Fct裝置的控制方法和系統(tǒng)及一種處理器的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種FCT裝置的控制方法和系統(tǒng)及一種處理器。所述方法包括：檢測下降開關(guān)信號(hào)；當(dāng)檢測到所述下降開關(guān)信號(hào)時(shí)，控制所述氣缸下降到預(yù)設(shè)位置；延時(shí)第一預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器上電；延時(shí)第二預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器上電；當(dāng)所述FCT裝置對(duì)所述控制板的功能測試結(jié)束后，檢測上升開關(guān)信號(hào)；當(dāng)檢測到所述上升開關(guān)信號(hào)時(shí)，延時(shí)第三預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器斷電；延時(shí)第四預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器斷電；延時(shí)第五預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述氣缸上升復(fù)位。采用本發(fā)明提供的技術(shù)方案，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)所述FCT裝置的自動(dòng)控制，避免人工憑經(jīng)驗(yàn)和直覺容易導(dǎo)致控制出現(xiàn)差錯(cuò)的問題，從而避免因控制出現(xiàn)差錯(cuò)使控制板受到損壞。
【專利說明】FCT裝置的控制方法和系統(tǒng)及一種處理器

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及控制【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及FCT (Functional Circuit Test :功能測試） 裝置的控制方法和系統(tǒng)及一種處理器。

【背景技術(shù)】
[0002] 功能測試就是對(duì)產(chǎn)品的各功能進(jìn)行驗(yàn)證，根據(jù)功能測試用例，逐項(xiàng)測試，檢查產(chǎn)品 是否達(dá)到用戶要求的功能。目前，印刷電路板在電子工業(yè)中已經(jīng)占據(jù)了絕對(duì)的統(tǒng)治地位。印 刷電路板，又稱印制電路板，印刷線路板，常使用英文縮寫PCB(Printed circuit board)， 是重要的電子部件，是電子元件的支撐體和電子元器件線路連接的提供者。在PCB板上裝 配電子元器件之后，PCB板連同電子元器件構(gòu)成一個(gè)控制板，用于對(duì)相應(yīng)的電器設(shè)備進(jìn)行控 制。
[0003] 控制板在出廠之前，需要經(jīng)過功能測試，用以判斷控制板是否能夠達(dá)到預(yù)定的控 制要求。對(duì)控制板進(jìn)行功能測試需要用到FCT(Functional Circuit Test:功能測試）裝 置，目前，一般需要測試員持續(xù)手動(dòng)控制FCT裝置來實(shí)現(xiàn)對(duì)控制板的壓板和分離。
[0004] 但是，目前的技術(shù)中，由于人工參與FCT裝置的控制過程較多，憑經(jīng)驗(yàn)和直覺對(duì) FCT裝置進(jìn)行控制，容易出現(xiàn)差錯(cuò)，從而容易使控制板受到損壞。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 有鑒于此，本發(fā)明提供了一種FCT (Functional Circuit Test :功能測試）裝置的 控制方法和系統(tǒng)及一種處理器，用以避免人工較多的參與對(duì)所述FCT裝置的控制過程中， 憑經(jīng)驗(yàn)和直覺容易導(dǎo)致控制出現(xiàn)差錯(cuò)的問題，從而避免因控制出現(xiàn)差錯(cuò)使控制板受到損 壞。
[0006] 為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：
[0007] -種功能測試FCT裝置的控制方法，所述功能測試FCT裝置包括氣缸、第一繼電器 和第二繼電器，用于對(duì)控制板進(jìn)行功能測試，所述功能測試FCT裝置的控制方法，包括：
[0008] 檢測下降開關(guān)信號(hào)；
[0009] 當(dāng)檢測到所述下降開關(guān)信號(hào)時(shí)，控制所述氣缸下降到預(yù)設(shè)位置；
[0010] 延時(shí)第一預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器上電；
[0011] 延時(shí)第二預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器上電；
[0012] 當(dāng)所述功能測試FCT裝置對(duì)所述控制板的功能測試結(jié)束后，檢測上升開關(guān)信號(hào)；
[0013] 當(dāng)檢測到所述上升開關(guān)信號(hào)時(shí)，延時(shí)第三預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器斷電；
