一種密封件表面缺陷檢測工裝的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及密封件檢測工裝，尤其與一種密封件表面缺陷檢測工裝的結(jié)構(gòu)有關(guān)。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的廠家在密封件制品的表面缺陷檢測環(huán)節(jié)較為薄弱，一方面是疏于對這方面的重視，另一方面是顧于成本、時間、人力的控制，而密封件常應(yīng)用于對精密性有一定要求的場合，若產(chǎn)品表面存在一定程度的缺陷，如粗糙、不平整、局部細(xì)微凹凸等，均可能給其應(yīng)用造成影響，進一步導(dǎo)致嚴(yán)重后果。因此，需要加以重視。
[0003]針對此，本實用新型設(shè)計一種簡單且易于實施的工裝，能夠快速檢測密封件表面缺陷，檢測效果好，可以控制密封件出廠質(zhì)量，而且效率高。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型提供一種密封件表面缺陷檢測工裝，以解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，通過設(shè)計檢測工裝結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)能夠快速檢測密封件表面缺陷，檢測效果好，可以控制密封件出廠質(zhì)量，而且效率高。
[0005]為了實現(xiàn)本實用新型的目的，擬采用以下技術(shù):
[0006]—種密封件表面缺陷檢測工裝，其特征在于，包括檢測傳送帶(201)、送檢輸送帶(202)、次品輸送帶(203)、標(biāo)準(zhǔn)臺(5)、自動抓取機(7)和圖像采集比對裝置，所述自動抓取機(7)上設(shè)有至少4個均勻分布的抓取臂(8)，所述圖像采集比對裝置包括設(shè)置在檢測傳送帶(201)上方的采樣傳感器A(I)、設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)臺(6)上方的標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B(4)，以及圖像比對處理器(3)，所述采樣傳感器A(I)、標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B(4)和自動抓取機(7)均連接圖像比對處理器(3)，所述采樣傳感器A(I)、標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B (4)、自動抓取機(7)和圖像比對處理器⑶均連接電源。
[0007]進一步，所述采樣傳感器(I)旁邊設(shè)有補光燈A(2)，所述標(biāo)準(zhǔn)件傳感器(4)旁邊設(shè)有補光燈B (2)，所述補光燈A (2)和補光燈B (5)型號一致，保證補光效果一致。
[0008]進一步，所述采樣傳感器(I)和標(biāo)準(zhǔn)件傳感器(4)的型號一致，保證采集質(zhì)量一致。
[0009]進一步，所述抓取臂⑶可伸縮。在將待檢測密封件(102)放到檢測傳送帶(201)上的檢測位置后，其自然縮回，避免影響圖像采集。
[0010]進一步，所述標(biāo)準(zhǔn)臺(5)用以放置待測密封件的對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)件(101)。
[0011]進一步，所述送檢輸送帶(202)上輸送待檢測密封件(102)。
[0012]進一步，所述檢測傳送帶(201)上完成檢測，并將合格密封件(103)繼續(xù)送下一工序。
[0013]進一步，所述次品輸送帶(203)上輸送缺陷密封件(104)。
[0014]進一步，所述自動抓取機(6)順時針轉(zhuǎn)動，其抓取臂(7)抓取送檢輸送帶(202)上輸送待檢測的密封件，轉(zhuǎn)動到檢測傳送帶(201)上的檢測位置時，放下待檢測的密封件；檢測完成后，若不合格，自動抓取機(6)響應(yīng)圖像比對處理器(3)的控制信號，抓取臂(7)抓取檢測完成的密封件，轉(zhuǎn)動到次品輸送帶(203)上方位置時，放下。
[0015]上述技術(shù)方案的優(yōu)點在于:
[0016]1、通過對比標(biāo)準(zhǔn)件與待測件的圖像差異進行表面缺陷檢測，若差異在設(shè)定范圍內(nèi)，則為合格，若差異過大，超出設(shè)定范圍，則為缺陷產(chǎn)品，精確度高；同時，采用相同型號的傳感器和補光燈，可保證在相同條件下采集圖像信息，進一步保證檢測精確度；
[0017]2、加入補光燈，可在必要時候開啟，為圖像采集提供必要的光信息；
[0018]3、將傳送裝置與自動抓取機結(jié)合，極大提高了檢測的效率；
[0019]4、本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，易于實現(xiàn)，實現(xiàn)能夠快速檢測密封件表面缺陷，檢測效果好，可以控制密封件出廠質(zhì)量，而且效率高。
【附圖說明】
[0020]圖1示出了本實用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0021]如圖1所示，一種密封件表面缺陷檢測工裝，其特征在于，包括檢測傳送帶(201)、送檢輸送帶(202)、次品輸送帶(203)、標(biāo)準(zhǔn)臺(5)、自動抓取機(7)和圖像采集比對裝置，所述自動抓取機(7)上設(shè)有至少4個均勻分布的抓取臂(8)，所述抓取臂(8)可伸縮，在將待檢測密封件(102)放到檢測傳送帶(201)上的檢測位置后，其自然縮回，避免影響圖像采集，所述圖像采集比對裝置包括設(shè)置在檢測傳送帶(201)上方的采樣傳感器A(I)、設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)臺(6)上方的標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B (4)，以及圖像比對處理器(3)，所述采樣傳感器A(I)、標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B(4)和自動抓取機(7)均連接圖像比對處理器(3)，所述采樣傳感器A(l)、標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B(4)、自動抓取機(7)和圖像比對處理器(3)均連接電源。所述采樣傳感器(I)和標(biāo)準(zhǔn)件傳感器(4)的型號一致，保證采集質(zhì)量一致。
