開關(guān)的探針觸點的制作方法
【專利摘要】本公開的方案適用于涉及開關(guān)的探針觸點的方法、裝置和系統(tǒng)。根據(jù)示例實施例，裝置包括：邏輯電路、用于與邏輯電路傳輸信號的第一電路以及經(jīng)由第一電路路徑連接到第一電路的接合墊。裝置還包括用于與邏輯電路傳輸信號的第二電路以及經(jīng)由第二電路路徑連接到第二電路的第二接合墊。探針觸點連接到第一接合墊并且與外部探針傳輸信號，并且開關(guān)電路連接到探針觸點和第二電路路徑。開關(guān)電路通過將探針觸點與第二電路路徑選擇性地連接和斷開來在探針觸點與第二電路路徑之間傳輸信號。
【專利說明】
開關(guān)的探針觸點
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]各種實施例的方案涉及集成電路裝置，并且更具體地，涉及具有開關(guān)的探針觸點的裝置和方法。
【背景技術(shù)】
[0002]很多集成電路(IC)使用多個輸入/輸出(1)電路，有時被稱作1單元，其用于在IC的主要/邏輯電路與外部電路之間傳輸信號。這樣的1單元通常具有接合墊，該接合墊用于接合從接合墊向包括IC的IC封裝的線纜(例如接合線)。
[0003]針對多種應(yīng)用，人們希望在設(shè)計、制造等期間測試1C。為了促進測試，很多這樣的1單元包括探針觸點，該探針觸點進行耦合以提供對1墊的探查。探針觸點允許外部信號(例如在測試期間使用的信號)在IC還沒有被封裝時(例如，如上所述，在接合線附接到接合墊之前)進入1C。
[0004]上述測試方法對確保IC的正常操作有幫助。然而，促進這樣的探查和測試進入(access)會是難以實現(xiàn)的或價格昂貴的。例如，在具有與用于進入和/或測試的1單元的數(shù)量相比相對較小的核心區(qū)域的IC中，核心參數(shù)可能低于設(shè)置1單元所需要的長度。這樣的IC裝置可以被稱作“墊限制設(shè)計”。這樣的設(shè)計可能需要增大IC的尺寸，以便(例如通過提供未使用的空白空間)實現(xiàn)期望數(shù)量的1單元，或1單元的堆疊。
[0005]這些和其它事物呈現(xiàn)出對用于多種應(yīng)用的IC設(shè)計、測試和實現(xiàn)的挑戰(zhàn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]各種示例實施例針對集成電路及其的實施方式。根據(jù)示例實施例，一種裝置包括邏輯電路，該邏輯電路通過處理輸入信號并且提供與輸入信號相對應(yīng)的(例如響應(yīng)于所述輸入信號的)輸出信號來提供邏輯功能，所述邏輯功能施加于所述輸入信號上。第一電路(例如輸入-輸出(I/o)電路)與邏輯電路傳輸信號。第一接合墊經(jīng)由第一電路路徑連接到第一電路，并且經(jīng)由第一電路與邏輯電路傳輸信號。裝置還包括與邏輯電路傳輸信號的第二電路。第二接合墊經(jīng)由第二電路路徑連接到第二電路，并且經(jīng)由第二電路與邏輯電路傳輸信號。此外，裝置包括連接到第一接合墊并且與接觸第一接合墊的外部探針傳輸信號的探針觸點。開關(guān)電路連接到探針觸點和第二電路路徑，并且通過響應(yīng)于輸入信號選擇性地將探針觸點與第二電路路徑連接和斷開來在探針觸點與第二電路路徑之間傳輸信號。在各種實施例中，裝置還包括經(jīng)由探針觸點(例如經(jīng)由通過探針與其的連接)提供輸入信號并且讀取輸出信號。
[0007]根據(jù)其它示例實施例，方法包括使用測試電路和開關(guān)的探針觸點來提供輸入信號并讀取輸出信號?；谳斎胄盘柌僮鬟壿嬰娐芬蕴峁┻壿嫻δ?，該輸入信號從探針觸點耦合到邏輯電路。輸出信號經(jīng)由與邏輯電路傳輸信號的第一電路從邏輯電路耦合到探針觸點。第一電路經(jīng)由第一電路路徑連接到第一接合墊。通過操作開關(guān)電路以響應(yīng)于輸入信號將探針觸點與第二電路選擇的連接和斷開，將輸入信號從探針觸點耦合到邏輯電路的不同部分。第二電路路徑經(jīng)由第二電路路徑連接到第二接合墊。
[0008]以上討論/概述并非意欲描述本公開的每一個實施例或者每一種實施方式。下面的附圖和詳細說明對各個實施例進行了舉例說明。
【附圖說明】
[0009]結(jié)合附圖考慮到以下詳細說明，可以更全面地理解各種示例實施例，其中:
[0010]圖1示出了根據(jù)本公開的各種實施例的示例裝置；
[0011]圖2示出了根據(jù)本公開的各種實施例的示例裝置;以及
[0012]圖3示出了根據(jù)本公開的各種實施例的使用共享探針墊來選擇和取消選擇電路的示例過程的流程圖。
【具體實施方式】
[0013]雖然這里討論的各種實施例適合修改和替代形式，但是已經(jīng)在附圖中通過示例的方式示出了并且將在以下詳細描述其多個方案。然而，應(yīng)該理解，目的并非將本發(fā)明限于所描述的特定實施例。相反，目的在于覆蓋落入本公開范圍內(nèi)的所有修改、等效和替代，所述范圍包括在權(quán)利要求中定義的方案。另外，本申請中所使用的術(shù)語“示例”僅作為說明，而不是限制。
[0014]本公開的方案被認為適于涉及第一接合墊、第二接合墊、以及連接到第一接合墊并選擇性地連接到第二接合墊的探針觸點的各種不同類型的裝置、系統(tǒng)和方法。在特定實現(xiàn)中，當用于包含共享公共接合墊的兩個電路和其它電路的單個1單元的上下文中時，已經(jīng)示出本公開的各個方面是有益的。通過使用這些方法，單個探針觸點可以被用于進入多個單元，這可以減小測試具體邏輯電路所需要的探針觸點的總數(shù)。通過控制開關(guān)或其它連接類組件，在探針觸點與不同的輸入單元、輸出單元或I/O單元之間傳輸信號。其它方案涉及用于經(jīng)由探針觸點來對電路進行測試的測試電路。可以實現(xiàn)這些和其它方案來處理包括上文“【背景技術(shù)】”部分討論的挑戰(zhàn)。雖然不受限于實施例，但是可以通過對使用這些示例性上下文的示例進行討論來理解各個方案。
