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輸入輸出接口的自動(dòng)測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):6305805閱讀:171來(lái)源:國(guó)知局
輸入輸出接口的自動(dòng)測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種輸入輸出接口的自動(dòng)測(cè)試方法及系統(tǒng),本發(fā)明包括兩個(gè)處理單元,由其中一個(gè)處理單元發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù),由另一個(gè)處理單元獲得接口數(shù)據(jù),并將接口數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比獲得測(cè)試結(jié)果,在測(cè)試過(guò)程中發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù)的過(guò)程,對(duì)比測(cè)試結(jié)果的過(guò)程是自動(dòng)化執(zhí)行的,無(wú)需人工參與,且自動(dòng)測(cè)試時(shí)支持多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)同時(shí)測(cè)試,因此能夠解決人工執(zhí)行時(shí)效率低下容易出錯(cuò)的問(wèn)題。本發(fā)明能夠自動(dòng)對(duì)輸入輸出接口進(jìn)行測(cè)試,正確率高、工作效率高且節(jié)省人力物力。
【專利說(shuō)明】輸入輸出接口的自動(dòng)測(cè)試方法及系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及自動(dòng)化領(lǐng)域,尤其涉及一種輸入輸出接口的自動(dòng)測(cè)試方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在自動(dòng)變速箱應(yīng)用層控制軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中,利用硬件在環(huán)系統(tǒng)可以在短時(shí)間內(nèi)完成軟件的測(cè)試與調(diào)整。其中,輸入輸出接口測(cè)試(即I/o測(cè)試)是應(yīng)用層控制軟件測(cè)試的重要組成部分,I/o接口的正確通信,是保證控制軟件正常運(yùn)行的基礎(chǔ)。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中在進(jìn)行I/O測(cè)試過(guò)程時(shí),需要手動(dòng)輸入傳感器信號(hào)和手動(dòng)控制控制電磁閥電流值的,并在測(cè)試后人工對(duì)比測(cè)試結(jié)果,因涉及人為操作,容易造成測(cè)試失誤。加之I/o測(cè)試需要測(cè)試的信號(hào)較多,在進(jìn)行測(cè)試時(shí)要逐一進(jìn)行輸入、測(cè)試、對(duì)比結(jié)果,所需時(shí)間較長(zhǎng),工作效率低,造成資源的浪費(fèi)。
[0004]由此得知現(xiàn)有技術(shù)在進(jìn)行I/O測(cè)試過(guò)程時(shí),錯(cuò)誤率高、工作效率低且容易造成資源浪費(fèi)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明提供了一種輸入輸出接口的自動(dòng)測(cè)試方法及系統(tǒng),本發(fā)明能夠自動(dòng)對(duì)輸入輸出接口進(jìn)行測(cè)試,正確率高、工作效率高且節(jié)省人力物力。
[0006]為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了以下技術(shù)手段:
[0007]—種輸入接口自動(dòng)測(cè)試方法,應(yīng)用于自動(dòng)輸入測(cè)試系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:自動(dòng)變速箱控制單元T⑶、輸入仿真器、處理器,所述處理器包括第一處理單元和第二處理單元,其中所述輸入仿真器包括:輸出單元和傳感器模型,所述TCU —端與所述第一處理單元相連,另一端與所述輸出單元相連,所述傳感器模型一端與所述輸出單元相連,另一端與所述第二處理單元相連,包括:
[0008]所述第二處理單元確定待測(cè)模型變量并發(fā)送至所述傳感器模型;
[0009]由所述傳感器模型將所述待測(cè)模型變量轉(zhuǎn)換為虛擬物理信號(hào),并發(fā)送至輸出單元;
[0010]所述輸出單元將所述虛擬物理信號(hào)轉(zhuǎn)換為傳感器真實(shí)信號(hào)并發(fā)送至TCU ;
[0011 ] 所述第一處理單元從TCU中采集所述傳感器真實(shí)信號(hào),并從所述第二處理單元獲取所述待測(cè)模型變量;
[0012]將所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量進(jìn)行對(duì)比;
[0013]依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸入接口測(cè)試結(jié)果。
[0014]優(yōu)選的,依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸入接口測(cè)試結(jié)果包括:
