利用x光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]玻璃內(nèi)部NiS等鎳化物的存在會(huì)導(dǎo)致玻璃在使用過(guò)程中出現(xiàn)一系列的問(wèn)題，當(dāng)把內(nèi)部有NiS的玻璃加工成鋼化玻璃時(shí)，由于異物在高溫和常溫狀態(tài)下的收縮率等與玻璃不同，因此，玻璃在鋼化后，異物的存在會(huì)破壞鋼化玻璃的力學(xué)穩(wěn)定性，容易造成鋼化玻璃的自爆，為使用安全埋下了隱患。
[0003]因此，在玻璃生產(chǎn)后對(duì)玻璃及時(shí)進(jìn)行檢測(cè)，排除含有NiS異物的玻璃至關(guān)重要，但目前玻璃生產(chǎn)廠(chǎng)家一般都是采用人工目測(cè)的方法進(jìn)行檢測(cè)，這種檢測(cè)效率低，勞動(dòng)強(qiáng)度大。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型為了解決目前采用人工目測(cè)的方法對(duì)玻璃進(jìn)行檢查導(dǎo)致檢測(cè)效率低、勞動(dòng)強(qiáng)度大的問(wèn)題而提供的一種利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備。
[0005]為達(dá)到上述功能，本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案是:
[0006]一種利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備，包括機(jī)臺(tái)，所述機(jī)臺(tái)上設(shè)置有輸送帶，所述機(jī)臺(tái)中部上方設(shè)置有X射線(xiàn)發(fā)射器，在所述X射線(xiàn)發(fā)射器的正下方設(shè)置有線(xiàn)性陣列探測(cè)器，所述線(xiàn)性陣列探測(cè)器固定安裝在所述輸送帶的下方。
[0007]優(yōu)選地，所述利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備還包括一屏蔽罩，所述X射線(xiàn)發(fā)射器和所述線(xiàn)性陣列探測(cè)器固定安裝在所述屏蔽罩內(nèi)。
[0008]優(yōu)選地，所述屏蔽罩上開(kāi)設(shè)有透明觀(guān)測(cè)窗。
[0009]本實(shí)用新型的有益效果在于:一種利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備，包括機(jī)臺(tái)，所述機(jī)臺(tái)上設(shè)置有輸送帶，所述機(jī)臺(tái)中部上方設(shè)置有X射線(xiàn)發(fā)射器，在所述X射線(xiàn)發(fā)射器的正下方設(shè)置有線(xiàn)性陣列探測(cè)器，所述線(xiàn)性陣列探測(cè)器固定安裝在所述輸送帶的下方；通過(guò)設(shè)置X射線(xiàn)發(fā)射器和線(xiàn)性陣列探測(cè)器，玻璃通過(guò)X射線(xiàn)發(fā)射器的下方時(shí)，線(xiàn)性陣列探測(cè)器上會(huì)接受到信號(hào)，若玻璃內(nèi)部有NiS異物則線(xiàn)性陣列探測(cè)器接收到的信號(hào)強(qiáng)度會(huì)有變化，從而能快速、高效地檢測(cè)出含有NiS異物的玻璃。
【附圖說(shuō)明】
[0010]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0011]圖2為本實(shí)用新型的剖面圖；
[0012]圖3為本實(shí)用新型的原理示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖1至附圖3對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步闡述:
[0014]如圖1和圖2所示的一種利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備，包括機(jī)臺(tái)1，機(jī)臺(tái)I上設(shè)置有輸送帶2，機(jī)臺(tái)I中部上方設(shè)置有X射線(xiàn)發(fā)射器3，在X射線(xiàn)發(fā)射器3的正下方設(shè)置有線(xiàn)性陣列探測(cè)器4，線(xiàn)性陣列探測(cè)器4固定安裝在輸送帶2的下方。