[0015]根據(jù)各種示例實施例，本公開的方案涉及具有兩種1類型電路的1C，每種類型具有接合墊并共享探針觸點。通過共享探針觸點，與使用額外的探針觸點相比，可以限制需要探查(測試)所需要的總的面積。此外，具有這樣的共用探針觸點的1電路的高度可以被設(shè)置為低于堆疊的1單元的高度，并且可以提供滿意的較小管芯面積(例如接合探針高度可以等于間距(pitch)(例如最小間距，如0.06mm))。
[0016]共享探針觸點可以被用于測試1C，其中電路耦合到每個接合墊。例如，可以連續(xù)掃描IC的外部輸入/輸出引腳，可以從IC輸入和輸出測試數(shù)據(jù)，并且/或者在功能上測試IC的內(nèi)部功能和實現(xiàn)的印刷電路板二者。例如，這樣的測試(以及如本文中描述的其它測試)可以包括沿IC的邊界施加測試信號，在IC中，邊界單元將耦合向邏輯電路輸入的測試和從邏輯電路輸出的測試，以用于與外部測試器通信。在特定的實施例中，這樣的方法依照邊界掃面類方法來實現(xiàn)，例如依照IEEE標準1149.1的方法(例如使用能夠從聯(lián)合測試工作組(JTAG)得到并符合該標準的硬件和/或軟件)。
[0017]在各種實施例中，如上所述的1單元位于1環(huán)類型結(jié)構(gòu)中的管芯的邊界，其中IC的邏輯電路位于管芯上(例如在由環(huán)圍繞的中心位置)。這樣的1單元可以具有相同的高度，并且可以被布置為使得可以共享公共輸入信號，例如電源或ESD保護信號。特定的實施例涉及在管芯的一個或多個側(cè)面按兩行布置1單元，這種布置可以被稱作“雙排1環(huán)”布置?！坝行Р贾瞄g距”小于I/O單元的最小寬度，使得在給定的管芯長度或?qū)挾壬峡梢圆贾酶嗟?單元。
[0018]在各種實施例中，裝置包括邏輯電路，該邏輯電路通過處理輸入信號并且提供與輸入信號相對應(yīng)的輸出信號來提供邏輯功能，所述邏輯功能施加于所述輸入信號上。裝置包括第一電路，用于與邏輯電路和第一接合墊傳輸信號，經(jīng)由第一電路路徑連接到第一電路，以經(jīng)由第一電路與邏輯電路傳輸信號。裝置還包括第二電路，用于與邏輯電路和第二接合墊傳輸信號，經(jīng)由第二電路路徑連接到第二電路，以經(jīng)由第二電路與邏輯電路傳輸信號。探針觸點連接到第一接合墊，用于與接觸探針觸點的外部探針傳輸信號。此外，裝置包括連接到探針觸點和第二電路路徑的開關(guān)電路。
[0019]響應(yīng)于輸入信號，開關(guān)電路選擇性地將探針觸點與第二電路路徑連接和斷開，以在探針觸點與第二電路路徑之間傳輸信號。在上下文中，可以通過連接到探針觸點的探針或者通過經(jīng)由另一個探針和探針觸點提供的輸入信號的方面來控制開關(guān)電路，并且開關(guān)電路可以開關(guān)或者通過其他方式控制提供選擇連接的阻抗。在特定的實現(xiàn)中，開關(guān)控制電路耦合到該探針觸點或不同的探針觸點，并且(例如基于經(jīng)由探針觸點之一耦合到其上的控制信號)控制開關(guān)電路提供選擇連接。在特定的實現(xiàn)中，控制電路是邏輯電路的一部分。
[0020]在各種實施例中，如上所述的輸入信號是輸入測試信號，輸入電路是與邏輯電路傳輸測試信號的輸入/輸出(I/O)單元，并且第二電路是與邏輯電路傳輸測試信號的輸入單元。通過選擇性地將輸入測試信號耦合到第二電路路徑，開關(guān)選擇性地將探針觸點與第二電路路徑連接和斷開。在特定的實施例中，兩個電路都是具有共享電路的公共I/O單元的一部分，共享電路例如電源、ESD保護、邏輯電路連接起等等。
[0021]各種實施例涉及具有相應(yīng)的接合墊和開關(guān)電路的附加電路/單元。例如，若干個輸入單元可以耦合到單個探針觸點，其中，一個或多個開關(guān)操作為選擇性地將探針觸點連接到每個輸入單元。該連接可能被連續(xù)地實現(xiàn)，以分別連續(xù)探查不同的區(qū)域或邏輯電路中的電路。由此，通過響應(yīng)于(經(jīng)由一個或多個探針觸點接收的)輸入信號選擇性地連接和斷開探針觸點，連接到探針觸點的附加開關(guān)電路在探針觸點與附加電路路徑之間傳輸信號。在一些實現(xiàn)中，單個開關(guān)電路(例如通過復(fù)用)將探針觸點與多個電路集合連接。
[0022]在這一點上，上述的相應(yīng)的第一和第二接合墊及其相關(guān)電路、探針觸點和開關(guān)電路可以與測試電路一起實現(xiàn)。例如，輸入或1電路可以從測試電路向邏輯電路傳輸輸入信號，并且(1)電路可以從邏輯電路向測試電路傳輸輸出信號?？梢钥刂崎_關(guān)以實現(xiàn)該傳輸，其中第一輸入信號用于操作開關(guān)以抑制探針觸點的連接，并且第二輸入信號用于連接探針觸點。在測試期間和/或在測試之后，相應(yīng)的接合墊可以耦合到邏輯電路。根據(jù)其他實施例，單個I/O單元包括接合墊和開關(guān)電路，以及共享電路，例如導(dǎo)電軌和靜電放電保護電路。
