一種耐壓測試儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種電壓檢測設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及確保產(chǎn)品漏電流是否在安全范圍內(nèi)檢測的一種耐壓測試儀。
【背景技術(shù)】
[0002]耐壓測試是指對各種用電設(shè)備，低壓電器裝置，絕緣材料和絕緣結(jié)構(gòu)的耐壓能力進行測試，耐壓測試的基礎(chǔ)理論是將一個產(chǎn)品放置在非常惡劣的環(huán)境下，如果產(chǎn)品能夠在這種非常惡劣的環(huán)境之下還能位置正常狀況，就可以確保在正常的環(huán)境下工作，也一定可以維持正常的通電狀況。
[0003]如果一個零件或零件組在規(guī)定的時間內(nèi)，其擊穿電流在保持規(guī)定的范圍內(nèi)，就可以確定這個零件或零件組在正常的條件下運轉(zhuǎn)安全，而現(xiàn)有市場上的耐壓測試儀其在測試過程中不能很好的刪除其被測物體自身內(nèi)部電流、電壓、電阻等影響，導致測壓數(shù)據(jù)不準確，其接線比較復(fù)雜，容易出錯，而且不能擴展容量。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實用新型提供一種用于對日常電器、線材、電子元件等的交流耐壓測試、直流耐壓測試和絕緣電阻測試，同時隔離被測物所攜帶的干擾信號，確保檢測數(shù)據(jù)準確，同時實現(xiàn)容量擴展的一種耐壓測試儀。
[0005]本實用新型解決其技術(shù)問題所采取的技術(shù)方案是:一種耐壓測試儀，包括主控模塊、用于將信號轉(zhuǎn)換為正弦波的D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器、功率放大模塊、高壓變壓器、差分測量電路、電弧偵測和過電流偵測，所述主控模塊信號出口連接到D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器，主控模塊信號進口連接到一 12位D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器，所述D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器將信號轉(zhuǎn)換成正弦波后經(jīng)過功率放大模塊分兩路:一路連接到高壓變壓器，另一路接地，從高壓變壓器升壓后分兩路:經(jīng)過高壓繞組HV后連接到電流選擇開關(guān)，另一路經(jīng)過低壓繞組LO后連接到內(nèi)部電路接地；電流選擇開關(guān)的直流DC 口經(jīng)過高壓整流器后連接掃描通道切換模塊，電流選擇開關(guān)的交流AC口直接連接到掃描通道切模模塊；掃描通道切換模塊連接被測試裝置DUT，之后連接到取樣電阻陣列，所述取樣電阻陣列分別連接到差分測量電路和一電弧偵測取樣，所述差分測量電路的進口連接一電壓取樣電路，該電壓取樣電路一端連接到掃描通道切換模塊，另一端連接內(nèi)部電路接地，所述差分測量電路的出口連接第一選擇開關(guān)，該第一選擇開關(guān)的出口連接到比較測量器后連接到主控模塊；所述電弧偵測取樣連接到電弧偵測；從所述12位D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器分兩路連接:一路連接到比較測量器，另一路連接第二選擇開關(guān)；所述第二選擇開關(guān)的電弧級別偵測口連接電弧偵測后連接到主控模塊，第二選擇開關(guān)的過電流保護設(shè)定口連接到過電流偵測后連接到主控模塊，第二選擇開關(guān)的輸出電壓設(shè)定口分別連接到D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器和第三選擇開關(guān)，所述第三選擇開關(guān)連接到第一選擇開關(guān)上，所述過電流偵測的進口還連接一 OCP過電流保護，該OCP過電流保護連接到電流取樣電路，所述電流取樣電路一端接地，電流取樣電路的另一端連接高壓變壓器。
[0006]進一步的，為了能夠隔離干擾信號，所述主控模塊包括用于提供電壓的電源模塊、兩個進行隔離干擾信號的第一光耦隔離器和第二光耦隔離器、在第一光耦隔離器和第二光耦隔離器之間連接有CPLD邏輯器件和EPROM波形文件，在所述CPLD邏輯器件上連接有FLASH文件存儲和MCU處理器，在所述MCU處理器上連接有USB外部存儲和外擴掃描通道模塊，所述第一光耦隔離器連接到12位D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器，所述第二光耦隔離器連接到D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器。