[0014] 延時(shí)第四預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器斷電；
[0015] 延時(shí)第五預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述氣缸上升復(fù)位。
[0016] 優(yōu)選的，所述下降開關(guān)信號(hào)由所述功能測試FCT裝置上的下降開關(guān)閉合所發(fā)出。
[0017] 優(yōu)選的，所述預(yù)設(shè)位置為所述控制板與所述功能測試FCT裝置的針床上的頂針完 全接觸時(shí)所述氣缸的位置。
[0018] 優(yōu)選的，所述控制所述氣缸下降到預(yù)設(shè)位置，包括：
[0019] 控制所述氣缸下降的同時(shí)，接收所述功能測試FCT裝置上的位置傳感器發(fā)送的氣 缸位置信號(hào)；
[0020] 依據(jù)所述氣缸位置信號(hào)確定氣缸的位置；
[0021] 當(dāng)所述氣缸下降到所述預(yù)設(shè)位置時(shí)，控制所述氣缸停止下降。
[0022] 優(yōu)選的，所述第二繼電器為固態(tài)繼電器。
[0023] 優(yōu)選的，所述上升開關(guān)信號(hào)由所述功能測試FCT裝置上的上升開關(guān)閉合所發(fā)出。
[0024] 一種處理器，用于控制所述功能測試FCT裝置，所述功能測試FCT裝置包括氣缸、 第一繼電器和第二繼電器，用于對(duì)控制板進(jìn)行功能測試，所述處理器用于檢測下降開關(guān)信 號(hào)；當(dāng)檢測到所述下降開關(guān)信號(hào)時(shí)，控制所述氣缸下降到預(yù)設(shè)位置；延時(shí)第一預(yù)設(shè)時(shí)間，控 制所述第一繼電器上電；延時(shí)第二預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器上電；當(dāng)所述功能測試 FCT裝置對(duì)所述控制板的功能測試結(jié)束后，檢測上升開關(guān)信號(hào)；當(dāng)檢測到所述上升開關(guān)信 號(hào)時(shí)，延時(shí)第三預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器斷電；延時(shí)第四預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼 電器斷電；延時(shí)第五預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述氣缸上升復(fù)位。
[0025] 一種功能測試FCT裝置的控制系統(tǒng)，包括：
[0026] 上述所述的處理器，與所述處理器相連接的繼電器驅(qū)動(dòng)電路，與所述處理器相連 接的氣缸控制電路，以及與所述處理器相連接的開關(guān)信號(hào)輸入接口電路；所述繼電器驅(qū)動(dòng) 電路、所述氣缸控制電路以及所述開關(guān)信號(hào)輸入接口電路分別與所述功能測試FCT裝置相 連接。
[0027] 優(yōu)選的，還包括：
[0028] 分別與所述處理器、所述繼電器驅(qū)動(dòng)電路、所述氣缸控制電路和所述開關(guān)信號(hào)輸 入接口電路相連接的整流穩(wěn)壓電路；所述整流穩(wěn)壓電路包括供電電源。
[0029] 優(yōu)選的，所述繼電器驅(qū)動(dòng)電路包括固態(tài)繼電器驅(qū)動(dòng)電路。
[0030] 經(jīng)由上述的技術(shù)方案可知，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供了一種FCT (Functional Circuit Test:功能測試）裝置的控制方法和系統(tǒng)及一種處理器。采用本發(fā)明提供的技術(shù) 方案，通過檢測下降開關(guān)信號(hào)，當(dāng)檢測到所述下降開關(guān)信號(hào)時(shí)，控制所述氣缸下降到預(yù)設(shè)位 置，延時(shí)第一預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器上電，延時(shí)第二預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電 器上電，實(shí)現(xiàn)所述FCT裝置對(duì)需要測試的控制板測試之前，對(duì)所述FCT裝置的控制；當(dāng)所述 FCT裝置對(duì)所述控制板的功能測試結(jié)束后，檢測上升開關(guān)信號(hào)，當(dāng)檢測到所述上升開關(guān)信號(hào) 時(shí)，延時(shí)第三預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器斷電，延時(shí)第四預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電 器斷電，延時(shí)第五預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述氣缸復(fù)位，實(shí)現(xiàn)所述FCT裝置對(duì)需要測試的控制板測 試結(jié)束之后，對(duì)所述FCT裝置的控制。