到了兩個對立的約束：具體的，一方面是制造產率和數(shù)量的增加，另一方面是增加的質量要求，這在航空領域中尤其如此。

當今，很難想象對制造的所有部件進行質量控制，除非大大削弱制造產率。因此，統(tǒng)計制造指標通常被使用，可以從作為樣品的有限數(shù)量的部件的質量的具體信息中可靠地推導出制造的一組部件的質量的總體信息。

除了在生產結束時的控制，這可以在具有有限數(shù)量的部件的樣品上完成，通常也可以在生產過程中進行檢查，以便能夠可選擇地調節(jié)生產流程，即，調整制造條件以確保制成的部件繼續(xù)響應所要求的質量標準。在某些情況下，生產過程中的這些統(tǒng)計控制可能會導致生產完全停止，特別是如果制造的部件存在過多的質量缺陷，制造流程則必須完全重新初始化。

質量控制的執(zhí)行與制造的部件的特征尺寸相關。特征尺寸可以是例如部件的特定側、部件的質量或部件的任何其它可測量的特性。

為了執(zhí)行統(tǒng)計控制，連續(xù)提取多個樣品，每個樣品包含制造流程中的多個部件，然后測量所取樣品中的每個部件的特征尺寸。先前選擇的用于監(jiān)控制造流程的質量的統(tǒng)計指標的值是根據(jù)所取樣品中的部件的特征尺寸的不同測量值來計算的。

存在各種統(tǒng)計指標，這些統(tǒng)計指標可用于監(jiān)控部件的制造流程的演變，每個統(tǒng)計指標提供不同的信息用于以某種方式調整制造條件。

用于監(jiān)測工業(yè)制造過程的大多數(shù)統(tǒng)計指標是根據(jù)測量的多個部件的特征尺寸的平均值μ和標準偏差σ計算的。更準確地說，μ對應于測量的特征尺寸相對于該特征尺寸的參考值的偏心的平均值。

一個例子是定心系數(shù)，記為cc，其顯示了對在公差區(qū)間it內的平均值μ的變化施加的約束。公差區(qū)間it是特征尺寸的極限允許值之間的偏差，因此被計算為所測量的特征尺寸的較大公差ts和較小公差ti之間的差，或it＝ts–ti。定心系統(tǒng)cc通常由下式定義：

制造過程也可以通過學習能力指數(shù)來控制，學習能力指數(shù)表征了過程相對于優(yōu)選性能的實際性能。實際上，這些指數(shù)測量制造過程的能力，以使得相關的特征尺寸的部件在優(yōu)選的公差區(qū)間內。

可以參考例如過程能力指數(shù)cp，其顯示了制造過程準確地和重復地生產部件的能力。能力指數(shù)cp越大，成品部件則越相似；而如果能力指數(shù)cp較低，生產將會分散。過程能力指數(shù)cp通常由下式定義：

過程能力指數(shù)cp的缺點在于：積極的結果(即，高)也可以對應于超出公差限度范圍的生產。實際上，制造流程的工業(yè)一致性取決于范圍，這不僅是其分散性，而且是其相對于公差區(qū)間it的平均位置。因此，使用的另一個能力指數(shù)是能力指數(shù)cpk，其顯示了分散性，但也是生產相對于公差限度的定心。在這種情況下，當能力指數(shù)cpk高時，這意味著可以重復生產，并且生產集中在公差區(qū)間it內；也就是說，部件在公差以外制造的風險將更小。能力指數(shù)cpk通常由下式定義：

當然還有其他具有特定屬性的統(tǒng)計指標，可以根據(jù)需要使用這些統(tǒng)計指標來調節(jié)制造過程。

監(jiān)控這些統(tǒng)計指標的實際方法之一是使用控制卡，通常，控制卡是表示在橫坐標軸上的時間以及在縱坐標軸上的測量的統(tǒng)計標準的圖形形式。該圖形也顯示了不同外觀的不同區(qū)域，每個區(qū)域對應于根據(jù)測量的統(tǒng)計指標的值的結果?？梢源嬖诶绮煌伾膮^(qū)域，每個顏色對應一個特定結果。