[0023]根據(jù)各種基于方法的實施例，開關(guān)方法被用于從公共探針觸點向不同的單元耦合輸入和輸出信號。輸入信號由測試電路提供，并且耦合到使用探針的探針觸點，并且通過(例如經(jīng)由信號控制的)開關(guān)向多個單元之一傳遞。輸入信號用于操作邏輯電路提供基于輸入信號的邏輯功能，并且該邏輯功能(例如也經(jīng)由探針觸點)向測試電路提供輸出信號。在該上下文中，具有相應(yīng)的接合墊和通往邏輯電路的有關(guān)電路路徑的第一和第二輸入類型單元可以耦合到公共探針觸點，其中信號切換到探針觸點，用于向/從邏輯電路傳輸。
[0024]現(xiàn)在轉(zhuǎn)到附圖，圖1示出了如可以根據(jù)本公開的一個或多個實施例實現(xiàn)的示例裝置。如圖1所示，各種裝置實施例包括第一電路102和第二電路110，其分別作為1類型電路(例如，輸入電路、輸出電路或輸入-輸出電路)來操作，該1類型電路具有選擇性地耦合到一個或多個單元的開關(guān)的探針觸點。在一些實施例中，第一和第二電路102/110共享各種電路，例如導(dǎo)電軌。此外，在各種實施例中，第一電路102是1電路，并且第二電路110是輸入電路。
[0025]將第一電路102耦合來與裝置的邏輯電路118傳輸信號，如下文進一步討論的。第一接合墊104經(jīng)由第一電路路徑106連接到第一電路102，并且經(jīng)由第一電路102與邏輯電路傳輸信號。第二電路110進行耦合，以與裝置的邏輯電路118傳輸信號。第二接合墊112經(jīng)由第二電路路徑116連接到第二電路110，并且經(jīng)由第二電路110與邏輯電路傳輸信號。
[0026]探針觸點108(例如經(jīng)由第一電路路徑106)連接到第一接合墊104。探針觸點108與外部探針122傳輸信號，該外部探針122還與測試電路120以傳輸信號，如下文進一步討論的。
[0027]如圖1進一步示出的，開關(guān)電路114連接到探針觸點108和第二電路110的第二電路路徑116。開關(guān)電路114通過響應(yīng)于輸入信號將探針觸點108與第二電路路徑116選擇性地連接和斷開來在探針觸點108與第二電路路徑116之間傳輸信號。例如，開關(guān)電路114(例如通過選擇性地提供連接或抑制探針觸點108與第二電路路徑116之間的信號傳輸?shù)淖杩怪?將探針觸點108選擇性地連接到第二電路路徑116。
[0028]在一些實施例中，邏輯電路118通過處理輸入信號并且提供與輸入信號相對應(yīng)的輸出信號來提供邏輯功能，所述邏輯功能施加于所述輸入信號上。在一些實施例中，第一電路102和第二電路110與邏輯電路的不同部分相關(guān)聯(lián)。例如，第一電路102可被實現(xiàn)為在探針觸點108與邏輯電路118的第一部分之間輸入測試信號，其中第二電路110將輸入的測試信號耦合到探針觸點108與邏輯電路118的第二部分之間。通過該方法，可以使用共享探針觸點108來測試邏輯電路的不同部分。可以連續(xù)執(zhí)行這樣的方法，使得在第一時間段期間，測試信號的第一集合耦合到邏輯電路118的第一部分，并且此后測試信號的第二集合耦合到邏輯電路的第二 (例如不同的)部分。
[0029]在各種實施例中，測試電路120提供輸入信號并讀取輸出信號。在一些實現(xiàn)中，輸入信號控制開關(guān)電路114將探針觸點108與第二電路路徑116連接或斷開。在其它實現(xiàn)中，來自另一個探針觸點的輸入信號用于控制開關(guān)電路114。例如，(例如來自測試電路120的)輸入信號可以選擇性地啟用第一電路102和第二電路110的測試模式。響應(yīng)于測試模式被啟用，通過在探針觸點108與邏輯電路118之間傳遞信號，第一電路102和第二電路110對輸入信號進行響應(yīng)。
[0030]在具體的實現(xiàn)中，測試電路120經(jīng)由外部探針112向探針觸點108提供第一輸入信號，以在第一時間段內(nèi)抑制將探針觸點108連接到第二電路路徑116。通過在探針觸點108與邏輯電路118之間傳遞信號，第一電路102對第一輸入信號進行響應(yīng)。在第一時間段之后，測試電路120經(jīng)由外部探針122來提供第二輸入信號，以在第二時間段內(nèi)控制開關(guān)電路114將探針觸點108連接到第二電路路徑116。通過在探針觸點108與邏輯電路118之間傳遞信號，第二電路110對第二輸入信號進行響應(yīng)。
[0031]在特定的實施例中，圖1中示出的裝置使用第一電路102作為1電路，第二電路110作為輸入電路。響應(yīng)于輸入信號，開關(guān)電路將探針區(qū)域連接到輸入電路。相比于輸出信號，輸入電流較小，并且通常只對開關(guān)電壓電平進行測試。
[0032]與雙排1環(huán)和/或其它技術(shù)相比，各種實施例(例如，如通過圖1示出的)使用具有共享探針區(qū)域的雙接合墊裝置來減小1單元的區(qū)域懲罰(penalty)。雙排1環(huán)的區(qū)域的示例計算如下文所述。假設(shè)IC裝置的核心區(qū)域是2X2，并且1單元具有寬乘高為0.06x0.15的尺寸，適于IC的一側(cè)的1單元的數(shù)量等于(2/0.06)+1 = 34的整數(shù)，并且在所有的4條邊上等于136。在這種情況下，包括1單元環(huán)的總核心區(qū)域變?yōu)?0.15+2+0.15)~2。如果設(shè)置了比136多η個1單元，則可以將管芯周長增加以下長度:
[0033](a)當使用單個1單元排時，0.06η，或者
[0034](b)從一條邊開始，布置兩排1單元，并且如果需要的話使用更多的邊。對于η <2x34，包括1環(huán)的總核心區(qū)域變?yōu)?