[0015]若所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量一致,則表示輸入接口正常;
[0016]若所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量一致不一致,則表示輸入接口不正

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[0017]優(yōu)選的,當(dāng)輸入接口不正常時(shí)還包括:[0018]對(duì)所述TCU內(nèi)的應(yīng)用層控制軟件進(jìn)行修改。
[0019]優(yōu)選的,所述第一處理單元運(yùn)行CANape腳本文件。
[0020]優(yōu)選的,所述第二處理單元運(yùn)行ControlDesk軟件。
[0021]一種輸出接口自動(dòng)測(cè)試方法,應(yīng)用于自動(dòng)輸出測(cè)試系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:自動(dòng)變速箱控制單元TCU、電磁閥、輸出仿真器、第一處理單元和第二處理單元,其中所述輸出仿真器包括:輸入單元和電磁閥模型,所述TCU —端與所述第一處理單元相連,另一端與所述電磁閥相連,所述輸入單元一端與所述電磁閥相連,另一端與所述電磁閥模型相連,與所述電磁閥模型相連的所述第二處理單元,包括:
[0022]所述第一處理單元確定待測(cè)控制電流值;
[0023]將所述待測(cè)控制電流值通過(guò)所述T⑶發(fā)送至所述電磁閥;
[0024]所述電磁閥接收所述待測(cè)控制電流值并向輸入單元反饋控制電流;
[0025]所述輸入單元將所述控制電流轉(zhuǎn)換為虛擬電流;
[0026]所述電磁閥模型將所述虛擬電流轉(zhuǎn)換為真實(shí)電流值;
[0027]所述第二處理單元由電磁閥模型采集所述真實(shí)電流值,并從所述第一處理單元中獲取所述待測(cè)控制電流值;
[0028]將所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值進(jìn)行對(duì)比;
[0029]依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸出接口測(cè)試結(jié)果。
[0030]優(yōu)選的,包括:
[0031]若所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值一致,則表示輸出接口正常;
[0032]若所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值不一致,則表示輸出接口不正常。
[0033]優(yōu)選的,當(dāng)輸出接口不正常時(shí)還包括:
[0034]對(duì)所述T⑶內(nèi)的應(yīng)用層控制軟件進(jìn)行修改。
[0035]一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),包括:自動(dòng)變速箱控制單元T⑶、電磁閥、仿真器、處理器,所述處理器包括第一處理單元和第二處理單元,其中所述仿真器包括輸入仿真器和輸出仿真器,輸入仿真器包括輸出單兀和傳感器模型,輸出仿真器包括輸入單兀和電磁閥模型;
[0036]所述T⑶一端與第一處理單元相連,另一端分別與電磁閥和輸出單元相連,用于將所述第一處理單元發(fā)送待測(cè)控制電流值發(fā)送至電磁閥,還用于接收輸出單元發(fā)送的傳感器真實(shí)信號(hào);
[0037]所述輸入單元一端與電磁閥相連,另一端與所述電磁閥模型相連,用于接收所述電磁閥反饋的控制電流,并將所述控制電流轉(zhuǎn)換為虛擬電流發(fā)送至電磁閥模型;
[0038]所述電磁閥模型與所述第二處理單元相連,用于將接收的所述虛擬電流轉(zhuǎn)換為真實(shí)電流值;
[0039]所述傳感器模型一端與所述第二處理單元相連,另一端與所述輸出單元相連,用于接收第二處理單元發(fā)送的待測(cè)模型變量,并將所述待測(cè)模型變量轉(zhuǎn)換為虛擬物理信號(hào)后發(fā)送至輸出單元;
[0040]所述輸出單元用于將接收的虛擬物理信號(hào)轉(zhuǎn)換為所述傳感器真實(shí)信號(hào);
[0041]所述第一處理單元與所述第二處理單元相連,用于從T⑶中采集所述傳感器真實(shí)信號(hào),從所述第二處理單元獲取所述待測(cè)模型變量,并將所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量進(jìn)行對(duì)比,依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸入接口測(cè)試結(jié)果;[0042]所述第二處理單元用于采集所述真實(shí)電流值,從所述第一處理單元中獲取所述待測(cè)控制電流值,將所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值進(jìn)行對(duì)比,依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸出接口測(cè)試結(jié)果。
[0043]優(yōu)選的,所述第一處理單元運(yùn)行的軟件程序中包括多個(gè)待測(cè)控制電流值,所述第二處理單元運(yùn)行的軟件中包括多個(gè)待測(cè)模型變量。