因此，采用本發(fā)明提供的技術(shù)方案，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)所述 FCT裝置的自動(dòng)控制，避免人工較多的參與對(duì)所述FCT裝置的控制過程中，憑經(jīng)驗(yàn)和直覺容 易導(dǎo)致控制出現(xiàn)差錯(cuò)的問題，從而避免因控制出現(xiàn)差錯(cuò)使控制板受到損壞。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0031] 為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn) 有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本 發(fā)明的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù) 提供的附圖獲得其他的附圖。
[0032] 圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種FCT裝置的控制方法的流程圖；
[0033] 圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種FCT裝置的控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖；
[0034] 圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的另外一種FCT裝置的控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。

【具體實(shí)施方式】
[0035] 下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完 整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于 本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他 實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0036] 為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖和具體實(shí) 施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0037] 實(shí)施例一
[0038] 請(qǐng)參閱圖1，圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種FCT (Functional Circuit Test :功 能測試）裝置的控制方法的流程圖。所述FCT裝置包括氣缸、第一繼電器和第二繼電器，用 于對(duì)控制板進(jìn)行功能測試。如圖1所示，該方法包括：
[0039] 步驟S101，檢測下降開關(guān)信號(hào)；
[0040] 具體的，所述下降開關(guān)信號(hào)由所述FCT裝置上的下降開關(guān)閉合所發(fā)出。
[0041] 步驟S102,當(dāng)檢測到所述下降開關(guān)信號(hào)時(shí)，控制所述氣缸下降到預(yù)設(shè)位置；
[0042] 具體的，當(dāng)檢測到所述下降開關(guān)信號(hào)時(shí)，控制所述氣缸下降到與所述FCT裝置的 針床上的頂針完全接觸的位置，記此時(shí)氣缸所在的位置為預(yù)設(shè)位置。進(jìn)一步的，所述控制所 述氣缸下降到預(yù)設(shè)位置，可選的，包括：
[0043] 控制所述氣缸下降的同時(shí)，接收所述FCT裝置上的位置傳感器發(fā)送的氣缸位置信 號(hào)；
[0044] 依據(jù)所述氣缸位置信號(hào)確定氣缸的位置；
[0045] 當(dāng)所述氣缸下降到所述預(yù)設(shè)位置時(shí)，控制所述氣缸停止下降。
[0046] 步驟S103,延時(shí)第一預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器上電；
[0047] 具體的，所述氣缸下降到所述預(yù)設(shè)位置后，延時(shí)第一預(yù)設(shè)時(shí)間，所述第一預(yù)設(shè)時(shí) 間，可選的，不小于1〇〇毫秒，確保所述FCT裝置的針床上的頂針和被測試的控制板接觸穩(wěn) 定、良好，避免打火。然后，控制所述第一繼電器上電，所述第一繼電器，可選的，為機(jī)械繼電 器，用于控制所述FCT裝置上的水泥電阻接入或者不接入電路。
[0048] 步驟S104,延時(shí)第二預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器上電；
[0049] 具體的，控制所述第一繼電器上電后，延時(shí)第二預(yù)設(shè)時(shí)間，所述第二預(yù)設(shè)時(shí)間，可 選的，不小于200毫秒，確保所述第一繼電器上電完成。然后，控制所述第二繼電器上電，所 述第二繼電器，可選的，為固態(tài)繼電器，用于控制給所述FCT裝置預(yù)測試的控制板上電或者 斷電。
[0050] 步驟S105,當(dāng)所述FCT裝置對(duì)所述控制板的功能測試結(jié)束后，檢測上升開關(guān)信號(hào)；
[0051] 具體的，所述上升開關(guān)信號(hào)由所述FCT裝置上的上升開關(guān)閉合所發(fā)出。
