電壓檢測裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種電壓檢測裝置，特別涉及一種用以檢測處理器插座的電壓檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]由于中央處理器對電壓相當(dāng)敏感，當(dāng)主機(jī)板提供給中央處理器的供電電壓過高時(shí)，很容易會燒壞或擊穿中央處理器。因此，當(dāng)組裝人員在維修或組裝中央處理器時(shí)，常常會先檢測設(shè)置于主機(jī)板上的處理器插座，確定主機(jī)板要提供給中央處理器的供電電壓正常后，才會將中央處理器安裝于處理器插座上。
[0003]然而，隨著科技的進(jìn)步，中央處理器的集成功能越來愈多。為了因應(yīng)中央處理器各個(gè)功能接口電路所需的電壓，主機(jī)板必須提供越來越多種類的供電電壓給中央處理器，進(jìn)而使得組裝人員在安裝中央處理器時(shí)，需要預(yù)先檢測更多主機(jī)板提供的供電電壓，因此造成組裝人員在安裝中央處理器上的耗時(shí)與不便。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型在于提供一種電壓檢測裝置，借以解決組裝人員安裝中央處理器時(shí)，需檢測多個(gè)供電電壓而造成的耗時(shí)與不便問題。
[0005]本實(shí)用新型所公開的電壓檢測裝置，包含基板、多個(gè)測試接腳、控制模塊及警示模塊?；寰哂械谝幻婕暗诙?。多個(gè)測試接腳設(shè)置于基板的第一面，測試接腳用以可插拔地連接處理器插座的多個(gè)電性接點(diǎn)。處理器插座的電性接點(diǎn)用以提供多個(gè)供電電壓?？刂颇K設(shè)置于基板的第二面且電性連接測試接腳。當(dāng)測試接腳連接于處理器插座的電性接點(diǎn)時(shí)，控制模塊用以比對供電電壓的值與預(yù)設(shè)范圍以產(chǎn)生檢測信號。警示模塊電性連接控制模塊，用以依據(jù)控制模塊產(chǎn)生的檢測信號，產(chǎn)生警示信號。
[0006]根據(jù)上述本實(shí)用新型所公開的電壓檢測裝置，電壓檢測裝置通過多個(gè)測試接腳電性連接處理器插座的多個(gè)電性接點(diǎn)，以一并地取得主機(jī)板準(zhǔn)備提供給處理器的多個(gè)供電電壓值，并通過比對每一個(gè)供電電壓的值與其預(yù)設(shè)的電壓值的方式，以確定每一個(gè)供電電壓的值是否都在正常的電壓范圍內(nèi)，進(jìn)而發(fā)出警示信號以提示組裝人員是否適合安裝處理器。組裝人員通過本實(shí)用新型電壓檢測裝置可以更為方便且迅速地檢測主機(jī)板的多個(gè)供電電壓值，進(jìn)而完成安裝中央處理器的工作。
[0007]以上的關(guān)于本公開內(nèi)容的說明及以下的實(shí)施方式的說明用以示范與解釋本實(shí)用新型的精神與原理，并且提供本實(shí)用新型的專利申請范圍更進(jìn)一步的解釋。
【附圖說明】
[0008]圖1為根據(jù)本實(shí)用新型一實(shí)施例所繪示的電壓檢測裝置的俯視圖。
[0009]圖2為根據(jù)本實(shí)用新型一實(shí)施例所繪示的電壓檢測裝置的仰視圖。
[0010]圖3為根據(jù)本實(shí)用新型一實(shí)施例所繪示的處理器插座的俯視圖。
[0011]圖4為根據(jù)本實(shí)用新型再一實(shí)施例所繪示的控制模塊及警示模塊的功能方塊圖。
[0012]圖5為根據(jù)本實(shí)用新型再一實(shí)施例所繪示的比對單元中AND門的示意圖。
[0013]圖6為根據(jù)本實(shí)用新型另一實(shí)施例所繪示的控制模塊及警示模塊的功能方塊圖。