[0044]本發(fā)明中提供了輸入接口和輸出接口的自動(dòng)測(cè)試方法及系統(tǒng),本發(fā)明中在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中有兩個(gè)處理單元,第一處理單元和第二處理單元,其中第一處理單元能夠自動(dòng)發(fā)送待測(cè)控制電流值,第二處理單元能夠?qū)⑤敵鼋涌谳敵龅恼鎸?shí)電流值與待測(cè)控制電流值進(jìn)行自動(dòng)對(duì)比,由此確定輸出接口的測(cè)試結(jié)果,第二處理單元能夠自動(dòng)發(fā)送待測(cè)模型變量,第一處理單元將傳感器真實(shí)信號(hào)與待測(cè)模型變量進(jìn)行對(duì)比確定輸入接口測(cè)試結(jié)果。
[0045]本發(fā)明由其中一個(gè)處理單元發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù),由另一個(gè)處理單元獲得接口數(shù)據(jù),并將接口數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比獲得測(cè)試結(jié)果,在測(cè)試過(guò)程中發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù)的過(guò)程,對(duì)比測(cè)試結(jié)果的過(guò)程是自動(dòng)化執(zhí)行的,無(wú)需人工參與,且自動(dòng)測(cè)試時(shí)支持多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)同時(shí)測(cè)試,因此能夠解決人工執(zhí)行時(shí)效率低下容易出錯(cuò)的問(wèn)題。本發(fā)明能夠自動(dòng)對(duì)輸入輸出接口進(jìn)行測(cè)試,正確率高、工作效率高且節(jié)省人力物力。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0046]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0047]圖1為本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的自動(dòng)輸入測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖;
[0048]圖2為本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的輸入接口自動(dòng)測(cè)試方法的流程圖;
[0049]圖3為本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的自動(dòng)輸出測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖;
[0050]圖4為本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的輸出接口自動(dòng)測(cè)試方法的流程圖;
[0051]圖5為本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的自動(dòng)測(cè)試方法的流程圖;
[0052]圖6為本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0053]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0054]如圖1所示,本發(fā)明提供了一種自動(dòng)輸入測(cè)試系統(tǒng),包括:
[0055]自動(dòng)變速箱控制單元T⑶100、輸入仿真器200、處理器300,所述處理器包括第一處理單元301和第二處理單元302,其中所述輸入仿真器200包括:輸出單元201和傳感器模型202,所述T⑶100 —端與所述第一處理單元301相連,另一端與所述輸出單元201相連,所述傳感器模型202 —端與所述輸出單元201相連,另一端與所述第二處理單元302相連。[0056]在上述自動(dòng)輸入測(cè)試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上,本發(fā)明提供了一種輸入接口自動(dòng)測(cè)試方法,包括:
[0057]對(duì)TCU中應(yīng)用層控制軟件的輸入接口進(jìn)行測(cè)試,即驗(yàn)證應(yīng)用層控制軟件的輸入接口是否正常,本測(cè)試方法基于硬件在環(huán)系統(tǒng),輸入一個(gè)待測(cè)模型變量,再將經(jīng)過(guò)TCU輸出的傳感器真實(shí)信號(hào)進(jìn)行對(duì)比,若一致則表示應(yīng)用層控制軟件的輸入接口正常,若不一致則表示應(yīng)用層控制軟件的輸入接口不正常,具體的包括以下步驟:
[0058]步驟SlOl:所述第二處理單元確定待測(cè)模型變量并發(fā)送至所述傳感器模型;
[0059]第二處理單元中包括多個(gè)待測(cè)模型變量,第二處理單元可以自動(dòng)選擇待測(cè)模型變量依次對(duì)各個(gè)待測(cè)模型變量進(jìn)行測(cè)試。將待測(cè)模型變量發(fā)送至傳感器模型。
[0060]步驟S102:由所述傳感器模型將所述待測(cè)模型變量轉(zhuǎn)換為虛擬物理信號(hào),并發(fā)送至輸出單元;傳感器模型依據(jù)待測(cè)模型變量進(jìn)行數(shù)據(jù)模擬,將待測(cè)模型變量轉(zhuǎn)換為虛擬的物理信號(hào)。
