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脫落檢測儀的制作方法

文檔序號:10651857閱讀:410來源:國知局
脫落檢測儀的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種脫落檢測儀,用于檢測鍵盤的鍵帽,包括基座、移動支架以及設(shè)置與該移動支架上的測試結(jié)構(gòu)和限位結(jié)構(gòu),當(dāng)該移動支架相對該待測試裝置自該鍵盤的第一端移動至該鍵盤的第二端,使得該測試結(jié)構(gòu)和該限位結(jié)構(gòu)相對該待測試裝置自該第一端移動至該第二端,且在移動過程中,該測試結(jié)構(gòu)對該待測試元件施加該第一方向上的力,該限位結(jié)構(gòu)限制受該第一方向力的該待測試裝置于該第一方向上的移動,且該測試結(jié)構(gòu)和該限位結(jié)構(gòu)不同時與相同的該待測試元件相作用,即本發(fā)明在測試時可以防止受力鍵盤被帶起而降低檢出率,降低漏檢風(fēng)險。
【專利說明】
脫落檢測儀
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明描述一種脫落檢測儀,尤指一種用于檢測鍵盤的鍵帽的脫落檢測儀。
【背景技術(shù)】
[0002]—般來說,鍵帽會因組裝不良以及結(jié)合力不足等情況而發(fā)生脫落,為了確保鍵帽組裝在鍵盤上后可與鍵盤穩(wěn)定的結(jié)合在一起,以防止使用過程中或運輸過程中鍵帽發(fā)生脫離,需要對每顆鍵帽進(jìn)行拉拔力測試,即需要對每塊鍵帽的結(jié)合情況進(jìn)行逐一檢查,從而保證鍵盤的質(zhì)量。
[0003]在對鍵帽的結(jié)合情況進(jìn)行檢測時,需要向鍵帽提供一個預(yù)設(shè)的拉拔力,若受力的該鍵帽未脫落,則表示該鍵帽的結(jié)合情況良好,反之,則表示結(jié)合情況不達(dá)標(biāo)。但是,在檢測過程中,會發(fā)生鍵帽受拉拔力而使得整個鍵盤被帶起的情況,此種情況會使得結(jié)合情況不合格的鍵帽無法被檢出,導(dǎo)致檢出率較低,檢測的可靠性降低,進(jìn)而降低產(chǎn)品品質(zhì),無法滿足客戶及消費者對品質(zhì)的嚴(yán)格要求。
[0004]因此,有必要提供一種新的脫落檢測儀,以克服上述缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于提供一種脫落檢測儀,可避免檢測過程中鍵盤被帶起而導(dǎo)致檢出率降低的情況。
[0006]為達(dá)上述目的,本發(fā)明提供一種脫落檢測儀,用于檢測待檢測裝置的待檢測元件的拉拔力,該待檢測裝置包括本體和設(shè)置于該本體上的多個待檢測元件,該待測試裝置具有相對的第一端和第二端,該脫落檢測儀包含:
[0007]基座,用于放置該待測試裝置;
[0008]移動支架,設(shè)置于該基座上方,并可相對該待測試裝置自該第一端移動至該第二端;
[0009]測試結(jié)構(gòu),設(shè)置于該移動支架上,用以向該待檢測元件提供第一方向上的力,其中,該第一方向為該待檢測元件脫離該本體的方向;以及
[0010]限位結(jié)構(gòu),設(shè)置于該移動支架上且位于該待測試元件的上方,用于與該待測試元件相配合;
[0011 ]其中,該移動支架相對該待測試裝置自該第一端移動至該第二端,使得該測試結(jié)構(gòu)和該限位結(jié)構(gòu)相對該待測試裝置自該第一端移動至該第二端,且在移動過程中,該測試結(jié)構(gòu)對該待測試元件施加該第一方向上的力,該限位結(jié)構(gòu)限制受該第一方向力的該待測試裝置于該第一方向上的移動,且該測試結(jié)構(gòu)和該限位結(jié)構(gòu)不同時與相同的該待測試元件相作用。
