一種基于單io的ic卡并行測試方法
【專利摘要】一種基于單IO的IC卡并行測試方法，涉及IC卡技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明使用測試機(jī)對待測IC卡上的芯片進(jìn)行并行測試。所述并行測試方法包括卡片接收命令方法和卡片發(fā)送數(shù)據(jù)方法，采用內(nèi)部時鐘采樣命令I(lǐng)O，每bit對齊收發(fā)命令。其中卡片接收命令的方法步驟為：1）使用一個外部時鐘周期的低電平作為起始標(biāo)志；2）待測IC卡使用內(nèi)部時鐘采樣命令I(lǐng)O對高低電平的長度進(jìn)行采樣計數(shù)；3）待測IC卡對每一組高低電平的計數(shù)進(jìn)行判斷；4）命令bit0~bit2傳送命令類型，即確定了該命令的長度，待測IC卡順序采樣，收夠指定長度的數(shù)據(jù)后，即跳出接收命令的循環(huán)。本發(fā)明采用內(nèi)部時鐘采樣命令I(lǐng)O，每bit對齊進(jìn)行命令收發(fā)，減少了時鐘IO，增加同測卡片數(shù)量，有效減少測試成本。
【專利說明】
一種基于單1的IC卡并行測試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及IC卡技術(shù)領(lǐng)域，特別是可以在無外部時鐘的情況下對多個IC卡進(jìn)行并行測試。
【背景技術(shù)】
[0002]IC卡廣泛使用于手機(jī)通訊、信用卡支付等應(yīng)用中。隨著IC卡技術(shù)的不斷進(jìn)步，IC卡的單位面積日益縮減，單張晶圓上的產(chǎn)值持續(xù)增加。伴隨而來的是測試成本占總成本的比重顯著增長，并且此矛盾隨著IC卡存儲容量的變大而愈發(fā)明顯。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，由于IC卡上芯片的內(nèi)部時鐘，既內(nèi)部晶振所產(chǎn)生的時鐘存在一定范圍的偏差，所以傳統(tǒng)生產(chǎn)測試均采用外部時鐘，即測試機(jī)所發(fā)出時鐘進(jìn)行并行測試。此方法的好處是IC卡系統(tǒng)與收到的命令是同時鐘源的，命令長度可以得到有效的控制，并行測試的IC卡步調(diào)一致，操作簡單。而代價則是每顆芯片需要測試機(jī)提供兩根10，也就是命令1和時鐘10，無法做到同測卡片數(shù)量的最大化。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，本發(fā)明的目的是提供一種基于單1的IC卡并行測試方法。它采用內(nèi)部時鐘采樣命令10，每bit對齊進(jìn)行命令收發(fā)，減少了時鐘10，增加同測卡片數(shù)量，有效減少測試成本。
[0005]為了達(dá)到上述發(fā)明目的，本發(fā)明的技術(shù)方案以如下方式實現(xiàn):
一種基于單1的IC卡并行測試方法，它使用測試機(jī)對待測IC卡上的芯片進(jìn)行并行測試。所述并行測試方法包括卡片接收命令方法和卡片發(fā)送數(shù)據(jù)方法，采用內(nèi)部時鐘采樣命令10，每bit對齊收發(fā)命令。其中卡片接收命令的方法步驟為:
1)使用一個外部時鐘周期的低電平作為起始標(biāo)志，一個高電平和一個低電平為一組，表示Ibit數(shù)據(jù)；
2)待測IC卡使用內(nèi)部時鐘采樣命令1對高低電平的長度進(jìn)行采樣計數(shù)；
3)待測IC卡對每一組高低電平的計數(shù)進(jìn)行判斷，如若采到高電平的個數(shù)大于采到低電平的個數(shù)，即判斷該bit為1，反之則為O ;
4)命令bit(Tbit2傳送命令類型，即確定了該命令的長度，待測IC卡順序采樣，收夠指定長度的數(shù)據(jù)后，即跳出接收命令的循環(huán)。
[0006]其中卡片發(fā)送數(shù)據(jù)的方法步驟為:
1)當(dāng)待測IC卡收到讀指令后，進(jìn)入發(fā)送數(shù)據(jù)流程，等待內(nèi)部時鐘采樣命令1上的低電平脈沖指不彳目號；
2)每檢測到一次低電平脈沖，發(fā)送一bit數(shù)據(jù)，即在內(nèi)部時鐘采樣命令1低電平脈沖上升沿后，輸出O或I并保持一段時間，測試機(jī)在這時間段取走數(shù)據(jù)；
3)發(fā)送數(shù)據(jù)結(jié)束后，內(nèi)部時鐘采樣命令1回歸輸入模式，等待下一次低電平脈沖直至全部數(shù)據(jù)發(fā)送完畢。
[0007]本發(fā)明由于采用了上述方法，同現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下特點:
在卡片接收命令時:
I)卡片僅對一 bit中的高低電平計數(shù)進(jìn)行判斷，不對計數(shù)的絕對數(shù)量進(jìn)行判斷，所以不同卡片內(nèi)部時鐘存在的偏差不會對命令的解析造成影響。
[0008]2)命令的長度可以進(jìn)行調(diào)整，只需要命令寬度和內(nèi)部時鐘符合一定的比例關(guān)系即可。
[0009]在卡片發(fā)送數(shù)據(jù)時:
I)發(fā)送數(shù)據(jù)的流程按bit與外部時鐘對齊，避免由內(nèi)部時鐘不同步而引起的接收數(shù)據(jù)錯誤。