[0014]圖7為根據(jù)本實(shí)用新型又一實(shí)施例所繪示的緩沖模塊的示意圖。
[0015]圖8為根據(jù)本實(shí)用新型又一實(shí)施例所繪示的電壓檢測裝置電性連接主機(jī)板的示意圖。
[0016]圖9為根據(jù)本實(shí)用新型又一實(shí)施例所繪示的電壓檢測裝置電性連接外部裝置的示意圖。
[0017]附圖標(biāo)記說明:
[0018]10電壓檢測裝置
[0019]11 基板
[0020]113 第一面
[0021]115 第二面
[0022]13_1?13_n測試接腳
[0023]13，_1 ?13，_n 接觸點(diǎn)
[0024]15、15a、15b 控制模塊
[0025]151a、151b 取樣單元
[0026]153a、153b 存儲單元
[0027]155a、155b 比對單元
[0028]157b計(jì)算單元
[0029]17、17a、17b 警示模塊
[0030]18a、18b 緩沖模塊
[0031]19外接插槽
[0032]30處理器插座
[0033]50供電纜線
[0034]70主機(jī)板
[0035]80通信纜線
[0036]90外部裝置
[0037]31_1?31_n電性接點(diǎn)
[0038]Va_l、Vb_l、Vc_l 第一電壓
[0039]Va_2.Vb_2.Vc_2 第二電壓
[0040]Va_3.Vb_3.Vc_3 第三電壓
[0041]Va_4、Vb_4、Vc_4 第四電壓
[0042]Va_5.Vb_5.Vc_5 第五電壓
[0043]Va_6.Vb_6.Vc_6 第六電壓
[0044]Va_m 第 m 電壓
[0045]SC檢測信號
[0046]SAL警示信號
[0047]Vsl_l?Vsl_n第一取樣電壓
[0048]Vs2_l?Vs2_n第二取樣電壓
[0049]Vs3_l?Vs3_n第三取樣電壓
[0050]Vs4_l?Vs4_n第四取樣電壓
[0051]Vs5_l?Vs5_n第五取樣電壓
[0052]Vs6_l?Vs6_n第六取樣電壓
[0053]SP_1第一比對信號
[0054]SP_2第二比對信號
[0055]SP_3第三比對信號
[0056]SP_4第四比對信號
[0057]SP_5第五比對信號
[0058]SP_6第六比對信號
[0059]R1、R2、R3 電阻
[0060]C1、C2 電容
[0061]tl_l ?tl_n 第一時(shí)點(diǎn)
[0062]t2_l ?t2_n 第二時(shí)點(diǎn)
[0063]t3_l?t3_n第三時(shí)點(diǎn)
[0064]t4_l?t4_n第四時(shí)點(diǎn)
[0065]t5_l?t5_n第五時(shí)點(diǎn)
[0066]t6_l?t6_n第六時(shí)點(diǎn)
【具體實(shí)施方式】
[0067]以下在實(shí)施方式中詳細(xì)敘述本實(shí)用新型的詳細(xì)特征以及優(yōu)點(diǎn)，其內(nèi)容足以使任何熟習(xí)相關(guān)技藝者了解本實(shí)用新型的技術(shù)內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，且根據(jù)本說明書所公開的內(nèi)容、權(quán)利要求及附圖，任何熟習(xí)相關(guān)技藝者可輕易地理解本實(shí)用新型相關(guān)的目的及優(yōu)點(diǎn)。以下的實(shí)施例進(jìn)一步詳細(xì)說明本實(shí)用新型的觀點(diǎn)，但非以任何觀點(diǎn)限制本實(shí)用新型的范疇。