[0012]較佳的,該限位結(jié)構(gòu)包括支撐結(jié)構(gòu)和限位部,該支撐結(jié)構(gòu)的第三端用以與該移動支架相連接,該支撐結(jié)構(gòu)的第四端用以與該限位部相連接,該限位部用以與該待測試元件相配合,其中,該第三端與該第四端相對。
[0013]較佳的,該支撐結(jié)構(gòu)與該移動支架樞接,該支撐結(jié)構(gòu)可相對該移動支架移動以調(diào)節(jié)該限位部與該待測試元件之間的距離。
[0014]較佳的,該限位結(jié)構(gòu)可相對該移動支架旋轉(zhuǎn),以調(diào)節(jié)該限位部與該待測試元件之間的距離。
[0015]較佳的,該限位結(jié)構(gòu)相對該移動支架繞第一軸方向旋轉(zhuǎn),該第一軸方向為該限位部的設(shè)置方向。
[0016]較佳的,該支撐結(jié)構(gòu)穿設(shè)于該移動支架,該支撐結(jié)構(gòu)相對該移動支架移動,實現(xiàn)該限位部與該待測試元件之間的距離的調(diào)節(jié)。
[0017]較佳的,該支撐結(jié)構(gòu)可相對該移動支架沿該第一方向移動,以調(diào)節(jié)該限位部與該待測試元件之間的距離。
[0018]較佳的,該限位部與該待測試元件之間具有第一預(yù)設(shè)間距,或者該限位部與該待測試元件相接觸。
[0019]較佳的,該限位部與該待測試元件滑動配合;或者,該限位部為滾軸設(shè)計,以與該待測試元件滾動配合。
[0020]較佳的,該限位部沿第二方向橫跨該待測試元件,該第二方向平行于該待測試裝置所在的平面且垂直于該第一端指向該第二端的方向。
[0021]較佳的,該待測試裝置為鍵盤,該待測試元件為鍵帽。
[0022]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明提供一種脫落檢測儀,用于檢測鍵盤的鍵帽,包括基座、移動支架以及設(shè)置與該移動支架上的測試結(jié)構(gòu)和限位結(jié)構(gòu),當(dāng)該移動支架相對該待測試裝置自該鍵盤的第一端移動至該鍵盤的第二端,使得該測試結(jié)構(gòu)和該限位結(jié)構(gòu)相對該待測試裝置自該第一端移動至該第二端,且在移動過程中,該測試結(jié)構(gòu)對該待測試元件施加該第一方向上的力,該限位結(jié)構(gòu)限制受該第一方向力的該待測試裝置于該第一方向上的移動,且該測試結(jié)構(gòu)和該限位結(jié)構(gòu)不同時與相同的該待測試元件相作用,即本發(fā)明在測試時可以防止受力鍵盤被帶起而降低檢出率,降低漏檢風(fēng)險。
【附圖說明】
[0023]圖1為本發(fā)明第一實施例的脫落檢測儀100的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0024]圖2為本發(fā)明第二實施例的脫落檢測儀100的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0025]為使對本發(fā)明的目的、構(gòu)造、特征、及其功能有進(jìn)一步的了解,茲配合實施例詳細(xì)說明如下。
