射頻干擾抑制裝置及射頻測試設備的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種射頻干擾抑制裝置及射頻測試設備，射頻干擾抑制裝置包含一平坦介電板，該介電板形成有延伸在其長度方向的兩第一狹槽與兩第二狹槽，所述第一/第二狹槽以對稱于該介電板的一平行該長度方向的中心線的方式配置，并具有一相關于一第一/第二頻帶的第一/第二長度。一金屬層貼附于該介電板，并具有一圍繞所述第一狹槽的U形第一圖案、一圍繞所述第二狹槽的U形第二圖案、及一沿該中心線延伸且并將所述第一及第二圖案互相連接的條狀第三圖案。
【專利說明】
射頻干擾抑制裝置及射頻測試設備
技術領域
[0001] 本發(fā)明是有關于一種射頻技術，特別是指一種射頻干擾抑制裝置及一種可減低射 頻干擾信號的傳輸的射頻測試設備。
【背景技術】
[0002] 已知的射頻干擾抑制裝置為一導電金屬管，用于減低一位于一特定頻帶內的射頻 干擾信號的傳輸，該導電金屬管是用于套設在一同軸電纜上，且是在一平行于該同軸電纜 的長度方向設置，該頻帶具有一中屯、頻率，而該導電金屬管具有一長度，且該長度大體上等 于該中屯、頻率的波長的四分之一。

【發(fā)明內容】

[0003] 因此，本發(fā)明所掲露是為提供一可減低多個位于二彼此不同的頻帶中其中一者內 的射頻干擾信號的傳輸的射頻干擾抑制裝置。
[0004] 根據本發(fā)明的一方面，一射頻干擾抑制裝置用于減低產生自一同軸電纜外部的射 頻干擾信號的傳輸，每一射頻干擾信號具有一屬于彼此不同的一第一頻帶及一第二頻帶兩 者的其中一者的頻率，該射頻干擾抑制裝置包含一平坦的介電板，及一貼附于該介電板上 的金屬層。
[0005] 該介電板具有一第一板部、一在該介電板的一長度方向相對于該第一板部的第二 板部，及一將該第一板部與該第二板部互相連接的第=板部，該第一板部形成有兩個延伸 在該長度方向的第一狹槽，所述第一狹槽是W對稱于一平行于該長度方向的中線的方式設 置，且具有一相關于該第一頻帶的第一長度，該第二板部形成有兩個延伸在該長度方向的 第二狹槽，所述第二狹槽是W對稱于該中線的方式設置，且具有一相關于該第二頻帶的第 二長度，該第=板部被定義在所述第一狹槽及所述第二狹槽之間。
[0006] 該金屬層貼附于該介電板并用于與該同軸電纜電連接，該金屬層具有一設在該第 一板部上且圍繞所述第一狹槽的U形第一圖案、一設在該第二板部上且圍繞所述第二狹槽 的U形第二圖案，及一沿該中線延伸且將所述第一及第二圖案一體互相連接的第=圖案。
[0007] 根據本發(fā)明的另一個方面，一種射頻測試設備適用于一包括一天線元件單元的待 測電子裝置，該射頻測試設備包含一平臺、一阻抗匹配電路板，及至少一射頻干擾抑制裝 置。
[0008] 該平臺供支撐該待測電子裝置。該阻抗匹配電路板，安裝至該平臺，并用于在該待 測電子裝置設置于該平臺時電連接該天線元件單元W提供該天線元件單元與至少一同軸 電纜之間的阻抗匹配，該至少一同軸電纜電連接該阻抗匹配電路板，W充當一用于多個被 傳送至該待測電子裝置的該天線元件單元或輸出自該待測電子裝置的該天線元件單元的 信號的傳輸線。
[0009] 該至少一射頻干擾抑制裝置，安裝至該同軸電纜，用于減低多個產生自該同軸電 纜外部的射頻干擾信號的傳輸，每一射頻干擾信號具有一屬于彼此不同的一第一頻帶及一 第二頻帶兩者的其中一者的頻率，該射頻干擾抑制裝置包括一平坦的介電板，及一貼附于 該介電板上的金屬層。
[0010] 該介電板具有一第一板部、一在該介電板的一長度方向相對于該第一板部的第二 板部，及一將該第一板部與該第二板部互相連接的第=板部，該第一板部形成有兩個延伸 在該長度方向的第一狹槽，所述第一狹槽是W對稱于一平行于該長度方向的中線的方式設 置，且具有一相關于該第一頻帶的第一長度，該第二板部形成有兩個延伸在該長度方向的 第二狹槽，所述第二狹槽是W對稱于該中線的方式設置，且具有一相關于該第二頻帶的第 二長度，該第=板部被定義在所述第一狹槽及所述第二狹槽之間。