[0007]更進一步的，為了能擴展容量，在所述外擴掃描通道模塊處連接有掃描儀，所述掃描儀為6臺16通道掃描儀。
[0008]進一步的，為了確保功率放大模塊的正常運行，在所述功率放大模塊上連接有OTP過溫度保護和溫控散熱風扇。
[0009]進一步的，所述取樣電阻陣列和電弧偵測取樣處連接有防觸電保護設(shè)備。
[0010]其中:CPLD邏輯器件(復(fù)雜可編程邏輯器件)可對MCU處理器的I/O 口進行擴展；MCU處理器(微控制單元)控制儀器運行，數(shù)量處理等；EPROM波形文件(計算機存儲芯片)用于正弦波數(shù)據(jù)表存儲，即使在斷電后仍能保持數(shù)據(jù)存儲；FLASH文件存儲用于存儲測試步驟、設(shè)定電壓、設(shè)定電流、電弧級別等測試參數(shù)；USB外部存儲的作用是支持USB外部存儲，可在不同儀器間拷貝設(shè)定測試文件；外擴掃描通過模塊的作用是支持外接掃描儀；OCP(over current protect1n)過電流保護的作用是采樣回來流經(jīng)變壓器初級的電流，判斷是否超過設(shè)定電流，以作保護。
[0011]本實用新型的有益效果是:針對各種產(chǎn)品進行安規(guī)測試，給產(chǎn)品施加一個遠高于正常工作電壓的電壓，確認產(chǎn)品的漏電流是否在安全范圍內(nèi)，以保證產(chǎn)品的安全性能，可用于日常電器、線材、電子元件等產(chǎn)品的交流耐壓測試、直流耐壓測試和絕緣電阻測試，檢測數(shù)據(jù)精準，電器、線材、電子元件后續(xù)使用環(huán)境提供了一個很好的數(shù)據(jù)對比。
【附圖說明】
[0012]圖1是本實用新型的原理框圖。
【具體實施方式】
[0013]如圖1所示，一種耐壓測試儀，包括主控模塊、用于將信號轉(zhuǎn)換為正弦波的D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器、功率放大模塊、高壓變壓器、差分測量電路、電弧偵測和過電流偵測，所述主控模塊信號出口連接到D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器，主控模塊信號進口連接到一 12位D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器，所述D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器將信號轉(zhuǎn)換成正弦波后經(jīng)過功率放大模塊分兩路:一路連接到高壓變壓器，另一路接地，從高壓變壓器升壓后分兩路:經(jīng)過高壓繞組HV后連接到電流選擇開關(guān)，另一路經(jīng)過低壓繞組LO后連接到內(nèi)部電路接地；電流選擇開關(guān)的直流DC 口經(jīng)過高壓整流器后連接掃描通道切換模塊，電流選擇開關(guān)的交流AC 口直接連接到掃描通道切模模塊；掃描通道切換模塊連接被測試裝置DUT，之后連接到取樣電阻陣列，所述取樣電阻陣列分別連接到差分測量電路和一電弧偵測取樣，所述差分測量電路的進口連接一電壓取樣電路，該電壓取樣電路一端連接到掃描通道切換模塊，另一端連接內(nèi)部電路接地，所述差分測量電路的出口連接第一選擇開關(guān)，該第一選擇開關(guān)的出口連接到比較測量器后連接到主控模塊；所述電弧偵測取樣連接到電弧偵測；從所述12位D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器分兩路連接:一路連接到比較測量器，另一路連接第二選擇開關(guān)；所述第二選擇開關(guān)的電弧級別偵測口連接電弧偵測后連接到主控模塊，第二選擇開關(guān)的過電流保護設(shè)定口連接到過電流偵測后連接到主控模塊，第二選擇開關(guān)的輸出電壓設(shè)定口分別連接到D/A數(shù)模轉(zhuǎn)換器和第三選擇開關(guān)，所述第三選擇開關(guān)連接到第一選擇開關(guān)上，所述過電流偵測的進口還連接一 OCP過電流保護，該OCP過電流保護連接到電流取樣電路，所述電流取樣電路一端接地，電流取樣電路的另一端連接高壓變壓器。
[0014]進一步的，為了能夠隔離干擾信號，所述主控模塊包括用于提供電壓的電源模塊、兩個進行隔離干擾信號的第一光耦隔離器和第二光耦隔離器、在第一光耦隔離器和第二光耦隔離器之