[0026]參照圖1和圖2所示,揭示了本發(fā)明脫落檢測儀100的結(jié)構(gòu)示意圖。圖1為本發(fā)明第一實施例的脫落檢測儀100的結(jié)構(gòu)示意圖,圖2為本發(fā)明第二實施例的脫落檢測儀100的結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明脫落檢測儀100用于檢測待檢測裝置的待檢測元件的拉拔力,本實施例中,該待檢測裝置為鍵盤10,該待檢測元件為鍵帽101,但不以此為限,脫落檢測儀100亦可以用于檢測其它元件與其本體的結(jié)合牢固程度,具體由設(shè)計人員根據(jù)實際情況而定,在此不再贅述。其中,鍵盤10具有本體102和設(shè)置于本體102上的鍵帽101。進(jìn)一步的,鍵盤10具有相對的第一端103和第二端104。本發(fā)明脫落檢測儀100包括底座11、移動支架12、測試結(jié)構(gòu)13和限位結(jié)構(gòu)14。下面對脫落檢測儀100的各組件的具體功能進(jìn)行描述。另外,為便于說明,特定義具有兩兩彼此垂直的X軸、Y軸以及Z軸,其中該X軸、該Y軸共同限定本體102所在的平面,第一端103和第二端104為鍵盤10的沿該X軸方向的相對的兩端。
[0027]底座11用于放置鍵盤10。較佳的,底座11具有容置空間,該容置空間用于容置并定位鍵盤10,且該容置空間的形狀與鍵盤10的形狀相匹配,以定位鍵盤10,防止鍵盤10于水平方向上的移動,便于對鍵盤10的鍵帽101的檢測,以避免在檢測過程中因鍵盤10發(fā)生水平方向的移動導(dǎo)致的脫落檢測儀或鍵盤10受到損壞。
[0028]移動支架12設(shè)置于底座11上方,并且可相對鍵盤10自第一端103移動至第二端104。
[0029]測試結(jié)構(gòu)13設(shè)置在移動支架12上,測試結(jié)構(gòu)13用以向鍵帽101提供第一方向上的力,其中,該第一方向為鍵帽101脫離本體102的方向,例如該第一方向為圖1中該Z軸方向。進(jìn)一步的,測試結(jié)構(gòu)13包括一個或者多個測試元件,但不以此為限。其中,測試結(jié)構(gòu)13可以是任何可以給鍵帽101施加該第一方向的力的結(jié)構(gòu),例如為可提供該第一方向的力的結(jié)構(gòu),或者為卡勾、撥片、棒狀等結(jié)構(gòu),具體由設(shè)計人員根據(jù)實際情況而定,在此不在贅述。
[0030]限位結(jié)構(gòu)14設(shè)置于移動支架12上且位于鍵帽101的上方,用于與鍵帽101相配合,以限制鍵盤10于該第一方向上的移動。且移動支架12于該X軸方向上具有相對的兩側(cè),限位結(jié)構(gòu)14可以設(shè)置于兩側(cè),也可以設(shè)置于移動支架12的兩側(cè)的中間位置,具體由設(shè)計人員根據(jù)實際請客而定,在此不再贅述。
[0031]于測試時,首先將鍵盤10放置于底座11上,然后控制移動支架12相對鍵盤10自第一端103移動至第二端104,使得測試結(jié)構(gòu)13和限位結(jié)構(gòu)14相對鍵盤10自第一端103移動至第二端104,于移動過程中,測試結(jié)構(gòu)13與鍵帽101接觸,且在接觸時測試結(jié)構(gòu)13對鍵帽101施加該第一方向上的拉拔力于鍵帽101上,以對鍵帽101進(jìn)行拉拔力測試,同時,限位結(jié)構(gòu)14限制受該第一方向力的鍵盤1于該第一方向上的移動,防止檢測過程中鍵盤10被測試結(jié)構(gòu)13帶起而使得與本體102結(jié)合力小于該拉拔力的鍵帽101無法被檢出,可提高檢出率和檢測的可靠性,進(jìn)而提高產(chǎn)品品質(zhì)和競爭力,且可滿足客戶及消費者對品質(zhì)的嚴(yán)格要求。并且,由于限位結(jié)構(gòu)14是與鍵帽101配合來限制鍵盤10于該第一方向上的移動,而測試結(jié)構(gòu)13是向鍵帽101施加該第一方向上的力,因此測試結(jié)構(gòu)13和限位結(jié)構(gòu)14不能同時與相同的鍵帽101相作用,否則,當(dāng)鍵帽101與本體102的結(jié)合力小于該拉拔力時,由于該鍵帽101配合的限位結(jié)構(gòu)14限制了該鍵帽101于該第一方向上的移動鍵帽101,使得原本會自該第一方向脫離本體102的該鍵帽101不脫離本體102,從而導(dǎo)致影響鍵帽101的檢測,降低檢出率。