[0011] 該金屬層貼附于該介電板并用于與該同軸電纜電連接，該金屬層具有一設在該第 一板部上且圍繞所述第一狹槽的U形第一圖案、一設在該第二板部上且圍繞所述第二狹槽 的U形第二圖案，及一沿該中線延伸且將所述第一及第二圖案一體互相連接的第=圖案。
【附圖說明】
[0012] 本發(fā)明的其他的特征及效果，將于參照附圖的實施方式中清楚地呈現，其中：
[0013] 圖1是一立體圖，顯示本發(fā)明射頻測試設備的一實施例W及一待測電子裝置；
[0014] 圖2是該實施例的一側視示意圖；
[0015] 圖3是一立體圖，顯示該實施例安裝有該待測電子裝置的情形；
[0016] 圖4是一立體圖，顯示該實施例在該待測電子裝置受一壓板按壓在一下壓位置的 情形；
[0017] 圖5是一底視示意圖，顯示該實施例的一貼附有一阻抗匹配電路板的載板；
[0018] 圖6是一示意圖，顯示該實施例的一平坦的介電板及一金屬層；
[0019] 圖7是一示意圖，顯示該實施例的一射頻干擾抑制裝置；
[0020] 圖8是該實施例測試該待測電子裝置的Sll參數的一實驗量測結果圖；
[0021] 圖9是該實施例不具任何該射頻干擾抑制裝置時測試該待測電子裝置的Sll參數 的一實驗量測結果圖；
[0022] 圖10是該實施例測試另一待測電子裝置的Sll參數的一實驗量測結果圖；
[0023] 圖11是該實施例測試另一待測電子裝置的Sll參數的一實驗量測結果圖；
[0024] 圖12是該實施例測試另一待測電子裝置的Sll參數的一實驗量測結果圖；
[0025] 圖13是該實施例測試另一待測電子裝置的Sll參數的一實驗量測結果圖；W及
[0026] 圖14是該實施例測試另一待測電子裝置的Sll參數的一實驗量測結果圖。
【具體實施方式】
[0027] 參見圖1至圖4,所顯示的根據本發(fā)明的射頻(RF)測試設備1的一實施例用于測試 一待測電子裝置(DUT)92,該待測電子裝置92包括一待測的天線元件單元921。在本實施例 中，該待測電子裝置92為一行動電話的外殼部件，但不限于此，且該待測電子裝置92安裝有 例如五個天線元件921a、92化、921。、921(1、9216，且所述天線元件921日、92化、921(3、921(1、 921e共同地充當一天線元件單元921。此外，該待測電子裝置92形成有一凹陷922。該射頻測 試設備1包含一平臺2、一阻抗匹配電路板3、一按壓機構4、多個射頻干擾抑制裝置5W及多 條同軸電纜91。
[0028] 該平臺2是用于支撐該待測電子裝置92。在本實施例中，該平臺2包含一形成一開 口（圖未示出）的桌面20,及一設在該桌面20上W覆蓋該開口的載板21。該載板21具有一用 于支撐該待測電子裝置92的頂面211，及一相反于該頂面211的底面212,值得注意的是，該 載板21在該頂面211形成有例如一主定位凸塊214、二彼此相對的輔助定位凸塊213,且該主 定位凸塊214是用來與該待測電子裝置92的凹陷922適切地卡合，而該待測電子裝置92則被 定位在所述輔助定位凸塊213之間（見圖3)。該載板21設有多數個彈性端子22,也就是多數 個彈黃接腳，每一彈性端子22延伸穿過該載板21，并具有一例如延伸出該載板21的該主定 位凸塊214的頂面211的上端221(見圖1)、及一延伸出該載板21的底面212的下端222(見圖 5)。值得注意的是，所述彈性端子22的設置是相關于該待測電子裝置92的天線元件單元921 的配置。結果，當該待測電子裝置92被安裝至該載板21時，每一彈性端子22電性接觸所述天 線元件921a、92化、921c、921d、921e的一對應者，此外，該載板21可被置換W符合不同的待 測電子裝置92。