圖1示出了這種圖形控制卡的例子。區(qū)域v1例如對應于驗證區(qū)，即，如果測量的統(tǒng)計指標在該區(qū)域中，則驗證制造過程，并且如果需要可以監(jiān)控制造流程。區(qū)域r1對應于制裁區(qū)，即如果測量的統(tǒng)計指標在該區(qū)域中，那么相對于所需的質量標準存在重大偏差，并且應該完成制造過程。通常，這種情況意味著對一批成品部件的拒絕，甚至停止制造過程。區(qū)域o1對應于中間控制區(qū)，當統(tǒng)計指標在該區(qū)域中時，中間控制區(qū)向用戶指示必須控制制造過程中的參數(shù)，并且可選地必須調整制造條件以便校正明顯的偏差，并將它們朝著特征尺寸的參考值重新對中。

當目的是同時監(jiān)控用于測量的同一個特征尺寸的多個統(tǒng)計指標時，則會出現(xiàn)問題。一個例子是由圖1所示的圖形示出的控制卡的第一統(tǒng)計指標，以及由圖2所示的圖形示出的控制卡的不同于第一統(tǒng)計指標的第二統(tǒng)計指標的情況。在圖2所示的圖形中，區(qū)域的符號類似于圖1的圖形中使用的區(qū)域的符號，具體的，區(qū)域v2對應于第二統(tǒng)計指標的驗證區(qū)，區(qū)域o2對應于第二統(tǒng)計指標的控制區(qū)，區(qū)域r2對應于第二統(tǒng)計指標的制裁區(qū)。

但是，在給定時間所取的樣本中用于相同特征尺度的統(tǒng)計指標的結果可能不同。很明顯，例如，在第4個時間段，第二統(tǒng)計指標必將導致制裁，而第一統(tǒng)計指標則會在同一時間段轉為控制動作。

為了最好地了解在監(jiān)控制造業(yè)中設想的整個行動，因此，有必要根據(jù)現(xiàn)行的控制規(guī)則對不同統(tǒng)計指標的每個圖形卡進行單獨分析，并從不同的統(tǒng)計指標中得出總的結論。但是這個分析是非常長的，并且因為有統(tǒng)計指標有待評估，這個時間更長了。因此，這會削弱制造流程的總產率，間接地涉及制造成本的上漲。

因此，本發(fā)明的目的是提供一種用于基于對多個表示部件的特征尺寸的不同的統(tǒng)計指標的分析來制造部件的方法，方法解決了上述缺點中的至少一個。

特別地，本發(fā)明的目的是提供一種用于制造部件的方法，方法能夠對多個表示部件的特征尺寸的不同的統(tǒng)計指標進行同時分析。

本發(fā)明的另一個目的是提供一種用于制造部件的方法，方法特別是由于工業(yè)制造的限制而應用的，其提供了對制造的部件的質量的增長的控制，并保持高的產率。

技術實現(xiàn)要素：

為此，提出了一種用于基于對多個表示部件的特征尺寸的不同的統(tǒng)計指標的分析來制造部件的方法，其中：

每個統(tǒng)計指標是根據(jù)測量的多個部件的特征尺寸的平均值μ和標準偏差σ來計算的，多個部件是由制造裝置生產的，每個統(tǒng)計指標與第一參考值以及大于第一參考值的第二參考值相關，定義為：

驗證集，包括其中統(tǒng)計指標大于或等于第二參考值的對(μ；σ)；

制裁集，包括其中統(tǒng)計指標小于或等于第一參考值的對(μ；σ)；且

控制集，包括：統(tǒng)計指標介于第一參考值和第二參考值之間的對(μ；σ)；

定義了以下集合：

總驗證集，對應于每個統(tǒng)計指標的不同驗證集的集合相關的組合；

總制裁集，對應于每個統(tǒng)計指標的不同制裁集的集合相關的組合；

總控制集，包括沒有包含在總驗證集和總制裁集中的對(μ；σ)；

從由制造裝置生產的部件中提取樣品，樣品包括多個部件，測量樣品中的每個部件的特征尺寸，并計算為所取樣品所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm；

確定包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的參數(shù)對屬于總驗證集、總制裁集和總控制集中的哪一個總集合，并且根據(jù)以這種方式確定的總集合例如通過調整制造裝置的調節(jié)參數(shù)來調節(jié)制造。

優(yōu)選地，所呈現(xiàn)的每個步驟是自動化的。

特征尺寸的測量步驟可以使用測量裝置進行，例如，測量裝置包括用于對部件的具體尺寸進行自動測量的傳感器。

計算步驟可以由任何適當?shù)挠嬎阊b置來進行，例如，諸如計算機之類的處理計算數(shù)據(jù)裝置。

調節(jié)步驟可以例如通過集成了處理裝置的調節(jié)裝置來進行，處理裝置用于對來自于計算步驟的數(shù)據(jù)進行整合和處理，以便校正在生產中檢測到的任何異常以及校正生產流程。特別地，提供調節(jié)裝置以校正部件來源的制造裝置的輸入?yún)?shù)。