[0035]情況a:當全部的額外1單元都布置在兩條相對的邊上時，(0.15+2+0.06.1nteger((n+1)/2)+0.15)χ(0.15+2+0.15)，
[0036]情況bl:當雙排1單元環(huán)設(shè)置在I個管芯邊上時，對于η <34,(0.15+0.15+2+0.15)χ(0.15+2+0.15)，以及
[0037]情況b2:當雙排1單元環(huán)設(shè)置在2個管芯邊上時，對于2x34,(0.15+0.15+2+0.15)叉(0.15+0.15+2+0.15)。在這樣的示例中，如果0.06.1的6864(11+1)/2)>0.15或11>4，則管芯區(qū)域(a)大于區(qū)域(b)。
[0038]根據(jù)一些實施例，雙接合墊裝置的高度(例如圖1示出的裝置)不是標準1單元的高度的兩倍，而是單個1單元的高度加上探針觸點的高度。例如，接合墊高度等于間距(例如最小間距，如0.06)。與雙1環(huán)設(shè)計相比，單側(cè)的雙排設(shè)計的相對面積減小的示例可以包括:
[0039](0.15+0.06+2+0.15)x(0.15+2+0.15)/(0.15+0.15+2+0.15)x(0.15+2+0.15)=96.3%0
[0040]根據(jù)各種實施例，與1單元的數(shù)量和1單元尺寸相比，墊限制的設(shè)計通過IC裝置的較小核心區(qū)域來實現(xiàn)。在本上下文中，1單元可以包括1電路、1環(huán)信號(功率、ESD保護、1環(huán)控制信號)、機械魯棒性的金屬堆疊、接合墊以及探針觸點。接合墊大到足夠允許接合導(dǎo)線，并且探針區(qū)域大到足夠支撐探針。根據(jù)各種實施例，每個1單元包括兩個或更多個電路，每個電路具有接合墊，并且共享一個探針觸點。1單元內(nèi)部的開關(guān)電路選擇引向探針觸點的接合墊，以選擇性地向電路傳輸輸入信號。
[0041]本文中描述的各種實施例可以在某個實施例中結(jié)合，并且各個實施例的各種方案可以作為分開的實施例來實現(xiàn)。例如，可以使用圖1的方面來執(zhí)行圖3中描述的過程，或者圖1的方案可以是圖2中描述的裝置的一部分。例如，根據(jù)本公開的裝置實施例并不限于如本文描述的單個1單元和/或第一和第二電路。此外，實施例并不限于包含1電路和輸入電路的1單元。裝置實施例可以包括形成1單元的1電路和一個以上的輸入電路(例如，如圖2所示)、兩個1電路、布置在IC裝置的邊界周圍的如圖1描述的多個1單元、和/或如圖1描述的一個活多個1單元和布置在IC裝置的邊界周圍的具有單個接合墊的一個或多個1單元，以及其它部件。
[0042]圖2示出了可以根據(jù)本公開的一個或多個實施例實現(xiàn)的裝置。如圖2所示，示例裝置實施例包括1電路(例如電路202)和共享探針觸點208的多個輸入電路(例如電路210和電路230)。各種電路具有用于傳輸信號的多個輸入和輸出路徑。到接合墊204的輸出路徑由輸入A驅(qū)動，并且具有能夠由輸入EN控制的輸出。輸出驅(qū)動速度由輸入信號EHS設(shè)置。通過信號ETM可以啟用測試模式。在該模式下，測試輸入TA和測試輸出TEN用于測試輸出路徑。從接合墊204到接收機RX的輸入路徑驅(qū)動內(nèi)部輸出信號ZI。可通過控制信號EZI啟用接收機?？梢酝ㄟ^弱驅(qū)動器將1單元輸入提升到VDDe并且/或者降低到GNDe，其中EPU控制弱驅(qū)動器提高，并且EPD控制弱驅(qū)動器降低。接合墊204通過連接到BOOST ESD供應(yīng)軌道的二極管、連接至IjESD軌道的二極管和連接到外部接地供應(yīng)GNDe的二極管來抵御外部ESD電壓。1單元由用于核心1單元供應(yīng)的VDD和GND以及用于外部1單元供應(yīng)的VDDe和GNDe供電。
[0043]類似地，從接合墊212到電路210的接收機RX的輸入路徑(例如電路路徑216)(或者從接合墊232到電路230的接收機RX的電路路徑236)驅(qū)動內(nèi)部輸入信號ZI。控制信號EZI可以啟用接收機。根據(jù)本公開的實施例可以包括圖2沒有示出的附加控制信號，其中相應(yīng)地使用了探針觸點208的各種實現(xiàn)。
[0044]在各種實施例中，電路202、210、230包含在共享探針觸點208和/或其它電路的單個1單元中。每個電路202、210、230包括經(jīng)由電路路徑216、236連接到相應(yīng)的電路的接合墊204、212、232，以與邏輯電路傳輸信號。如可以按照類似于之前參照圖1描述的方式實現(xiàn)的，通過響應(yīng)于(例如來自耦合到探針觸點的測試電路的)輸入信號來選擇性地將探針觸點208與電路路徑216連接和斷開，連接到探針觸點208和電路路徑216的開關(guān)電路214在探針觸點208與電路路徑216之間傳輸信號。在這些和其它上下文中，圖2中的裝置可以包括參照圖1示出的和討論的各種特征(例如測試電路、外部探針和邏輯電路)。
[0045]在一些實施例中，將電路202、210和230進行耦合，以與裝置的邏輯電路傳輸信號，如下所述。接合墊204連接到第一電路202，以經(jīng)由電路202與邏輯電路傳輸信號。此外，接合墊212經(jīng)由第二電路路徑216連接到電路210，以經(jīng)由電路210與邏輯電路傳輸信號。接合墊232經(jīng)由電路路徑236連接到電路230，并且經(jīng)由電路230與邏輯電路傳輸信號。