[0029] 該阻抗匹配電路板3被安裝至該平臺2,并用于在該待測電子裝置92設在該平臺2 時電連接該天線元件單元921W提供該天線元件單元921及所述五個同軸電纜91之間的阻 抗匹配，所述同軸電纜91電連接該阻抗匹配電路板3, W充當一用于多個被傳送至該待測電 子裝置92的該天線元件單元921或輸出自該待測電子裝置92的該天線元件單元921的信號 的傳輸線。
[0030] 參見圖2及圖5,該阻抗匹配電路板3包含一電路板31及多個集總元件單元35。該電 路板31被固定于該載板21的底面212,且電路板31具有一側面，也就是，形成有多個彼此間 隔的一導電線路32、W及與所述導電線路32相間隔的接地圖案33的一底面。該電路板31在 它的底面設有多個電連接器34,例如為SubMinia化re version A(SMA)連接器，每一電連接 器34將一對應的導電線路32與一對應的同軸電纜91互相電連接(見圖1)。在本實施例中，該 電路板31大體上呈矩形，并允許所述彈性端子22的下端222自該電路板31延伸穿過其本身。 為了減低噪音，所述電連接器34可沿一在該電路板31的一長度方向上的中線66設置，此外， 所述導電線路32可W-方式來安排W使得每一彈性端子22延伸出該電路板31的下端222電 連接一對應的導電線路32或是該接地圖案33。每一集總元件單元35是電連接于一對應的導 電線路32及接地圖案33,并包含多個各自可為一電容器、電感器或電阻器的電子元件。在本 實施例中，某些電子元件串聯(lián)，而某些電子元件并聯(lián)，且并聯(lián)配置連接該接地圖案33。
[0031] 再次參見圖1至圖4,該按壓機構4是設在該平臺2上且用于在測量時按壓該待測電 子裝置92W使得所述彈性端子22的上端221是緊密接觸該待測電子裝置92的天線元件單元 921。在本實施例中，該按壓機構4包括一支撐架41、一壓板單元42，及一致動單元43。
[0032] 該支撐架41是設在該平臺2的該桌面20上，并包含一直立延伸的導軌構件411。
[0033] 該壓板單元42是設在該載板21上方，且該壓板單元42可移動地連接該支撐架41W 使得該壓板單元42可相對于該支撐架41在一下壓位置及一釋放位置間垂直移動。在本實施 例中，該壓板單元42包含一L形導板421及一壓板422。該導板421具有一形成有一卡軌構件 4212的直立板部4211，及一連接該制動單元43的水平板部4213。在本實施例中，該壓板422 利用多個彈黃44來浮動地連接該導板421的水平板部4213,所述彈黃44連接在該導板421的 水平板部4213與該壓板422之間W充當緩沖件。該壓板422平行于該導板421的水平板部 4213,且位于該導板421的水平板部4213與該載板21之間。如圖4所示，當該壓板單元42處于 該下壓位置時，該待測電子裝置92直接被該壓板422壓向該載板21，W迫使該待測電子裝置 92的天線元件單元921緊密接觸所述彈性端子22的上端221。如圖3所示，當該壓板單元42處 于該釋放位置時，該待測電子裝置92被該壓板單元42釋放。
[0034] 該致動單元43被安裝至該支撐架41并連接于該壓板單元42,且可操作地來致動該 壓板單元42從該下壓/釋放位置至該釋放/下壓位置。在本實施例中，該致動單元43可包含 一被固定于該支撐架41的安裝座431、一樞接該安裝座431的栓臂433,及一由該安裝座431 直立延伸的致動桿432,該致動桿432具有一樞接該栓臂433的上端，及一連接于該導板421 的水平板部4213的下端。當該栓臂433相對于該安裝座431轉動時，該致動桿432受該栓臂 433驅動而相對于該安裝座431向上或向下移動，W致該壓板單元42受該致動桿432致動而 移動到該釋放或下壓位置。