[0032]請繼續(xù)參照圖1和圖2所示,限位結(jié)構(gòu)14包括兩個支撐結(jié)構(gòu)141和限位部142,兩個支撐結(jié)構(gòu)141的第三端1411用以與移動支架12相連接,兩個支撐結(jié)構(gòu)141的第四端1412用以與限位部142相連接,限位部142用以與鍵帽101相配合,其中,第三端1411與第四端1412相對。
[0033]進(jìn)一步的,兩個支撐結(jié)構(gòu)141與移動支架12樞接,兩個支撐結(jié)構(gòu)141可相對移動支架12移動以調(diào)節(jié)限位部142與鍵帽101之間的距離,以更好的與鍵帽101配合,限制鍵盤10于該第一方向上的移動。
[0034]如圖1所示,限位結(jié)構(gòu)14可相對移動支架12旋轉(zhuǎn),以調(diào)節(jié)限位部142與鍵盤10之間的距離。即,通過旋轉(zhuǎn)限位結(jié)構(gòu)14來改變限位結(jié)構(gòu)14所在的平面(即兩個支撐結(jié)構(gòu)141和限位部142所在的平面)與移動支架12所在平面(如圖1所示該Y軸和該Z軸所在平面)之間的夾角,以調(diào)節(jié)限位部142與鍵盤10之間的距離。進(jìn)一步的,限位部142沿該Y軸方向設(shè)置,限位結(jié)構(gòu)14相對移動支架繞該Y軸旋轉(zhuǎn),但不以此為限。進(jìn)一步的,移動支架12上設(shè)置有兩個安裝部121,兩個安裝部121分別與兩個支撐結(jié)構(gòu)141樞接,以使限位結(jié)構(gòu)14可繞該Y軸旋轉(zhuǎn)。較佳的,限位結(jié)構(gòu)14上還設(shè)置有定位部,以當(dāng)限位部142位于預(yù)期位置,即兩個支撐結(jié)構(gòu)141位于預(yù)期位置,該定位部與支撐結(jié)構(gòu)141配合以定位限位部142,但不以此為限,當(dāng)限位結(jié)構(gòu)14自身的重量達(dá)到可以限制鍵盤10被向上帶起,即限位結(jié)構(gòu)14自身的重量大于等于限制鍵盤10所受的被向上帶起的力,則可無需該定位部來固定支撐結(jié)構(gòu)141的位置,具體由設(shè)計人員根據(jù)實際情況而定,在此不再贅述。進(jìn)一步的,限位部142可以是棒狀、板狀或者棍狀,但不以此為限。
[0035]當(dāng)然,于本發(fā)明第二實施例中,如圖2所示,限位結(jié)構(gòu)14亦可以設(shè)計成如下結(jié)構(gòu):兩個支撐結(jié)構(gòu)141穿設(shè)于移動支架12,且兩個支撐結(jié)構(gòu)141可相對移動支架12移動,以實現(xiàn)限位部142與鍵帽101之間的距離的調(diào)節(jié)。具體而言,移動支架12上設(shè)置有兩個安裝孔,兩個支撐結(jié)構(gòu)141的第三端1411穿設(shè)于該兩個安裝孔,兩個支撐結(jié)構(gòu)141與該兩個安裝孔滑動配合,以通過拉拔的方式移動兩個支撐結(jié)構(gòu)141,以調(diào)整限位部142與鍵帽101之間的距離,較佳的,該兩個安裝孔具有導(dǎo)向作用,以導(dǎo)引兩個支撐結(jié)構(gòu)141相對移動支架12移動的方向,但不以此為限?;蛘?,兩個支撐結(jié)構(gòu)141與該兩個安裝孔螺接,且兩個支撐結(jié)構(gòu)141分別與限位部142樞接,以使兩個支撐結(jié)構(gòu)141可分別相對移動支架12和限位部142旋轉(zhuǎn),使用者通過分別相對移動支架12旋轉(zhuǎn)兩個支撐結(jié)構(gòu)141來調(diào)節(jié)限位部142與鍵帽101之間的距離。