因此，優(yōu)選地，調節(jié)裝置調整用于制造部件的制造裝置的調節(jié)參數(shù)，例如以便減少一個統(tǒng)計指標的值與對應的參考值之間的偏差。

更一般地說，目的是優(yōu)化統(tǒng)計指標的值與參考值之間的偏差，以至于部件的生產符合相關規(guī)范的要求。修改生產參數(shù)以修改或分別校正在統(tǒng)計指標的值與參考值之間識別的偏差。根據(jù)所使用的統(tǒng)計指標，優(yōu)化偏差例如可以包含減少所識別的偏差。

優(yōu)選的而非限制性的，本方法的單獨考慮或組合考慮的方面如下：

確定包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的參數(shù)對所屬的總集合是在視覺上完成的，其中：

包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的對在調節(jié)圖形(μ；σ)上顯示，調節(jié)圖形(μ；σ)具有作為橫坐標的平均值μ和作為縱坐標的表示尺寸的標準偏差σ，在調節(jié)圖形上顯示了：

圖形驗證區(qū)，包含總驗證集的對(μ；σ)；

圖形制裁區(qū)，包含總制裁集的對(μ；σ)；

圖形控制區(qū)，包含總控制集的對(μ；σ)；

根據(jù)包含對的圖形區(qū)域來確定總相關集。

在不同時刻提取多個樣品，包含有為樣品所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的不同對根據(jù)提取樣品的時間而變化，該不同對在調節(jié)圖形(μ；σ)上表示。

總驗證集對應于每個統(tǒng)計指標的不同驗證集的交集，以及總制裁集對應于每個統(tǒng)計指標的不同制裁集的并集。

總驗證集對應于每個統(tǒng)計指標的不同驗證集的并集，以及總制裁集對應于每個統(tǒng)計指標的不同制裁集的交集。

分析分別稱為第一統(tǒng)計指標、第二統(tǒng)計指標和第三統(tǒng)計指標的三個不同的統(tǒng)計指標；其中，

總驗證集對應于第一統(tǒng)計指標的驗證集與第二統(tǒng)計指標的證集和第三統(tǒng)計指標的驗證集之間的交集的并集；以及

總制裁集對應于第一統(tǒng)計指標的驗證集與第二統(tǒng)計指標的驗證集和第三統(tǒng)計指標的驗證集的并集之間的交集。

根據(jù)方法：

第一統(tǒng)計指標是由下式定義的第一能力指標cpk：

第二統(tǒng)計指標是由下式定義的第二能力指標cp：

第三統(tǒng)計指標是由下式定義的定心系數(shù)cc：

其中：

ts是測量的特征尺寸的較大的公差；

ti是測量的特征尺寸的較小的公差。

根據(jù)方法，

如果確定包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的對屬于總驗證集，則不修改部件的制造條件；

如果確定包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的對屬于總制裁集，則停止部件的制造；

如果確定包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的對屬于總控制集，則調整部件的制造條件。

附圖說明

本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點將從以下描述中體現(xiàn)出來，其純粹是說明性和非限制性的，并且必須參考附圖來看待，其中：

圖1和圖2是現(xiàn)有技術中已知的用于監(jiān)控單個統(tǒng)計指標的演進的圖形表示；

圖3是具有作為橫坐標的平均值μm和作為縱坐標的表示尺寸的標準偏差σm的圖形的表示，用于示出相對于統(tǒng)計指標的目標值而測量的統(tǒng)計指標；

圖4是類似于圖3的圖形的表示，用于示出相對于第一統(tǒng)計指標的兩個參考值而測量的用于表征制造方法的一致性的第一統(tǒng)計指標；

圖5是類似于圖4的圖形的表示，用于示出相對于第二統(tǒng)計指標的兩個參考值而測量的用于表征制造方法的一致性的第二統(tǒng)計指標；

圖6是根據(jù)本發(fā)明的調節(jié)圖形的表示，其分別集成了圖4和圖5的第一和第二統(tǒng)計指標的集合信息；

圖7和圖8是根據(jù)本發(fā)明的另一調節(jié)圖形的表示，用于監(jiān)控三個不同的統(tǒng)計指標；

圖9是示出了將生產的控制和調節(jié)與部件的采樣集成的生產鏈的圖。

具體實施方式

如上所述，根據(jù)在多個部件上測量的特征尺寸的平均值μ和標準偏差σ來計算統(tǒng)計指標是常見的。

從上面的定義可以看出，很多統(tǒng)計指標甚至完全依賴于在樣本上測量的平均值μ和標準偏差σ。特別是定心系數(shù)cc或能力指數(shù)cp和cpk的情況。