[0035] 參見圖6及圖7,每一射頻干擾抑制裝置5安裝致一對應的同軸電纜91，用W減低產 生自該同軸電纜91外部的多個射頻干擾信號的傳輸。所述射頻干擾信號被視為噪音，且每 一射頻干擾信號具有一屬于彼此不同的一第一頻帶及一第二頻帶兩者的其中一者的頻率， 在本實施例中，該第一頻帶低于該第二頻帶。每一射頻干擾抑制裝置5包括一平坦的介電板 6、一金屬層7,及多數個鐵氧磁珠 8,每一射頻干擾抑制裝置5的細節(jié)詳述如下。
[0036] 該介電板6具有一第一板部61、一第二板部62,及一第=板部63。該第二板部62在 該介電板6的一長度方向上相對于該第一板部61，該第=板部63將該第一板部61與該第二 板部62互相連接，該第一板部61形成有兩個延伸在該長度方向的第一狹槽64,所述第一狹 槽64是W對稱于一平行于該長度方向的中線66的方式設置，該第二板部62形成有兩個延伸 在該長度方向的第二狹槽65，所述第二狹槽65是W對稱于該中線66的方式設置，該第=板 部63被定義在所述第一狹槽64及所述第二狹槽65之間。在本實施例中，該介電板6 W-介電 材料制成，例如可維持高結構強度，且于干燥或潮濕的環(huán)境中皆保有良好絕緣性的FR-4,且 該介電材料具有一相關于所述第一狹槽64的該第一長度Ll及所述第二狹槽65的第二長度 L2的介電系數。此外，該介電板6的所述第一狹槽64及所述第二狹槽65大體上呈矩形。值得 注意的是，所述第一狹槽64的該第一長度Ll基本上等于該第一頻帶的一中屯、頻率的波長的 四分之一，且所述第二狹槽65的該第二長度L2基本上等于該第二頻帶的一中屯、頻率的波長 的四分之一。因此，該第一長度Ll及該第二長度L2能W下列方程式(式1)來表示：
[0037] 式1:
[003引 其中i = {1,2}
[0039] 該金屬層7貼附于該介電板6并與一對應的同軸電纜91連接，該金屬層7具有一設 在該第一板部61上且圍繞所述第一狹槽64的U形第一圖案71、一設在該第二板部62上且圍 繞所述第二狹槽65的U形第二圖案72、及一沿該中線66延伸并一體互連該第一圖案71與該 第二圖案72的條狀第=圖案73。在本實施例中，由于該U形第一圖案71圍繞所述第一狹槽64 且該U形第二圖案72圍繞所述第二狹槽65,該第一圖案71的長度L1'及該第二圖案72的長度 12'也大體上分別等于所述四分之一波長A1/4，A2/4。該第一板部61及該第二板部62之間的 一距離L3,例如為5厘米，但不限于此。該條狀第S圖案73的寬度L4是相關于一對應的同軸 電纜91的直徑，例如，寬度L4是正比于該對應的同軸電纜91的直徑。在本實施例中，寬度L4 是相等于該對應的同軸電纜91的直徑，該介電板6的寬度L5例如大體上等于寬度L4的兩倍， 但不限于此。該金屬層7允許該對應的同軸電纜91沿該介電板6的該中線66延伸穿過其本 身。
[0040] 值得注意的是，光速(V)、介電常數(也就是，該介電板6的相對介電常數）、天線頻 率(1或2)，W及傳輸在該金屬層7的一個射頻干擾信號的波長(Al或A2)之間的關系能W下列 方程式(式2)來表示：
[0041] 式2:
[0042] 其中i = {1,2}
[0043] 光速為3xl08m/s，且當該介電板6W例如FR-4制成時，為4.4。根據式1及式2，可得 一個射頻干擾信號的頻率。
[0044] 每一射頻干擾抑制裝置5的該鐵氧磁珠8是套設于該同軸電纜91，且鄰近該介電板 6設置W抑制不樂見的較低頻率(例如低于500MHz的頻率)福射。值得注意的是，在等效的其 他實施態(tài)樣中，該射頻干擾抑制裝置5也可不包含該鐵氧磁珠8。