[0046]根據(jù)一個或多個實施例，裝置包括連接到探針觸點208和電路路徑236的附加開關(guān)電路234。通過響應(yīng)于(如上文中參照圖1描述的，例如來自測試電路的)輸入信號來將探針觸點208與電路路徑236選擇的連接和斷開，附加開關(guān)電路234在探針觸點208與電路路徑236之間傳輸信號。
[0047]在一些實施例中，電路202、210、230將輸入信號(例如測試信號)耦合到探針觸點208與邏輯電路的不同部分之間。例如，電路210可以將測試信號耦合到探針觸點208與邏輯電路的一部分之間，并且電路230將測試信號耦合到探針觸點208與邏輯電路的不同部分之間。在一些實施例中，電路202將測試信號耦合到探針觸點208與邏輯電路的另一個部分之間。在本上下文中，基于輸入信號中的數(shù)據(jù)，附加開關(guān)電路234和開關(guān)電路214可以在不同的時刻將輸入信號耦合到邏輯電路的不同部分。
[0048]在一些實施例中，開關(guān)電路214和附加開關(guān)電路234連續(xù)地將測試信號耦合到電路202、210和230。例如，開關(guān)電路214和附加開關(guān)電路234可以在第一時間段內(nèi)將電路210連接到探針觸點208，并且在第一時間段之后將電路210從探針觸點208斷開。此外，在這樣的實施例中，在電路210從探針觸點208斷開之后，開關(guān)電路214和附加開關(guān)電路234可以在第二時間段內(nèi)將電路230連接到探針觸點208，并且在第二時間段之后將電路230與探針觸點208斷開。
[0049]在一些實施例中，(例如，來自測試電路的)輸入信號啟用電路202、210和230的測試模式。例如，輸入信號可以控制開關(guān)電路214將探針觸點208與電路路徑216連接或斷開的時間，以及附加開關(guān)電路234將探針觸點208與電路路徑236鏈接或斷開的時間。輸入信號可以被用于選擇性地啟用電路202、電路210和電路230的測試模式。通過在探針觸點208與邏輯電路之間傳遞信號，電路202、210和230響應(yīng)于處于啟用測試模式來對輸入信號進行響應(yīng)。通過輸入啟用測試來啟用電路210和230的測試模式。
[0050]雖然圖2的實施例示出了包括具有1電路和兩個輸入電路的單個1單元的裝置，但根據(jù)本公開的實施例并不限于此。例如，單個1單元可以包含比圖2示出的更多或更少的電路。
[0051]圖3示出了根據(jù)本公開的各種實施例的使用共用的探針觸點的選擇和取消選擇電路的示例過程的流程圖。在各種實施例中，可以實現(xiàn)圖1和/或圖2示出的裝置來執(zhí)行圖3示出的一個或多個過程。例如，圖3示出的過程可以被用于將來自探針觸點的輸入信號耦合到邏輯電路的不同部分。
[0052]在塊340處，使用外部探針來對裝置的探針觸點進行探查，該外部探針連接到測試電路并且連接到探針觸點。測試電路可以使用輸入測試信號(例如邊界掃描信號)來控制對IC裝置的測試。在各種實施例中，探針觸點由單個1單元中的多個電路共用。在塊342處，經(jīng)由外部探針從測試電路向探針觸點提供第一輸入信號。在塊344處，測試電路控制開關(guān)電路來經(jīng)由第一輸入信號在第一時間段內(nèi)將探針觸點連接到第一電路的第一電路路徑。因此，第一輸入信號可以啟用第一電路的測試模式。在塊346處，第一電路在第一時間段期間讀取第一電路的第一輸入信號的輸出，并且還可以讀取從輸入信號導(dǎo)出的信號(例如，如果輸入信號是電壓信號，測試電路可以讀取由輸入電壓引起的電流)。通過在探針觸點與邏輯電路之間傳遞信號，第一電路在第一時間段內(nèi)對第一輸入信號進行響應(yīng)。在一些實施例中，向邏輯電路的第一部分傳遞信號，并且向測試電路提供來自于邏輯電路的第一部分的輸出信號。
[0053]在塊348處，測試電路確定時間段(例如第一時間段)是否期滿。在塊346處，響應(yīng)于時間段沒有期滿，測試電路繼續(xù)讀取來自第一電路的輸出。在塊350處，響應(yīng)于時間段期滿，測試電路確定是否存在與探針觸點相關(guān)聯(lián)的要測試的附加電路。如之前描述的，兩個或更多個電路共用探針觸點。
[0054]在塊352處，響應(yīng)于確定不存在要測試的附加電路，過程可以結(jié)束。在塊354處，響應(yīng)于確定存在要測試的附加的電路，過程包括經(jīng)由外部探針將第二輸入信號從測試電路提供到探針觸點。在一些實施例中，第一電路包括經(jīng)由接合線連接到探針觸點的1電路。備選地，第一電路包括輸入電路。在這樣的實施例中，所述過程包括:在第一時間段之后，測試電路控制開關(guān)電路來將探針觸點從第一電路的第一電路路徑上斷開。此外，在塊356處，在第一時間段之后，測試電路經(jīng)由從測試電路提供的第二輸入信號來控制開關(guān)電路在第二時間段內(nèi)將探針觸點連接到第二電路的第二電路路徑。