進(jìn)一步的,兩個支撐結(jié)構(gòu)141可相對移動支架12沿該Z軸方向移動,以調(diào)節(jié)限位部142與鍵帽101之間的距離,但不以此為限。進(jìn)一步的,限位結(jié)構(gòu)14還包括兩個連接器,該兩個連接器分別用于連接支撐結(jié)構(gòu)141的第四端1412與限位部142的端部,兩個支撐結(jié)構(gòu)141可與該兩個連接器固定連接,或者兩個支撐結(jié)構(gòu)141可與該兩個連接器樞接,以使兩個支撐結(jié)構(gòu)141可分別相對該兩個連接器旋轉(zhuǎn),但不以此為限。較佳的,兩個支撐結(jié)構(gòu)141的第三端1411上設(shè)置有操作部,以便于操作,具體由設(shè)計人員根據(jù)實際情況而定,在此不在贅述。較佳的,限位結(jié)構(gòu)14或者移動支架12上設(shè)置有多個檔位,不同的檔位對應(yīng)限位部142與鍵帽101之間的不同間距大小,以便于調(diào)節(jié)限位部142與鍵帽101之間的距離,但不以此為限,具體由設(shè)計人員根據(jù)實際情況而定,在此不再贅述。
[0036]進(jìn)一步的,如圖1所示,限位部142為滾軸設(shè)計,以與鍵帽101滾動配合,如此,當(dāng)限位部142與鍵帽接觸時,限位部142與鍵帽101滾動接觸,可減小限位部142與鍵帽101的摩擦力,而不會損壞鍵帽101,且可實現(xiàn)較大限度限制鍵盤10于該第一方向上的移動。當(dāng)然,限位部142亦可為非滾軸設(shè)計,即限位部142不可相對兩個支撐結(jié)構(gòu)141繞其中心軸選擇,也即當(dāng)限位部142與鍵帽101接觸時,限位部142與鍵帽101為滑動接觸,較佳的,為了減小限位部142與鍵帽的摩擦力,防止損壞鍵帽101和限位部142,限位部142可與鍵帽101之間具有第一預(yù)設(shè)間距,以限制鍵盤10于該第一方向上的移動的同時減小限位結(jié)構(gòu)14相對鍵帽101移動的阻力,降低鍵帽101和限位部142的磨損,具體由設(shè)計人員根據(jù)實際情況而定,在此不再贅述。例如,該第一預(yù)設(shè)間距為0.lmm-6mm,較佳為。
[0037]本實施例中,多個鍵帽101沿該X軸方向排列,如此,當(dāng)測試結(jié)構(gòu)13自第一端103移動至第二端104時,可以對至少一行鍵帽101進(jìn)行檢測,方便、快捷。進(jìn)一步的,測試結(jié)構(gòu)13包括多個測試元件,該多個測試元件可同時對不同行的鍵帽101進(jìn)行檢測,當(dāng)鍵帽101的行數(shù)等于該測試元件的個數(shù),測試結(jié)構(gòu)13自第一端103移動至第二端104即可完成對整片鍵盤的鍵帽一次性完成檢測,方便、快捷,在保證鍵盤品質(zhì)的同時,還可以提高生產(chǎn)效率。
[0038]進(jìn)一步的,如圖1和圖2所示,限位部142沿該Y軸方向(第二方向)橫跨鍵盤10設(shè)置,以更好的限制鍵盤10于該第一方向上的移動,特別是鍵盤10包括多行沿該X軸方向排列的鍵帽101,測試結(jié)構(gòu)13同時對多行鍵帽101進(jìn)行測試時,此種方式設(shè)置的限位部142可以確保鍵盤10于該第一方向上不發(fā)生移動,而不會因為因限位部142未橫跨鍵盤10設(shè)置而導(dǎo)致鍵盤10于該第一方向發(fā)生移動或者傾斜。當(dāng)然,限位部142的設(shè)置不一定要橫跨鍵盤10,亦可以設(shè)計成與測試結(jié)構(gòu)13相匹配的寬度,例如,測試結(jié)構(gòu)13—次可同時檢測于該Y軸方向上相鄰排列的三行鍵帽101,那么限位部142于該Y軸方向的長度要大于等于該三行鍵帽101于該Y軸方向上的寬度,但不以此為限,具體由設(shè)計人員根據(jù)實際情況而定,在此不再贅述。