看來，可以通過位于半平面的一個點來顯示可以控制的群體集，其中，在半平面中，平均值μ由橫坐標軸承載，標準偏差σ由縱坐標的正半軸承載。

基于這一發(fā)現(xiàn)，給定的標準c可以將驗證條件c^測量(μ,σ)≥c^目標的該群體集表示為由與函數(shù)c^測量(μ,σ)的值c^目標相對應的水平曲線在該半平面的邊界處限定的該半平面的一個子集。圖形的其余部分對應于驗證條件c^測量(μ,σ)<c^目標的對(μ；σ)。

圖3的圖形示出了標準c的這種表示。

為了監(jiān)控和調節(jié)部件的制造流程，統(tǒng)計指標通常與兩個參考值相關聯(lián)，這兩個參考值定義了不同的群集，即與學習的統(tǒng)計指標的一致性程度相關聯(lián)的不同組的對(μ；σ)。

這里的例子是具有第一參考值以及大于第一參考值的第二參考值的統(tǒng)計指標，不同的一致性集合被定義如下：

驗證集，包含其中統(tǒng)計指標大于或等于第二參考值的對(μ；σ)；

制裁集，包含其中統(tǒng)計指標小于或等于第一參考值的對(μ；σ)；且

控制集，包含其中統(tǒng)計指標介于第一參考值和第二參考值之間的對(μ；σ)。

這樣的統(tǒng)計指標可以在與圖3相似的圖形(μ；σ)上示出。

圖4示出了例如用于第一指標c1(μ,σ)的圖形，其中，圖形區(qū)域vc1組合了指標c1(μ,σ)的驗證集的對(μ；σ)，圖形區(qū)域rc1組合了指標c1(μ,σ)的制裁集的對(μ；σ)，以及圖形區(qū)域oc1組合了指標c1(μ,σ)的控制集的對(μ；σ)。

圖5示出了用于第二指標c2(μ,σ)的這樣一個圖形，其中，圖形區(qū)域vc2組合了指標c2(μ,σ)的驗證集的對(μ；σ)，圖形區(qū)域rc2組合了指標c2(μ,σ)的制裁集的對(μ；σ)，以及圖形區(qū)域oc2組合了指標c2(μ,σ)的控制集的對(μ；σ)。

優(yōu)選地，驗證區(qū)以綠色區(qū)域圖形地示出，制裁區(qū)以紅色區(qū)域示出，以及控制區(qū)以橙色區(qū)域示出。

在這種情況下，和分別為第一統(tǒng)計指標c1(μ,σ)的第一和第二參考值，且和分別是第二統(tǒng)計指標c2(μ,σ)的第一和第二參考值。

統(tǒng)計指標c1(μ,σ)和c2(μ,σ)的監(jiān)控圖形中的綠色區(qū)域(對應于驗證區(qū))、橙色區(qū)域(對應于控制區(qū))和紅色區(qū)域(對應于制裁區(qū))也可以被定義如下：

-

-

-

以及

-

-

-

當目的是同時監(jiān)控多個統(tǒng)計指標時，這樣的一種方法是特別有利的。

實際上，可以從每個統(tǒng)計指標的各種集合中定義不同的總集合，這些不同的總集合表示集成多個統(tǒng)計標準的限制的整合水平。因此，優(yōu)選地，定義了以下集合：

總驗證集，對應于每個統(tǒng)計指標的不同驗證集的集合相關的組合；

總制裁集，對應于每個統(tǒng)計指標的不同制裁集的集合相關的組合；

總控制集，包括沒有包含在總驗證集和總制裁集中的對(μ；σ)；

以這種方式，在提取了包含制造流程中的多個部件的樣品之后，測量樣品中的每個部件的特征尺寸；在確定包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的參數(shù)對屬于前述整合集合中的哪一個總集合之前，計算為所取樣品所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm。