[0068]請參照圖1至圖3，圖1為根據(jù)本實(shí)用新型一實(shí)施例的電壓檢測裝置的俯視圖，圖2為根據(jù)本實(shí)用新型一實(shí)施例所繪示的電壓檢測裝置的仰視圖，圖3為根據(jù)本實(shí)用新型一實(shí)施例所繪示的處理器插座的俯視圖。如圖所示，電壓檢測裝置10包含基板11、測試接腳13_1?13_n、控制模塊15、警示模塊17及外接插槽19?；?1具有第一面113及第二面115，其中測試接腳13_1?13_n的接觸點(diǎn)13’_1?13’_n、控制模塊15、警示模塊17及外接插槽19位于基板11的第二面115上。而測試接腳13_1?13_n由接觸點(diǎn)13’_1?13’_η向外突出且設(shè)置于基板11的第一面113上。于本實(shí)施例中，測試接腳13_1?13_η、控制模塊15、警示模塊17及外接插槽19設(shè)置的位置并非用以限制本實(shí)用新型，于其他實(shí)施例中，測試接腳13_1?13_η亦可設(shè)置于第二面115上，或是外接插槽19可以設(shè)置于基板11的側(cè)表面上。
[0069]測試接腳13_1?13_η用以可插拔地連接于處理器插座30的電性接點(diǎn)31_1?31_η,以檢測處理器插座30所提供的多種供電電壓。舉例來說，供電電壓例如為第一電壓Va_l至第m電壓Va_m，處理器插座30的電性接點(diǎn)31_1?31_2用以傳輸主機(jī)板準(zhǔn)備要提供給處理器的第一電壓Va_l。測試接腳13_1?13_2插設(shè)于處理器插座30的電性接點(diǎn)31_1?31_2時(shí)，以檢測處理器插座30提供的第一電壓Va_l。處理器插座30的電性接點(diǎn)31_3?31_4用以傳輸主機(jī)板準(zhǔn)備要提供給處理器的第二電壓Va_2。測試接腳13_3?13_4插設(shè)于處理器插座30的電性接點(diǎn)31_3?31_4，以檢測處理器插座30提供的第二電壓Va_2。其余測試接腳13_5?13_n檢測第一電壓Va_l至第m電壓Va_m的方式以此類推。
[0070]于本實(shí)施例中以兩個(gè)測試接腳檢測同一種供電電壓，并非為限制本實(shí)用新型用以檢測提供相同供電電壓的測試接腳數(shù)量。于其他實(shí)施例中，亦可以一個(gè)測試接腳檢測同一種供電電壓，或是三個(gè)到四個(gè)測試接腳檢測同一種供電電壓。此外，電壓檢測裝置10的測試接腳可以電性連接全部或部分提供同一種供電電壓的電性接點(diǎn)。舉例來說，處理器插座30的五個(gè)電性接點(diǎn)31_5?31_9傳輸主機(jī)板提供的同一種供電電壓給處理器，而電壓檢測裝置10可以三個(gè)到四個(gè)測試接腳，如測試接腳13_5?13_7電性連接電性接點(diǎn)31_5?31_7，以檢測主機(jī)板提供的同一種供電電壓。
[0071]控制模塊15電性連接測試接腳13_1?13_n。當(dāng)接測試接腳13_1?13_n電性連接電性接點(diǎn)31_5?31_n時(shí)，控制模塊15用以比對預(yù)設(shè)范圍及供電電壓的值，以產(chǎn)生檢測信號SC。供電電壓關(guān)連于測試接腳13_1?13_n檢測電性接點(diǎn)31_3?31_n的結(jié)果。更詳細(xì)來說，供電電壓指主機(jī)板原本通過處理器插座30準(zhǔn)備提供給處理器的電壓，而電壓檢測裝置10在處理器插座30安裝處理器之前，安裝于處理器插座30上，以檢測主機(jī)板原本要提供給處理器的供電電壓，因此測試接腳13_1?13_n檢測到的供電電壓實(shí)值上為主機(jī)板提供的供電電壓。于其他實(shí)施例中，供電電壓亦可以指測試接腳13_1?13_n取樣多次主機(jī)板提供的供電電壓，并加以平均計(jì)算的結(jié)果，抑或是供電電壓是指主機(jī)板提供的供電電壓經(jīng)過緩沖處理以后所得到的