[0039]于實際應(yīng)用中,還包括驅(qū)動裝置,用以驅(qū)動移動支架12移動。進(jìn)一步的,還包括感測裝置和處理模塊,該處理模塊耦接于該感測裝置和該驅(qū)動裝置,該感測裝置用于感測鍵盤10,當(dāng)鍵盤10脫離底座11時,該感測裝置發(fā)送第一信號給該處理模塊,該處理模塊16根據(jù)該第一信號控制該驅(qū)動裝置驅(qū)動移動支架12返回第一端103,即返回初始位置,隨時準(zhǔn)備開始新一輪的檢測;當(dāng)該處理模塊收到第二信號時,該處理模塊根據(jù)該第二信號控制該驅(qū)動裝置驅(qū)動移動支架12自第一端103移動至第二端104,即開始檢測鍵盤10的鍵帽101。即,本發(fā)明為自動化設(shè)備,只需要使用者將鍵盤10放入底座11并發(fā)出該第一信號,脫落檢測儀100即可自行對鍵盤10進(jìn)行檢測,當(dāng)檢測完畢后,若使用者肉眼觀察無鍵帽脫落,即可判斷鍵盤1上的每個鍵帽101與本體102的結(jié)合強(qiáng)度符合要求,也說明該鍵盤1質(zhì)量合格。其中,該第二信號是由脫落檢測儀100上的啟動按鈕被按壓或者觸控后產(chǎn)生的,或者,該第人信號是由遙控器產(chǎn)生,或者該第二信號由使用者點脫落檢測儀100上的顯示器上的選項產(chǎn)生,具體由設(shè)計人員根據(jù)實際情況而定,在此不再贅述。
[0040]進(jìn)一步的,脫落檢測儀100上設(shè)置有滑軌,用于導(dǎo)引移動支架12于第一端103和第二端104之間沿該X軸方向移動,但不以此為限,具體由設(shè)計人員根據(jù)實際情況而定。較佳的,滑軌設(shè)置于基座11的相對的兩側(cè),以分別與移動支架12的相對的兩端相配合,但不以此為限。
[0041]進(jìn)一步的,限位部142由塑料制成,但不以此為限,限位部142亦可以由滿足測試需求,且耐磨的其它材料制成,具體由設(shè)計人員根據(jù)實際情況而定,在此不再贅述。
[0042]需要特別說明的是,上述實施例以限位結(jié)構(gòu)14具有兩個支撐結(jié)構(gòu)141為例進(jìn)行說明,于實際應(yīng)用中,一個或者三個支撐結(jié)構(gòu)亦可以實現(xiàn)上述效果,具體由設(shè)計人員根據(jù)實際情況而定,在此不再贅述。
[0043]綜上,本發(fā)明提供一種脫落檢測儀,用于檢測鍵盤的鍵帽,包括基座、移動支架以及設(shè)置與該移動支架上的測試結(jié)構(gòu)和限位結(jié)構(gòu),當(dāng)該移動支架相對該待測試裝置自該鍵盤的第一端移動至該鍵盤的第二端,使得該測試結(jié)構(gòu)和該限位結(jié)構(gòu)相對該待測試裝置自該第一端移動至該第二端,且在移動過程中,該測試結(jié)構(gòu)對該待測試元件施加該第一方向上的力,該限位結(jié)構(gòu)限制受該第一方向力的該待測試裝置于該第一方向上的移動,且該測試結(jié)構(gòu)和該限位結(jié)構(gòu)不同時與相同的該待測試元件相作用,即本發(fā)明在測試時可以防止受力鍵盤被帶起而降低檢出率,降低漏檢風(fēng)險。
[0044]本發(fā)明已由上述相關(guān)實施例加以描述,然而上述實施例僅為實施本發(fā)明的范例。必需指出的是,已揭露的實施例并未限制本發(fā)明的范圍。相反地,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)所作的更動與潤飾,均屬本發(fā)明的專利保護(hù)范圍。