然后可以根據(jù)以這種方式確定的總集合來調節(jié)制造流程。

例如，如果確定包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的參數(shù)對屬于總驗證集，則認為制造流程符合制造要求，因此，不用修改部件的制造條件。

如果確定包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的對屬于總制裁集，則這意味著在所取樣品上測量的特征尺寸與制造要求之間存在重大偏差。在這種情況下，可以停止部件的制造，例如去重新初始化制造流程。

如果確定包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的對屬于總控制集，則這意味著存在偏離參考值的風險，因此，必須更加關注對制造流程的監(jiān)控，甚至必須調整部件的制造條件。

優(yōu)選地，確定包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的對所屬的總集合是在視覺上完成的。例如，在這點上可以使用顯示控制信息的監(jiān)控器。

為了做到這一點，可以使用例如具有作為橫坐標的平均值μ和作為縱坐標的表示尺寸的標準偏差σ的調節(jié)圖形(μ；σ)，其上顯示：

包含總驗證集的對(μ；σ)的圖形驗證區(qū)；

包含總制裁集的對(μ；σ)的圖形制裁區(qū)；

包含總控制集的對(μ；σ)的圖形控制區(qū)。

然后包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的對在在該調節(jié)圖形上顯示。根據(jù)包含對(μm；σm)的圖形區(qū)域簡單地確定與對(μm；σm)相關聯(lián)的總集合。

形成總集合的集合組合取決于對制造方法施加的限制。

根據(jù)一實施例，總驗證集對應于每個統(tǒng)計指標的不同驗證集的交集，并且總制裁集對應于每個統(tǒng)計指標的不同制裁集的并集。

根據(jù)另一個實施例，總驗證集對應于每個統(tǒng)計指標的不同驗證集的并集，并且總制裁集對應于每個統(tǒng)計指標的不同制裁集的交集。

再次參考上面的例子，其中，一致性區(qū)域分別是綠色區(qū)域，橙色區(qū)域和紅色區(qū)域。當兩個統(tǒng)計指標c1(μ,σ)和c2(μ,σ)必須同時監(jiān)測并且根據(jù)相同的測量值計算時，可以通過以下方式定義總的紅色區(qū)域，總的橙色區(qū)域和總的綠色區(qū)域：

-綠色區(qū)域＝綠色區(qū)域1∩綠色區(qū)域2

-橙色區(qū)域＝(綠色區(qū)域1∩橙色區(qū)域2)∪(橙色區(qū)域1∩綠色區(qū)域2)∪(橙色區(qū)域1∩橙色區(qū)域2)

-紅色區(qū)域＝紅色區(qū)域1∪紅色區(qū)域2。

根據(jù)這個例子，目的是監(jiān)控兩個指標的結合，要考慮到的總的綠色區(qū)域是兩個指標中的每一個的兩個綠色區(qū)域的交集，總的紅色區(qū)域是兩個指標中的每一個的兩個紅色區(qū)域的并集，并且橙色區(qū)域包括半平面(μ；σ)的其余部分。

圖示地，這可以在如圖6的半平面(μ；σ)中示出，其中，圖形區(qū)域vc1+c2組合了總驗證集(綠色區(qū)域)的對(μ；σ)，圖形區(qū)域rc1+c2組合了總制裁集(紅色區(qū)域)的對(μ；σ)，圖形區(qū)域oc1+c2組合了總控制集(橙色區(qū)域)的對(μ；σ)。

這樣的調節(jié)圖形獨自綜合地監(jiān)控兩個指標，并且通過在圖形上簡單地定位包含所測量的特征尺寸的平均值μm和標準偏差σm的參數(shù)對來確定所測量的值的一致性水平，平均值和標準偏差是在測量期間計算的。

一般情況包括同時監(jiān)測n個指標c1(μ,σ),c2(μ,σ),…,ci(μ,σ),…,cn(μ,σ),，對于每個指標i具有通過值和限定的綠色區(qū)域i(驗證區(qū))，橙色區(qū)域i(控制區(qū))和紅色區(qū)域i(制裁區(qū))，由此定義為：

-

-

-

在總驗證集對應于每個統(tǒng)計指標的不同驗證集的交集，以及總制裁集對應于每個統(tǒng)計指標的不同制裁集的并集的情況下，則結果圖示如下：

-

-

-橙色區(qū)域＝r×r+\(綠色區(qū)域∪紅色區(qū)域)。

因此，圖形(μ；σ)以一個單獨的圖形替代n個圖形，通過統(tǒng)計過程中使用的工具，提供了在給定時刻監(jiān)控的生產狀態(tài)的總合成和即時一致性。