[0045] 在使用時，該待測電子裝置92是先貼附于該載板21的頂面211(見圖3)，W使得每 一彈性端子22的上端221接觸該待測電子裝置92的對應天線元件921a、921b、921c、921d、 921e(見圖1)。然后，該致動單元43被操作W致動該壓板單元42從該釋放位置至該下壓位置 (見圖4)，W使得每一彈性端子22的上端221能更緊密接觸該待測電子裝置92的該對應天線 元件921a、92化、921(3、921(1、9216。之后，所述同軸電纜91可例如^一對一的方式連接至一 外部的網路分析儀(圖未示），W使得一或多個測試信號可由該網路分析儀經由該阻抗匹配 電路板3傳輸至該待測電子裝置92。于是，該網路分析儀也可經由該射頻測試設備1接收一 或多個由該待測電子裝置92發(fā)出且分別對應所述量測信號的回應信號，從而得到用于評估 該待測電子裝置92的天線表現的特征參數，例如一 Sll參數。
[0046] 圖8圖示了該待測電子裝置92受本發(fā)明射頻測試設備1測試時的Sll參數的實驗量 測結果，且圖9圖示了該待測電子裝置92受不具該射頻干擾抑制裝置5的射頻測試設備1測 試時的Sll參數的實驗量測結果，尤其是，Sll參數表示有多少功率由該天線元件單元921反 射，并因此稱作反射系數或回波損失，若Sll = O地，則所有功率皆由該天線元件單元921反 射，而無任何信號被福射。
[0047] 在本實施例中，所述天線元件921a、92化、921c、921d、921e的第一頻帶的第一中屯、 頻率n為1150MHz，且所述天線元件921a、92化、921c、921d、921e的第二頻帶的第二中屯、頻 率f2為1900MHz，該第一頻帶的范圍是由1050MHz至1250MHz，但并不限于此，且該第二頻帶 的范圍是由1800M化至2000MHz，但并不限于此。根據式2 ,Al及A2分別等于124.36mm及 75.27mm，根據式1，第一長度Ll及第二長度L2分別等于31.09mm及18mm，且長度L1'及長度 L2'可分別等于32mm及18.82mm。在圖8及圖9中，Y軸代表Sll參數的大小并W地表示，而X軸 代表頻率，從圖8及圖9明顯看出，圖9的Sll參數的實驗量測結果有較多鏈波(ripples),換 句話說，所述射頻干擾抑制裝置5能有效減低屬于該第一頻帶或該第二頻帶的射頻干擾信 號的傳輸，尤其是所述同軸電纜91之間電磁禪合所致的該(等)射頻干擾信號。值得注意的 是，每一射頻干擾抑制裝置5的該第一狹槽64的第一長度Ll及該第二狹槽65的第二長度L2 可被設計成符合該待測電子裝置92的一對應的天線元件921a、921b、921c、921d、921e。
[0048] 圖10至圖14圖示了其他待測電子裝置92受本發(fā)明該射頻測試設備1測試時的Sll 參數的實驗量測結果，所述實驗量測結果顯示該射頻干擾抑制裝置5可操作于IOOM化至 3G化的頻率范圍內。
[0049] 綜上所述，本發(fā)明射頻測試設備1藉由改變該載板21可彈性的測試具有不同種類 的天線元件單元921的待測電子裝置92。此外，藉由該按壓機構4可有效地達成該待測電子 裝置92及該阻抗匹配電路板3之間緊密的電連接，因此確保穩(wěn)定的測量結果。再者，該射頻 干擾抑制裝置5可有效地減低屬于兩相異頻帶其中一者內的多個射頻干擾信號，并能W - 低成本的方式制造，因而確實能達成本發(fā)明的目的。
[0050] W上所述僅為本發(fā)明的實施例而已，但不能W此限定本發(fā)明實施的范圍，凡是依 本發(fā)明權利要求及說明書內容所作的簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發(fā)明專利涵蓋的保 護范圍內。
【主權項】