【主權(quán)項】
1.一種脫落檢測儀,用于檢測待檢測裝置的待檢測元件的拉拔力,該待檢測裝置包括本體和設(shè)置于該本體上的多個待檢測元件,該待測試裝置具有相對的第一端和第二端,其特征在于,該脫落檢測儀包含: 基座,用于放置該待測試裝置; 移動支架,設(shè)置于該基座上方,并可相對該待測試裝置自該第一端移動至該第二端; 測試結(jié)構(gòu),設(shè)置于該移動支架上,用以向該待檢測元件提供第一方向上的力,其中,該第一方向為該待檢測元件脫離該本體的方向;以及 限位結(jié)構(gòu),設(shè)置于該移動支架上且位于該待測試元件的上方,用于與該待測試元件相配合; 其中,該移動支架相對該待測試裝置自該第一端移動至該第二端,使得該測試結(jié)構(gòu)和該限位結(jié)構(gòu)相對該待測試裝置自該第一端移動至該第二端,且在移動過程中,該測試結(jié)構(gòu)對該待測試元件施加該第一方向上的力,該限位結(jié)構(gòu)限制受該第一方向力的該待測試裝置于該第一方向上的移動,且該測試結(jié)構(gòu)和該限位結(jié)構(gòu)不同時與相同的該待測試元件相作用。2.如權(quán)利要求1所述的脫落檢測儀,其特征在于,該限位結(jié)構(gòu)包括支撐結(jié)構(gòu)和限位部,該支撐結(jié)構(gòu)的第三端用以與該移動支架相連接,該支撐結(jié)構(gòu)的第四端用以與該限位部相連接,該限位部用以與該待測試元件相配合,其中,該第三端與該第四端相對。3.如權(quán)利要求2所述的脫落檢測儀,其特征在于,該支撐結(jié)構(gòu)與該移動支架樞接,該支撐結(jié)構(gòu)可相對該移動支架移動以調(diào)節(jié)該限位部與該待測試元件之間的距離。4.如權(quán)利要求3所述的脫落檢測儀,其特征在于,該限位結(jié)構(gòu)可相對該移動支架旋轉(zhuǎn),以調(diào)節(jié)該限位部與該待測試元件之間的距離。5.如權(quán)利要求4所述的脫落檢測儀,其特征在于,該限位結(jié)構(gòu)相對該移動支架繞第一軸方向旋轉(zhuǎn),該第一軸方向為該限位部的設(shè)置方向。6.如權(quán)利要求3所述的脫落檢測儀,其特征在于,該支撐結(jié)構(gòu)穿設(shè)于該移動支架,該支撐結(jié)構(gòu)相對該移動支架移動,實現(xiàn)該限位部與該待測試元件之間的距離的調(diào)節(jié)。7.如權(quán)利要求6所述的脫落檢測儀,其特征在于,該支撐結(jié)構(gòu)可相對該移動支架沿該第一方向移動,以調(diào)節(jié)該限位部與該待測試元件之間的距離。8.如權(quán)利要求2所述的脫落檢測儀,其特征在于,該限位部與該待測試元件之間具有第一預(yù)設(shè)間距,或者該限位部與該待測試元件相接觸。9.如權(quán)利要求2所述的脫落檢測儀,其特征在于,該限位部與該待測試元件滑動配合;或者,該限位部為滾軸設(shè)計,以與該待測試元件滾動配合。10.如權(quán)利要求2所述的脫落檢測儀,其特征在于,該限位部沿第二方向橫跨該待測試元件,該第二方向平行于該待測試裝置所在的平面且垂直于該第一端指向該第二端的方向。11.如權(quán)利要求1-10所述的脫落檢測儀,其特征在于,該待測試裝置為鍵盤,該待測試元件為鍵帽。
【文檔編號】G01N19/04GK106018272SQ201610464527
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年6月23日
【發(fā)明人】周云峰, 王運濤, 張馳
【申請人】淮安達(dá)方電子有限公司
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