一種x射線熒光光譜分析薄試樣的樣品環(huán)的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及光譜分析領域，具體地說是一種用于X射線熒光光譜分析薄試樣的樣品環(huán)。將含有待分析薄試樣的濾膜放入該薄試樣樣品環(huán)，可由X射線熒光光譜進行分析。
【背景技術】
[0002]X射線熒光光譜分析具有分析速度快、能分析各種狀態(tài)和形狀的樣品、非破壞性分析、重現(xiàn)行好、可進行薄試樣組分和厚度分析、易于實現(xiàn)自動化及在線分析的特點。X射線熒光光譜分析在生產(chǎn)科研等各個領域的應用都非常廣泛。然而樣品的礦物效應、顆粒度及化學態(tài)都會對分析結果造成影響，仍需通過制樣予以解決。所以，樣品制備依然是制約X射線熒光光譜分析法發(fā)展的主要難題之一。X射線熒光光譜測定試樣的物理形態(tài)可為固體(粉末、壓片、塊樣)、薄試樣、液體等，但樣品都需要通過制樣步驟獲得能表征樣品整體組分且可用儀器測試的試樣。
[0003]其中，薄試樣法是X射線熒光光譜分析的一種樣品制備方法，可通過離子交換樹月旨、碳納米管、螯合物沉淀劑富集溶液中金屬元素，隨后在濾膜上抽濾獲得均勻的固體薄試樣樣品，亦可經(jīng)固相萃取濾膜萃取溶液中待測元素、滴加溶液于濾膜上干燥、少量固體粉末直接平鋪等方法制得。其中的濾膜、沉淀物、固相萃取濾膜、固體粉末即為待測薄試樣。該法具有取樣量少，操作簡便、快速、有效、可忽略基體效應影響的優(yōu)點，易于與各種化學富集技術配合使用。
[0004]但薄試樣制樣方法也有其局限性:即制備好的樣品容易受外界污染，形成的薄膜平整度較差，且易發(fā)生龜裂，薄試樣的碎肩也易損壞儀器，不易長久保存。那么，如何提供一種X射線熒光光譜分析的樣品環(huán)，使得能夠夾持該形成的薄膜，保護薄膜，提高該薄膜的平整度，避免薄膜發(fā)生龜裂，并進一步的將薄膜與測試儀器分開，從而形成對雙方的保護，成為現(xiàn)有技術亟待解決的技術問題。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]本實用新型的目的在于提出一種X射線熒光光譜分析薄試樣的樣品環(huán)，克服現(xiàn)有技術提出的各種問題。其中，測定的薄試樣樣品可通過離子交換樹脂、碳納米管、螯合物沉淀劑富集溶液中金屬元素后經(jīng)濾膜過濾得到，也可經(jīng)固相萃取濾膜萃取溶液中待測元素、滴加溶液于濾膜上干燥、少量固體粉末直接平鋪等方法制得。
[0006]為達此目的，本實用新型采用以下技術方案:
[0007]—種X射線熒光光譜分析薄試樣的樣品環(huán)，從內(nèi)到外依次包括第一樣品環(huán)體1、第一薄膜2、濾膜3、待分析薄試樣4、第二薄膜5和第二樣品環(huán)體6，其中所述第一樣品環(huán)體I套設于所述第二樣品環(huán)體6中，所述第一薄膜2、所述第二薄膜5依次夾于所述第一樣品環(huán)體I與所述第二樣品環(huán)體6之間，在所述第一薄膜2和所述第二薄膜5之間依次具有所述濾膜3和所述待分析薄試樣4，所述待分析薄試樣4貼合于所述濾膜3的表面。
[0008]優(yōu)選地，所述第一樣品環(huán)體I外徑與所述第二樣品環(huán)體6內(nèi)徑一致，所述第一樣品環(huán)體I高度大于所述第二樣品環(huán)體6高度。
[0009]優(yōu)選地，所述第一薄膜2與所述第二薄膜5的大小一致，長寬均略大于所述第二樣品環(huán)體6外徑。
