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多階段間歇生產過程的全程優(yōu)化方法

文檔序號:6310455閱讀:550來源:國知局
專利名稱:多階段間歇生產過程的全程優(yōu)化方法
技術領域
本發(fā)明屬于生產過程控制與優(yōu)化領域,特別涉及一種多階段間歇生產過程的全程優(yōu)化方法。
背景技術
間歇過程在現代制造業(yè)占有重要地位,廣泛應用于藥品、化工產品、生物制品、農產品等高附加值產品的加工制造領域。在實際生產中,由多個過程單元或工序按照一定順序組成的間歇過程,稱為多階段間歇過程。多階段間歇過程的主要目的在于提高產品的性能,保證產品質量的穩(wěn)定性,以增強產品的市場競爭力。與間歇過程單元不同,多階段間歇生產過程的控制與優(yōu)化因其復雜的本質而更具有挑戰(zhàn)性。一般來說,多階段間歇過程主要具有以下特點:(1)間歇過程單元是多階段間歇過程的基本單位,無穩(wěn)定工作點,運行時間有限。(2)不同過程單元之間具有復雜的相互作用關系,一個單元的輸出是與其相連的單元的輸入,下游單元的操作受到上游單元的影響;不同的過程參數和過程單元之間可能存在臨時的、不可預知的作用關系。(3)最終產品的質量是原料經多個階段加工的累積作用結果;過程參數和過程單元對產品質量的影響程度,會隨著多階段生產過程的進行而發(fā)生變化。(4)來自原料質量的波動或某一過程單元的擾動,會隨生產過程的進行傳遞到最終產品的質量,造成最終產品批次間的差異。以產品質量為導向的多階段間歇過程優(yōu)化控制的難點,在于如何構建過程參數與產品質量之間的關系模型,以體現產品質量在多階段生產過程中的傳遞規(guī)律;以及如何利用模型建立有效的優(yōu)化控制策略,以應對原料波動和過程單元擾動,提高并穩(wěn)定產品質量。經文獻檢索發(fā)現,俄羅斯化學物理研究所的Alexey Pomerantsev在《Chemometrics andIntelligent Laboratory Systems)) (81,165-179,2006)上撰文 “Process control andoptimization with simple interval calculation method (SIC 方法在過程優(yōu)化與控制中的應用)”,提出利用遞進PLS (偏最小二乘回歸)建模進行質量預測,利用PLS通路建模和SIC方法進行多階段生產過程的參數優(yōu)化。但PLS通路建模和SIC方法結合操作步驟繁瑣,并且SIC自身理論不完備,使得優(yōu)化存在一定經驗性;且由于其優(yōu)化目標是最大化某一質量指標,忽略了產品質量的連續(xù)性。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是提供一種多階段間歇生產過程的全程優(yōu)化方法,以優(yōu)化生產過程中每個階段的工藝參數,為產品質量符合既定目標提供持續(xù)最優(yōu)的保證。為了實現上述目的,本發(fā)明提供了一種多階段間歇生產過程的全程優(yōu)化方法,包括以下步驟:S1:采集一個多階段生產過程的多批生產數據并進行預處理,所述生產數據包括過程參數和產品質量屬性數據;S2:采用遞進PLS方法建立過程參數與產品質量屬性數據之間的PLS模型;
S3:確定優(yōu)化目標,結合所述PLS模型計算產品質量屬性符合優(yōu)化目標的貝葉斯后驗預測概率,選擇貝葉斯后驗預測概率最大的過程參數組合作為優(yōu)化結果。作為優(yōu)選,步驟SI具體包括:SlOl:采集數據:采集一個多階段生產過程的m批生產數據,每批生產數據分別包括η個過程參數和q個產品質量屬性數據,則過程參數組成大小為mXn的矩陣X,產品質量屬性數據組成大小為mXq的矩陣Y ;S102:數據預處理及樣本劃分:對所有生產數據進行歸一化預處理以消除量綱差異,并采用樣本劃分方法將全部樣本劃分為校正集和驗證集,其中校正集數據用于建立PLS模型,驗證集數據用于驗證PLS模型;S103:重組數據:若所述多階段生產過程由k個階段組成,則將每個階段的過程參數分別以矩陣Xj表示,其中I < j < k,則過程參數矩陣X分解為k個矩陣X1 Xk ;在第j個階段,將矩陣X1 \重組形成聯(lián)合矩陣x(j):X(J)H..,Xj) (I)形成的k個聯(lián)合矩陣用于多階段過程模型的建立。作為進一步地優(yōu)選,步驟S2具體包括:S201:選擇最優(yōu)潛變量因子數:結合化學計量學指標,采用交叉驗證的方法選擇最優(yōu)潛變量因子數p,其中所述化學計量學指標包括校正誤差均方根、交叉驗證誤差均方根、預測誤差均方根和/或預測殘差平方和;S202:建立 PLS 模型:采用PLS的方法建立聯(lián)合矩陣X(j)和產品質量屬性數據矩陣Y之間的PLS潛變量回歸模型,其表述形式為:XYj =Yj = TjVj+Ej(2)其中L為得分矩陣,'為內部回歸系數矩陣,Ej為模型誤差矩陣;Tj由權重矩陣^和載荷矩陣P」計算得到,計算方法如下:
權利要求
1.種多階段間歇生產過程的全程優(yōu)化方法,其特征在于,包括以下步驟: S1:采集一個多階段生產過程的多批生產數據并進行預處理,所述生產數據包括過程參數和產品質量屬性數據; 52:采用遞進PLS方法建立過程參數與產品質量屬性數據之間的PLS模型; 53:確定優(yōu)化目標,結合所述PLS模型計算產品質量屬性符合優(yōu)化目標的貝葉斯后驗預測概率,選擇貝葉斯后驗預測概率最大的過程參數組合作為優(yōu)化結果。
2.據權利要求1所述的多階段間歇生產過程的全程優(yōu)化方法,其特征在于, 步驟SI具體包括: 5101:采集數據: 采集一個多階段生產過程的m批生產數據,每批生產數據分別包括η個過程參數和q個產品質量屬性數據,則過程參數組成大小為mXn的矩陣X,產品質量屬性數據組成大小為mXq的矩陣Y; 5102:數據預處理及樣本劃分: 對所有生產數據進行歸一化預處理以消除量綱差異,并采用樣本劃分方法將全部樣本劃分為校正集和驗證集,其中校正集數據用于建立PLS模型,驗證集數據用于驗證PLS模型; 5103:重組數據: 若所述多階段生產過程由k個階段組成,則將每個階段的過程參數分別以矩陣Xj表示,其中I < j < k,則過程參數矩陣X分解為k個矩陣X1 Xk;在第j個階段,將矩陣X1 Xj重組形成聯(lián)合矩陣X(j):X(J) = (X1, X2,...,Xj) (I) 形成的k個聯(lián)合矩陣用于多階段過程模型的建立。
3.據權利要求2所述的多階段間歇生產過程的全程優(yōu)化方法,其特征在于, 步驟S2具體包括: 5201:選擇最優(yōu)潛變量因子數: 結合化學計量學指標,采用交叉驗證的方法選擇最優(yōu)潛變量因子數P,其中所述化學計量學指標包括校正誤差均方根、交叉驗證誤差均方根、預測誤差均方根和/或預測殘差平方和; 5202:建立PLS模型: 采用PLS的方法建立聯(lián)合矩陣Χω和產品質量屬性數據矩陣Y之間的PLS潛變量回歸模型,其表述形式為: XYj =Yj = WEj ⑵ 其中L為得分矩陣,'為內部回歸系數矩陣,Ej為模型誤差矩陣; Tj由權重矩陣Vj和載荷矩陣P」計算得到,計算方法如下: Tj=Xij^wy(3) Vj由普通最小二乘法估計得到,計算方法如下: Vj = Cr.Ta ιτ;γ(4) 在生產過程中,隨著過程階段的遞進,建立k個PLS模型,即XY1, XY2,…XYk ;S203:存儲模型參數: 存儲在第j個階段進行PLS建模時的參數Wp Pj, Tj, ',供優(yōu)化計算使用。
4.據權利要求3所述的多階段間歇生產過程的全程優(yōu)化方法,其特征在于, 步驟S3具體包括: 5301:確定優(yōu)化目標: 根據如下表達式進行優(yōu)化目標的確定:
全文摘要
本發(fā)明公開了一種多階段間歇生產過程的全程優(yōu)化方法,包括以下步驟S1采集一個多階段生產過程的多批生產數據并進行預處理,所述生產數據包括過程參數和產品質量屬性數據;S2采用遞進PLS方法建立過程參數與產品質量屬性數據之間的PLS模型;S3確定優(yōu)化目標,結合所述PLS模型計算產品質量屬性符合優(yōu)化目標的貝葉斯后驗預測概率,選擇貝葉斯后驗預測概率最大的過程參數組合作為優(yōu)化結果。應用本發(fā)明的優(yōu)化方法,可為多階段生產過程的每一階段提供符合既定質量目標的最優(yōu)工藝操作,最終達到穩(wěn)定并提高產品質量的目的。
文檔編號G05B13/04GK103092078SQ20131000510
公開日2013年5月8日 申請日期2013年1月7日 優(yōu)先權日2013年1月7日
發(fā)明者喬延江, 徐冰, 史新元, 周海燕 申請人:北京中醫(yī)藥大學, 亞寶北中大(北京)制藥有限公司
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