1. 一種射頻干擾抑制裝置，適用于減低多個產生自一同軸電纜外部的射頻干擾信號的 傳輸，每一射頻干擾信號具有一屬于彼此不同的一第一頻帶及一第二頻帶兩者的其中一者 的頻率，該射頻干擾抑制裝置包含： 一平坦的介電板，具有一第一板部、一在該介電板的一長度方向相對于該第一板部的 第二板部，及一將該第一板部與該第二板部互相連接的第三板部，該第一板部形成有兩個 延伸在該長度方向的第一狹槽，所述第一狹槽是以對稱于一平行于該長度方向的中線的方 式設置，且具有一相關于該第一頻帶的第一長度，該第二板部形成有兩個延伸在該長度方 向的第二狹槽，所述第二狹槽是以對稱于該中線的方式設置，且具有一相關于該第二頻帶 的第二長度，該第三板部被定義在所述第一狹槽及所述第二狹槽之間，以及； 一金屬層，貼附于該介電板并用于與該同軸電纜電連接，該金屬層具有一設在該第一 板部上且圍繞所述第一狹槽的U形第一圖案、一設在該第二板部上且圍繞所述第二狹槽的U 形第二圖案，以及一沿該中線延伸且將所述第一及第二圖案一體互相連接的第三圖案。2. 如權利要求1所述的射頻干擾抑制裝置，其中，該介電板以一介電材料制成，且該介 電材料具有一相關于所述第一狹槽的該第一長度及所述第二狹槽的第二長度的介電系數。3. 如權利要求1所述的射頻干擾抑制裝置，其中，該介電板的所述第一狹槽及所述第二 狹槽大體上呈矩形。4. 如權利要求1所述的射頻干擾抑制裝置，該第一頻帶低于該第二頻帶，其中： 所述第一狹槽的該第一長度大體上等于該第一頻帶的一中心頻率的波長的四分之一； 以及 所述第二狹槽的該第二長度小于所述第一狹槽的該第一長度，且該第二長度大體上等 于該第二頻帶的一中心頻率的波長的四分之一。5. 如權利要求1所述的射頻干擾抑制裝置，其中，該金屬層允許該同軸電纜沿該介電板 的該中線延伸穿過其本身。6. 如權利要求1所述的射頻干擾抑制裝置，還包含至少一套設于該同軸電纜且鄰近該 介電板的鐵氧磁珠。7. 如權利要求1所述的射頻干擾抑制裝置，其中，該金屬層的該第三圖案具有一相關于 該同軸電纜的一直徑的寬度。8. 如權利要求7所述的射頻干擾抑制裝置，其中，該介電板具有一大體上為該金屬層的 該第三圖案的寬度的兩倍的寬度。9. 一種射頻測試設備，適用于一包括一天線元件單元的待測電子裝置，該射頻測試設 備包含： 一平臺，供支撐該待測電子裝置； 一阻抗匹配電路板，安裝至該平臺，并用于在該待測電子裝置設置于該平臺時電連接 該天線元件單元以提供該天線元件單元與至少一同軸電纜之間的阻抗匹配，該至少一同軸 電纜電連接該阻抗匹配電路板，以充當一用于多個被傳送至該待測電子裝置的該天線元件 單元或輸出自該待測電子裝置的該天線元件單元的信號的傳輸線；以及 至少一射頻干擾抑制裝置，安裝至該同軸電纜，用于減低多個產生自該同軸電纜外部 的射頻干擾信號的傳輸，每一射頻干擾信號具有一屬于彼此不同的一第一頻帶及一第二頻 帶兩者的其中一者的頻率，該射頻干擾抑制裝置包括： 一平坦的介電板，具有一第一板部、一在該介電板的一長度方向相對于該第一板部的 第二板部，及一將該第一板部與該第二板部互相連接的第三板部，該第一板部形成有兩個 延伸在該長度方向的第一狹槽，所述第一狹槽是以對稱于一平行于該長度方向的中線的方 式設置，且具有一相關于該第一頻帶的第一長度，該第二板部形成有兩個延伸在該長度方 向的第二狹槽，所述第二狹槽是以對稱于該中線的方式設置，且具有一相關于該第二頻帶 的第二長度，該第三板部被定義在所述第一狹槽及所述第二狹槽之間，以及 一金屬層，貼附于該介電板并用于與該同軸電纜電連接，該金屬層具有一設在該第一 板部上且圍繞所述第一狹槽的U形第一圖案、一設在該第二板部上且圍繞所述第二狹槽的U 形第二圖案，及一沿該中線延伸且將所述第一及第二圖案一體互相連接的第三圖案。10. 如權利要求9所述的射頻測試設備，其中，該平臺包括一載板，該載板具有一用于支 撐該待測電子裝置的頂面，及一相反于該頂面且供該阻抗匹配電路板設置的底面，該載板 供多個彈性端子設置，每一彈性端子穿設于該載板，并具有一凸伸出該載板的頂面且于該 待測電子裝置設于該載板的頂面時與該天線元件單元接觸的上端，及一凸伸出該底面且電 連接該阻抗匹配電路板的下端。