[0055]類似地，所述過程包括:在塊346處在第二時間段期間讀取第二電路的第二輸入信號的輸出，在塊348處確定時間段(例如第二時間段)是否期滿，以及/或者在塊350處確定是否存在要檢測的附加電路。通過在探針觸點與邏輯電路之間傳遞信號，第二電路在第二時間段內(nèi)對第二輸入信號進行響應(yīng)。在一些實施例中，向邏輯電路的第二部分傳遞信號，并且向測試電路提供來自于邏輯電路的第二部分的輸出信號。
[0056]在各種實施例中，由兩個以上的電路共用探針觸點。在這樣的實施例中，在塊358處，所述過程包括:經(jīng)由外部探針來從測試電路向探針觸點提供第三輸入信號。在塊360處，測試電路在第二時間段之后控制開關(guān)電路將探針觸點與第二電路的第二電路路徑斷開，并且經(jīng)由第三輸入信號控制另一個開關(guān)電路(在第二時間段之后)在第三時間段內(nèi)將探針觸點連接到第三電路的第三電路路徑。所述過程包括:在塊346處在第三時間段期間讀取第三電路的第三輸入信號的輸出，在塊348處確定時間段(例如第三時間段)是否期滿，和/或在塊350處確定是否存在要檢測的附加電路。在一些實施例中，向邏輯電路的第三部分傳遞信號，并且向測試電路提供來自于邏輯電路的第三部分的輸出信號。
[0057]雖然圖3的示例過程示出了三個電路，但根據(jù)本公開的實施例并不限于此。例如，探針觸點可以由多于或少于三個電路共用。在包括具有三個以上電路的裝置的實施例中，附加電路均包含附加開關(guān)電路，該附加開關(guān)電路連接到導(dǎo)電觸點，并且被配置和布置為將探針觸點與附加的電路的電路路徑相連。此外，根據(jù)一些實施例，每個輸入信號(例如第一、第二、和第三輸入信號)均包括多個信號。
[0058]因此，各種實施例涉及通過開關(guān)的探針觸點，使用測試電路來提供輸入信號以及讀取輸出信號。邏輯電路操作為基于輸入信號提供邏輯功能，該邏輯功能通過將輸入信號耦合到探針觸點并且經(jīng)由與邏輯電路傳輸信號的第一電路將來自邏輯電路的輸出信號耦合到探針觸點來提供輸出信號。通過響應(yīng)于輸入信號操作開關(guān)電路將探針觸點與第二電路選擇的連接和斷開，從探針觸點向邏輯電路的不同部分耦合輸入信號。在各種實施例中，對開關(guān)電路進行操作包括:通過將輸入信號中的開關(guān)控制信號施加到探針觸點來控制開關(guān)電路。
[0059]根據(jù)一些實施例，從探針觸點向邏輯電路的不同部分耦合輸入信號包括:在第一時間段內(nèi)從探針觸點向邏輯電路的第一部分耦合輸入信號。在這樣的實施例中，輸入信號指定將要由邏輯電路的第一部分執(zhí)行的邏輯功能的測試?？梢?例如經(jīng)由第一電路)從邏輯電路的第一部分向測試電路提供輸出信號，在此之后，可以在第二時間段內(nèi)，從探針觸點向邏輯電路的第二部分耦合附加的輸入信號。輸入信號指定或者影響將要由邏輯電路的第二部分執(zhí)行的邏輯功能的測試。從邏輯電路的第二部分向測試電路提供第二輸出信號。
[0060]可實現(xiàn)多個塊、模塊或其他電路，以執(zhí)行本文所述的和/或附圖中所示的操作和活動中的一個或多個。在這種背景下，“組塊”(還有時稱作“電路”、“邏輯電路”或“模塊”)是實施一個或多個這些操作/功能或相關(guān)操作/功能的電路(例如，提供邏輯功能，提供輸出信號，或者與邏輯電路傳輸信號)。例如，在特定上述討論的實施例中，一個或更多個模塊是離散邏輯電路或可編程邏輯電路，其被配置為和布置為如圖1中所示的電路模塊(例如測試電路)中實現(xiàn)這些操作/活動。在某些實施例中，這種可編程電路是被編程以執(zhí)行指令(和/或配置數(shù)據(jù))集的一個或多個計算機電路。指令(和/或配置數(shù)據(jù))可以是存儲在存儲器(電路)中并可訪問的固件或軟件形式。作為示例，第一模塊和第二模塊包括基于硬件的CHJ電路和固件形式的指令集合的組合，其中第一模塊包括具有一個指令集合的第一 CPU硬件電路且第二模塊包括具有另一個指令的第二 (PU硬件電路。
[0061]基于上述討論和舉例說明，本領(lǐng)域技術(shù)人員將會認識到，可以對各個實施例進行各種修改和變化，而不需要嚴格按照本文中討論和舉例說明的實施例和應(yīng)用。例如，裝置可以包括附加的1單元和/或具有圖1和圖2示出的附加的電路的1單元。此等修改并不背離本發(fā)明的各方面的真實精神和范圍，包括權(quán)利要求的各方面。
【主權(quán)項】
1.一種裝置，包括: 邏輯電路，被配置和布置為通過處理輸入信號并且提供與輸入信號相對應(yīng)的輸出信號來提供邏輯功能，所述邏輯功能施加于所述輸入信號上； 第一電路，被配置和布置為與所述邏輯電路傳輸信號； 第一接合墊，經(jīng)由第一電路路徑連接到所述第一電路，并且被配置和布置為經(jīng)由所述第一電路與所述邏輯電路傳輸信號； 第二電路，被配置和布置為與所述邏輯電路傳輸信號； 第二接合墊，經(jīng)由第二電路路徑連接到所述第二電路，并且被配置和布置為經(jīng)由所述第二電路與所述邏輯電路傳輸信號； 探針觸點，連接到所述第一接合墊，并且被配置和布置為與接觸所述探針觸點的外部探針傳輸信號；以及 開關(guān)電路，連接到所述探針觸點和所述第二電路路徑，所述開關(guān)電路被配置和布置為，通過響應(yīng)于所述輸入信號而選擇性地將所述探針觸點與所述第二電路路徑連接和斷開來在所述探針觸點與所述第二電路路徑之間傳輸信號。