特別復雜的情況也可以類似地處理。

以下是用三個統(tǒng)計指標c1(μ,σ)、c2(μ,σ)和c2(μ,σ)來監(jiān)控制造過程的一個例子，在驗證規(guī)則允許驗證指標c1(μ,σ)、或者可選地驗證指標c1(μ,σ)和c3(μ,σ)的結合的情況下，則要顯示的總的綠色區(qū)域，總的橙色區(qū)域和總的紅色區(qū)域為：

-綠色區(qū)域＝綠色區(qū)域1∪(綠色區(qū)域2∩綠色區(qū)域3)

-紅色區(qū)域＝紅色區(qū)域1∩(紅色區(qū)域2∪紅色區(qū)域3)

-橙色區(qū)域＝r×r+\(綠色區(qū)域∪紅色區(qū)域)

為了監(jiān)控部件制造的工業(yè)流程，可以例如通過考慮第一統(tǒng)計指標c1(μ,σ)對應于能力指數(shù)cpk、第二統(tǒng)計指標c2(μ,σ)對應于能力指數(shù)cp以及第三統(tǒng)計指標c3(μ,σ)對應于定心系數(shù)cc來應用該追蹤過程。

如圖7和圖8所示的圖形(μ；σ)中簡單地示出了這三個指標的iso值，其中：

iso-cc是通過在cc×ti和cc×ts點處切割橫坐標軸的垂直直線示出；

iso-cp顯示為在it/(3×cp)點處切割縱坐標軸的水平直線；

iso-cpk顯示為在ti和ts點處切割橫坐標軸的傾斜直線，且傾斜直線的斜率由于施加的cpk較低而越大。

圖8示出了根據(jù)上文例子中給出的集合組合的具有不同整合區(qū)域的圖形。綠色區(qū)域記為vc1+c2+c3，橙色區(qū)域為oc1+c2+c3，紅色區(qū)域為rc1+c2+c3。

作為優(yōu)點，也可以提供為隨時間連續(xù)抽取的樣品而測量的特征尺寸的對(μm；σm)的具體表示。

例如，也可以提供根據(jù)取樣時刻而變化的對(μm；σm)的調節(jié)圖形(μ；σ)的表示。這樣，圖形調節(jié)也表示時間尺寸，用于按時間順序在一段時間內監(jiān)控生產調節(jié)。

可能的解決方案包括通過給予標記不同的大小和顏色來按時間順序對標記分級，每個標記表示連續(xù)采取的測量。例如，可以使用因為對應于較早的測量而具有越來越小的尺寸并變得越來越不透明的標記。

所提出的方法可以在部件的制造鏈中執(zhí)行，可以是完全或部分自動地執(zhí)行，其中，生產過程中的控制對制造流程進行調節(jié)，即，調整制造條件以確保成品部件繼續(xù)響應所需的質量標準。

圖9給出了這樣的制造鏈的例子，其中，使用例如5軸機器的加工裝置根據(jù)特定指令來制造部件。特定指令例如可以涉及特定的特征尺寸。代替加工裝置，當然也可以使用不限于部件的加工的制造裝置。

在這個自動生產鏈中，當部件離開加工裝置時對部件進行取樣以形成樣品，并將取樣的部件發(fā)送到測量裝置，測量裝置測量所取樣品中的每個部件的一個或多個特征尺寸。這樣的測量裝置例如可以是具有傳感器的三維測量機器，其自動測量每個部件的優(yōu)選的特征尺寸。

然后將來自測量裝置的測量數(shù)據(jù)發(fā)送到計算裝置，計算裝置處理測量數(shù)據(jù)以計算一個或多個表示部件的一個特征尺寸的統(tǒng)計指標。

然后將所計算的統(tǒng)計指標的值與特征尺寸上的參考指令進行比較，以便管理制造流程。更準確地說，該比較的結果有選擇地調整加工裝置的輸入?yún)?shù)。在這種情況下，參考指令由總驗證集，總制裁集和總控制集來限定。

如果偏差明顯，則意味著錯誤，例如，如果特征尺寸的統(tǒng)計指標的值在參考指令限定的可接受的范圍之外，則由校正器確定校正的測量，以調整加工裝置的輸入?yún)?shù)。修改加工裝置的輸入?yún)?shù)的目的是校正明顯的偏差，使得特征尺寸的統(tǒng)計指標的值回到可接受的范圍內。