瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及磁體力學(xué)性能測試領(lǐng)域，具體來說，涉及一種瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]近年來，釹鐵硼(NdFeB)永磁體的發(fā)展和應(yīng)用十分迅速。釹鐵硼永磁體主要是將釹(Nd)、鐵(Fe)和硼(B)以及其它元素通過粉末冶金工藝制備而成。作為目前最強(qiáng)的磁體，釹鐵硼永磁體已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電鍍器件、機(jī)械、醫(yī)療、汽車等領(lǐng)域，應(yīng)用前景十分廣闊。
[0003]當(dāng)將釹鐵硼永磁體裝配在電機(jī)等設(shè)備中時，需要將釹鐵硼永磁體粘膠到設(shè)備上，而釹鐵硼永磁體大都為瓦狀，因而難以測試其粘膠性能。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]有鑒于此，本實用新型的目的在于提供一種瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，從而易于測試瓦形磁體的力學(xué)性能。
[0005]為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供一種瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，包括:底座
(I)，是具有一定厚度的平板；凸臺(2、2')，位于所述底座(I)的上表面，與所述底座(I)一體形成，所述凸臺(2、2')呈圓柱狀；小內(nèi)徑套環(huán)(3)，是具有一定厚度的圓環(huán)，所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的內(nèi)徑與所述凸臺(2、2')的外徑相同；以及大內(nèi)徑套環(huán)(4)，是具有一定厚度的圓環(huán)，所述大內(nèi)徑套環(huán)⑷的內(nèi)徑與所述小內(nèi)徑套環(huán)⑶的外徑相同。
[0006]本實用新型所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，所述底座(I)的下表面連接到力學(xué)性能測試儀。
[0007]本實用新型所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，瓦形磁體(5)粘膠在所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的外周面。
[0008]本實用新型所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，所述大內(nèi)徑套環(huán)(4)安裝到所述瓦形磁體(5)的上表面，所述凸臺(2、2')、所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)和所述大內(nèi)徑套環(huán)⑷共軸。
[0009]本實用新型所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，所述瓦形磁體(5)的上表面位于所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的上表面的下方。
[0010]本實用新型所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，所述大內(nèi)徑套環(huán)(4)的上表面連接到力學(xué)性能測試儀。
[0011]本實用新型所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，瓦形磁體(5)粘膠在所述小內(nèi)徑套環(huán)⑶的內(nèi)周面。
[0012]本實用新型所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的上表面連接到力學(xué)性能測試儀。
[0013]本實用新型所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，所述凸臺(2、2')具有多個，各所述凸臺(2、2')的外徑各不相同。
[0014]本實用新型所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，所述小內(nèi)徑套環(huán)(3、3')具有多個，所述大內(nèi)徑套環(huán)(4、4')具有多個。
[0015]本實用新型的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，能夠易于測試瓦形磁體的力學(xué)性能。
【附圖說明】
[0016]圖1是根據(jù)本實用新型一個實施方式的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置的立體圖。
[0017]圖2是示出將瓦形磁體粘膠在小內(nèi)徑套環(huán)的外周面的立體圖。
[0018]圖3是示出測試瓦形磁體的力學(xué)性能的剖視圖。
[0019]圖4是示出測試瓦形磁體的力學(xué)性能的另一實施方式的剖視圖。
[0020]圖5是示出將瓦形磁體粘膠在小內(nèi)徑套環(huán)的內(nèi)周面的立體圖。
[0021]圖6是示出測試瓦形磁體的力學(xué)性能的又一實施方式的剖視圖。
[0022]圖7是根據(jù)本實用新型再一實施方式的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置的立體圖。
【具體實施方式】
[0023]如圖1所示，根據(jù)本實用新型一個實施方式的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置包括底座1、小內(nèi)徑套環(huán)3和大內(nèi)徑套環(huán)4。
[0024]底座I呈在軸線方向(圖1中點劃線所示方向，豎直方向的一個例子)上具有一定厚度的平板狀。當(dāng)沿軸線方向看底座I時，底座I呈例如圓形。
[0025]在底座I的上表面，具有凸臺2。凸臺2與底座I 一體形成。凸臺2呈與底座I共軸的圓柱狀，從底座I的上表面向上方凸。
[0026]底座I的下表面放置在例如萬能拉力機(jī)(圖未示，力學(xué)性能測試儀的一個例子)上。
[0027]小內(nèi)徑套環(huán)3呈在軸線方向上具有一定厚度的圓環(huán)狀。小內(nèi)徑套環(huán)3的內(nèi)徑與凸臺2的外徑相同，或者比凸臺2的外徑稍大。小內(nèi)徑套環(huán)3的外徑比底座I的外徑小。
[0028]大內(nèi)徑套環(huán)4呈在軸線方向上具有一定厚度的圓環(huán)狀。大內(nèi)徑套環(huán)4的內(nèi)徑與小內(nèi)徑套環(huán)3的外徑相同，或者比小內(nèi)徑套環(huán)3的外徑稍大。
[0029]小內(nèi)徑套環(huán)3能夠套在底座I的凸臺2的外周面，大內(nèi)徑套環(huán)4能夠套在小內(nèi)徑套環(huán)3的外周面。