[0061]步驟S103:所述輸出單元將所述虛擬物理信號(hào)轉(zhuǎn)換為傳感器真實(shí)信號(hào)并發(fā)送至T⑶;因此需要將虛擬的物理信號(hào)轉(zhuǎn)換為傳感器真實(shí)信號(hào),并發(fā)送至T⑶。
[0062]步驟S104:所述第一處理單元從T⑶中采集所述傳感器真實(shí)信號(hào),并從所述第二處理單元獲取所述待測(cè)模型變量;
[0063]為了驗(yàn)證應(yīng)用層控制軟件的輸入接口是否正常,所以需要驗(yàn)證T⑶中的傳感器真實(shí)信號(hào)是否真確,第一理單元采集TCU中的傳感器真實(shí)信號(hào),并從第二處理單元中獲取待測(cè)模型變量。
[0064]步驟S105:將所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量進(jìn)行對(duì)比;
[0065]步驟S106:依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸入接口測(cè)試結(jié)果。
[0066]優(yōu)選的,若所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量一致,則表示輸入接口正常;若所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量一致不一致,則表示輸入接口不正常。當(dāng)輸入接口不正常時(shí)還包括:對(duì)所述TCU內(nèi)的應(yīng)用層控制軟件進(jìn)行修改。
[0067]如圖3所示,本發(fā)明還提供了一種自動(dòng)輸出測(cè)試系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:
[0068]自動(dòng)變速箱控制單元T⑶100、電磁閥400、輸出仿真器500、處理器300,所述處理器300包括第一處理單元301和第二處理單元302,其中所述輸出仿真器500包括:輸入單元501和電磁閥模型502,所述T⑶100 —端與所述第一處理單元301相連,另一端與所述電磁閥400相連,所述輸入單元501 —端與所述電磁閥400相連,另一端與所述電磁閥模型502相連,與所述電磁閥模型502相連的所述第二處理單元302。
[0069]如圖4所示,基于上述自動(dòng)輸出測(cè)試系統(tǒng)本發(fā)明還提供了一種輸出接口自動(dòng)測(cè)試方法,對(duì)應(yīng)用層控制軟件的輸出接口進(jìn)行測(cè)試,即驗(yàn)證應(yīng)用層控制軟件的輸出接口是否正常,本測(cè)試方法基于硬件在環(huán)系統(tǒng),輸入一個(gè)待測(cè)控制電流值,再將經(jīng)過(guò)TCU輸出的真實(shí)電流值進(jìn)行對(duì)比,若一致則表示應(yīng)用層控制軟件的輸出接口正常,若不一致則表示應(yīng)用層控制軟件的輸出接口不正常,具體的包括以下步驟:
[0070]步驟S201:所述第一處理單元確定待測(cè)控制電流值;
[0071]第一處理單元中包括多個(gè)待測(cè)控制電流值,第一處理單元可以自動(dòng)選擇待測(cè)控制電流值依次對(duì)各個(gè)待測(cè)控制電流值進(jìn)行測(cè)試。
[0072]步驟S202:將所述待測(cè)控制電流值通過(guò)所述T⑶發(fā)送至所述電磁閥;[0073]步驟S203:所述電磁閥接收所述待測(cè)控制電流值并向輸入單元反饋控制電流;
[0074]步驟S204:所述輸入單元將所述控制電流轉(zhuǎn)換為虛擬電流;
[0075]步驟S205:所述電磁閥模型將所述虛擬電流轉(zhuǎn)換為真實(shí)電流值;
[0076]步驟S206:所述第二處理單元由電磁閥模型采集所述真實(shí)電流值,并從所述第一處理單元中獲取所述待測(cè)控制電流值;
[0077]步驟S207:將所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值進(jìn)行對(duì)比;
[0078]步驟S208:依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸出接口測(cè)試結(jié)果。
[0079]優(yōu)選的,若所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值一致,則表示輸出接口正常;若所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值不一致,則表示輸出接口不正常,當(dāng)輸出接口不正常時(shí)還包括:對(duì)所述TCU內(nèi)的應(yīng)用層控制軟件進(jìn)行修改。
[0080]優(yōu)選的,上述實(shí)施例中的所述第一處理單元運(yùn)行CANape腳本文件,所述第二處理單元運(yùn)行ControlDesk軟件。
[0081]由上述實(shí)施例可知本發(fā)明中在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中有兩個(gè)處理單元,第一處理單元和第二處理單元,其中第一處理單元能夠自動(dòng)發(fā)送待測(cè)控制電流值,第二處理單元能夠?qū)⑤敵鼋涌谳敵龅恼鎸?shí)電流值與待測(cè)控制電流值進(jìn)行自動(dòng)對(duì)比,由此確定輸出接口的測(cè)試結(jié)果,第二處理單元能夠自動(dòng)發(fā)送待測(cè)模型變量,第一處理單元將傳感器真實(shí)信號(hào)與待測(cè)模型變量進(jìn)行對(duì)比確定輸出接口測(cè)試結(jié)果。