[0022]作為優(yōu)選實施，所述采樣傳感器(I)旁邊設(shè)有補光燈A (2)，所述標(biāo)準(zhǔn)件傳感器(4)旁邊設(shè)有補光燈B (2)，所述補光燈A (2)和補光燈B (5)型號一致，保證補光效果一致。
[0023]所述標(biāo)準(zhǔn)臺(5)用以放置待測密封件的對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)件(101) ο所述送檢輸送帶(202)上輸送待檢測密封件(102)。所述檢測傳送帶(201)上完成檢測，并將合格密封件(103)繼續(xù)送下一工序。所述次品輸送帶(203)上輸送缺陷密封件(104)。所述自動抓取機(6)順時針轉(zhuǎn)動，其抓取臂(7)抓取送檢輸送帶(202)上輸送待檢測的密封件，轉(zhuǎn)動到檢測傳送帶(201)上的檢測位置時，放下待檢測的密封件，進行檢測，由標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B(4)和采樣傳感器A(I)分別采集對比標(biāo)準(zhǔn)件(101)與檢測密封件(102)的表面圖像，將圖像數(shù)據(jù)信息匯總到圖像比對處理器(3)，圖像比對處理器(3)對圖像進行處理和差異分析，若差異在設(shè)定范圍內(nèi)，則為合格密封件(103)，若差異過大，超出設(shè)定范圍，則為缺陷密封件(104);檢測完成后，若不合格，自動抓取機出)響應(yīng)圖像比對處理器(3)的控制信號，抓取臂(7)抓取檢測完成的密封件，轉(zhuǎn)動到次品輸送帶(203)上方位置時，放下。
[0024]本實用新型通過設(shè)計檢測工裝結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)能夠快速檢測密封件表面缺陷，檢測效果好，可以控制密封件出廠質(zhì)量，而且效率高。
【主權(quán)項】
1.一種密封件表面缺陷檢測工裝，其特征在于，包括檢測傳送帶(201)、送檢輸送帶(202)、次品輸送帶(203)、標(biāo)準(zhǔn)臺(5)、自動抓取機(7)和圖像采集比對裝置，所述自動抓取機(7)上設(shè)有至少4個均勻分布的抓取臂(8)，所述圖像采集比對裝置包括設(shè)置在檢測傳送帶(201)上方的采樣傳感器A(I)、設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)臺(6)上方的標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B(4)，以及圖像比對處理器(3)，所述采樣傳感器A(I)、標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B(4)和自動抓取機(7)均連接圖像比對處理器(3)，所述采樣傳感器A(I)、標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B (4)、自動抓取機(7)和圖像比對處理器⑶均連接電源。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封件表面缺陷檢測工裝，其特征在于:所述采樣傳感器(I)旁邊設(shè)有補光燈A (2)，所述標(biāo)準(zhǔn)件傳感器(4)旁邊設(shè)有補光燈B (5)，所述補光燈A (2)和補光燈B(5)型號一致。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封件表面缺陷檢測工裝，其特征在于:所述采樣傳感器(I)和標(biāo)準(zhǔn)件傳感器(4)的型號一致。4.根據(jù)權(quán)利要求1~3中任意一項所述的密封件表面缺陷檢測工裝，其特征在于:所述抓取臂(8)可伸縮。
【專利摘要】一種密封件表面缺陷檢測工裝，其特征在于，包括檢測傳送帶、送檢輸送帶、次品輸送帶、標(biāo)準(zhǔn)臺、自動抓取機和圖像采集比對裝置，所述自動抓取機上設(shè)有至少4個均勻分布的抓取臂，所述圖像采集比對裝置包括設(shè)置在檢測傳送帶上方的采樣傳感器A、設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)臺上方的標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B，以及圖像比對處理器，所述采樣傳感器A、標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B和自動抓取機均連接圖像比對處理器，所述采樣傳感器A、標(biāo)準(zhǔn)件傳感器B、自動抓取機和圖像比對處理器均連接電源。通過設(shè)計檢測工裝結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)能夠快速檢測密封件表面缺陷，檢測效果好，可以控制密封件出廠質(zhì)量，而且效率高。
【IPC分類】G01N21/95
【公開號】CN204740211
【申請?zhí)枴緾N201520174223
【發(fā)明人】嚴(yán)林, 岳清, 嚴(yán)航嘉
【申請人】自貢市佳世特密封制品有限公司
【公開日】2015年11月4日
【申請日】2015年3月26日