[0052] 步驟S106,當(dāng)檢測到所述上升開關(guān)信號(hào)時(shí)，延時(shí)第三預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電 器斷電；
[0053] 具體的，所述第三預(yù)設(shè)時(shí)間，可選的，不小于100毫秒，避免引起誤操作。
[0054] 步驟S107,延時(shí)第四預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器斷電；
[0055] 具體的，所述第四預(yù)設(shè)時(shí)間，可選的，不小于200毫秒，確保所述第二繼電器斷電 完成。
[0056] 步驟S108,延時(shí)第五預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述氣缸上升復(fù)位。
[0057] 具體的，所述第五預(yù)設(shè)時(shí)間，可選的，不小于2秒，確保被測試的控制板上的電容 完全放電，避免所述FCT裝置對(duì)被測試的控制板測試完成之后，控制板上的電容與控制板 上的其他器件（比如芯片）短路時(shí)，控制板上的電容所殘留的余電對(duì)其他器件（比如芯片） 帶來的損害。
[0058] 采用本發(fā)明提供的FCT裝置的控制方法，通過檢測下降開關(guān)信號(hào)，當(dāng)檢測到所述 下降開關(guān)信號(hào)時(shí)，控制所述氣缸下降到預(yù)設(shè)位置，延時(shí)第一預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器 上電，延時(shí)第二預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器上電，實(shí)現(xiàn)所述FCT裝置對(duì)需要測試的控制 板測試之前，對(duì)所述FCT裝置的控制；當(dāng)所述FCT裝置對(duì)所述控制板的功能測試結(jié)束后，檢 測上升開關(guān)信號(hào)，當(dāng)檢測到所述上升開關(guān)信號(hào)時(shí)，延時(shí)第三預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器 斷電，延時(shí)第四預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器斷電，延時(shí)第五預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述氣缸復(fù) 位，實(shí)現(xiàn)所述FCT裝置對(duì)需要測試的控制板測試結(jié)束之后，對(duì)所述FCT裝置的控制。因此， 采用本發(fā)明提供的技術(shù)方案，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)所述FCT裝置的自動(dòng)控制，避免人工較多的參與 對(duì)所述FCT裝置的控制過程中，憑經(jīng)驗(yàn)和直覺容易導(dǎo)致控制出現(xiàn)差錯(cuò)的問題，從而避免因 控制出現(xiàn)差錯(cuò)使控制板受到損壞。
[0059] 本發(fā)明實(shí)施例還公開一種處理器，用于控制所述FCT裝置，所述FCT裝置包括氣 缸、第一繼電器和第二繼電器，用于對(duì)控制板進(jìn)行功能測試。本發(fā)明實(shí)施例公開的所述處理 器用于檢測下降開關(guān)信號(hào)；當(dāng)檢測到所述下降開關(guān)信號(hào)時(shí)，控制所述氣缸下降到預(yù)設(shè)位置； 延時(shí)第一預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器上電；延時(shí)第二預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器上 電；當(dāng)所述FCT裝置對(duì)所述控制板的功能測試結(jié)束后，檢測上升開關(guān)信號(hào)；當(dāng)檢測到所述上 升開關(guān)信號(hào)時(shí)，延時(shí)第三預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器斷電；延時(shí)第四預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所 述第二繼電器斷電；延時(shí)第五預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述氣缸上升復(fù)位。
[0060] 具體的，本發(fā)明實(shí)施例公開的處理器，可選的，為ARM處理器。需要說明的是，本發(fā) 明實(shí)施例公開的處理器，也能夠基于其他類型的單片機(jī)來實(shí)現(xiàn)，不超出本發(fā)明所保護(hù)的范 圍。
[0061] 為了更加詳細(xì)的闡述本發(fā)明的技術(shù)方案，本發(fā)明公開了一種FCT裝置的控制系 統(tǒng)。
[0062] 請(qǐng)參閱圖2,圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種FCT裝置的控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。如圖 2所示，該系統(tǒng)包括：