11. 如權利要求10所述的射頻測試設備，該待測電子裝置形成一定位凹槽，其中，該載 板的該頂面形成一定位凸塊，所述彈性端子的所述上端由該定位凸塊向上凸伸，且該定位 凸塊與該待測電子裝置的定位凹槽互相卡合。12. 如權利要求10所述的射頻測試設備，還包含一設于該平臺上用以施加壓力的按壓 機構，當該射頻測試設備量測該待測電子裝置時，該按壓機構以按壓的方式使該待測電子 裝置的天線元件單元與所述彈性端子的上端緊密接觸。13. 如權利要求12所述的射頻測試設備，其中，該按壓機構包括： 一支撐架，設于該平臺； 一壓板單元，可移動地連接至該支撐架且位于該載板上方，該壓板單元可相對該支撐 架垂直地上下移動，而在一下壓位置及一釋放位置間移動，當處于該下壓位置時，該待測電 子裝置被該壓板單元朝該載板的方向按壓，以使該待測電子裝置的天線元件單元與所述彈 性端子的上端緊密接觸，而處于該釋放位置時，該待測電子裝置不被該壓板單元按壓；以及 一致動單元，安裝至該支撐架且連接該壓板單元，該致動單元可被操作地驅動該壓板 單元在該下壓位置及該釋放位置間移動。14. 如權利要求13所述的射頻測試設備，其中，對于該按壓機構： 該支撐架具有一呈直立延伸狀的導軌構件；以及 該壓板單元具有 一導板，呈L形，該導板具有一直立板部，及一水平板部，該直立板部形成有一可滑動地 連接該導軌構件的卡軌構件，該水平板部連接該致動單元，以及 一壓板，連接該導板的該水平板部且平行于該水平板部，當該壓板單元處于該下壓位 置時，該壓板直接按壓該待測電子裝置。15. 如權利要求10所述的射頻測試設備，該天線元件單元具有多個天線元件，該射頻測 試設備包含多個射頻干擾抑制裝置，該阻抗匹配電路板電連接多條該同軸電纜，每一射頻 干擾抑制裝置被安裝至相對應的各同軸電纜上； 其中，該阻抗匹配電路板具有一固設于該載板的底面的電路板，該電路板形成多組彼 此間隔的導電線路，及一與所述導電線路相間隔的接地圖案，該電路板設有多個電連接器， 所述電連接器分別電連接于相對應的所述導電線路及所述同軸電纜之間；以及 其中，所述彈性端子的所述上端分別接觸該待測電子裝置的該天線元件單元的相對應 的所述天線元件，且所述彈性端子的所述下端各自穿設該電路板且分別連接相對應的所述 導電線路及該接地圖案。16. 如權利要求9所述的射頻測試設備，其中，該射頻干擾抑制裝置的該介電板以一介 電材料制成，且該介電材料具有一相關于所述第一狹槽的該第一長度及所述第二狹槽的第 二長度的介電系數。17. 如權利要求9所述的射頻測試設備，其中，該射頻干擾抑制裝置的該介電板的所述 第一狹槽及所述第二狹槽大體上呈矩形。18. 如權利要求9所述的射頻測試設備，其中，該第一頻帶低于該第二頻帶，其中，對該 射頻干擾抑制裝置而言： 該第一狹槽的該第一長度大體上等于該第一頻帶的一中心頻率的波長的四分之一；以 及 該第二狹槽的該第二長度小于該第一狹槽的該第一長度，且該第二長度大體上等于該 第二頻帶的一中心頻率的波長的四分之一。19. 如權利要求9所述的射頻測試設備，其中，對該射頻干擾抑制裝置而言，該金屬層允 許該同軸電纜沿該介電板的該中線延伸穿過其本身。20. 如權利要求19所述的射頻測試設備，其中，該射頻干擾抑制裝置還具有至少一套設 于該同軸電纜且鄰近該介電板的鐵氧磁珠。21. 如權利要求9所述的射頻測試設備，其中，該金屬層的該第三圖案具有一相關于該 同軸電纜的一直徑的寬度。22. 如權利要求17所述的射頻測試設備，其中，該介電板具有一大體上為該金屬層的該 第三圖案的寬度的兩倍的寬度。
【文檔編號】G01R1/04GK105988028SQ201610157105
【公開日】2016年10月5日
【申請日】2016年3月18日
【發(fā)明人】黃志明, 蔡凱祥
【申請人】捷普電子(新加坡)公司