[0015]為了方便防止X射線(xiàn)對(duì)周?chē)墓ぷ魅藛T造成傷害，利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備還包括一屏蔽罩5，X射線(xiàn)發(fā)射器3和線(xiàn)性陣列探測(cè)器4固定安裝在屏蔽罩5內(nèi)。屏蔽罩5上開(kāi)設(shè)有透明觀(guān)測(cè)窗51，以方便工作人員對(duì)屏蔽罩5內(nèi)部的工作情況進(jìn)行觀(guān)測(cè)。
[0016]本實(shí)用新型的工作原理如下:
[0017]使用時(shí)，操作人員先啟動(dòng)本實(shí)用新型，然后把待檢測(cè)的玻璃放置到輸送帶2上，如圖3所示，玻璃通過(guò)X射線(xiàn)發(fā)射器3的下方時(shí)，線(xiàn)性陣列探測(cè)器4上會(huì)接受到與輻射強(qiáng)度成正比的電信號(hào)，若玻璃內(nèi)部有NiS等異物則線(xiàn)性陣列探測(cè)器4接收到的信號(hào)強(qiáng)度會(huì)有變化，線(xiàn)性陣列探測(cè)器4把該信號(hào)傳送給后臺(tái)處理器進(jìn)行處理，處理器經(jīng)過(guò)對(duì)比計(jì)算，若發(fā)現(xiàn)信號(hào)強(qiáng)度發(fā)生變化，特別是變?nèi)鯐r(shí)，則可以判定玻璃內(nèi)部存在含有NiS等異物，為了提醒工作人員注意，處理器可以發(fā)出警示音等進(jìn)行提示。同現(xiàn)有的人工目測(cè)的方法相比，本實(shí)用新型的檢測(cè)速度快、效率高。
[0018]以上所述實(shí)施例，只是本實(shí)用新型的較佳實(shí)例，并非來(lái)限制本實(shí)用新型的實(shí)施范圍，故凡依本實(shí)用新型申請(qǐng)專(zhuān)利范圍所述的構(gòu)造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均應(yīng)包括于本實(shí)用新型專(zhuān)利申請(qǐng)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備，包括機(jī)臺(tái)(I)，所述機(jī)臺(tái)(I)上設(shè)置有輸送帶(2)，其特征在于:所述機(jī)臺(tái)(I)中部上方設(shè)置有X射線(xiàn)發(fā)射器(3)，在所述X射線(xiàn)發(fā)射器⑶的正下方設(shè)置有線(xiàn)性陣列探測(cè)器(4)，所述線(xiàn)性陣列探測(cè)器(4)固定安裝在所述輸送帶⑵的下方。
2.如權(quán)利要求1所述的利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備，其特征在于:所述利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備還包括一屏蔽罩(5)，所述X射線(xiàn)發(fā)射器(3)和所述線(xiàn)性陣列探測(cè)器(4)固定安裝在所述屏蔽罩(5)內(nèi)。
3.如權(quán)利要求2所述的利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備，其特征在于:所述屏蔽罩(5)上開(kāi)設(shè)有透明觀(guān)測(cè)窗(51)。
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型涉及檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種利用X光檢測(cè)平面玻璃內(nèi)部缺陷的設(shè)備；包括機(jī)臺(tái)，所述機(jī)臺(tái)上設(shè)置有輸送帶，所述機(jī)臺(tái)中部上方設(shè)置有X射線(xiàn)發(fā)射器，在所述X射線(xiàn)發(fā)射器的正下方設(shè)置有線(xiàn)性陣列探測(cè)器，所述線(xiàn)性陣列探測(cè)器固定安裝在所述輸送帶的下方；通過(guò)設(shè)置X射線(xiàn)發(fā)射器和線(xiàn)性陣列探測(cè)器，玻璃通過(guò)X射線(xiàn)發(fā)射器的下方時(shí)，線(xiàn)性陣列探測(cè)器上會(huì)接受到信號(hào)，若玻璃內(nèi)部有NiS等異物則線(xiàn)性陣列探測(cè)器接收到的信號(hào)強(qiáng)度會(huì)有變化，從而能快速、高效地檢測(cè)出含有NiS異物的玻璃。
【IPC分類(lèi)】G01N23-02
【公開(kāi)號(hào)】CN204346952
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201420866180
【發(fā)明人】樊暉
【申請(qǐng)人】東莞市松菱玻璃防爆技術(shù)有限公司
【公開(kāi)日】2015年5月20日
【申請(qǐng)日】2014年12月29日