[0082]本發(fā)明由其中一個(gè)處理單元發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù),由另一個(gè)處理單元獲得接口數(shù)據(jù),并將接口數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比獲得測(cè)試結(jié)果,在測(cè)試過(guò)程中發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù)的過(guò)程,對(duì)比測(cè)試結(jié)果的過(guò)程是自動(dòng)化執(zhí)行的,無(wú)需人工參與,因此能夠解決人工執(zhí)行時(shí)效率低下容易出錯(cuò)的問(wèn)題。因此本發(fā)明能夠自動(dòng)對(duì)輸入輸出接口進(jìn)行測(cè)試,正確率高、工作效率高且節(jié)省人力物力。
[0083]針對(duì)某些較為繁瑣的待測(cè)數(shù)據(jù)還是需要手動(dòng)測(cè)試,因此本發(fā)明還提供了一種接口測(cè)試方法,本方法能夠根據(jù)用戶的測(cè)試需求和使用習(xí)慣決定使用自動(dòng)模式還是手動(dòng)模式。如圖5所示,包括:
[0084]在手動(dòng)測(cè)試模式和自動(dòng)測(cè)試模式中確定當(dāng)前測(cè)試模式;
[0085]若為手動(dòng)測(cè)試模式,則手動(dòng)輸入測(cè)試數(shù)據(jù),采用人工對(duì)比測(cè)試結(jié)果;
[0086]若為自動(dòng)測(cè)試模式,則自動(dòng)輸入測(cè)試數(shù)據(jù),自動(dòng)對(duì)比測(cè)試結(jié)果;
[0087]基于Matlab/Simulink和ControlDesk實(shí)現(xiàn)輸入(Input)接口的自動(dòng)測(cè)試功能,基于CANape中的腳本文件實(shí)現(xiàn)輸出(Output)接口的自動(dòng)測(cè)試功能。并且在自動(dòng)測(cè)試模式下,可實(shí)現(xiàn)多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的同時(shí)測(cè)試。
[0088]判斷測(cè)試結(jié)果是否一致,若一致則進(jìn)行下一次測(cè)試或結(jié)束;
[0089]若不一致則修改TCU內(nèi)的應(yīng)用層控制軟件,使測(cè)試結(jié)果一致。
[0090]因此本發(fā)明具有以下有益效果:
[0091]1.基于Matlab/Simulink和ControlDesk實(shí)現(xiàn)輸入(Input)接口的自動(dòng)測(cè)試功能,基于CANape中的腳本文件實(shí)現(xiàn)輸出(Output)接口的自動(dòng)測(cè)試功能。
[0092]2.在自動(dòng)測(cè)試模式下,可實(shí)現(xiàn)多信號(hào)的同時(shí)測(cè)試,提高了工作效率,避免資源的浪費(fèi)。
[0093]3.在自動(dòng)測(cè)試模式下,由系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)比測(cè)試結(jié)果,摒棄了因人為原因造成的失誤,提聞了測(cè)試的準(zhǔn)確性;
[0094]4.可根據(jù)測(cè)試要求,實(shí)現(xiàn)手動(dòng)測(cè)試模式和自動(dòng)測(cè)試模式的選擇。
[0095]如圖6所示,本發(fā)明還提供了一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),包括:自動(dòng)變速箱控制單元T⑶100、電磁閥400、仿真器600、處理器300,所述處理器包括第一處理單元301和第二處理單元302,其中所述仿真器600包括輸入仿真器200和輸出仿真器500,輸入仿真器200包括:輸出單兀201和傳感器模型202,輸出仿真器500包括:輸入單兀501和電磁閥模型502 ;
[0096]所述T⑶一端與第一處理單元相連,另一端分別與電磁閥和輸出單元相連,用于將所述第一處理單元發(fā)送待測(cè)控制電流值發(fā)送至電磁閥,還用于接收輸出單元發(fā)送的傳感器真實(shí)信號(hào);
[0097]所述輸入單元一端與電磁閥相連,另一端與所述電磁閥模型相連,用于接收所述電磁閥反饋的控制電流,并將所述控制電流轉(zhuǎn)換為虛擬電流發(fā)送至電磁閥模型;
[0098]所述電磁閥模型與所述第二處理單元相連,用于將接收的所述虛擬電流轉(zhuǎn)換為真實(shí)電流值;
[0099]所述傳感器模型一端與所述第二處理單元相連,另一端與所述輸出單元相連,用于接收第二處理單元發(fā)送的待測(cè)模型變量,并將所述待測(cè)模型變量轉(zhuǎn)換為虛擬物理信號(hào)后發(fā)送至輸出單元;
[0100]所述輸出單元用于將接收的虛擬物理信號(hào)轉(zhuǎn)換為所述傳感器真實(shí)信號(hào);
[0101]所述第一處理單元與所述第二處理單元相連,用于從T⑶中采集所述傳感器真實(shí)信號(hào),從所述第二處理單元獲取所述待測(cè)模型變量,并將所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量進(jìn)行對(duì)比,依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸入接口測(cè)試結(jié)果;