[0063] 上述實(shí)施例公開的處理器201 ;
[0064] 與所述處理器201相連接的繼電器驅(qū)動(dòng)電路202，用于驅(qū)動(dòng)所述FCT裝置上的繼電 器控制相應(yīng)的元件接入電路或者斷開電路；
[0065] 具體的，所述繼電器驅(qū)動(dòng)電路202包括機(jī)械繼電器驅(qū)動(dòng)電路和固態(tài)繼電器驅(qū)動(dòng)電 路，所述機(jī)械繼電器驅(qū)動(dòng)電路用于驅(qū)動(dòng)所述FCT裝置上采用機(jī)械繼電器的第一繼電器，控 制所述FCT裝置上的水泥電阻接入或者斷開電路，當(dāng)控制所述FCT裝置上的水泥電阻接入 電路時(shí)，所述水泥電阻與電容并聯(lián)，在放電時(shí)保證所述電容充分放電。
[0066] 與所述處理器201相連接的氣缸控制電路203,用于控制所述FCT裝置的氣缸進(jìn)行 上下運(yùn)動(dòng)和停止；
[0067] 以及與所述處理器201相連接的開關(guān)信號(hào)輸入接口電路204,用于檢測分別由所 述FCT裝置發(fā)出的下降開關(guān)信號(hào)和上升開關(guān)信號(hào)；
[0068] 所述繼電器驅(qū)動(dòng)電路202、所述氣缸控制電路203以及所述開關(guān)信號(hào)輸入接口電 路204分別與所述FCT裝置相連接。
[0069] 進(jìn)一步的，為使本發(fā)明實(shí)施例提供的FCT裝置的控制系統(tǒng)功能更加穩(wěn)定，本發(fā)明 實(shí)施例提供另外一種FCT裝置的控制系統(tǒng)。請(qǐng)參閱圖3,圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的另外一 種FCT裝置的控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。如圖3所示，該系統(tǒng)包括：
[0070] 上述實(shí)施例公開的處理器201，與所述處理器201相連接的繼電器驅(qū)動(dòng)電路202， 與所述處理器201相連接的氣缸控制電路203,以及與所述處理器201相連接的開關(guān)信號(hào)輸 入接口電路204,所述繼電器驅(qū)動(dòng)電路202、所述氣缸控制電路203以及所述開關(guān)信號(hào)輸入 接口電路204分別與所述FCT裝置相連接；以及分別與所述處理器201、所述繼電器驅(qū)動(dòng)電 路202、所述氣缸控制電路203和所述開關(guān)信號(hào)輸入接口電路204相連接的整流穩(wěn)壓電路 205 ;可選的，所述整流穩(wěn)壓電路205包括供電電源。
[0071] 最后，還需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將 一個(gè)實(shí)體或者操作與另一個(gè)實(shí)體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實(shí)體或操作 之間存在任何這種實(shí)際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語"包括"、"包含"或者其任何其他變體 意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括 那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或 者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句"包括一個(gè)……"限定的要素，并 不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。
[0072] 本說明書中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他 實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似部分互相參見即可。對(duì)于實(shí)施例公開的系統(tǒng) 而言，由于其與實(shí)施例公開的方法相對(duì)應(yīng)，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法部分說 明即可。
[0073] 結(jié)合本文中所公開的實(shí)施例描述的方法或算法的步驟可以直接用硬件、處理器執(zhí) 行的軟件模塊，或者二者的結(jié)合來實(shí)施。軟件模塊可以置于隨機(jī)存儲(chǔ)器（RAM)、內(nèi)存、只讀存 儲(chǔ)器（ROM)、電可編程ROM、電可擦除可編程ROM、寄存器、硬盤、可移動(dòng)磁盤、CD-ROM、或技術(shù) 領(lǐng)域內(nèi)所公知的任意其它形式的存儲(chǔ)介質(zhì)中。
[0074] 對(duì)所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。 對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的 一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本發(fā)明 將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一 致的最寬的范圍。
【權(quán)利要求】
