用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置的制造方法
【專利說明】
[0001]技術領域:
[0002]本實用新型涉及一種用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置。
[0003]【背景技術】:
[0004]對于通過紅外光譜儀進行光譜分析的薄膜類材料，需要研宄各種聚合物的微觀結(jié)構(gòu)在材料表面發(fā)生導電時的微觀結(jié)構(gòu)變化過程，現(xiàn)有的紅外光譜儀未配備研宄材料表面導電過程中微觀結(jié)構(gòu)的譜帶變化的附件，因而不能研宄材料在較高電壓作用下表面存在微小電流時，被測材料在高電壓下的作用下發(fā)生聚合物內(nèi)部結(jié)構(gòu)從一種排列狀態(tài)轉(zhuǎn)變到另一種排列狀態(tài)(例如相變、構(gòu)象、鍵長、鍵角等的變化)時，紅外譜帶的峰位、峰形、峰高的變化情況。不能研宄在材料表面導電時被測試樣的分子間發(fā)生相互作用時的化學變化過程。
[0005]
【發(fā)明內(nèi)容】
:
[0006]本實用新型的目的是提供一種用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置。
[0007]上述的目的通過以下的技術方案實現(xiàn):
[0008]一種用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置，其組成包括:2個底座，所述的底座通過底座固定螺柱固定支撐外電極，所述的外電極貼在薄膜試樣上，所述的薄膜試樣上同時貼有內(nèi)電極，所述的內(nèi)電極通過內(nèi)電極固定桿支撐，所述的內(nèi)電極與所述的外電極之間具有用于紅外光譜儀研宄材料表面導電過程中微觀譜帶變化時的光通路的孔隙。
[0009]所述的用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置，所述的內(nèi)電極與所述的內(nèi)電極固定桿之間通過內(nèi)電極螺柱連接，所述的內(nèi)電極螺柱旋進所述的內(nèi)電極圓心并插入所述的內(nèi)電極固定桿上端的圓形孔洞中。
[0010]所述的用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置，所述的底座與所述的內(nèi)電極固定桿為一體。
[0011]有益效果:
[0012]1.本實用新型是利用現(xiàn)有儀器的光路條件，在相關樣品池的可用空間內(nèi)，完成當材料表面導電時被測試樣的分子間發(fā)生相互作用時的化學變化過程的附件，將被測樣品保持在一定的電壓作用下，達到在薄膜材料表面導電過程中，利用紅外光譜儀來測試材料表面導電過程中內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的變化情況。
[0013]本實用新型底座與紅外光譜儀樣品艙的可用空間相對應，對試樣進行
[0014]紅外光譜測試時直接將本實用新型放在入紅外光譜儀的樣品艙內(nèi)即可，方便實用。
[0015]本實用新型底座與外電極相接觸，所述的底座對外電極起到支撐與絕
[0016]緣的作用，是為了避免外電極與需要絕緣的紅外光譜儀等部件接觸，因為在測試過程中，當金屬電極施加上電壓時只能與試樣接觸，不能與其它器件相接觸，底座起到了電氣絕緣和機械支撐作用。底座由玻璃鋼層壓厚板加工制成，底座內(nèi)槽與圓環(huán)形外電極的形狀及尺寸要非常匹配，玻璃鋼層壓板具有優(yōu)異的電絕緣性能和機械性能，能夠完全滿足測試支撐定位和絕緣要求。
[0017]本實用新型外電極與薄膜試樣平整緊密貼合。所述的兩個外電極之間
[0018]與所述的薄膜試樣緊密貼和，以便在試樣表面施加上試驗電壓。
[0019]本實用新型內(nèi)電極由固定桿支撐。內(nèi)電極與固定桿的連接裝置是一個
[0020]能夠旋進圓形內(nèi)電極螺柱，旋進點為內(nèi)電極圓心位置，從內(nèi)電極延伸出來的螺柱插入固定桿上端的圓形孔洞中?？锥吹膬?nèi)徑與從內(nèi)電極延伸出來的螺柱的外徑尺寸嚴格精密匹配，以便保證內(nèi)電極穩(wěn)定的與試樣貼緊。固定桿由玻璃鋼層壓厚板加工而成，與底座是一體的。
[0021]本實用新型內(nèi)電極由金屬制造，內(nèi)電極與薄膜試樣平整貼緊，所述的
[0022]兩個內(nèi)電極之間與所述的薄膜試樣貼緊以方便施加試驗電壓。
[0023]【附圖說明】:
[0024]附圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0025]附圖2是附圖1的左視圖。
[0026]附圖3是附圖1的俯視圖。
[0027]【具體實施方式】:
[0028]實施例1:
[0029]一種用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置，其組成包括:2個底座6，所述的底座通過底座固定螺柱7固定支撐外電極2，所述的外電極貼在薄膜試樣I上，所述的薄膜試樣上同時貼有內(nèi)電極4，所述的內(nèi)電極通過內(nèi)電極固定桿5支撐，所述的內(nèi)電極與所述的外電極之間具有用于紅外光譜儀研宄材料表面導電過程中微觀譜帶變化時的光通路的孔隙3。
[0030]實施例2:
[0031]根據(jù)實施例1所述的用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置，所述的內(nèi)電極與所述的內(nèi)電極固定桿之間通過內(nèi)電極螺柱連接，所述的內(nèi)電極螺柱旋進所述的內(nèi)電極圓心并插入所述的內(nèi)電極固定桿上端的圓形孔洞中。
[0032]實施例3:
[0033]根據(jù)實施例1或2所述的用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置，所述的底座與所述的內(nèi)電極固定桿為一體。
【主權項】
1.一種用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置，其組成包括:2個底座，其特征是:所述的底座通過底座固定螺柱固定支撐外電極，所述的外電極貼在薄膜試樣上，所述的薄膜試樣上同時貼有內(nèi)電極，所述的內(nèi)電極通過內(nèi)電極固定桿支撐，所述的內(nèi)電極與所述的外電極之間具有用于紅外光譜儀研宄材料表面導電過程中微觀譜帶變化時的光通路的孔隙。
2.根據(jù)權利要求1所述的用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置，其特征是:所述的內(nèi)電極與所述的內(nèi)電極固定桿之間通過內(nèi)電極螺柱連接，所述的內(nèi)電極螺柱旋進所述的內(nèi)電極圓心并插入所述的內(nèi)電極固定桿上端的圓形孔洞中。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置，其特征是:所述的底座與所述的內(nèi)電極固定桿為一體。
【專利摘要】用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量裝置?，F(xiàn)有的紅外光譜儀未配備研究材料表面導電過程中微觀結(jié)構(gòu)的譜帶變化的附件不能研究在材料表面導電時被測試樣的分子間發(fā)生相互作用時的化學變化過程。本實用新型的組成包括：2個底座（6），所述的底座通過底座固定螺柱（7）固定支撐外電極（2），所述的外電極貼在薄膜試樣（1）上，所述的薄膜試樣上同時貼有內(nèi)電極（4），所述的內(nèi)電極通過內(nèi)電極固定桿（5）支撐，所述的內(nèi)電極與所述的外電極之間具有用于紅外光譜儀研究材料表面導電過程中微觀譜帶變化時的光通路的孔隙（3）。本實用新型用于紅外光譜儀的材料表面導電性能測量。
【IPC分類】G01N21-25
【公開號】CN204405533
【申請?zhí)枴緾N201520118095
【發(fā)明人】李子帙, 李亮亮, 施玉紅
【申請人】哈爾濱理工大學
【公開日】2015年6月17日
【申請日】2015年2月27日