[0010]優(yōu)選地，所述待分析薄試樣4的直徑略小于所述濾膜3直徑，所述濾膜3直徑略小于所述第一樣品環(huán)體I內(nèi)徑。
[0011]優(yōu)選地，所述第一薄膜2與所述第一樣品環(huán)體I的底部的接觸部設置有倒角。
[0012]優(yōu)選地，所述第二薄膜5與所述第二樣品環(huán)體6的底部的接觸部設置有倒角。
[0013]優(yōu)選地，所述濾膜為孔徑為0.45μπι的微孔濾膜。
[0014]優(yōu)選地，第一樣品環(huán)體和第二樣品環(huán)體為塑料材質的圓環(huán)。
[0015]優(yōu)選地，第一薄膜和第二薄膜為4μπι的聚丙烯薄膜。
[0016]本實用新型提供一種X射線熒光光譜分析薄試樣的樣品環(huán)，先安裝好過濾裝置，將所述濾膜置于所述溶劑過濾器上；向溶液中加入離子交換樹脂、螯合物沉淀劑吸附待測元素后，經(jīng)攪拌、沉淀、過濾至所述濾膜上，制備成待分析薄試樣;將所述樣品環(huán)主體的各部分部件備好，將所述第一薄膜置于所述第一樣品環(huán)體的正上方;將所述濾膜和待分析薄試樣置于所述第一薄膜正中央，將所述第二薄膜置于所述濾膜和待分析薄試樣的正上方，其中所述濾膜位于所述第一薄膜正上方，所述待分析薄試樣位于所述第二薄膜正下方，將所述第二樣品環(huán)體套設于所述第一樣品環(huán)體內(nèi)圍，這樣就將所述第一薄膜、濾膜、待分析薄試樣、第二薄膜固定在所述第一樣品環(huán)體、第二樣品環(huán)體之間；最后將所述薄試樣樣品環(huán)正確放置在儀器樣品盤規(guī)定位置上，測試。
[0017]利用本實用新型的薄試樣樣品環(huán)制得的濾膜平整度較好，不易受外界污染，不易發(fā)生龜裂，并可長期保存，降低薄試樣碎肩損壞儀器的可能。
[0018]因此，本實用新型提供的樣品環(huán)可以用于X射線熒光光譜分析薄試樣樣品。
【附圖說明】
[0019]圖1是根據(jù)本實用新型的具體實施例的一種X射線熒光光譜分析薄試樣的樣品環(huán)的側面剖視圖；
[0020]圖2是根據(jù)本實用新型的具體實施例的一種X射線熒光光譜分析薄試樣的樣品環(huán)的未組合狀態(tài)的俯視圖；
[0021]圖3是根據(jù)本實用新型的具體實施例的一種X射線熒光光譜分析薄試樣的樣品環(huán)的結構分解示意圖。
[0022]圖中的附圖標記所分別指代的技術特征為:
[0023]1、第一樣品環(huán)體;2、第一薄膜;3、濾膜;4、待分析薄試樣;5、第二薄膜;6、第二樣品環(huán)體。
【具體實施方式】
[0024]下面結合附圖和實施例對本實用新型作進一步的詳細說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本實用新型，而非對本實用新型的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本實用新型相關的部分而非全部結構。
[0025]參見圖1，示出了本實用新型的具體實施例的一種X射線熒光光譜分析薄試樣的樣品環(huán)的側面剖視圖；圖2示出了本實用新型的具體實施例的一種X射線熒光光譜分析薄試樣的樣品環(huán)的未組合狀態(tài)的俯視圖。
[0026]該X射線熒光光譜分析薄試樣的樣品環(huán)從內(nèi)到外依次包括第一樣品環(huán)體1、第一薄膜2、濾膜3、待分析薄試樣4、第二薄膜5和第二樣品環(huán)體6，其中所述第一樣品環(huán)體I套設于所述第二樣品環(huán)體