光耦器件的電性能測(cè)試夾持工裝的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型具體涉及一種光耦器件的電性能測(cè)試夾持工裝，屬于用來(lái)測(cè)試光耦器件電性能的輔助工裝。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的光耦器件在出廠之前需要進(jìn)行各方面的電性能測(cè)試，所述的電性能測(cè)試包括耐壓測(cè)試、電流測(cè)試等等，必須滿足技術(shù)要求，才能出廠銷售。
[0003]目前，光耦器件進(jìn)行電性能測(cè)試時(shí)，是將器件直接通過(guò)同軸測(cè)試線與測(cè)試儀器電連接的，器件與同軸測(cè)試線是焊接連接，每次對(duì)光耦器件在測(cè)試后，還需將光耦器件與同軸測(cè)試線相分離，這樣，不僅耗時(shí)耗力，使得測(cè)試效率低，而且測(cè)試也不方便，不適合批量測(cè)試。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的目的是:提供一種不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，而且便于夾持工件，又省時(shí)省力，工作效率又高的光耦器件的電性能測(cè)試夾持工裝，以克服現(xiàn)有技術(shù)的不足。
[0005]為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:一種光耦器件的電性能測(cè)試夾持工裝，包括第一測(cè)試片組、第二測(cè)試片組和絕緣膠殼，所述絕緣膠殼具有與其互為一體的測(cè)試夾持臺(tái)，所述第一測(cè)試片組和第二測(cè)試片組分開(kāi)布置且各自的中間段均被塑封在絕緣膠殼內(nèi)，且第一測(cè)試片組和第二測(cè)試片組的一端分別貼合在絕緣膠殼的測(cè)試夾持臺(tái)的兩面，第一測(cè)試片組和第二測(cè)試片組的另一端分別設(shè)有絕緣條。
[0006]在上述技術(shù)方案中，所述第一測(cè)試片組和第二測(cè)試片組均各由四條金屬片構(gòu)成，且四條金屬片等間距分開(kāi)布置，所述絕緣條設(shè)在四條金屬片上。
[0007]在上述技術(shù)方案中，所述絕緣膠殼有與測(cè)試儀器的測(cè)試基座定位配裝的定位凹槽。
[0008]在上述技術(shù)方案中，所述第一測(cè)試片組和第二測(cè)試片組另一端的端部均有與其互為一體的折彎段。
[0009]在上述技術(shù)方案中，所述絕緣膠殼是由環(huán)氧樹(shù)脂制成的絕緣膠殼、或是由黑膠制成的絕緣膠殼。
[0010]本實(shí)用新型所具有的積極效果是:采用本實(shí)用新型后，使用時(shí)，所述絕緣膠殼的測(cè)試夾持臺(tái)上的第一測(cè)試片組和第二測(cè)試片組的一端與同軸測(cè)試線的一端電連接，同軸測(cè)試線的另一端與測(cè)試儀器電連接，然后只需將光耦器件夾持在第一測(cè)試片組和第二測(cè)試片組之間，且第一測(cè)試片組和第二測(cè)試片組的另一端分別與光耦器件相應(yīng)的引線搭接即可，即可實(shí)施對(duì)光耦器件的電性能測(cè)試，待該器件測(cè)試完畢后，最后再更換剩余的待測(cè)試器件，這樣，就節(jié)省了逐個(gè)將光耦器件分別與同軸線連接的時(shí)間，不僅省時(shí)省力、便于夾持器件，而且工作效率高，同時(shí)，本實(shí)用新型不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，而且操作方便，適用于批量檢測(cè)光耦器件，實(shí)現(xiàn)了本實(shí)用新型的目的。
【附圖說(shuō)明】
[0011]圖1是本實(shí)用新型一種【具體實(shí)施方式】的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]圖2是圖1的俯視不意圖；
[0013]圖3是圖1的全剖示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]以下結(jié)合附圖以及給出的實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說(shuō)明，但并不局限于此。
[0015]如圖1、2、3所示，一種光耦器件的電性能測(cè)試夾持工裝，包括第一測(cè)試片組1、第二測(cè)試片組2和絕緣膠殼3，所述絕緣膠殼3具有與其互為一體的測(cè)試夾持臺(tái)3-1，所述第一測(cè)試片組I和第二測(cè)試片組2分開(kāi)布置且各自的中間段均被塑封在絕緣膠殼3內(nèi)，且第一測(cè)試片組I和第二測(cè)試片組2的一端分別貼合在絕緣膠殼3的測(cè)試夾持臺(tái)3-1的兩面，第一測(cè)試片組I和第二測(cè)試片組2的另一端分別設(shè)有絕緣條4。