[0102]所述第二處理單元用于采集所述真實(shí)電流值,從所述第一處理單元中獲取所述待測(cè)控制電流值,將所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值進(jìn)行對(duì)比,依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸出接口測(cè)試結(jié)果。
[0103]優(yōu)選的,所述第一處理單元運(yùn)行的軟件程序中包括多個(gè)待測(cè)控制電流值,所述第二處理單元運(yùn)行的軟件中包括多個(gè)待測(cè)模型變量。
[0104]本系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)輸入輸出接口的自動(dòng)測(cè)試,本發(fā)明能夠自動(dòng)對(duì)輸入輸出接口進(jìn)行測(cè)試,正確率高、工作效率高且節(jié)省人力物力。
[0105]本實(shí)施例方法所述的功能如果以軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時(shí),可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算設(shè)備可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中?;谶@樣的理解,本發(fā)明實(shí)施例對(duì)現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來(lái),該軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中,包括若干指令用以使得一臺(tái)計(jì)算設(shè)備(可以是個(gè)人計(jì)算機(jī),服務(wù)器,移動(dòng)計(jì)算設(shè)備或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括:U盤、移動(dòng)硬盤、只讀存儲(chǔ)器(ROM, Read-Only Memory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM, Random Access Memory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。
[0106]本說(shuō)明書中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述,每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說(shuō)明的都是與其它實(shí)施例的不同之處,各個(gè)實(shí)施例之間相同或相似部分互相參見(jiàn)即可。
[0107]對(duì)所公開(kāi)的實(shí)施例的上述說(shuō)明,使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來(lái)說(shuō)將是顯而易見(jiàn)的,本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下,在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此,本發(fā)明將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例,而是要符合與本文所公開(kāi)的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種輸入接口自動(dòng)測(cè)試方法,其特征在于,應(yīng)用于自動(dòng)輸入測(cè)試系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:自動(dòng)變速箱控制單元T⑶、輸入仿真器、處理器,所述處理器包括第一處理單元和第二處理單元,其中所述輸入仿真器包括:輸出單元和傳感器模型,所述TCU —端與所述第一處理單元相連,另一端與所述輸出單元相連,所述傳感器模型一端與所述輸出單元相連,另一端與所述第二處理單元相連,包括: 所述第二處理單元確定待測(cè)模型變量并發(fā)送至所述傳感器模型; 由所述傳感器模型將所述待測(cè)模型變量轉(zhuǎn)換為虛擬物理信號(hào),并發(fā)送至輸出單元; 所述輸出單元將所述虛擬物理信號(hào)轉(zhuǎn)換為傳感器真實(shí)信號(hào)并發(fā)送至TCU ; 所述第一處理單元從TCU中采集所述傳感器真實(shí)信號(hào),并從所述第二處理單元獲取所述待測(cè)模型變量; 將所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量進(jìn)行對(duì)比; 依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸入接口測(cè)試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸入接口測(cè)試結(jié)果包括: 若所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量一致,則表示輸入接口正常; 若所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量一致不一致,則表示輸入接口不正常。