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中: 所述輸入信號是輸入測試信號； 所述第一電路是被配置和布置為與所述邏輯電路傳輸測試信號的輸入/輸出(I/O)單元； 所述第二電路是被配置和布置為與所述邏輯電路傳輸測試信號的輸入單元;并且所述開關(guān)電路被配置和布置為，通過選擇性地將所述輸入測試信號耦合到所述第二電路路徑，來選擇性地將所述探針觸點與所述第二電路路徑連接和斷開。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，還包括: 第三電路，被配置和布置為與所述邏輯電路傳輸信號； 第三接合墊，經(jīng)由第三電路路徑連接到所述第三電路，并且被配置和布置為經(jīng)由所述第三電路與所述邏輯電路傳輸信號；以及 附加開關(guān)電路，連接到所述探針觸點和所述第三電路路徑，所述附加開關(guān)電路被配置和布置為，通過響應(yīng)于所述輸入信號而選擇性地將所述探針觸點與所述第三電路路徑連接和斷開，來在所述探針觸點與所述第三電路路徑之間傳輸信號，所述附加開關(guān)電路被配置和布置為與所述開關(guān)電路一起，基于所述輸入信號中的數(shù)據(jù)在不同的時刻將所述輸入信號耦合到邏輯電路的不同部分。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其中，所述開關(guān)電路和所述附加開關(guān)電路是公共開關(guān)電路，被配置和布置為:響應(yīng)于所述輸入信號，選擇性地將所述探針觸點耦合到所述第二電路路徑以及耦合到所述第三電路路徑。5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其中，所述開關(guān)電路被配置和布置為與所述附加開關(guān)電路一起，通過以下操作將測試信號連續(xù)地耦合到所述第一電路和第二電路: 在第一時間段內(nèi)將所述第二電路連接到所述探針觸點，并且在所述第一時間段之后將所述第二電路從所述探針觸點斷開;以及 在所述第二電路從所述探針觸點斷開之后，在第二時間段內(nèi)，將所述第三電路連接到所述探針觸點，并且在所述第二時間段之后將所述第三電路從所述探針觸點斷開。6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其中: 所述第二電路被配置和布置為將測試信號耦合到所述探針觸點與所述邏輯電路的第一部分之間；并且 所述第三電路被配置和布置為將測試信號耦合到所述探針觸點與所述邏輯電路的第二部分之間，所述邏輯電路的第二部分與所述邏輯電路的第一部分不同。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中，所述開關(guān)被配置和布置為:通過選擇性地提供抑制所述探針觸點與所述第二電路路徑之間的信號傳輸?shù)淖杩梗瑏磉x擇性地將所述探針觸點連接到所述第二電路路徑。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中， 所述裝置包括另一探針觸點，所述另一探針觸點被配置和布置為在外部探針與所述開關(guān)電路之間傳輸信號；以及 所述開關(guān)電路被配置和布置為與另一探針觸點一起，基于經(jīng)由所述另一探針觸點向所述開關(guān)電路提供的輸入信號來選擇性地將所述探針觸點與所述第二電路路徑連接和斷開。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中， 所述第一電路和所述第二電路是包括所述第一接合墊和所述第二接合墊的公共輸入/輸出i/o單兀的一部分;并且 所述I/o單元包括導(dǎo)電軌、靜電放電保護電路和耦合到所述第一電路和所述第二電路的開關(guān)控制電路，所述開關(guān)控制電路被配置和布置為與所述開關(guān)電路一起，耦合控制所述開關(guān)電路的信號，將所述探針觸點耦合到所述第二接合墊，以及將所述探針觸點與所述第二接合墊去耦合。10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其中，所述第一電路和所述第二電路分別被配置和布置為與所述開關(guān)電路一起，向所述邏輯電路傳遞在所述探針觸點處呈現(xiàn)的輸入信號，以及從所述邏輯電路向所述探針觸點傳遞輸出信號。11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，還包括:開關(guān)控制電路，經(jīng)由所述第一電路耦合到所述探針觸點，所述開關(guān)控制電路被配置和布置為基于經(jīng)由所述探針觸點耦合到所述開關(guān)電路上的控制信號來控制所述開關(guān)電路選擇性地將所述探針觸點與所述第二電路路徑連接和斷開。12.