1. 一種功能測試FCT裝置的控制方法，所述功能測試FCT裝置包括氣缸、第一繼電器和 第二繼電器，用于對(duì)控制板進(jìn)行功能測試，其特征在于，包括： 檢測下降開關(guān)信號(hào)； 當(dāng)檢測到所述下降開關(guān)信號(hào)時(shí)，控制所述氣缸下降到預(yù)設(shè)位置； 延時(shí)第一預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器上電； 延時(shí)第二預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器上電； 當(dāng)所述功能測試FCT裝置對(duì)所述控制板的功能測試結(jié)束后，檢測上升開關(guān)信號(hào)； 當(dāng)檢測到所述上升開關(guān)信號(hào)時(shí)，延時(shí)第三預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器斷電； 延時(shí)第四預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器斷電； 延時(shí)第五預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述氣缸上升復(fù)位。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述下降開關(guān)信號(hào)由所述功能測試FCT裝 置上的下降開關(guān)閉合所發(fā)出。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)位置為所述控制板與所述功能 測試FCT裝置的針床上的頂針完全接觸時(shí)所述氣缸的位置。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述氣缸下降到預(yù)設(shè)位置，包 括： 控制所述氣缸下降的同時(shí)，接收所述功能測試FCT裝置上的位置傳感器發(fā)送的氣缸位 置信號(hào)； 依據(jù)所述氣缸位置信號(hào)確定氣缸的位置； 當(dāng)所述氣缸下降到所述預(yù)設(shè)位置時(shí)，控制所述氣缸停止下降。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二繼電器為固態(tài)繼電器。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述上升開關(guān)信號(hào)由所述功能測試FCT裝 置上的上升開關(guān)閉合所發(fā)出。
7. -種處理器，用于控制所述功能測試FCT裝置，所述功能測試FCT裝置包括氣缸、第 一繼電器和第二繼電器，用于對(duì)控制板進(jìn)行功能測試，其特征在于，所述處理器用于檢測下 降開關(guān)信號(hào)；當(dāng)檢測到所述下降開關(guān)信號(hào)時(shí)，控制所述氣缸下降到預(yù)設(shè)位置；延時(shí)第一預(yù) 設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器上電；延時(shí)第二預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第二繼電器上電；當(dāng)所述 功能測試FCT裝置對(duì)所述控制板的功能測試結(jié)束后，檢測上升開關(guān)信號(hào)；當(dāng)檢測到所述上 升開關(guān)信號(hào)時(shí)，延時(shí)第三預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述第一繼電器斷電；延時(shí)第四預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所 述第二繼電器斷電；延時(shí)第五預(yù)設(shè)時(shí)間，控制所述氣缸上升復(fù)位。
8. -種功能測試FCT裝置的控制系統(tǒng)，其特征在于，包括： 權(quán)利要求11所述的處理器，與所述處理器相連接的繼電器驅(qū)動(dòng)電路，與所述處理器相 連接的氣缸控制電路，以及與所述處理器相連接的開關(guān)信號(hào)輸入接口電路；所述繼電器驅(qū) 動(dòng)電路、所述氣缸控制電路以及所述開關(guān)信號(hào)輸入接口電路分別與所述功能測試FCT裝置 相連接。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括： 分別與所述處理器、所述繼電器驅(qū)動(dòng)電路、所述氣缸控制電路和所述開關(guān)信號(hào)輸入接 口電路相連接的整流穩(wěn)壓電路；所述整流穩(wěn)壓電路包括供電電源。
10. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述繼電器驅(qū)動(dòng)電路包括固態(tài)繼電器驅(qū) 動(dòng)電路。
【文檔編號(hào)】G05B23/02GK104142681SQ201410377839
【公開日】2014年11月12日 申請(qǐng)日期:2014年8月1日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月1日
【發(fā)明者】馮文科, 龐彬, 宋明岑, 杜濤 申請(qǐng)人:珠海格力電器股份有限公司