[0016]如圖2所示，為了使得本實(shí)用新型更加合理，所述第一測(cè)試片組I和第二測(cè)試片組2均各由四條金屬片1-1、2-1構(gòu)成，且四條金屬片1-1、2-1等間距分開(kāi)布置，所述絕緣條4設(shè)在四條金屬片1-1、2-1上。當(dāng)然，并不局限于此，所述第一測(cè)試片組I和第二測(cè)試片組2也可以是一條或兩條或三條或五條金屬片組成。
[0017]如圖1所示，為了便于與測(cè)試儀器基座定位配裝，所述絕緣膠殼3有與測(cè)試儀器的測(cè)試基座定位配裝的定位凹槽3-2。
[0018]如圖1、3所示，為了便于與光耦器件的引腳相搭接，所述第一測(cè)試片組I和第二測(cè)試片組2另一端的端部均有與其互為一體的折彎段1-2、2-2。
[0019]為了使得絕緣膠殼3的絕緣性能好，所述絕緣膠殼3是由環(huán)氧樹(shù)脂制成的絕緣膠殼、或是由黑膠制成的絕緣膠殼。
[0020]本實(shí)用新型使用時(shí)，所述絕緣膠殼3的測(cè)試夾持臺(tái)3-1上的第一測(cè)試片組I和第二測(cè)試片組2的一端與同軸測(cè)試線的一端電連接，同軸測(cè)試線的另一端與測(cè)試儀器(分立器件參數(shù)測(cè)試儀)電連接，然后只需將光耦器件夾持在第一測(cè)試片組I和第二測(cè)試片組2之間，且第一測(cè)試片組I和第二測(cè)試片組2的另一端分別與光耦器件相應(yīng)的引線搭接即可，SP可實(shí)施對(duì)光耦器件的電性能測(cè)試，待該器件測(cè)試完畢后，最后再更換剩余的待測(cè)試器件。
[0021]本實(shí)用新型小試結(jié)果顯示，其效果是很好的，本實(shí)用新型不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，而且操作方便，又省時(shí)省力，工作效率又高。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種光耦器件的電性能測(cè)試夾持工裝，其特征在于:包括第一測(cè)試片組(1)、第二測(cè)試片組(2)和絕緣膠殼(3)，所述絕緣膠殼(3)具有與其互為一體的測(cè)試夾持臺(tái)(3-1)，所述第一測(cè)試片組(I)和第二測(cè)試片組(2)分開(kāi)布置且各自的中間段均被塑封在絕緣膠殼(3)內(nèi)，且第一測(cè)試片組(I)和第二測(cè)試片組(2)的一端分別貼合在絕緣膠殼(3)的測(cè)試夾持臺(tái)(3-1)的兩面，第一測(cè)試片組(I)和第二測(cè)試片組(2)的另一端分別設(shè)有絕緣條(4)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光耦器件的電性能測(cè)試夾持工裝，其特征在于:所述第一測(cè)試片組(I)和第二測(cè)試片組(2)均各由四條金屬片(1-1、2-1)構(gòu)成，且四條金屬片(1-1、2-1)等間距分開(kāi)布置，所述絕緣條(4)設(shè)在四條金屬片(1-1、2-1)上。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光耦器件的電性能測(cè)試夾持工裝，其特征在于:所述絕緣膠殼(3)有與測(cè)試儀器的測(cè)試基座定位配裝的定位凹槽(3-2)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光耦器件的電性能測(cè)試夾持工裝，其特征在于:所述第一測(cè)試片組(I)和第二測(cè)試片組(2)另一端的端部均有與其互為一體的折彎段(1-2、2-2)。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光耦器件的電性能測(cè)試夾持工裝，其特征在于:所述絕緣膠殼(3)是由環(huán)氧樹(shù)脂制成的絕緣膠殼、或是由黑膠制成的絕緣膠殼。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種光耦器件的電性能測(cè)試夾持工裝，包括第一測(cè)試片組、第二測(cè)試片組和絕緣膠殼，所述絕緣膠殼具有與其互為一體的測(cè)試夾持臺(tái)，所述第一測(cè)試片組和第二測(cè)試片組分開(kāi)布置且各自的中間段均被塑封在絕緣膠殼內(nèi)，且第一測(cè)試片組和第二測(cè)試片組的一端分別貼合在絕緣膠殼的測(cè)試夾持臺(tái)的兩面，第一測(cè)試片組和第二測(cè)試片組的另一端分別設(shè)有絕緣條。本實(shí)用新型具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，而且操作方便，又省時(shí)省力，工作效率又高等優(yōu)點(diǎn)。
【IPC分類】G01R1/04
【公開(kāi)號(hào)】CN204740265
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520287589
【發(fā)明人】劉凱, 茆健
【申請(qǐng)人】常州銀河世紀(jì)微電子有限公司
【公開(kāi)日】2015年11月4日
【申請(qǐng)日】2015年5月6日