微電阻測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及電阻測試領域，尤其涉及一種微電阻測試裝置。
【背景技術】
[0002]眾所周知，所有的電子電氣設備或控制系統(tǒng)都要用到印刷線路板，為確保線路板不發(fā)生開路或短路，印刷線路板在出貨前均需通過PCB測試機的測試，將不合格的線路板檢出。
[0003]隨著電子技術的迅猛發(fā)展，印制線路板(PCB)的制作層數越來越高、線路密度越來越密、焊盤尺寸越做越小，客戶對板的要求越來越嚴，尤其是PCB的安全性與穩(wěn)定性，比如說關乎生命安全的汽車板，心系國防的航天控制系統(tǒng)電子板等。普通的兩端子測試機，通常采用的是斷線測試方法，是由已知的排線阻抗、電子控制阻抗及接觸阻抗再加上被測PCB之阻抗植，所以無法測出被測PCB內真正的阻抗，以致孔內微小缺陷及線路微小缺口，更是無法被檢測出來。當線路阻值小于20Ω時，已基本成為它的測試盲區(qū)。在實際生產中發(fā)現PCB的某些缺陷，如孔內無銅、空洞、銅薄、線幼、線路缺口等問題均會影響到線路阻值，當阻值小于20 Ω時測試結果顯示PASS，但客戶經過高溫焊接后阻值發(fā)生變化，導致開路問題發(fā)生，最終導致客戶投訴，嚴重的還需向客戶賠款。
[0004]現有的印刷線路板測試機電子卡主要有以下幾種:雙倍密通用測試機電子卡(標準網格間距為70mil)，四倍密通用測試機電子卡(標準網格間距為50mil)，六倍密通用測試機電子卡(標準網格間距為39.3mil)。上述設備能滿足一般印刷電路板的測試要求，但在實際測試過程中不能針對批量電路板的測試，且測試精度不高。
【實用新型內容】
[0005]本實用新型的目的在于提供一種有效提高測試精度的微電阻測試裝置。
[0006]為了解決上述技術問題，本實用新型提供了一種微電阻測試裝置，其中，所述微電阻測試裝置包括一個電壓檢測模塊、一個電流輸出模塊、多個內接端口、多個開關模塊和多個外接端口，所述多個內接端口并聯于所述電壓檢測模塊和所述電流輸出模塊之間，所述多個開關模塊的一端分別對應連接所述多個內接端口，所述多個外接端口分別對應連接所述多個開關模塊的另一端，所述多個外接端口用以通過測試夾具的連線及其探針連接多個待測試電阻。
[0007]其中，所述微電阻測試裝置包括一組測試電路板，所述電壓檢測模塊和所述電流輸出模塊集成于所述測試電路板上，所述測試電路板設置有并聯所述電壓檢測模塊和所述電流輸出模塊的測試接入端口，所述多個內接端口均電連接所述測試接入端口。
[0008]其中，所述微電阻測試裝置還包括轉接電路板組件，所述轉接點板組件包括第一轉接板和第二轉接板，所述第一轉接板和所述第二轉接板相對設置，所述第一轉接板設置有并接電路，所述并接電路包括一個連接端和多個并行端，所述多個并行端連接于所述一個連接端，所述連接端設置于所述第一轉接板背離所述第二轉接板一側，所述多個并行端設置于所述第一轉接板靠近所述第二轉接板一側，所述第二轉接板設置多個并列的插接件，所述多個插接件的一端分別對應連接所述多個并行端，所述多個插接件的另一端穿過所述第二轉接板，并分別對應設置多個所述內接端口。
[0009]其中，所述測試裝置還包括多個開關電路板，所述多個開關模塊分別對應集成于所述多個開關電路板上，所述多個開關電路板并列設置，所述多個開關電路板均包括一個開關接入端和一個開關接出端，所述多個開關電路板的開關接入端分別對應連接所述多個內接端口，所述多個開關電路板的開關接出端分別對應設置多個所述外接端口。
[0010]其中，所述微電阻測試裝置還包括一個外接針盤，所述外接針盤包括相對設置第一側和第二側，所述第一側設置多個引腳，每一引腳對應插接每一所述針管，所述第二側設置多個彈簧針，每一彈簧針穿過所述外接針盤與每一所述引腳對應連接，多個所述彈簧針用于與多個待測試電阻連接。