—種裝置，包括: 測試電路，被配置和布置為提供輸入信號并讀取輸出信號； 邏輯電路，被配置和布置為通過處理輸入信號以及響應(yīng)于所述輸入信號提供所述輸出信號來提供邏輯功能，所述邏輯功能施加于所述輸入信號上； 第一電路，被配置和布置為與所述邏輯電路傳輸信號； 第一接合墊，經(jīng)由第一電路路徑連接到所述第一電路，并且被配置和布置為經(jīng)由所述第一電路與所述邏輯電路傳輸信號； 第二電路，被配置和布置為與所述邏輯電路傳輸信號； 第二接合墊，經(jīng)由第二電路路徑連接到所述第二電路，并且被配置和布置為經(jīng)由所述第二電路與所述邏輯電路傳輸信號； 探針觸點，連接到所述第一接合墊和所述第二接合墊，所述探針觸點被配置和布置為在所述測試電路與所述第一接合墊和所述第二接合墊之間傳輸所述輸入信號和所述輸出信號；以及 開關(guān)電路，連接到所述探針觸點并且連接到所述第二電路路徑，所述開關(guān)電路被配置和布置為，通過響應(yīng)于所述輸入信號而選擇性地將所述探針觸點與所述第二電路路徑連接和斷開，來在所述探針觸點與所述第二電路路徑之間傳輸信號。13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的裝置，其中，所述測試電路被配置和布置為通過以下操作控制所述開關(guān)電路: 向所述探針觸點提供第一輸入信號并使用所述第一輸入信號操作所述開關(guān)電路，以在第一時間段內(nèi)抑制將所述探針觸點與所述第二電路路徑連接;以及 向所述探針觸點提供第二輸入信號并使用所述第二輸入信號操作所述開關(guān)電路，以在第二時間段內(nèi)將所述探針觸點與所述第二電路路徑連接。14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的裝置，其中， 所述第一電路是輸入/輸出電路，并且所述第二電路是輸入電路， 所述第一電路是經(jīng)由連接到所述第一接合墊的接合線連接到所述邏輯電路的，以及 所述第二電路是經(jīng)由連接到所述第一接合墊的接合線連接到所述邏輯電路的。15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的裝置，其中， 所述第一電路和所述第二電路是包括所述第一接合墊和所述第二接合墊的公共輸入/輸出i/o單兀的一部分;并且 所述I/o單元包括導(dǎo)電軌、靜電放電保護電路和耦合到所述第一電路和所述第二電路的開關(guān)控制電路，所述開關(guān)控制電路被配置和布置為與所述測試電路和所述開關(guān)電路一起，響應(yīng)于所述輸入信號，耦合控制所述開關(guān)電路的信號，將所述探針觸點耦合到所述第二接合墊，以及將所述探針觸點與所述第二接合墊去耦合。16.根據(jù)權(quán)利要求12所述的裝置，其中，所述開關(guān)電路被配置和布置為通過以下操作將測試信號連續(xù)耦合到所述邏輯電路: 在第一時間段內(nèi)將所述第一電路連接到所述探針觸點，并且在所述第一時間段之后將所述第一電路從所述探針觸點斷開;以及 在所述第一電路從所述探針觸點斷開之后，在第二時間段內(nèi)，將所述第二電路連接到所述探針觸點，并且在所述第二時間段之后將所述第二電路從所述探針觸點斷開。17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的裝置，其中: 所述第一電路被配置和布置為將測試信號耦合到所述探針觸點與所述邏輯電路的第一部分之間；以及 所述第二電路被配置和布置為將測試信號耦合到所述探針觸點與所述邏輯電路的第二部分之間，所述邏輯電路的第二部分與所述邏輯電路的第一部分不同。18.一種方法，包括: 使用測試電路來提供輸入信號以及讀取輸出信號；以及 操作邏輯電路以基于所述輸入信號提供邏輯功能，所述邏輯功能通過以下操作來提供所述輸出信號: 將所述輸入信號耦合到探針觸點； 經(jīng)由與所述邏輯電路傳輸信號的第一電路，將來自所述邏輯電路的輸出信號耦合到所述探針觸點，所述第一電路經(jīng)由所述第一電路路徑連接到第一接合墊；以及 通過操作開關(guān)電路以響應(yīng)于所述輸入信號選擇性地將探針觸點與第二電路連接和斷開，將來自所述探針觸點的輸入信號耦合到所述邏輯電路的不同部分，所述第二電路經(jīng)由第二電路路徑連接到第二接合墊。19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，其中，對所述開關(guān)電路進行操作包括:通過將所述輸入信號中的開關(guān)控制信號施加到所述探針觸點來控制所述開關(guān)電路。20.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，其中，將來自所述探針觸點的輸入信號耦合到所述邏輯電路的不同部分包括: 響應(yīng)于所述輸入信號，在第一時間段內(nèi)將來自所述探針觸點的輸入信號耦合到所述邏輯電路的第一部分，以及將第一輸出信號從所述邏輯電路的第一部分提供到所述測試電路，所述輸入信號包括規(guī)定針對由所述邏輯電路的第一部分執(zhí)行的邏輯功能的測試的信號；以及 在提供所述第一輸出信號之后，響應(yīng)于所述輸入信號，在第二時間段內(nèi)將來自所述探針觸點的輸入信號耦合到所述邏輯電路的第二部分，以及將第二輸出信號從所述邏輯電路的第二部分提供到所述測試電路，所述輸入信號包括規(guī)定針對由所述邏輯電路的第二部分執(zhí)行的邏輯功能的測試的信號。
【文檔編號】G01R31/28GK105911449SQ201610099275
【公開日】2016年8月31日
【申請日】2016年2月23日
【發(fā)明人】尤爾根·蓋林斯
【申請人】恩智浦有限公司