專利名稱：一種用于采樣標定的軟電位器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
—種用于采樣標定的軟電位器技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實用新型涉及一種用于采樣標定的電位器。技術(shù)背景[0002]目前自動控制中模擬信號采樣，用一個分壓電阻接至機械式電位器一端，此機械式電位器另一端接至另外一個分壓電阻，此機械式電位器的中間滑動端接至模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片的采樣引腳。標定的時候，旋轉(zhuǎn)此機械式電位器的轉(zhuǎn)桿，改變分壓比，即可實現(xiàn)標定。此中標定方法的缺點是，機械式電位器易于老化，內(nèi)部機械式觸點易于發(fā)生磨損、氧化，設(shè)備運輸過程中由于抖動的原因?qū)е码娢黄鞯霓D(zhuǎn)桿可能有所變動等，都會導(dǎo)致出廠前的標定發(fā)生偏差。實用新型內(nèi)容[0003]本實用新型提供一種用于采樣標定的軟電位器，由分壓電阻R1、分壓電阻R2、單片機U1、非易失性電存儲器U2組成，其特征在于，還包括待采樣的模擬信號Vin，連接于分壓電阻Rl和R2的兩端。[0004]所述的單片機Ul設(shè)有A/D采樣通道。[0005]所述的分壓電阻Rl和R2的中間分壓點接至單片機Ul的采樣通道口 A/D引腳，單片機Ul經(jīng)串行口 SPI接至非易失性電存儲器U2。[0006]由于采用了以上結(jié)構(gòu)，本實用新型具有以下顯著特點及有益的效果沒有機械觸點，不存在老化、磨損、氧化等問題，也不存在設(shè)備運輸過程中由于抖動的原因?qū)е码娢黄鞯霓D(zhuǎn)桿可能有所變動的問題。因此系統(tǒng)穩(wěn)定性大大提高。另外，由于標定的時候是調(diào)整內(nèi)部的參數(shù)，因此實際標定的時候，操作比以前大為方便。
[0007]圖I是本實用新型一種實施例的工作流程原理圖。[0008]圖中[0009]U1、單片機，U2、非易失性電存儲器，Rl和R2、分壓電阻，模Vin、擬信號，A/D、采樣通道，SPI、串行口。
具體實施方式
[0010]
以下結(jié)合附圖對本實用新型作進一步描述。[0011]如圖I所示，本實用新型是一種用于采樣標定的軟電位器，由分壓電阻R1、分壓電阻R2、單片機U1、非易失性電存儲器U2組成，其特征在于，還包括待采樣的模擬信號Vin，連接于分壓電阻Rl和R2的兩端。[0012]所述的單片機Ul設(shè)有A/D采樣通道。[0013]所述的分壓電阻Rl和R2的中間分壓點接至單片機Ul的采樣通道口 A/D引腳，單片機Ul經(jīng)串行口 SPI接至非易失性電存儲器U2。[0014]所述的單片機Ul讀取非易失性電存儲器U2的標定參數(shù)值數(shù)據(jù)和A/D采樣通道采樣的數(shù)據(jù)，經(jīng)過內(nèi)部計算，就可以得到理想的采樣結(jié)果。[0015]單片機Ul采樣的時候，先讀取非易失性電存儲器U2的標定參數(shù)值數(shù)據(jù)，再讀取A/ D采樣通道采樣的數(shù)據(jù)，兩者相乘，再除以標定參數(shù)默認值，即得到理想的采樣結(jié)果?？梢杂孟旅娴墓奖硎綶0016]A/D采樣理想結(jié)果=(A/D采樣值X標定參數(shù)值)/200[0017]“標定參數(shù)值”的默認值為200，此默認值可以根據(jù)需要適當(dāng)定大些。[0018]標定的時候，只要調(diào)整該“標定參數(shù)值”即可。調(diào)整完畢后的“標定參數(shù)值”數(shù)據(jù)， 存入非易失性電存儲器U2中。經(jīng)過這么一改進，給實際的標定工作，帶來了很大的方便。[0019]上所述僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進和變型，這些改進和變型也應(yīng)視為本實用新型的保護范圍。
權(quán)利要求1.一種用于采樣標定的軟電位器，由分壓電阻R1、分壓電阻R2、單片機U1、非易失性電存儲器U2組成，其特征在于，還包括待采樣的模擬信號Vin，連接于分壓電阻Rl和R2的兩端。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種用于采樣標定的軟電位器，其特征在于，所述的單片機Ul設(shè)有A/D采樣通道。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種用于采樣標定的軟電位器，其特征在于，所述的分壓電阻Rl和R2的中間分壓點接至單片機Ul的采樣通道口 A/D引腳，單片機Ul經(jīng)串行口 SPI接至非易失性電存儲器U2。
專利摘要本實用新型提供一種用于采樣標定的軟電位器，包括分壓電阻R1、分壓電阻R2、單片機U1、非易失性電存儲器U2，單片機U1設(shè)有采樣通道，非易失性電存儲器U2。U2內(nèi)部可存儲數(shù)據(jù)，并且掉電時不丟失，待采樣的模擬信號Vin接至分壓電阻R1和R2的兩端，分壓電阻R1和R2的中間分壓點接至單片機U1的采樣通道口A/D引腳，單片機U1經(jīng)過串行口SPI接至非易失性電存儲器U2，讀取非易失性電存儲器U2的標定參數(shù)值數(shù)據(jù)和A/D采樣通道采樣的數(shù)據(jù)，經(jīng)過單片機U1內(nèi)部計算，就可以得到理想的采樣結(jié)果。
文檔編號G05B19/07GK202815508SQ20122046637
公開日2013年3月20日 申請日期2012年9月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月13日
發(fā)明者呂文志 申請人:呂文志