[0011]其中，所述微電阻測試裝置還包括線路轉接板，所述線路轉接板相對所述外接針盤滑動設置，所述測試版包括相對設置的第一連接側和第二連接側，所述第一連接側設置多個觸點，多個所述觸點與多個所述彈簧針相對應，所述第二連接側對應所述多個觸點連接有多根線纜，多根所述線纜遠離所述線路轉接板的另一端連接多個探針，多個所述探針用于連接所述待測試電阻。
[0012]其中，所述微電阻測試裝置還包括測試測試夾具，所述測試夾具用于固定待測試電路板，多個所述待測試電阻集成于所述待測試電路板上，多個所述探針設置于所述測試夾具上，用于接觸多個所述待測試電阻。
[0013]其中，所述電壓檢測模塊包括一個電壓測試電路，所述電壓測試電路用于測試所述待測試電阻兩端的電壓，所述電流輸出模塊包括一個電流源，所述電流源用于向所述待測試電阻輸出恒定電流。
[0014]其中，所述微電阻測試裝置包括控制模塊，所述控制模塊電連接所述多個開關模塊，用以控制所述多個開關模塊的通斷，所述控制模塊電連接所述電流輸出模塊，用以控制所述電流輸出模塊輸出的電流值，所述控制模塊電連接所述電壓檢測模塊，用以控制所述電壓檢測模塊的量程選擇。
[0015]本實用新型的微電阻測試裝置，通過所述多個內接端口并聯于所述電壓檢測模塊和所述電流輸出模塊之間，所述多個外接端口用以連接多個待測試電阻，從而實現多個待測試電阻并聯于所述電壓檢測模塊和所述電流輸出模塊之間，進而實現對多個待測試電阻的電阻測試。
【附圖說明】
[0016]為了更清楚地說明本實用新型的技術方案，下面將對實施方式中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施方式，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0017]圖1是本實用新型提供的微電阻測試裝置的示意圖；
[0018]圖2是本實用新型提供的微電阻測試裝置的示意圖。
【具體實施方式】
[0019]下面將結合本實用新型實施方式中的附圖，對本實用新型實施方式中的技術方案進行清楚、完整地描述。
[0020]請參閱圖1和圖2，本實用新型提供一種微電阻測試裝置100，所述微電阻測試裝置100包括一個電壓檢測模塊10、一個電流輸出模塊20、多個內接端口 30、多個開關模塊40和多個外接端口 50。所述多個內接端口 30并聯于所述電壓檢測模塊10和所述電流輸出模塊20之間，所述多個開關模塊40的一端分別對應連接所述多個內接端口 30。所述多個外接端口 50分別對應連接所述多個開關模塊40的另一端，所述多個外接端口 50用以連接多個待測試電阻I (未圖示)。
[0021]通過所述多個內接端口 30并聯于所述電壓檢測模塊10和所述電流輸出模塊20之間，所述多個外接端口 50用以連接多個待測試電阻1，從而實現多個待測試電阻I并聯于所述電壓檢測模塊10和所述電流輸出模塊20之間，進而實現對多個待測試電阻I進行測試。可以理解的是，多個待測試電阻I可以集成于一個電路板上，通過一次連接多個待測試電阻的兩端，實現對多個待測試電阻I的電阻測試。
[0022]本實施方式中，所述電壓檢測模塊10具有多個電壓檢測線，多個所述電壓檢測線的兩端分別對應連接待測試電阻I的正極和負極。即所述電壓檢測模塊10具有一個電壓測試電路。該測試回路具有較高的阻抗值，根據所述測試電路所測試的電壓可以計算出待測試電阻I的電阻值。在其他實施方式中，所述電壓檢測模塊10還可以是具有高輸入阻抗的電壓表。
[0023]具體的，所述電壓檢測模塊10包括第一等效電阻11、一個電壓測試電路12和第二等效電阻13。所述電壓測試電路12的正負輸入端分別連接第一等效電阻11和第二等效電阻12，即所述第一等效電阻11、電壓測試電路12和第二等效電阻13形成串聯的檢測線路。所述第一等效電阻11和所述第二等效電阻13包含所述連接于所述待測試電阻的線纜電阻、開關的等效電阻，線纜各連接點的接觸電阻。所述第一等效電阻11、電壓測試電路12、第二等效電阻13和所述待測試電阻I形成檢測回路。在所述電流輸出模塊20對所述待測試電阻I輸入電流后，所述電壓測試電路12所測的電壓值為所述待測試電阻I正極和負極的電壓。