[0010]下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
【附圖說明】
[0011]圖1為本發(fā)明實施例中卡片接收命令的時序圖；
圖2為本發(fā)明實施例中卡片發(fā)送數(shù)據(jù)的時序圖。
【具體實施方式】
[0012]本發(fā)明方法使用測試機(jī)對待測IC卡上的芯片進(jìn)行并行測試，并行測試方法包括卡片接收命令方法和卡片發(fā)送數(shù)據(jù)方法，采用內(nèi)部時鐘采樣命令10，每bit對齊收發(fā)命令。本發(fā)明中的卡片接收命令的方法步驟為:
I)使用一個外部時鐘周期的低電平作為起始標(biāo)志，一個高電平和一個低電平為一組，表示Ibit數(shù)據(jù)。
[0013]2)待測IC卡使用內(nèi)部時鐘采樣命令1對高低電平的長度進(jìn)行采樣計數(shù)。
[0014]3)待測IC卡對每一組高低電平的計數(shù)進(jìn)行判斷，如若采到高電平的個數(shù)大于采至帳電平的個數(shù)，即判斷該bit為1，反之則為O。
[0015]4)命令bit0~bit2傳送命令類型，即確定了該命令的長度。待測IC卡順序采樣，收夠指定長度的數(shù)據(jù)后，即跳出接收命令的循環(huán)。
[0016]本發(fā)明中的卡片發(fā)送數(shù)據(jù)的方法步驟為:
I)當(dāng)待測IC卡收到讀指令后，進(jìn)入發(fā)送數(shù)據(jù)流程，等待內(nèi)部時鐘采樣命令1上的低電平脈沖指不彳目號。
[0017]2)每檢測到一次低電平脈沖，發(fā)送一 bit數(shù)據(jù)，即在內(nèi)部時鐘采樣命令1低電平脈沖上升沿后，輸出O或I并保持一段時間，測試機(jī)在這時間段取走數(shù)據(jù)。
[0018]3)發(fā)送數(shù)據(jù)結(jié)束后，內(nèi)部時鐘采樣命令1回歸輸入模式，等待下一次低電平脈沖直至全部數(shù)據(jù)發(fā)送完畢。
[0019]參看圖1，本發(fā)明實施例中卡片在采到start bit后的上升沿開始計數(shù)，在采到下降沿之前記錄即為高電平個數(shù)，從下降沿至下一次上升沿之前即為低電平個數(shù)。bitO中高電平明顯較低電平要短，bitO數(shù)據(jù)為0，同理，bit2種高電平要長于低電平，bit2數(shù)據(jù)為I。
[0020]參看圖2，本發(fā)明實施例中當(dāng)卡片收到讀指令后，進(jìn)入發(fā)送數(shù)據(jù)流程，第一次采到內(nèi)部時鐘采樣命令1上的低電平后，發(fā)送bitO數(shù)據(jù)，即在內(nèi)部時鐘采樣命令1上輸出O。卡I的內(nèi)部時鐘頻率要高于卡2，所以會先采到其內(nèi)部時鐘采樣命令1上的低電平，既而先進(jìn)入發(fā)送bitO數(shù)據(jù)的狀態(tài)。而測試機(jī)采樣點I的時間為最慢的有效內(nèi)部時鐘和最快的有效內(nèi)部時鐘綜合計算得出，故保證了兩張卡片在采樣點I時均未數(shù)據(jù)發(fā)送狀態(tài)，發(fā)送結(jié)束后，內(nèi)部時鐘采樣命令1回歸輸入模式，等待第二次內(nèi)部時鐘采樣命令1上的低電平發(fā)送bitl數(shù)據(jù)。
【主權(quán)項】
1.一種基于單1的IC卡并行測試方法，它使用測試機(jī)對待測IC卡上的芯片進(jìn)行并行測試，所述并行測試方法包括卡片接收命令方法和卡片發(fā)送數(shù)據(jù)方法，采用內(nèi)部時鐘采樣命令10，每bit對齊收發(fā)命令，其中卡片接收命令的方法步驟為: 1)使用一個外部時鐘周期的低電平作為起始標(biāo)志，一個高電平和一個低電平為一組，表示Ibit數(shù)據(jù)； 2)待測IC卡使用內(nèi)部時鐘采樣命令1對高低電平的長度進(jìn)行采樣計數(shù)； 3)待測IC卡對每一組高低電平的計數(shù)進(jìn)行判斷，如若采到高電平的個數(shù)大于采到低電平的個數(shù)，即判斷該bit為1，反之則為O ; 4)命令bit(Tbit2傳送命令類型，即確定了該命令的長度，待測IC卡順序采樣，收夠指定長度的數(shù)據(jù)后，即跳出接收命令的循環(huán)； 其中卡片發(fā)送數(shù)據(jù)的方法步驟為: 1)當(dāng)待測IC卡收到讀指令后，進(jìn)入發(fā)送數(shù)據(jù)流程，等待內(nèi)部時鐘采樣命令1上的低電平脈沖指不彳目號； 2)每檢測到一次低電平脈沖，發(fā)送一bit數(shù)據(jù)，即在內(nèi)部時鐘采樣命令1低電平脈沖上升沿后，輸出O或I并保持一段時間，測試機(jī)在這時間段取走數(shù)據(jù)； 3)發(fā)送數(shù)據(jù)結(jié)束后，內(nèi)部時鐘采樣命令1回歸輸入模式，等待下一次低電平脈沖直至全部數(shù)據(jù)發(fā)送完畢。
【文檔編號】G01R31/28GK105891695SQ201410189178
【公開日】2016年8月24日
【申請日】2014年5月7日
【發(fā)明人】白天宇, 喬瑛, 趙宇寧, 馮俊杰, 張章, 董宇, 李慧
【申請人】北京同方微電子有限公司