3.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,當(dāng)輸入接口不正常時(shí)還包括: 對(duì)所述TCU內(nèi)的應(yīng)用層控制軟件進(jìn)行修改。
4.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一處理單元運(yùn)行CANape腳本文件。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二處理單元運(yùn)行ContiOlDesk軟件。
6.一種輸出接口自動(dòng)測(cè)試方法,其特征在于,應(yīng)用于自動(dòng)輸出測(cè)試系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:自動(dòng)變速箱控制單元TCU、電磁閥、輸出仿真器、第一處理單元和第二處理單元,其中所述輸出仿真器包括:輸入單元和電磁閥模型,所述TCU —端與所述第一處理單元相連,另一端與所述電磁閥相連,所述輸入單元一端與所述電磁閥相連,另一端與所述電磁閥模型相連,與所述電磁閥模型相連的所述第二處理單元,包括: 所述第一處理單元確定待測(cè)控制電流值; 將所述待測(cè)控制電流值通過(guò)所述TCU發(fā)送至所述電磁閥; 所述電磁閥接收所述待測(cè)控制電流值并向輸入單元反饋控制電流; 所述輸入單元將所述控制電流轉(zhuǎn)換為虛擬電流; 所述電磁閥模型將所述虛擬電流轉(zhuǎn)換為真實(shí)電流值; 所述第二處理單元由電磁閥模型采集所述真實(shí)電流值,并從所述第一處理單元中獲取所述待測(cè)控制電流值; 將所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值進(jìn)行對(duì)比; 依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸出接口測(cè)試結(jié)果。
7.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,包括: 若所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值一致,則表示輸出接口正常; 若所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值不一致,則表示輸出接口不正常。
8.如權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,當(dāng)輸出接口不正常時(shí)還包括: 對(duì)所述TCU內(nèi)的應(yīng)用層控制軟件進(jìn)行修改。
9.一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括:自動(dòng)變速箱控制單元TCU、電磁閥、仿真器、處理器,所述處理器包括第一處理單元和第二處理單元,其中所述仿真器包括輸入仿真器和輸出仿真器,輸入仿真器包括輸出單兀和傳感器模型,輸出仿真器包括輸入單兀和電磁閥模型; 所述TCU—端與第一處理單元相連,另一端分別與電磁閥和輸出單元相連,用于將所述第一處理單元發(fā)送待測(cè)控制電流值發(fā)送至電磁閥,還用于接收輸出單元發(fā)送的傳感器真實(shí)信號(hào); 所述輸入單元一端與電磁閥相連,另一端與所述電磁閥模型相連,用于接收所述電磁閥反饋的控制電流,并將所述控制電流轉(zhuǎn)換為虛擬電流發(fā)送至電磁閥模型; 所述電磁閥模型與所述第二處理單元相連,用于將接收的所述虛擬電流轉(zhuǎn)換為真實(shí)電流值; 所述傳感器模型一端與所述第二處理單元相連,另一端與所述輸出單元相連,用于接收第二處理單元發(fā)送的待測(cè)模型變量,并將所述待測(cè)模型變量轉(zhuǎn)換為虛擬物理信號(hào)后發(fā)送至輸出單元; 所述輸出單元用于將接收的虛擬物理信號(hào)轉(zhuǎn)換為所述傳感器真實(shí)信號(hào); 所述第一處理 單元與所述第二處理單元相連,用于從TCU中采集所述傳感器真實(shí)信號(hào),從所述第二處理單元獲取所述待測(cè)模型變量,并將所述傳感器真實(shí)信號(hào)與所述待測(cè)模型變量進(jìn)行對(duì)比,依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸入接口測(cè)試結(jié)果; 所述第二處理單元用于采集所述真實(shí)電流值,從所述第一處理單元中獲取所述待測(cè)控制電流值,將所述真實(shí)電流值與所述待測(cè)控制電流值進(jìn)行對(duì)比,依據(jù)對(duì)比結(jié)果確定輸出接口測(cè)試結(jié)果。
10.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng),其特征在于,所述第一處理單元運(yùn)行的軟件程序中包括多個(gè)待測(cè)控制電流值,所述第二處理單元運(yùn)行的軟件中包括多個(gè)待測(cè)模型變量。
【文檔編號(hào)】G05B23/02GK104020763SQ201410272982
【公開(kāi)日】2014年9月3日 申請(qǐng)日期:2014年6月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月18日
【發(fā)明者】劉祥伍, 王帥, 魯曦, 范維棟, 杜滕州, 高龍, 趙國(guó)強(qiáng), 孫浩 申請(qǐng)人:盛瑞傳動(dòng)股份有限公司
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