[0030]當(dāng)測試瓦形磁體5的力學(xué)性能(例如，粘膠性能)時，如圖2所示，將瓦形磁體5粘膠在小內(nèi)徑套環(huán)3的外周面，從而形成圓環(huán)(圖2僅示出一個瓦形磁體5)。
[0031]然后，如圖3所示，將外周面粘膠有瓦形磁體5的小內(nèi)徑套環(huán)3套在底座I的凸臺2的外周面，將大內(nèi)徑套環(huán)4放在小內(nèi)徑套環(huán)3的上表面，使得凸臺2、小內(nèi)徑套環(huán)3和大內(nèi)徑套環(huán)4共軸。由于大內(nèi)徑套環(huán)4的內(nèi)徑等于小內(nèi)徑套環(huán)3的外徑，因此，大內(nèi)徑套環(huán)4實際上是放在瓦形磁體5的上表面。
[0032]由萬能拉力機(jī)在大內(nèi)徑套環(huán)4的上表面向下方施力，從而測試瓦形磁體5的力學(xué)性能(例如，粘膠性能)。
[0033]在上述實施方式中，如圖3所示，瓦形磁體5的上表面與小內(nèi)徑套環(huán)3的上表面平齊。但是，如圖4所示，可以使瓦形磁體5的上表面在小內(nèi)徑套環(huán)3的上表面的下方。這樣，當(dāng)將大內(nèi)徑套環(huán)4放在小內(nèi)徑套環(huán)3的上表面時，大內(nèi)徑套環(huán)4沿著小內(nèi)徑套環(huán)3的外周面向下移動，直至瓦形磁體5的上表面。因此，容易對大內(nèi)徑套環(huán)4定位，便于進(jìn)行測量。
[0034]在上述實施方式中，如圖2所示，將瓦形磁體5粘膠在小內(nèi)徑套環(huán)3的外周面。但是，如圖5所示，可以將瓦形磁體5粘膠在小內(nèi)徑套環(huán)3的內(nèi)周面。在這種情況下，如圖6所示，由萬能拉力機(jī)在小內(nèi)徑套環(huán)3的上表面向下方施力，從而測試瓦形磁體5的力學(xué)性能(例如，粘膠性能)。
[0035]在上述實施方式中，底座I具有一個凸臺2。但是，底座I可以具有多個凸臺2，例如，如圖7所示，可以具有兩個凸臺2、2'。在這種情況下，可以具有兩個小內(nèi)徑套環(huán)3、3'，以及兩個大內(nèi)徑套環(huán)4、4'。這樣，可以根據(jù)瓦形磁體5的內(nèi)外徑來靈活設(shè)置小內(nèi)徑套環(huán)3,3r和大內(nèi)徑套環(huán)4、^的內(nèi)外徑，從而測試瓦形磁體5的力學(xué)性能(例如，粘膠性能)。
【主權(quán)項】
1.一種瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，其特征在于，包括: 底座(I)，是具有一定厚度的平板； 凸臺(2、2')，位于所述底座(I)的上表面，與所述底座(I) 一體形成，所述凸臺(2、2')呈圓柱狀； 小內(nèi)徑套環(huán)(3)，是具有一定厚度的圓環(huán)，所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的內(nèi)徑與所述凸臺(2、2')的外徑相同；以及 大內(nèi)徑套環(huán)(4)，是具有一定厚度的圓環(huán)，所述大內(nèi)徑套環(huán)(4)的內(nèi)徑與所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的外徑相同。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，其特征在于，所述底座(I)的下表面連接到力學(xué)性能測試儀。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，其特征在于，瓦形磁體(5)粘膠在所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的外周面。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，其特征在于，所述大內(nèi)徑套環(huán)(4)安裝到所述瓦形磁體(5)的上表面，所述凸臺(2、2')、所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)和所述大內(nèi)徑套環(huán)⑷共軸。5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，其特征在于，所述瓦形磁體(5)的上表面位于所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的上表面的下方。6.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，其特征在于，所述大內(nèi)徑套環(huán)(4)的上表面連接到力學(xué)性能測試儀。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，其特征在于，瓦形磁體(5)粘膠在所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的內(nèi)周面。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，其特征在于，所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的上表面連接到力學(xué)性能測試儀。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，其特征在于，所述凸臺(2、2')具有多個，各所述凸臺(2、2')的外徑各不相同。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，其特征在于，所述小內(nèi)徑套環(huán)(3、3')具有多個，所述大內(nèi)徑套環(huán)(4、4')具有多個。
【專利摘要】本實用新型提供一種瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，包括：底座(1)，是具有一定厚度的平板；凸臺(2、2′)，位于所述底座(1)的上表面，與所述底座(1)一體形成，所述凸臺(2、2′)呈圓柱狀；小內(nèi)徑套環(huán)(3)，是具有一定厚度的圓環(huán)，所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的內(nèi)徑與所述凸臺(2、2′)的外徑相同；以及大內(nèi)徑套環(huán)(4)，是具有一定厚度的圓環(huán)，所述大內(nèi)徑套環(huán)(4)的內(nèi)徑與所述小內(nèi)徑套環(huán)(3)的外徑相同。本實用新型的瓦形磁體力學(xué)性能測試裝置，能夠易于測試瓦形磁體的力學(xué)性能。
【IPC分類】G01N19/04
【公開號】CN204832005
【申請?zhí)枴緾N201520524533
【發(fā)明人】白曉剛, 仉新功, 羅欣, 于海華, 胡少海, 賀元輝, 張峰, 紀(jì)美玲
【申請人】天津三環(huán)樂喜新材料有限公司
【公開日】2015年12月2日
【申請日】2015年7月20日